「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(140ページ目) - Weblio英語例文検索

The medium for predictably cleaning the contact elements and support hardware of a tester interface, such as a probe card or a test socket, while it is still in manual, semi-automated, and automated handling device and the electrical test equipment are disclosed so that the function and performance of the individual die or IC package may be electrically evaluated.例文帳に追加

個々のダイ又はＩＣパッケージの機能及び性能を電気的に評価することができるように、手動、半自動、及び自動取扱装置にまだある間にプローブカード及び試験ソケットのような試験器インタフェースの接触要素及び支持ハードウエアを予測可能に清浄化するための媒体及び電気試験器具を開示する。 - 特許庁

By sharing a guard ring of an ESD protective element, and a cathode of a latch-up protection diode for protecting from the overcurrent noise in a latch-up test, an internal circuit is protected from both the overcurrent noise of an ESD and the overcurrent noise in a latch-up test, and the size of the electrostatic protection circuit device can be reduced.例文帳に追加

ＥＳＤ保護素子のガードリングとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護するラッチアップ保護ダイオードのカソードを共有することにより、ＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズの両方のノイズから、内部回路を保護しつつ、静電保護回路装置のサイズ縮小を図ることができる。 - 特許庁

The semiconductor devices are loaded on test boards to the number of n (n=4), and tester terminals TDQ03-TDQ1215 to the number of n×m (16) of a semiconductor test device 301B are allocated to all data input/output terminals (DQ [0:3], DQ [4:7], DQ [8:11], DQ [12:15]) of the semiconductor devices 500A-500D.例文帳に追加

半導体装置をｎ個（ｎ＝４）試験用ボードに搭載し、半導体試験装置３０１Ｂのｎ×ｍ個（１６個）のテスタ端子ＴＤＱ０３〜ＴＤＱ１２１５を、半導体装置５００Ａ〜５００Ｄの全てのデータ入出力端子（ＤＱ［０：３］、ＤＱ［４：７］、ＤＱ［８：１１］及びＤＱ［１２：１５］）に割り当てる。 - 特許庁

To provide an osteoporosis diagnosing apparatus capable of constructing a special nuclear magnetic resonance diagnosing device taking a calcaneum as a measurement object, preventing radiation exposure, having high reliability of measurement, undergoing a test in an easy posture, and having a test cost equal to that of the other diagnosing apparatus.例文帳に追加

この発明は、踵骨を計測対象とする専用の核磁気共鳴診断装置を構築し、放射線被曝がなく、計測の信頼性が高く、楽な姿勢で検査が受けられ、しかも他の診断装置と同等程度の検査コストを有する骨粗鬆症診断装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.例文帳に追加

複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁

To obtain a measurement value indicating whether or not compatible by using an angle measurement device for an object to be measured and measuring the angle between inner bottom surface or outer bottom surface and outside or inside of both or one of a test piece offered for strength test of freshly mixed concrete and the frames as objects to be measured.例文帳に追加

本発明は被計測物の角度計測装置に関し、生コンクリートの強度試験に供される供試体（テストピース）や型枠の双方または何れか一方を被計測物としてその被計測物の内底面や外底面と外側や内側の高さがなす角度を測定して適合しているか否かの測定値を得るのに用いる。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

The biological specimen observing and listing device is provided with a protocol file for storing administrative data corresponding to each test, transcribes the administrative data to the table when creating the table of test results from the data on the results of observation tabulated by the coordinating and tabulating means, and arranges the data on the results of observation according to the administrative data.例文帳に追加

各試験に対応する管理データを格納するプロトコールファイルを備えており、整理・集計手段において集計された観察の結果に関するデータから試験結果表を作成するときに管理データを前記表へと転記し、管理データに対応して観察の結果に関するデータを配列する。 - 特許庁

This device is characterized by having a signal generator for inputting a white noise into the test object, an analytical means for executing frequency analysis of an output of the test object, and calculating a spectrum to be tested, and a determination means for determining the quality based on the spectrum to be tested of the analytical means.例文帳に追加

本装置は、被試験対象に白色ノイズを入力する信号発生器と、被試験対象の出力を周波数解析し、被試験スペクトルを算出する解析手段と、この解析手段の被試験スペクトルに基づいて、良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

The device is provided with: a converting means for converting the internal potential to be monitored into a digital signal based on reference voltage applied from the outside in response to a test mode signal; and an output means for transmitting the digital signal to a scheduled arbitrary pad in response to the test mode signal.例文帳に追加

テストモード信号に応答して外部から印加される基準電圧に基づき、モニターしようとする内部電位をデジタル信号に変換する変換手段と、前記デジタル信号を前記テストモード信号に応答して予定された任意のパッドに伝送する出力手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

A wireless communication device is provided with: a transmission means that wirelessly transmits a test signal a prescribed number of times, at an interval shorter than a data signal transmission interval; and a measurement means that measures the reception statuses of a plurality of acknowledgement signals returned in response to the respective test signals transmitted by the transmission means.例文帳に追加

無線通信装置が、テスト信号をデータ信号送信間隔よりも短い間隔で所定回数無線送信する送信手段と、この送信手段により送信された各テスト信号に対しそれぞれ返信される複数の確認応答信号の受信状況を計測する計測手段と、を備える。 - 特許庁

A wireless frequency setting center device transmits a transmission instruction text signal instructing emission of a test radio wave to a radio communication unit of a newly installed channel via a 1st communication channel and the radio communication unit of the newly installed radio channel emits a test radio wave in response to the transmission instruction text signal.例文帳に追加

無線周波数設定センター装置から新設無線回線の無線通信装置に対して試験電波の発射を指示する送信指示電文信号を第１の通信回線を介して送信し、送信指示電文信号に応答して新設無線回線の無線通信装置において試験電波を発射する。 - 特許庁

The device 30 reads a configuration management ID of the test server 20 corresponding to a resource that is an object of delivery from the delivery management table 354, and reads a configuration management ID of the test server 20 corresponding to a premise environment corresponding to the read delivery management ID from the configuration management table 356.例文帳に追加

リソース管理装置３０は、配信対象となるリソースに対応するテストサーバ２０の構成管理ＩＤを配信管理テーブル３５４から読み出し、読み出した配信管理ＩＤに対応する前提環境に対応するテストサーバ２０の構成管理ＩＤを構成管理テーブル３５６から読み出す。 - 特許庁

To aim at reduction of man-hours by automatic measurement by taking a device capable of conveying a semiconductor chip element after being packaged by an insulating resin into automatic test equipment (ATE) for semiconductor wafer measurement, and to reduce man-hours and to heighten accuracy of electric test evaluation of the semiconductor chip element after being packaged.例文帳に追加

絶縁性樹脂によるパッケージ後の半導体チップ素子を半導体ウェハ測定用の自動試験装置（ＡＴＥ）に搬送できる工夫を取り入れ、自動測定による工数削減を狙うものであり、パッケージ後の半導体チップ素子の電気的試験評価の工数削減及び高精度化を図る。 - 特許庁

The solderability-testing device for evaluating solderability is provided with a heating member 4 that is capable of controlling temperature being retained with a specific gap to a metal test piece 2, and a means for measuring wetting force while keeping the temperature of the metal test piece 2 at a specific temperature by the heating member 4.例文帳に追加

はんだ濡れ性を評価するはんだ濡れ性試験装置において、金属試料片２と所定の間隔を保ち設けられる温度制御可能な加熱部材４と、加熱部材４により金属試料片２の温度を所望温度に保ちながら濡れ力を測定する手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

A multi probe card unit 100 is provided with a probe card 120 having probes on both surfaces and can simultaneously test a plurality of wafers by the contact between the pads of the wafers 300 respectively approaching one surface and the other surface of the probe card, and the probes, and the probe test device 500 is provided with the same.例文帳に追加

探針が両面に設けられるプローブカード１２０を備え、プローブカードの一面及び他面にそれぞれ接近するウェーハ３００のパッドと探針との接触により複数のウェーハを同時に検査できることを特徴とするマルチプローブカードユニット１００及びそれを備えたプローブ検査装置５００である。 - 特許庁

The semiconductor device 10 is equipped with a substrate 11, a pad 12 for an antenna which is formed on the substrate, a pad 13 for a test which is formed on the substrate, a filler-contained insulating resin layer 16 which covers the pad for the test other than the pad for the antenna, and a bump 14 provided on the pad 12 for the antenna.例文帳に追加

半導体装置１０は、基板１１と、基板に形成されたアンテナ用パッド１２と、基板に形成された試験用パッド１３と、アンテナ用パッド以外の試験用パッドを被覆するフィラー入りの絶縁樹脂層１６と、アンテナ用パッド１２上に設けられたバンプ１４とを備えた構成とする。 - 特許庁

To make exactly performable recording/reproducing with a little data amount and late sampling time while temporally synchronizing a control unit and an automatic test device without deviation in the case of a long-time test and further to record/reproduce high frequency and low frequency signals with a little data amount.例文帳に追加

長時間テスト時の制御装置と自動テスト装置の間の時間の同期をずれなくとり、かつ少ないデータ量、遅いサンプリング時間で記録・再生を正確に行うことができ、さらに高周波信号、低周波信号を少ないデータ量で記録・再生することの可能な自動テスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the semiconductor device 1, at the time of a test mode, a signal for controlling operation is inputted to only one part of input pads 12 out of a plurality of pads, the pad for inputting this signal and input pads 13-15 other than an input pad 11 for inputting signal for starting execution of the test mode are not used.例文帳に追加

半導体装置１では、試験モード時においては、複数のうちの一部の入力パッド１２にのみ動作の制御用の信号が入力され、この信号の入力用と、試験モードの実行を開始させるための信号入力用の入力パッド１１以外の入力パッド１３〜１５は使用されない。 - 特許庁

When a test image to confirm the operation states of the printing elements is printed and outputted by a printing device 12, referring to the test image, the operator inputs the number and operation state of the malfunction printing element through an operation section 16, then, an operation reception section 102 receives information on the operation state.例文帳に追加

印字素子の動作状態を確認するための試験画像を印刷装置１２が印刷出力すると、操作者はこの試験画像を参照し、動作不良の印字素子の番号と動作状態とを操作部１６から入力し、操作受付部１０２が動作状態に関する情報を受け付ける。 - 特許庁

To provide a flicker noise test system that improves frequency response characteristics of measurement system components to ascertain characteristics of flicker noise of smaller devices, eliminates or controls electrical noise that may inversely affect the system and ensures the accuracy of DC measurements for the device under test.例文帳に追加

小型のデバイスのフリッカ雑音の特性を明らかにするために、測定システムの構成素子の周波数応答特性を良好にしたり、このシステムに悪影響を及ぼすおそれのある電気雑音を排除又は制御したり、試験状態にあるデバイスに対する直流測定を正確にしたフリッカ雑音試験システムを提供する。 - 特許庁

In the optical disk recording device, data for determining the initial value of the laser driving voltage is acquired by performing a test recording in the test writing area of an optical disk and the initial value of the laser driving voltage in a target recording power is obtained using the relational expression between the laser driving voltage and recording power calculated based on these data.例文帳に追加

光ディスク記録装置は、光ディスクの試し書き領域にテスト記録を行って、レーザ駆動電圧の初期値決定用のデータを取得し、これらのデータに基づいて算出したレーザ駆動電圧と記録パワーとの関係式を用いて目標記録パワーにおけるレーザ駆動電圧の初期値を得る。 - 特許庁

The structure that the metal balls 106 are not provided at the four corners of the grid pattern is determined based on the result of the temperature cycle test that abrupt changes in ambient temperature are repeated after mounting a semiconductor device 1 on a mounting board via the bump electrodes of the metal balls 106 and the shock test which provides an established shock.例文帳に追加

格子状形状の４隅に金属ボール１０６を設けない構造は、半導体装置１を金属ボール１０６のバンプ電極を介して実装基板へ実装した後、急激な周囲温度の変化を繰り返す温度サイクル試験、及び所定の衝撃力を与える衝撃試験の結果に基づく処理である。 - 特許庁

When a phased-array antenna of the synthetic aperture radar device 5 as a test body is mounted on a positioner 3 and the phased-array antenna changes the beam direction with electronic control, the positioner 3 is rotated to cancel the change, and the antenna is always directed to a test signal occurrence section 2 even when the beam direction is changed.例文帳に追加

供試体としての合成開口レーダ装置５のフェーズドアレイアンテナをポジショナ３に載せ、このフェーズドアレイアンテナが電子的な制御によりビーム方向を移動したときに、その移動を相殺するようにポジショナ３を回転させて、ビーム方向を移動しても常に試験信号発生部２を指向させる。 - 特許庁

To provide a test socket of a semiconductor device having a large contact area to an external terminal, high current, capable of conducting a high frequency reliability test, of preventing insufficient soldering in mounting caused by scratches on the surface of the external terminal, and of preventing damage such as breakage or chipping in a product.例文帳に追加

外部端子との接触面積が大きく、十分な大電流、高周波信頼性試験を行うことができ、外部端子表面への疵付けで実装時の半田付けが十分に行えなくなる虞が少なく、製品に破損や欠けなどの問題が生じる虞が少ない半導体装置のテストソケットを提供する。 - 特許庁

The semiconductor storage device has a test mode decision circuit 40 in which a first sense amplifier external activating signal SAPE as an external signal for a first sense amplifier activating signal SAP and a word line batch write mode selection signal TEST are inputted in its peripheral circuit part and the first amplifier activating signal SAP is outputted.例文帳に追加

半導体記憶装置は、その周辺回路部に、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰの外部信号である第１のセンスアンプ外部起動信号ＳＡＰＥ及びワード線一括書き込みモード選択信号ＴＥＳＴを入力とし、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを出力するテストモード判定回路４０を有している。 - 特許庁

Therefore, a decision on the result of address access time performance of the memory circuit 100 and a function test of the memory circuit 100 can be simultaneously performed in a test step without adding new external terminals by providing the speed decision circuit 120 in a semiconductor integrated circuit device incorporating the BIST circuit 110.例文帳に追加

これにより、スピード判定回路120を、BIST回路110を内蔵した半導体集積回路装置に設けることで、新たな外部端子を追加をすることなく、半導体集積回路装置のテストの段階において、メモリ回路100の機能テストと同時に、メモリ回路100のアドレスアクセスタイム性能の合否を判定することができる。 - 特許庁

A high-speed signal transmission path to which the transmitter having a pre-emphasis function is connected is characterized that a serial circuit of ferrite beads and a capacitor is connected between the transmission path and a return path, and is effective also as a pin electronics part path of the semiconductor test device which performs a highly reliable high-speed test.例文帳に追加

プリエンファシス機能を有する送信機が接続される高速信号伝送路において、前記伝送路とリターン路との間にフェライトビーズとコンデンサの直列回路が接続されたことを特徴とするもので、信頼性の高い高速テストを行う半導体試験装置のピンエレクトロニクス部経路としても有効である。 - 特許庁

To provide a sensuous evaluation measure creating method, program and sensuous evaluation measure creating device, in which a rank of a test sample matches the order of numerical values of created measured, the created measures express the measures as an evaluator actually feels, and a single measure is created to the test sample.例文帳に追加

テストサンプルの序列と、作成された尺度の数値の大小の順序が整合し、作成された尺度が、評価者が実際に感じるような尺度を表し、さらに、テストサンプルに対して単一の尺度が作成される官能評価尺度作成方法、プログラムおよび官能評価尺度作成装置を提供する。 - 特許庁

A prescribed test pattern is inputted with reference to previously generated test data for an LSI 105 to the LSI 105, which is provided with both a plurality of shift registers 200 and an indeterminate mask device 220 for masking output of a shift register 200 to be masked, on the basis of randomly generated mask patterns and control signals.例文帳に追加

複数のシフトレジスタ２００と、ランダムに生成したマスクパターンと制御信号とに基づいて、マスク対象となったシフトレジスタ２００の出力をマスクする不定マスク器２２０と、を備えたＬＳＩ１０５に、あらかじめ作成したＬＳＩ１０５用のテストデータを参照して、所定のテストパターンを入力する。 - 特許庁

The sample tablet collapsing device is provided with a sample tablet receiving tool for arranging the the sample tablet in the vicinity of a liquid level of the collapse test liquid filled in the collapse test container, and a pressor tool for pressing the sample tablet arranged on the receiving tool, from an upper side.例文帳に追加

崩壊試験液を充填した崩壊試験容器中に試料錠を崩壊させる試料錠崩壊装置であって、崩壊試験容器内に充填された崩壊試験液の液面付近に試料錠を配置させる試料錠の受け具と、同受け具上に配置した試料錠を上方より押さえる押さえ具とを備えた。 - 特許庁

This device is characteristically provided with a current part for supplying or drawing current to/from the output pin of the test object, and the measurement part for measuring the output voltage of the output pin of the test object while correcting by the output resistance value and current value of the current part.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力ピンに電流の供給または吸引を行う電流部と、被試験対象の出力ピンの出力の電圧測定を行い、被試験対象の出力抵抗値と電流部の電流値とにより補正する測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

In this case, a bending moment applied to the test hose H is measured by a traction load measured by a load cell 5 and each effective radius of the rotary disks 2, 2 on which the rope body 4 is wound, and a curvature of the test hose H is measured by each rotation angle of the rotary disks 2, 2 measured by an image processing device.例文帳に追加

その際、ロードセル５により計測された牽引荷重と、索体４が巻き回されたロータリーディスク２，２の有効半径とによって供試ホースＨに作用する曲げモーメントが測定され、画像処理装置により計測されたロータリーディスク２，２の回動角度によって供試ホースＨの曲率が測定される。 - 特許庁

To provide a heat-resisting fatigue test method for a ceramics sintered body and its device, capable of simplifying a measurement operation, and capable of obtaining a high-precision measurement result of a measurement of the change on standing of thermal fatigue or the like, concerning a heat-resisting fatigue test of a ceramics sintered body receiving repeated heating and cooling.例文帳に追加

繰り返し加熱、冷却を受けるセラミックス焼結体の耐熱疲労性テストについて熱疲労の経時変化が計測できる等高精度の測定結果を得ることができると共に計測操作が簡便になるセラミックス焼結体の耐熱疲労性テスト方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁

The characteristic test device 10 is provided with measuring means 11 for measuring the optical characteristics or electrical characteristics of the plurality of optical modules, and covers 12 connected to air supply pipes 12a for supplying gas of the prescribed temperature, and put on the test boards 8 to form spaces of the prescribed temperature for shutting up the plurality of optical modules.例文帳に追加

特性検査装置10は、複数の光モジュールの光学的特性或いは電気的特性を測定する測定手段11と、所定温度の気体を送る送気管12ａが接続され、検査ボード８に被せて複数の光モジュールを閉じ込める所定の温度空間を形成するカバー12とを備えている。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

A selector 5 selects the TDO(test data output) signal of the integrated circuit device to be inspected from among the test data (TDO signals), outputted from the TDO terminals of the integrated circuit devices 1, 2, 3 corresponding to the selection signal Ss supplied from the external inspection apparatus, to send the same to the external inspection apparatus.例文帳に追加

セレクタ５は、外部の検査装置から供給される選択信号Ｓｓに応じて、集積回路デバイス１，２，３の各ＴＤＯ端子からそれぞれ出力されるテストデータ（ＴＤＯ信号）の内、検査対象の集積回路デバイスのＴＤＯ信号を一つ選択して外部の検査装置へ送出する。 - 特許庁

This semiconductor device according to one embodiment includes: a plurality of test elements formed in an array pattern on a semiconductor substrate; an address signal generating part for generating an address signal in response to the respective test elements; and a digital-analog converter for converting the address signal into an analog signal for outputting.例文帳に追加

本発明の一態様は、半導体基板上にアレイ状に形成された複数のテスト素子と、各々の前記テスト素子に対応するアドレス信号を生成するアドレス信号生成部と、前記アドレス信号をアナログ信号に変換して出力するデジタルアナログコンバータとを備える半導体装置である。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Since a non-conductor coating 6 can be formed on only the first flat region 14a when a semiconductor device determined as an unacceptable product in the electric characteristic test is electrically disconnected from a common wiring, the burn-in test and the formation of the external connection terminal can be positively and stably formed.例文帳に追加

電気特性検査によって不良と判定された半導体装置を共通配線から電気的に切り離す際に第１の平坦領域１４ａのみに不導体被膜６を形成することができ、バーンイン試験および外部接続端子の形成を確実に安定して行うことが可能となる。 - 特許庁

To detect the possibility of dead lock based on access information to a common resource acquired when each test is performed to each processing constituting the combination of processing having the possibility of the generation of dead lock, and to device a necessary countermeasure against an assumed dead lock even if the dead lock is not actually generated at each test.例文帳に追加

デッドロックを発生させる可能性のある処理の組み合わせを構成する各処理を、別々に行ったテスト時に取得した共通の資源に対するアクセス情報を元にデッドロックの可能性を検出し、実際にテストでデッドロックを発生させなくても必要な対策を講じる事を可能とする。 - 特許庁

Since abnormal yield can be found in the early stage and the factor of defect can be separated between a preceding step and a following step by conducting leak current test or function test of a semiconductor device, time loss incident to investigation of the cause of defect can be reduced and productivity can be enhanced.例文帳に追加

この構成によれば、インライン検査において、半導体装置のリーク電流検査または、機能検査をすることで、歩留異常を早期に発見でき、前工程と後工程との不良要因を分離することができ、これらにより不良原因究明に伴う時間ロスを低減できるため生産性を向上することができる。 - 特許庁

The semiconductor inspection device includes a cassette 7 where a lot box 2 containing a plurality of wafers 1 is set, a wafer transfer section for transferring the wafers from the lot box 2 to a water test section, and a wafer buffer 8 for storing a predetermined wafer of the plurality of wafers between the cassette 7 and water test section.例文帳に追加

本発明にかかる半導体検査装置は、複数のウェハ１が格納されたロットボックス２がセットされるカセット７と、ロットボックス２からウェハテスト部へウェハを搬送するウェハ搬送部と、カセット７とウェハテスト部との間に複数のウェハのうち所定のウェハを格納するウェハバッファ８と、を備えるプローバを有する。 - 特許庁

A device for a safety evaluation test is configured in such a manner that a gas and the like containing an explosive component to be generated when a safety evaluation test is performed to a Li ion battery module 2 is to be discharged through a pipe arrangement 40 together with air supplied separately by gas supplying means 10 or the like and auxiliary gas supplying means 30 or the like.例文帳に追加

Ｌｉイオン電池モジュール２に対して、安全性評価試験が行なわれた際に発生する爆発性成分を含むガス等が、ガス供給手段１０等と補助ガス供給手段３０等からそれぞれ供給される空気とともに配管４０を通り排出されるように構成されている。 - 特許庁