「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(141ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten a total beam scanning time, and to reduce a device scale, by controlling a threshold level and application of a test beam according to the state of the distance to a detection target candidate to be irradiated with the test beam, existence of echo of a secondary radar, the state of priority of target detection with in a require area and a clutter or the like.例文帳に追加

検定ビームを照射する検出目標候補までの距離や２次レーダのエコー有無等の状態、所要のエリア内における目標検出の優先度やクラッタ等の状況によりスレッショルドレベルと検定ビームの適用を制御することで、トータルのビーム走査時間を短縮し、装置規模を削減する。 - 特許庁

To provide the detecting method and device for leakage in a heat exchanger for motorcar, which not only improve the utilizing rate of a machine as well as the reliability of leakage test but also remove restricting condition accompanied by the use of tracking gas and generate no charge for the method and device.例文帳に追加

機械の利用率および漏れテストの信頼性が向上するほか、追跡ガスの使用に伴う制約条件が除外され、また費用も発生しない、自動車用熱交換器内の漏れ検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

The material testing apparatus applies compressive and tensile loads to the material test piece 14 by means of a loading device 13, with the load of the loading device being controlled to follow a desired value Ei transmitted from a desired load signal generating part 2.例文帳に追加

材料試験装置は、荷重負荷装置（１３）で材料試験片（１４）に圧縮・引張荷重を加えるとともに、この荷重負荷装置の負荷が、目標負荷信号発生部（２）からの目標値（Ｅｉ）に追従する様に制御されている。 - 特許庁

To improve piping for thermostatic equipment used for a testing device called a wafer prober and used to test the performance of a semiconductor wafer and so on, the piping for thermostatic equipment being developed which dissipates less heat and is easily moved in the device.例文帳に追加

ウエハプローバと称される様な半導体ウエハの性能試験等に使用される試験装置で使用される恒温機器用配管を改良するものであり、放熱が少なく、且つ装置内で動かし易い恒温機器用配管の開発を課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加

シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether to normally generate or update DMA information in reinitializing an SDL while converting the SDL without performing verification through a disk recording and reproducing device and a test device for performing this.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じて検証せずにＳＤＬを変換しつつ再初期化の時、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するのかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scale measuring method and device capable of shortening time required for individual test piece in scale weight measurement, suppressing errors in the scale weight measurement to a minimum, and simplifying the structure of a device to be used.例文帳に追加

スケールの重量測定における個々の試験片ごとに要する時間が短縮し、スケールの重量測定の誤差が小さく抑えられるとともに、使用する装置の構造も簡素化できるスケール測定方法およびスケール測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of carrying out a parallel test which compares outputs of a plurality of data output lines in a short period of time, in the semiconductor memory device in which the data output lines such as MIO lines are commonly used by a plurality of BANKs.例文帳に追加

複数のＢＡＮＫでＭＩＯ線等のデータ出力線を共通化した半導体記憶装置において複数のデータ出力線の出力を比較するパラレルテストを短時間で行うことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polymer material evaluation method capable of evaluating easily and accurately a chlorine resistance of a polymer material, by a device capable of controlling automatically a residual chlorine concentration, a temperature, a pH and a circulation velocity of a test liquid within set ranges thereof, and a device used in the same.例文帳に追加

試験液の残留塩素濃度、温度、ｐＨ、循環速度を自動的に設定範囲に制御可能な装置によって、高分子材料の耐塩素性を簡便かつ正確に高分子材料評価する方法及びそれに用いる装置の提供。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

To provide an automatic test device easily installed and removed, synchronously and automatically providing measurement data of good quality, measuring without enlarging the device, even if the number of measurement target signals is increased, and facilitating the handling of the measurement data.例文帳に追加

設置および撤去が簡便で品質の良い測定データが同期して自動的に得られ、測定対象の信号の数が増加しても、装置を大型化することなく測定でき、測定データの取り扱いが簡便である自動試験装置を提供する。 - 特許庁

The holder in one example includes two members between which the test soil device 6 is detachably attached so that the device 6 can be easily removed for inspection and maintained in a required orientation in the washing apparatus in use.例文帳に追加

一つの実施例のホルダーはその装置６が検査時に簡単に取外せるように、そして使用時に洗浄装置の中で要求させる方向が維持できるように、その汚れ検査装置６が取外し可能に間に取り付く二つの部材を含んでいる。 - 特許庁

To obtain a device with which wear test of an artificial joint can be performed in operation conditions specific to each portion of a human body using an NC lathe or a machining center; and to propose a method for testing wear of the artificial joint using the device.例文帳に追加

ＮＣ旋盤やマシニングセンタを用いて人体の各部位に特有な動作条件で人工関節の摩耗試験を行うことができる装置を得ること、及び当該装置を用いて人工関節の摩耗試験を行う方法を提案する。 - 特許庁

The inkjet recording device includes: a detection means 414 that detects either an environmental temperature or environmental humidity in which the recording device body 1 is placed; and a control means 401 that controls the inkjetting amount to the test pattern.例文帳に追加

インクジェット記録装置には、記録装置本体１が設置されている環境温度と環境湿度の少なくとも一方を検出する検出手段４１４と、テストパターンへのインク打込み量を制御する制御手段４０１とが備えられている。 - 特許庁

An external connection electrode 21, which has the same outer size and cross section as for an external connection electrode 21, formed in a semiconductor device forming region 11, is formed at a peripheral part of a semiconductor device test region 11a with the same process.例文帳に追加

半導体装置テスト用領域１１ａの周辺部には、半導体装置形成領域１１内に形成される外部接続用電極２１と同一プロセスで同一の外形サイズおよび断面積の外部接続用電極２１が形成される。 - 特許庁

To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

Actual equipment is connected with an evaluation device in which an expectation value at test signal processing by the imaging apparatus is stored, and a quality of assembly of the imaging apparatus is evaluated by comparing the expectation value prepared beforehand in the evaluation device with an output of the actual equipment.例文帳に追加

撮像装置でテスト信号を処理させた時の期待値を格納した評価装置に実機を接続して、評価装置に予め用意しておいた期待値と実機出力との比較を行うことで撮像装置の組み立て品質を評価する。 - 特許庁

To provide a microplate feeding storing device dispensing with a re-stacking work, and capable of improving efficiency of a test work, and a feeding method and a storing method of the microplate in the microplate feeding storing device.例文帳に追加

リスタック作業を必要とせず、試験作業の効率を向上させることができるマイクロプレートの供給収納装置およびこのマイクロプレートの供給収納装置におけるマイクロプレートの供給方法ならびに収納方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit conveying device capable of shortening the time until a measured IC reaches the measurement temperature, securing the reliability of an RF selecting test or the like, and miniaturizing the whole device.例文帳に追加

被測定ＩＣが測定温度に達するまでの時間を短縮することができ、ＲＦ選別試験等の信頼性を確保することができるとともに、装置全体を小型化することのできる半導体集積回路搬送装置を提供する。 - 特許庁

The mounting substrate has connecting wiring (50) connecting a data input-output terminal (10c) for the first semiconductor device (3) and the data input-output terminal (11d) for the second semiconductor device (4), and has branch wiring (51) to a test terminal (12t) from an intermediate section.例文帳に追加

実装基板に第１の半導体デバイス（３）のデータ入出力端子（１０ｃ）と第２の半導体デバイス（４）のデータ入出力端子（１１ｄ）と接続する接続配線（５０）を有し、途中からテスト端子（１２ｔ）に至る分岐配線（５１）を有する。 - 特許庁

After the processed data are transmitted to an output means corresponding to respective output formats, the data are briefly processed by means of the output means and transmitted to the output device 30, and then, the output device 30 outputs the IC test data.例文帳に追加

そして、加工されたデータを各出力形式に対応する出力手段に送信し、出力手段が当該データに簡単な処理を施し、出力装置３０に送信することにより、出力装置３０がＩＣ試験データの出力を行う。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which reduces loading effect by dry etching that occurs due to density difference between a test pattern for estimating transistor characteristics and a pattern in a pixel main body and that causes different processed shapes and displays different characteristics in a process for forming a TFT thin film transistor of the liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置のＴＦＴ薄膜トランジスタ形成工程において、トランジスタ特性を評価するテストパターンと画素本体内のパターンの密度差からドライエッチによるローディング効果で、加工形状が異なり、特性に差が現れる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a drop in the reliability of a bump connection can be prevented, a drop in the reliability of a flip-chip connection can be prevented and a die sorting test is performed easily and simply when the semiconductor device having a pad for bump connection is manufactured.例文帳に追加

バンプ接続用パッドを有する半導体装置の製造に際して、バンプ接続部の信頼性の低下を防止するとともに、フリップチップ接続時の信頼性の低下を防止することができ、ダイソートテストを容易かつ簡便に行う。 - 特許庁

To provide a handling device of a fluid sensor dispensing device having the improved design and mechanism for releasing a sensor after the completion of a test, being easily operated by a user, and reducing the undesired release of the sensor.例文帳に追加

試験の完了後にセンサを放出させるための改良された設計及び機構を有し、使用者がより容易に操作することができ、意図しないセンサの放出を減らした改良された流体センサ分与装置取扱い装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device automatically informing an operator of the necessity of cleaning a plate for correction when the measured value of a high density part becomes an abnormal value in measuring the density of the image of a test print by a colorimetric device.例文帳に追加

測色装置によりテストプリントの画像の濃度を測定した際に、高濃度部の測定値が異常値となった時には、自動的に校正用プレートの清掃の必要性をオペレータに報知することのできる画像処理装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device for rapidly and precisely determining defects such as exfoliation seen in a composite material without immersing a test body in water or coating it with a contact medium, and also to provide an inspection method using the same inspection device.例文帳に追加

試験体を水に浸したり、接触媒質を塗布することなく、複合材料にみられる剥離等の欠陥を迅速且つ精密に識別することが可能な超音波検査装置及びこの超音波検査装置を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an air conditioning device, which recovers most of sealed refrigerants for an operation test in a short time and leaves only an appropriate amount of the refrigerants in an air conditioning device.例文帳に追加

可燃性冷媒を用いる空気調和装置の製造時に、動作テスト用に封入した冷媒を、短時間で大半を回収するとともに、適度な量だけ空気調和装置内に残存させる空気調和装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The labor and time consumed in visual acuity test can be reduced because the size of the visual target 2 and the length of the light path 16 is automatically changed and a form, where a tester asks while operating a device and the subject answers, does not need to be employed in the device.例文帳に追加

この装置によれば、視標２の大きさや光路１６の長さは自動的に変更され、検査者が装置を操作しながら質問し被検者が答えるという形式を採らなくても良いので、視力検査の手間や時間を軽減できる。 - 特許庁

By carrying out combined measurement of an interferometer and a polarization meter for an objective device under test, the uncertainty of relative phase in property solution of device performed only by a polarization meter or a polarizing analyzer is eliminated.例文帳に追加

被測定対象デバイスについて干渉計及び偏光計の組み合わせ測定を行うことにより、偏光計のみまたは偏光分析器のみによって実施されるデバイスの特性解明における相対的な位相の不確実性が除去される。 - 特許庁

By means of this image correction device and this pattern test device, a two-dimensional linear model is identified from the pattern image, and using the sum value of identified parameters, a correction pattern image based on a two-dimensional linear prediction model and an interpolation correction image based on bicubic interpolation are switched mutually.例文帳に追加

パターン画像から２次元線形モデルを同定し、この同定パラメータの和の値を利用して、２次元線形予測モデルによる補正パターン画像と双３次補間による補間補正画像とを切り換える画像補正装置、パターン検査装置。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of arranging a plurality of device measuring apparatuses made of BOST (Built-Off Self-Test) boards etc. in the vicinity of a device to be measured and highly accurately testing a large number of circuits mixed onto a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

被測定デバイス近傍にＢＯＳＴボードなどからなる複数のデバイス測定装置を置くことができ、半導体集積回路に多数混載された回路の高精度な試験を行うことができる半導体集積回路の試験装置を提供する。 - 特許庁

In the method for checking the post-processing device function, a printing job transmitted from a host computer by a user for function checking is stored in the printer control device as a print file, and printing the stored print file is executable with the test print menu.例文帳に追加

前記後処理装置の機能確認方法として、ユーザが機能確認用にホストコンピュータから送信する印刷ジョブを、印刷ファイルとしてプリンタ制御装置内に格納し、格納した印刷ファイルをテスト印刷のメニューから印刷できるようにした。 - 特許庁

To provide a display device which has a test circuit, having high accuracy of testing, after a counter substrate jointing stage and before shipment, and a display device which has a correction circuit in itself, when there is a defect.例文帳に追加

対向基板貼り合わせ工程後及び出荷前検査において、確度の高い検査回路を有する表示装置、また不良が発生した場合の表示装置内部における補正回路を具備する表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A color image output device outputs a test chart consisting of a patch at least in any of black, cyan, magenta and yellow, is outputted from a color image output device, and compared with a patch of a reference chart prepared in advance to conduct density adjustment (step S100).例文帳に追加

ブラックとシアン、マゼンタ、イエローのうちの少なくとも１色のパッチからなるテストチャートをカラー画像出力装置から出力して、予め用意した基準となるリファレンスチャートのパッチと比較して濃度調整を行うようにする（ステップＳ１００）。 - 特許庁

The test management device 1 comprises a specification part 15 which reads relevant information, upon receiving code correction information showing a module related to a corrected source code, from a first storage part 12 storing relevant information relating each module constituting software with test items related to each module, and specifies the test items related to the module shown by the code correction information in the read relevant information.例文帳に追加

試験管理装置１は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部１２から関連情報を読み出すと共に、読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部１５を備える。 - 特許庁

In the material designing device 100 for a thin film stock produced by continuous casting, a solidified structure obtained by a small-scale test by a casting apparatus 210 for a test is arranged by local temperature history obtained by performing casting simulation obtained by simulating the small-scale test, thus the specification of a large-scale continuous casting apparatus 220 for mass production capable of reproducing the same local temperature history is decided by casting simulation.例文帳に追加

連続鋳造によって製造される薄膜素材の材料設計装置１００において、試験用鋳造装置２１０による小規模試験で得られた凝固組織を、この小規模試験を模擬した鋳造シミュレーションを実施して得られた局所温度履歴で整理することによって、同一の局所温度履歴を再現し得る大規模な量産用連続鋳造装置２２０の仕様を、鋳造シミュレーションによって決定する。 - 特許庁

To provide a leakage detector equipped with an inexpensive and compact test device for checking performance of the leakage detector without using resistor components of high rated power or high heat resistance, while reducing heat generated by test operation, possibility of disconnection and burning of electric wires due to heat generation, and impact on periphery components by heat as much as possible, thereby reducing power consumption for test operation.例文帳に追加

漏電検出器の動作を確認するためのテスト装置を，定格電力や耐熱性能の高い抵抗部品を用いることなく安価で小型に構成でき，また，テスト動作に伴う発熱や，該発熱に伴う電線の断線や焼損が起こる可能性，ならびに熱による周辺部品への影響を極力低減でき，しかも，テスト動作のために消費する電力を低減できるテスト装置を備えた漏電検出器を提供すること。 - 特許庁

In this test system for a wireless device comprising a mobile wireless apparatus 2 for receiving a command from a tester 1 for the wireless device and transmitting existence of a prescribed function to the tester for the wireless device, when measuring a power loss generated between the tester 1 for the wireless device and the mobile wireless apparatus 2, measurement is performed by utilizing a protocol message of the mobile wireless apparatus 2.例文帳に追加

線機用テスタ（１）からの指令を受信し、所定の機能の有無を前記無線機用テスタに送信する移動無線装置（２）と、からなる無線機用テストシステムにおいて、 前記無線機用テスタ（１）と移動無線装置（２）との間で生じる電力損失を測定するに際しては、前記移動無線装置（２）のプロトコルメッセージを利用して測定する。 - 特許庁

A plurality of test strip calibration codes is stored in a memory in the device, and those codes represents a plurality of geometric regions in a multi-dimensional calibration parameter space.例文帳に追加

この装置における一定のメモリー内に保管されるものとして、複数の試験片較正コードがあり、これらのコードは一定の多次元的な較正パラメーターの区域における複数の幾何学的領域を示す。 - 特許庁

To provide a test bench conditioning system and a device for operating a system of this type, with which optimum simulation for the temperature profile of an operating fluid of a machine is possible with the slightest deviations from a preset profile.例文帳に追加

作業機械の作動流体の温度経過の最適なシミュレーションが所定経過から最小偏差により可能である試験台調整システムとこの種のシステムを作動する装置を提供すること。 - 特許庁

This display panel driving device is constituted by providing a selector circuit between a holding circuit and a conversion circuit to substitute a value of low-order bit for a value of high-order bit in accordance with a test signal to be inputted into the selector circuit.例文帳に追加

保持回路と変換回路との間にセレクタ回路を設け、当該セレクタ回路に入力されるテスト信号に応じて、下位ビットのビット値を上位ビットのビット値に置換する表示パネル駆動装置。 - 特許庁

To provide a device and a method for checking memory, a storage medium and an information processor, with which the confirmation test of fault detection can be easily performed and time required for a memory check can be optimized and shortened.例文帳に追加

故障検出の確認試験を容易に行うことができ、またメモリチェックに要する時間を最適化し短くできる、メモリチェック装置，メモリチェック方法，記憶媒体，情報処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test print for shading correction that can perform shading correction without incurring cost increase while correcting shading of an exposure device with high precision, and a shading correction method using the same.例文帳に追加

露光装置のシェーディングを高精度に補正しつつ、コストアップを伴わないでシェーディング補正を行なうことが可能なシェーディング補正用のテストプリント、およびこれを用いたシェーディング補正方法を提供する。 - 特許庁