「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(142ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test method and device for electronic control system which may at least partially avoid any problem of overhead in environmental model, furthermore problem of operating time.例文帳に追加

本発明の課題は、環境モデルにおけるオーバーヘッドの問題、ひいては動作時間の問題を少なくとも部分的に回避する電子制御システムのテスト方法およびテスト装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an irregularity inspection method which enables the acquisition of a result near to the result of a sensory test due to an inspector, a manufacturing method of a display panel using the irregularity inspection method, and an irregularity inspection device.例文帳に追加

検査員による官能検査の結果に近い結果を得ることができるムラ検査方法、このムラ検査方法を利用した表示パネルの製造方法、及びムラ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic connection device for an electric instrument capable of efficiently executing a performance test for various kinds of electric instruments by preventing interference between a protrusion of the electric instrument and a moving body.例文帳に追加

電気計器の突起物と移動体とが干渉することを防止し、様々な種類の電気計器の性能試験を効率よく実施可能な電気計器用自動結線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photo MOS relay drive circuit capable of reducing a drive current without sacrificing turn-off time, and a semiconductor test device using the same.例文帳に追加

本発明は、ターンオン時間を犠牲にすることなく、駆動電流を低減することができるフォトＭＯＳリレー駆動回路およびそれを用いた半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its manufacturing method which plan a high integration and a miniaturization of chips capable of measuring electrical property using a TEG (test) element, and can be manufactured in high quality.例文帳に追加

ＴＥＧ（テスト）素子を利用して電気特性を測定可能にしたチップの高集積化、縮小化を図るとともに、高品質に製造することが可能な半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a processing device using a focusing charged particle beam which can cool a test piece rapidly and can improve processing precision by reducing thermal drift.例文帳に追加

本発明は上記状況に鑑み、試料を迅速に冷却することができ、熱ドリフトを軽減して加工精度を向上させることが可能な集束荷電粒子ビームを用いた加工装置の提供。 - 特許庁

A device includes a mounting part 30 on which a chip 100 is mounted, a light source 80a for emitting light having a prescribed wavelength, and a light receiving element 44 for receiving light reflected by the test paper 107.例文帳に追加

チップ１００が装着される装着部３０と、所定の波長の光を出射する光源８０ａと、試験紙１０７から反射された光を受光する受光素子４４とを備えている。 - 特許庁

In a semiconductor device including a resistance ladder 100 and a control switch 102, the control switch 102 turns on or off under control of a logic circuit to logically test the control switch.例文帳に追加

この発明は、抵抗ラダー部１００と制御スイッチ１０２を備えた半導体装置において、ロジック回路により制御スイッチ１０２をオン／オフ制御して、制御スイッチをロジック的にテストするように構成される。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with the terminal for communication signal, a terminal for test provided correspondingly to the terminal for communicating signal, and an impedance element connected between the terminals.例文帳に追加

半導体デバイスは、通信信号用端子と、通信信号用端子に対応して設けられた試験用端子と、通信信号用端子と試験用端子との間に接続されたインピーダンス素子とを備える。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether to normally decode DMA information in the case of performing a read or write mode through a disk recorder/player and a test device for performing it.例文帳に追加

ディスク記録/再生装置を通じた読出または書込モードの実行時、DMA情報を正常に解読しているかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of reducing a damage to an electrode pad and an interlayer dielectric of a lower layer, reducing the generation of a crack, and performing a highly reliable test of a semiconductor device.例文帳に追加

電極パッドおよび下層の層間絶縁膜へのダメージの低減、クラックの発生の低減を図るとともに、信頼性の高い半導体装置のテストの実施を可能とするプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which can prevent evaporation of a solvent of a conductive adhesive after application of the conductive adhesive, and enables to obtain a piezoelectric device durable in a drop test.例文帳に追加

導電性接着剤を塗布後、導電性接着剤の溶剤が揮発することを抑止すると共に、落下試験に耐えうる圧電デバイスを得ることができる製造方法を提供することにある。 - 特許庁

By displaying the line test data and the reception level reported from the slave station on a display device, the master station can recognize details of a line condition of the slave station without stopping the operation of this communication system.例文帳に追加

親局は、子局から通知された回線試験データと受信レベルを表示装置に表示することにより、通信システムの運用を停止せずに子局の回線状態の詳細を把握可能である。 - 特許庁

To provide ultrasonic flaw detection testing device enabling an inspector to easily know the inner surface state of piping and being capable of improving the accuracy of ultrasonic flaw detection test from the outer surface of the piping.例文帳に追加

検査員が配管内面の状態を容易に知ることができ、配管外面からの超音波探傷試験の精度を向上できる超音波探傷試験装置を提供することである。 - 特許庁

The test device acts like entering data to mobile telephones in place of manual entry according to commands from the personal computer to instruct operations and transmitting data of its display section being the result of entry to the personal computer.例文帳に追加

試験装置の役割は、パーソナルコンピュータからの動作を指示するコマンドとデータにより携帯電話への手入力を代替し、入力結果である表示部のデータをパーソナルコンピュータに送信する。 - 特許庁

To provide a colorimetric method with which correction data or the like required for setting up each device can be accurately created by more accurately performing colorimetry of a test print, and to provide an accurate shading correction method.例文帳に追加

より正確にテストプリントの測色を行なって、各装置のセットアップに必要な補正データ等を精度良く作成可能な測色方法、および精度の良いシェーディング補正方法を提供する - 特許庁

To provide a logic emulator which avoids flow of an excessively large current, to prevent external devices and the logical emulation device from being damaged, thereby smoothly verifying the circuits under test.例文帳に追加

過大な電流が流れることを回避して、外部装置及び論理エミュレーション装置の破損を防止し、検証対象回路の検証作業を円滑に実行できる論理エミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

The projection image display device 100 is configured to display a test pattern image constituting at least a part of each of three or more line segments composing three or more cross points.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、３つ以上の交点を構成する３つ以上の線分のそれぞれの少なくとも一部分を構成するテストパターン画像を表示するように構成される。 - 特許庁

To provide a test technique capable of minimizing a package size by reducing the number of terminals (pins) in a semiconductor device, such as SIP with a plurality of semiconductor chips mounted on a single package.例文帳に追加

複数の半導体チップを単一パッケージに搭載したＳＩＰなどの半導体装置において、端子（ピン）の数を減少させてパッケージサイズを小さくすることができるテスト技術を提供する。 - 特許庁

To provide an artificial satellite system testing device module that can shorten the time for movement and reduce the number of workers by easily moving a plurality of testing equipments and materials among a plurality of test sites.例文帳に追加

複数の試験機材を複数の試験実施場所間で容易に移動することができ、移動時間を短縮でき、作業人員を削減することができる人工衛星システム試験装置モジュールを得る。 - 特許庁

The memory test device tests the memory which stores confidential information data which cannot be read from the outside unless it is encrypted, by using data for check created based on the confidential information data.例文帳に追加

暗号化されない限り外部より読み出し不可能な機密情報データを記憶するメモリを、機密情報データに基づいて生成されたチェック用データを用いて検査するメモリ検査装置である。 - 特許庁

To provide an infrared camera device that enables a camera to acquire sensitivity correction data in a standalone mode according to an ambient environment without the need of a sensitivity property acquiring test in manufacturing cameras.例文帳に追加

カメラ製造時の感度特性取得試験を必要とせず、周辺環境に応じた感度補正データを、カメラがスタンドアロンにて取得可能とする赤外線カメラを提供することを目的とする。 - 特許庁

In this instance, no dedicated solder ball is required on the connection pad part of the second upper layer wiring 29c for test, therefore, the planar size of the overall device can be downsized.例文帳に追加

この場合、テスト用の第２の上層配線２９ｃの接続パッド部上にそれ専用の半田ボールを設ける必要がなく、それに応じて、装置全体としての平面サイズを小さくすることができる。 - 特許庁

By detecting infrared rays from the infrared ray LED 51 of the puncturing needle holder 50 by the detector 3 of the MR photographing device 100A, the position of the puncturing needle holder 50 to a test body 1 is specified.例文帳に追加

穿刺針ホルダ５０の赤外線LED５１からの赤外線をMR撮影装置１００Aのディテクタ３で検出することによって、被検体１に対する穿刺針ホルダ５０の位置が特定される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device wherein wafer test is conducted to automatically judge whether or not a measured chip has a statistically unexpected value and also judge whether or not measurement is conducted again or that the chip is defective.例文帳に追加

ウェハテストにより統計的には予測できない値が測定されたチップを自動で判断して再測定を行うか又は不良と判断することができる半導体装置の製造方法を得る。 - 特許庁

When issuing an IC card 2, the IC card issuing device 1 successively interprets statements included in a test script 15, and makes the IC card 2 execute the interpreted processing to issue the IC card 2.例文帳に追加

ＩＣカード２を発行するとき、ＩＣカード発行装置１は、テストスクリプト１５に含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をＩＣカード２に実行させることで、ＩＣカード２を発行する。 - 特許庁

To provide a printing device which measures the amount of extension after printing by output of a prepared test pattern, and performs printing positions and a deformation process for each printing object such as letters, graphics and images.例文帳に追加

用意されたテストパターンによる出力により印刷後の伸び量を測定し、文字、図形、イメージといった印刷オブジェクト毎に印字位置や変形の処理を行うことが可能な印刷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which assures less amount of overhead of circuit, reduces external terminals led out as the test terminals of a RAM, prevents increase of chip size and improves wiring capability.例文帳に追加

回路のオーバーヘッドが少なく、ＲＡＭのテスト端子として取り出す外部端子を減らし、チップサイズの増大を防ぐと共に、配線性を向上することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加

一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

The analysis means prepares brain science examination result information indicating individuality of a test subject who operates the input device, in order to provide the plurality of control inputs based on the trial result information.例文帳に追加

解析手段は、前記試行結果情報に基づいて前記複数の制御入力を与えるために前記入力装置を操作した被検体の個性を表す脳科学検査結果情報を作成する。 - 特許庁

To provide a probe card and test device including ther same which enhances a reliability of a measurement value of an electric property, suppressing a spark applied to a semiconductor element when operating a switch.例文帳に追加

スイッチの動作時に半導体素子に印加されうるスパークを低減させ、電気的特性測定値の信頼性を向上させることができるプローブカード及びそれを備えるテスト装置を提供する。 - 特許庁

This can provide a man-machine device which can improve the efficiency of the cause analysis work upon the occurrence of the failure and the repair check test and quickly cope with the failure.例文帳に追加

これらのことから、障害発生時の原因解析作業及び改修確認試験の効率化を図ることができ、障害に対して迅速な対応が可能なマンマシン装置を得ることができる。 - 特許庁

To provide an energization test device that can suppress breakage of a terminal of an inspection object by making a probe body pressed on the terminal, while the terminal is reliably brought into contact with a contact member.例文帳に追加

被検査体の端子と接触部材とを確実に接触させた状態でプローブ本体を該端子に押圧させることにより、該端子の破損を抑えることができる通電検査装置を提供する。 - 特許庁

The shear testing device (12) includes a drive mechanism that provides relative movement between an X-Y table (13) to which the substrate (300) is attached and a test tool (100) mounted on a baseplate (20) via a resilient connector (21).例文帳に追加

剪断試験装置（12）は、基板(300)が取付けられるＸ−Ｙテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。 - 特許庁

To obtain topology information through a single link trace test by a communication system such that frames are capsulated on networks of different layers with respect to a communication system and device having a topology retrieval function.例文帳に追加

トポロジー検索機能を有する通信システム及び通信装置に関し、階層が異なる網でフレームがカプセル化される通信システムで、１回のリンクトレース試験によってトポロジー情報を得るようにする。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a mask circuit 11 which is connected to the data input terminals T0 to T3 and passes a test mode setting signal having a smaller pulse width than the prescribed pulse width PW.例文帳に追加

半導体装置１は、データ入力端子Ｔ０ないしＴ３に接続され、所定パルス幅ＰＷより小さいパルス幅を有するテストモード設定信号を通過させるマスク回路１１を備える。 - 特許庁

To provide a PCS testing apparatus and a PCS testing method in which an operation test of a communication device can be performed in the case that a frame is transmitted and received at a specific inter-frame gap.例文帳に追加

本発明は、特定のフレーム間ギャップでフレームを送受信した場合における通信機器の動作試験を可能にするＰＣＳ試験装置及びＰＣＳ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a test contact, its cleaning method, and a semiconductor manufacturing device, capable of executing high-quality cleaning work by a simple constitution, and keeping excellent performance for a long period.例文帳に追加

簡単な構成により、高品質のクリーニング作業を実施すると共に、優れた性能を長期間維持することが可能なテストコンタクト、そのクリーニング方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cylindrical sampling device for a soil test, operable by manpower without using a special auxiliary tool, and capable of easily sampling even a block in the unconsolidated natural ground.例文帳に追加

特別な補助用具を使用せずに人力により操作することができて、かつ未固結な地山でのブロックサンプリングも容易に行うことができる土質試験用円筒試料採取装置を提供する。 - 特許庁

At first, a test tire is attached to a tire travel device to contact with a transparent measuring instrument built-in road face, a treading portion is photographed by a coordinate measuring camera, and a photographed image is imaged on a TV monitor.例文帳に追加

先ず、試験タイヤをタイヤ走行装置に取り付け、透明な計測器内蔵路面に接触させ、座標測定用カメラで接地部分を撮影し、撮影した画像をテレビモニターに映し出す。 - 特許庁

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sealing device for use in leak test of a through hole in which a through hole can be enclosed in inside diameter sealing system by simply inserting a seal head from one direction of the trough hole.例文帳に追加

貫通孔のリークテストにあたり、その貫通孔を密閉するためのシールを貫通孔の一方向からのシールヘッドの挿入のみで、しかも内径シール方式でシールできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide an acoustic characteristic measurement method for acoustic material, advantageous in terms of dissolution of restrictions on incident angle of an acoustic wave with respect to a test piece, and an acoustic characteristic measurement device for the acoustic material.例文帳に追加

供試体に対する音波の入射角の制約を解消する上で有利となる音響材料の音響特性計測方法および音響材料の音響特性計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.例文帳に追加

円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁