「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(146ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

To provide a cooling device of simple structure capable of reducing its cost and dimension, stably supplying a cold gas of a desired low temperature and not having influence by temperature variation on a cooled space side, and to provide a cooling method of a chamber space for device test of a handler.例文帳に追加

簡単な構造、低コスト、小型化を達成し、かつ所望の低温度の冷気ガスを安定して供給し、被冷却空間側への温度変動による影響を与えない冷却装置ならびにハンドラのデバイステスト用チャンバ空間の冷却方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid volatility measuring device capable of heating a liquid sample without the use of a wood alloy for heat transfer between a heating block and a sample to be tested by a Noack test to measure the volatility, and a liquid volatility measuring method using the device.例文帳に追加

ノアック試験によって、加熱ブロックと試験される試料との間の熱伝達のためのウッド合金の使用を避けて、液体試料を加熱し、揮発度を測定することができる装置とそれを用いた液体の揮発度測定方法とを提供すること。 - 特許庁

To provide a technique by which a manufacturing cost of a magnetic head is reduced by suppressing investment to a test device of the magnetic head equipped with a recording element and a reproducing element, and by which a magnetic recording device can be manufactured without lowering a yield thereof even when a magnetic head manufactured at a low cost is used.例文帳に追加

本発明は記録素子と再生素子を備えた磁気ヘッドの試験装置への投資を抑制し、磁気ヘッドの製造コストを低減し、また、低コストで製造された磁気ヘッドを用いても、磁気記録装置の歩留りを下げずに製造する技術を提供する。 - 特許庁

To provide an electric leakage detecting device capable of preventing burnout of a coil or a thyristor of an electromagnet device caused by continuous current supply even in the case where an electric leakage test switch is continuously pressed in a state that an electric leakage display button is bound or in the case where the earth occurs.例文帳に追加

漏電表示釦が外力により拘束された状態で、漏電テストスイッチを押し続けた場合、あるいは地絡が発生した場合においても、電磁石装置のコイルやサイリスタ等が連続通電により焼損しない漏電検出装置を得る。 - 特許庁

A boundary-scan cell connected to a first circuit terminal 37 of a device 32 from a list containing boundary-scan compliant circuit terminals of boundary-scan compliant devices 32, 33, 34, 35 mounted on PCB 31 is operated as a driver by a processing unit of the test device 42.例文帳に追加

ＰＣＢ３１に搭載されたバウンダリスキャン対応デバイス３２、３３、３４、３５のバウンダリスキャン対応回路端子を含むリストからデバイス３２の第１回路端子３７に接続されたバウンダリスキャンセルが、テスト装置４２の処理ユニットによってドライバとして作動される。 - 特許庁

The battery inspection device 10 includes: a battery inspection board 12 equipped with a plurality of inspection parts in order to test a chargeable/dischargeable battery; and a power supply device 11 which is separately installed from the battery inspection board 12, and supplies/recovers electric power to/from the inspection parts.例文帳に追加

電池検査装置１０は、充放電可能な電池を検査するための検査部を複数備える電池検査台１２と、該電池検査台１２とは別体に設けられており検査部への電力の供給及び回収をするための電源装置１１と、を備える。 - 特許庁

To provide an oxygen enriched air supplying device for a vehicle, capable of supplying oxygen enriched air to a vehicular cabin according to fatigue during driving without requiring a driver to consciously execute a predetermined fatigue determining test, and eliminating the need of a large-scale device.例文帳に追加

運転者が意識して所定の疲労判定テストを実施する必要がなく、運転中の疲労度に応じて酸素富化空気を車室に供給することができ、また、大掛かりな装置が不要な車両用酸素富化空気供給装置を提供する。 - 特許庁

In the device, when a toner image for a test pattern that is formed on recording paper 6 is fixed by having it exposed by a flash type fixing device 7, reflected light is detected by an optical sensor 8, a density value is obtained and the image forming condition is controlled based on the density value above.例文帳に追加

記録紙６上に形成されたテストパターンのトナー像を、フラッシュ式定着器７で露光することによって定着する際に、その反射光を光学センサ８によって検出して濃度値を得、該濃度値に基づいて画像形成条件を制御する。 - 特許庁

Based on device color values and measured color values of the test chart, a linearized curve is calculated with regard to the device.例文帳に追加

イメージ作成デバイス、特にプリンタの線形化および特性化のために、カラーテストチャートが、定められたデバイスカラー値を持つ比較的少数のカラー計測フィールドからデバイスによるカラーにしたがって、再生および計測され、関連したカラー値は、各カラー計測フィールドに関して決定される。 - 特許庁

To provide a beam condition adjustment method and a device, suitable for adjusting beam conditions under a condition different from a vertical beam such as at the time of inclined beam in a device for obtaining an image by irradiating charged particle beam onto a test piece.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子線を試料へ照射して画像を得る装置において、特にビーム傾斜時のように、垂直ビームとは異なる条件にてビーム条件を調整するのに好適なビーム条件調整方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁

A patient tag issuing device 5 is provided at a reception desk, a medical care instruction slip issuing device 7 is provided in each of an examination room, a test room, a nurse station, a medication room, etc., and a label issuing machine 8 to issue labels recording discrimination information is provided in each of the medication room and an instrument room.例文帳に追加

受付に患者タグ発行装置５を設け、診察室、検査室、ナースステーション、薬剤室等に、医療指示票発行装置７を設け、薬剤室及び器材室に識別情報を二次元コードで記録したラベルを発行するラベル発行器８を設ける。 - 特許庁

A changeover means MUX is provided to each of test pattern supply routes and, by this changeover means, a state applying a terst pattern to each semiconductor device to be tested and a state applying an original parameter to each semiconductor device to be tested can be changed over.例文帳に追加

各試験パターン供給経路に切替手段ＭＵＸを設け、この切替手段により試験パターンを被試験半導体デバイスに印加する状態と、各被試験半導体デバイスの各個に独自のパラメータを印加する状態に切り替ることができる構成とした。 - 特許庁

To provide a beam condition adjustment method and a device which are suitable for adjusting beam conditions by a condition different from a vertical beam such as at the time of inclined beam in a device for obtaining an image by irradiating charged particle beam on a test piece.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子線を試料へ照射して画像を得る装置において、特にビーム傾斜時のように、垂直ビームとは異なる条件にてビーム条件を調整するのに好適なビーム条件調整方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device that applies voltage to a plurality of transistors at the same time and reduces time for a reliability test in the semiconductor memory device which is configured by connecting in series a plurality of memory cells configured with ferroelectric capacitors and transistors.例文帳に追加

強誘電体キャパシタ及びトランジスタから構成されるメモリセルを複数直列に接続して構成される半導体記憶装置において、複数のトランジスタに同時に電圧を印加して、信頼性試験の時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

If the switch device 1 is not in the operation position and the test position, i.e. while the switch device is pushed in and pulled out, the interlock contact S1 is turned off, and the operation position indicating lamps R3, R4 are turned off regardless of an on/off state of the position limit switch LS3.例文帳に追加

開閉機器１が運転位置及び試験位置の何れでもない場合、つまり開閉機器を出し入れしている最中はインターロック接点がオフとなって位置リミットスイッチＬＳ３のオン／オフ状態に係わらず各表示ランプＲ３，Ｒ４が消灯状態となる。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device with which such a first problem that a test time for detecting a deteriorated capacitor of a semiconductor memory device using the conventional ferroelectric capacitor becomes long or such a second problem that inprint endurance is inferior is solved.例文帳に追加

従来の強誘電体キャパシタを用いた半導体記憶装置の劣化したキャパシタを検出する為の試験時間が長くなるという第１の課題、或いは、インプリント耐性が劣るという第２の課題を解決した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The failure diagnosis device 12 compares an output signal of a compressor 26 obtained by the simulation and an output signal of the compressor 26 observed by a test device 11, and sets an input signal to a compressor 27 according to the comparison result to execute a simulation.例文帳に追加

故障診断装置１２は、シミュレーションにより得た圧縮器２６の出力信号と、テスト装置１１により観測した圧縮器２６の出力信号とを比較し、その比較結果に応じて圧縮器２７の入力信号を設定してシミュレーションを実施する。 - 特許庁

Then, whether the signal sent from the device 2 to be tested is the signal directly related to the test or the signal not directly related is determined by a reception signal preprocessing part 42, and the test signal reception processing part 43 and the additional signal reception processing part 44 are selectively operated according to the determined result.例文帳に追加

そして、被試験装置２から送られた信号が試験に直接関連する信号であるか、或いは直接関連しない信号であるかを、受信信号前処理部４２により判定し、その判定結果に応じて上記試験信号受信処理部４３と付加信号受信処理部４４とを選択的に動作させるようにしたものである。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置１であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部１２を有する。 - 特許庁

A coverage devaluation system 10 is composed roughly of an input means for inputting a register transfer level(RTL) description 3, a means for inputting a verification suite 4, a function test coverage measuring instrument 1 which measures the function test coverage, an RTL simplifying device 2 which simplifies RTL, and an output means which outputs a converted verification suite 5.例文帳に追加

カバレッジ評価システム１０は、レジスタ転送レベル（ＲＴＬ）記述３を取り込む入力手段と、検証スイート４を入力する手段と、機能テストカバレッジを計測する機能テストカバレッジ計測装置１と、ＲＴＬを簡単化するＲＴＬ簡単化装置２と、変換された検証スイート５を出力する出力手段とから概略構成される。 - 特許庁

A vehicle composite testing device 1 for placing wheels of the vehicle to be tested on the front and rear drive rollers 2, 2 to carry out the brake test or speed test is provided with a drive roller locking means 4 for stopping the front and rear drive rollers 2, 2 upon detecting the stop of the wheels by a lock detecting roller 4a arranged between the front and rear drive rollers 2, 2.例文帳に追加

前後の駆動ローラ２、２上に被験車両の車輪を載置してブレーキテスト又はスピードテストをする式の車両複合試験装置１において、前記前後の駆動ローラ２、２間に配置されるロック検出ローラ４ａにより前記車輪の停止を検出して前記駆動ローラ２、２を停止する駆動ローラのロック手段４を設けた。 - 特許庁

The selection signal generation circuit activates one of selection signals corresponding to each of word line in accordance with an external command signal indicating a test operation mode and an external selection code signal for specifying word line voltage used for the memory device, during the test operation mode for discriminating whether the word line voltage is a desired level or not.例文帳に追加

選択信号発生回路は、ワードライン電圧が要求するレベルを有するか否かを判別するためのテスト動作モードの間に、テスト動作モードを示す外部命令信号及び前記メモリ装置に使用されるワードライン電圧を指定するための外部選択コード信号に応じてワードライン電圧の各々に対応する選択信号のうちの１つを活性化する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加

より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises: a VINT generation circuit 11 generating a constant voltage inside a chip; and a test circuit 12 connecting power supply wiring VDD supplying potential from the outside to wiring VINT supplying potential from the VINT generation circuit 11 via a prescribed value of resistance, based on control input in a test mode.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、チップ内部で定電圧を生成するＶＩＮＴ発生回路１１と、テストモードにおいて、外部からの電位を供給する電源配線ＶＤＤとＶＩＮＴ発生回路１１からの電位を供給する配線ＶＩＮＴとを制御入力に基づいて所定の抵抗値で接続するテスト回路１２を有する。 - 特許庁

An environmental test device 1 includes: a partition wall 3 in which an upper hole 3a and a lower hole 3b are formed and which partitions a casing 2; a test chamber 5 and an air conditioning chamber 8 which are separated by the partition wall 3 and which communicate with each other through the upper hole 3a and the lower hole 3b; and a duct unit 10 attached to the partition wall 3.例文帳に追加

環境試験装置１は、上部孔３ａ及び下部孔３ｂが形成され、筐体２を仕切る仕切り壁３と、仕切り壁３によって分離され且つ上部孔３ａ及び下部孔３ｂを介して互いに連通した試験室５及び空調室８と、仕切り壁３に取り付けられたダクトユニット１０とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a method for performing magnetic suspension without arranging in a measurement portion, members which affect an air flow such as pieces of wire or struts for supporting a test body, and moreover to provide a magnetic levitation device for performing magnetic suspension even in the case of an actual car with a body made of steel, in a wind tunnel test of a car or railway vehicle.例文帳に追加

本発明の課題は、自動車や鉄道車両の風洞試験において、被試験体を支承するワイヤーや支柱といった気流に影響を及ぼす部材を測定部に配置することのない磁力支持が可能な方法、更には鋼鉄製車体の実車でも磁力支持が可能な磁気浮上装置を提案することにある。 - 特許庁

THe database type learning device for learning information retrieved from a database in which specified information is handled is characterized by being equipped with a test means of repeatedly giving a test related to the retrieved information and an adjusting means of adjusting intervals of tests while taking human's forgetfulness characteristics into consideration.例文帳に追加

所定の情報を扱うデータベースの中から検索した情報を学習するためのデータベース型学習装置であって、前記検索した情報に関するテストを繰り返して行うテスト手段と、前記テストが行われる間隔を、人間の忘却特性を考慮して、調整する調整手段と、を備えたことを特徴とするデータベース型学習装置を提供する。 - 特許庁

In a coil performance test device 1 in an SMES, at least two or more of series circuits of test voltage generating units 7 each forming a parallel circuit of a semiconductor switching element 5 and a resistance 6 are connected to a series circuit of a power supply 3 for exciting an SMES coil 2 and a switch 4.例文帳に追加

ＳＭＥＳ用コイル性能評価試験装置１は、ＳＭＥＳコイル２を励磁するための電源装置３と開閉装置４とを直列に接続した直列回路に、半導体スイッチ素子５と抵抗６とを並列に接続して構成される試験電圧発生用ユニット７を少なくともニ以上直列に接続したことを特徴とする。 - 特許庁

This test specification generation device has a generation means generating the specifications for a test of the conversion program for the conversion of deign information of the program on the basis of: combination conversion processing information showing combination conversion processing wherein conversion items to the design information of the program are combined; between-item order information showing the priority order of the conversion item.例文帳に追加

テスト仕様生成置が，プログラムの設計情報に対する変換項目を組み合わせた組み合わせ変換処理を表す組み合わせ変換処理情報と，前記変換項目の優先順位を表す項目間順位情報と，に基づき，プログラムの設計情報の変換のための変換プログラムのテスト用の仕様を生成する生成手段を有する。 - 特許庁

Test pattern generation can be achieved simply and in a short time by making an LSI chip 101 operate, an object to be evaluated, by an actual device set board apparatus 100 in which the LSI chip 101 is installed, probing its LSI terminal signals 111 to 116, 124, 125, and converting its probe signals 118 to 123, 127 into a test pattern 170 of arbitrary format.例文帳に追加

評価対象とするＬＳＩチップ１０１を搭載する実機セットボード装置１００でＬＳＩチップ１０１を動作させ、そのＬＳＩ端子信号１１１〜１１６，１２４，１２５をプローブし、そのプローブ信号１１８〜１２３，１２７を任意のフォーマットのテストパターン１７０へ変換することで、簡便にかつ短時間でのテストパターン生成が可能となる。 - 特許庁

To provide a differential protection device comprising a differential current measuring means, processing means connected to the measuring means and including an operation ratio selecting means and time delay selecting means for selecting a trip curve, operation means, and test means connected to the measuring means, wherein the electric power consumption of the test means is made optimum.例文帳に追加

差動電流測定手段と、上記測定手段へと接続され、トリップ曲線を選択するために動作比率選択手段および時間遅延選択手段を備える処理手段、作動手段、および上記測定手段へと接続されたテスト手段を備える差動保護装置において、上記テスト手段の電力消費を最適にする。 - 特許庁

This apparatus is characterized by having a DUT (device under test) simulation means for simulating behaviors of the tested object, a tester simulation means for simulating behaviors of the tester based on a test program, and a delay simulation means for delaying behaviors of transferring signals, by a certain amount of delay, between the DUT simulation means and the tester simulation means.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴシミュレーション手段と、テストプログラムに基づいて、テスタの動作をシミュレーションするテスタシミュレーション手段と、ＤＵＴシミュレーション手段とテスタシミュレーション手段との信号授受の動作を、遅延量により遅延させる遅延シミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

In the composite device for incorporating flash memory and CPU core chips 20 and 30 into one package, a CPU core 40 controls an I/O control circuit 34 to a signal connection state when the evaluation test is made, thus facilitating the evaluation test for the address and data of the flash memory and CPU core chips 20 and 30 that are laminated in the package.例文帳に追加

フラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０を１つのパッケージに内蔵する複合デバイスにおいて、評価テスト時には、ＣＰＵコア４０が入出力制御回路３４を信号接続状態に制御するので、パッケージ内に積層されたフラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０のアドレスやデータの評価テストが容易である。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

In the test device comprising a plurality of units for executing a test program with respect to a sample while continuously monitoring the state of each unit and communication state between each of the units, the log data are recorded on a memory when at least any one of the state of each unit and the communication state between each of the units is changed in the state.例文帳に追加

複数のユニットから構成されて、各ユニットの状態と各ユニット間の通信の状態とを常時監視しつつ、試料に対する試験プログラムが遂行される試験装置において、各ユニットの状態と各ユニット間の通信の状態とのすくなくともいずれか一方が状態変化した場合に、そのログデータをメモリに記録する試験装置とする。 - 特許庁

To provide a generating method for surname data and its generating device which put surname data of an individual name used for a system test close to a real distribution by using a surname of high appearance frequency, easily generate the data from a combination of character strings, and eliminates trouble even when a test result using the surname data is disclosed.例文帳に追加

システムテストで使用される個人名における姓データを、頻出度の高い姓を利用して現実の分布に近似させることと、文字列の組合せとから容易に生成し、この姓データを用いたテスト結果を開示してもトラブルが生じない姓データの発生方法及びその発生装置に関する技術を提供する点にある。 - 特許庁

The device is characterized by having a performance board to be electrically connected to the test head, having a positioning pin provided on the center, and having the DUT board to be electrically connected to the fringe of the performance board through a connector and electrically connected to a test object, divided and positioned relative to each division by positioning pins.例文帳に追加

本装置は、テストヘッドに電気的に接続し、中心に位置決めピンが設けられるパフォーマンスボードと、このパフォーマンスボードの外縁でコネクタを介して電気的に接続すると共に、被試験対象に電気的に接続し、分割され、分割ごとに、位置決めピンで位置決めされるＤＵＴボードとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

An inspection circuit for a semiconductor device, in which a plurality of IC chips are arranged on a wafer through a scribing lane, has inspection pads that execute probe test in an IC chip, and electrically connects on the scribing lane internal signal lines of an IC chip 1 as a test object to inspection pads 2c and 2d of IC chips 2 and 3 adjacent to each other on the wafer.例文帳に追加

複数のＩＣチップがスクライブレーンを介してウェハ上に配置された半導体装置の検査回路であって、ＩＣチップ内にプロービング検査を実施する検査用のパッドを備え、検査対象となるＩＣチップ１の内部信号線をウェハ上で隣接するＩＣチップ２，３の検査用のパッド２ｃ，２ｄに、スクライブレーン上で電気的に接続した。 - 特許庁

A media access control (MAC) section 13 of the wireless LAN device comprises a mode switching means 13a for switching ordinary wireless LAN operation to a transmission test mode and a burst timing control means 13b for stopping ordinary media access control during the transmission test mode and controlling a burst timing so that a frame transmission timing includes a frequency component of specific audible sound.例文帳に追加

無線ＬＡＮ機器のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）部１３は、通常の無線ＬＡＮ動作から送信テストモードへ切り替えるモード切替手段１３ａと、送信テストモードにおいて通常のメディアアクセス制御を停止し、フレームの送信タイミングが特定の可聴音の周波数成分を含むようにバーストタイミングを制御するバーストタイミング制御手段１３ｂを備えている。 - 特許庁

The optical disk record reproducing device is structured so that a laser output can be set by recording a test signal to a trial writing area placed on the disk, where the test signal is recorded by varying the laser output to the trial writing area and then the laser output is set by recognizing the record characteristics of the recorded signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録することによりレーザー出力を設定することが出来るように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域へレーザー出力を変化させてテスト信号を記録し、記録された信号の記録特性を認識することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁

The medium is characterized by arranging a plurality of test areas (TEST1-TESTn) for writing on trial by the optical beam and a plurality of power setting information areas (PREC1-PRECn) which are disposed between the respective test areas to record an optimum power setting parameter and equipment identifying information of a recording device which performs writing on trial.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁