「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(137ページ目) - Weblio英語例文検索

This RF test and measurement device, including a front end for receiving a time-varying signal and a real-time engine for generating digital frequency domain spectrums based on the time-varying signal.例文帳に追加

ＲＦ試験測定装置は、時間変動信号を受けるフロント・エンドと、時間変動信号に基いてデジタル周波数領域スペクトラムを生成するリアルタイム・エンジンを含んでいる。 - 特許庁

A system, a method, or a computer-readable medium measures the optical characteristics of a device under test such as polarization mode dispersion and/or polarization dependent loss.例文帳に追加

本発明は、偏波モード分散および／または偏波依存損失のような被測定物の光学特性を測定するためのシステム、方法、または、コンピュータで読み出し可能な記録媒体である。 - 特許庁

To provide a testing method for egg capable of judging the deterioration of the lamp of a light source and precisely executing the internal test of an egg, and a testing device for egg used for the execution of this method.例文帳に追加

光源のランプの劣化の有無を判断し、精度良く卵の内部検査を実施することができる検卵方法及びその実施に使用する検卵装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data sampling system for a testing device enabling an inspector to conduct an ultrasonic flaw detection test for a pipe welding joint simply without being exposed to radiation excessively.例文帳に追加

検査員が放射線に過度に被曝することなく簡便に配管溶接継手を超音波探傷試験することができる試験装置用のデータ採取システムを提供すること。 - 特許庁

Test piece 5 is formed by cutting the multiple layer tube formed by extrusion molding in specified width and in specified length by using a simple cutting device 10 set in a production process.例文帳に追加

押出成形により形成された複層チューブを生産工程内に設置された簡易切断装置１０を用いて、所定幅の長尺に切断することにより試験片５が作成される。 - 特許庁

To provide a device for Knick sensitization and desensitization test of photosensitive materials capable of processing photosensitive materials in such a way that they are held and bent under the same conditions and capable of increasing working efficiency.例文帳に追加

感光材料を同一条件で保持して折り曲げるように処理可能で、作業効率を向上可能な感光材料のクニック増減感試験用装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing method capable of easily forming a desired circuit by print processing in a wafer state after a wafer test and a semiconductor device.例文帳に追加

ウェーハテスト後のウェーハ状態において所望の回路を印刷処理により容易に形成することが可能な半導体製造方法および半導体装置を提供することを課題する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which the voltage at the normal use and the voltage necessary at the burn-in test can be respectively generated from one boosted voltage generating circuit.例文帳に追加

一つの昇圧電圧発生回路より通常使用時の電圧と、バーンインテスト時に必要な電圧をそれぞれ発生させることができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a failure verification device verifying a test pattern related to a fault caused by a delay and shortening the time required for a fault verification.例文帳に追加

遅延が原因となる故障に関してテストパターンを検証することができると共に、故障検証に要する時間を短縮化することができる故障検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of controlling the brake deceleration characteristics of a test truck by high reproducibility, in a predetermined deceleration section, during traveling.例文帳に追加

走行中、予め定められた減速区間において高い再現性により試験台車の制動減速度特性の制御を行うことができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

The held data is analyzed by use of analytic software 8, and the analyzed data is used in test tool software 9 capable of generating USB transfer by use of the logical device driver 2.例文帳に追加

保持されたデータを解析ソフトウェア８を用いて解析し、解析データを、ロジカルデバイスドライバ２を利用してＵＳＢ転送を発生させることの可能なテストツールソフトウェア９で用いる。 - 特許庁

To provide a test system for semiconductor having means for detecting a glitch contained in the output signal from a device being tested in order to evaluate the characteristics thereof accurately.例文帳に追加

被試験デバイスの特性を正確に評価するために、被試験デバイスの出力信号に含まれるグリッチを検出するグリッチ検出手段を有する半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To improve a signal transmission efficiency from a plurality of memories wherein an output signal from a test device is stored to a plurality of operation parts for performing operation processing to the output signal.例文帳に追加

被試験デバイスの出力信号を格納した複数のメモリから、出力信号に対して演算処理を行う複数の演算部までの信号伝送効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a handler and a testing device that can efficiently convey and test electronic components, and that can be simplified and made small.例文帳に追加

電子部品の試験および搬送を効率よく行うことができるとともに、装置の簡素化・小型化を図ることのできるハンドラおよび電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.例文帳に追加

無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor device is provided with a wiring region 100 for valuation including second wiring 10 for electromigration test evaluation and heat radiating parts 11 arranged with a prescribed pattern.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、所定のパターンで設けられたエレクトロマイグレーション試験評価用の第２の配線部１０と、放熱部１１とを含む評価用配線領域１００を有する。 - 特許庁

To provide a method and a device for an automatic test which make function testing operation efficient and improve reliability of the software of a portable telephone by automating the function testing operation for the software.例文帳に追加

携帯電話のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化するとともに、ソフトウエアの信頼性を向上させる自動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of performing a test for evaluating pumping-out characteristics (resistance) of heat transfer grease used for accelerating heat radiation of a power module, or the like.例文帳に追加

パワーモジュール等の放熱促進用に用いられる伝熱グリースのポンピングアウト特性（耐性）を評価するための試験を実行可能な試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

By releasing the constraint between the constraining devices and the thermal load device 14, the test object structure to which the composite load is applied becomes equivalent to a single body independent from the external.例文帳に追加

拘束装置と熱負荷装置１４の間の拘束を解除することにより、複合負荷をかけられる試験対象構造物が、外界から独立する単一体に等価になる。 - 特許庁

To provide an air permeation testing method and its device capable of performing an accurate air permeation test without being affected by fluctuation in an air pressure for testing or in the atmospheric pressure.例文帳に追加

検査用の空圧や大気圧の変動に影響されることなく、正確な通気検査を行うことができる棒状物品の通気検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diversity evaluation signal generating device capable of testing receiving diversity at low cost by enabling generation of test signals of a plurality of systems with one signal generator.例文帳に追加

１台の信号発生器で複数系統の試験信号を発生可能とすることにより、受信ダイバーシティの試験を低コストで行えるダイバーシティ評価信号発生装置を提供すること。 - 特許庁

The network evaluation device 1 makes simulated failure be generated or be recovered in the test object apparatus 14 in the process of the data communication performed by the simulated server 2 and simulated client 4.例文帳に追加

ネットワーク評価装置１は、模擬サーバ２及び模擬クライアント４がデータ通信を行う過程で、試験対象機器１４に対して擬似障害を発生させたり、それを復旧させたりする。 - 特許庁

To perform an operation test efficiently in a short time without preparing expected values to the number corresponding to the number of circuits, relative to a semiconductor device equipped with many circuits having the same constitution.例文帳に追加

同一構成の回路を多数具備する半導体装置に対して、回路数に応じた数の期待値を用意することなく、短時間で効率よく動作試験を行うようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein test signals are inputted into an I/O buffer located in an internal circuit region by means of a wiring which usually does not interfere with a signal wiring.例文帳に追加

半導体装置の内部回路領域に設けたＩ／Ｏバッファに、通常信号配線に干渉しない配線によってテスト信号を入力する半導体装置を提供する。 - 特許庁

When a prescribed code is obtained from an access object 51, an operation mode is switched to the test mode, and a prescribed operation confirming program is executed by the IC card access device.例文帳に追加

本発明は、アクセス対象５１から所定のコードが得られた場合、動作モードをテストモードに切り換えて、ＩＣカードアクセス装置で所定の動作確認用のプログラムを実行する。 - 特許庁

To provide a function verification technique that is more effective in dispensing with test patterns and capable of more effectively reducing the time and cost required to verify functions regarding the design data of a semiconductor device.例文帳に追加

よりテストパターンの省略効果が高く、半導体装置の設計データに対する機能検証にかかる時間及びコストをより効果的に削減できる機能検証技術を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for performing template matching in a retrieval image for outputting an accurate matching position even when a pattern similar to a template exists in a retrieval image.例文帳に追加

探索画像中にテンプレートと類似したパターンが存在する場合でも正確なマッチング位置を出力する、探索画像においてテンプレートマッチングを行う検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method capable of accurately measuring chemiluminescence intensity even when a test material has a light absorption band in a chemiluminescence wavelength region.例文帳に追加

被検物質が化学発光波長領域に光吸収帯を有している場合であっても化学発光強度を正確に測定することができる装置および方法を提供する - 特許庁

The quantum state which a verifier device receives and the dislosed quantum state corresponding to the quantum state are subjected to a swap test, so as to determine whether to be accepted or not.例文帳に追加

検証者装置が、受信した量子状態と、その量子状態に対応する公開された量子状態とをスワップテストにかけて、受諾されるか拒絶されるかを決定する。 - 特許庁

In an illustrative practice pattern, the test piece collecting device can work in water and includes a base plate (72) and an electrode assembly (74) linked to it so that the assembly (74) can move.例文帳に追加

例示的な実施形態において、試料採取装置は、水中で作動可能であり、ベースプレート（７２）と該ベースプレートに移動可能に結合された電極組立体（７４）とを含む。 - 特許庁

To provide an element carrier device of semiconductor element test handler, capable of adjusting the spacing between picker heads that suctions a semiconductor elements to the desired spacing.例文帳に追加

カム板を交替せずに、半導体素子を吸着するピッカヘッド間の間隔を任意の所望の間隔に調節することができる半導体素子テストハンドラの素子搬送装置を提供する。 - 特許庁

A flowmeter 22 measures the rate of flow of a test fluid supplied from a pump 20 to flow through a fluid supply passage 80, i.e., measures the injection amount of the fuel injection device 10.例文帳に追加

流量計２２は、ポンプ２０から供給される試験流体が流体供給路８０を流れる流量、つまり燃料噴射装置１０の噴射量を測定する。 - 特許庁

To prevent unauthorized access by a third party in the case of exchanging information about conditions of test processing online between a manufacturer of a device and a user, and easily take measures against it.例文帳に追加

装置のメーカーとユーザーとがテスト加工の条件等に関する情報をオンラインでやりとりする場合において、第三者による不正なアクセスを防止すると共に、その対策を容易とする。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a multiplexer part, receiving a multiplexer control signal and the scan test circuit which selectively outputs sub-data for each port or core output data for each port.例文帳に追加

マルチプレクサ部がマルチプレクサ制御信号の制御を受け、ポート別のサブデータまたはポート別のコア出力データを選択的に出力するスキャンテスト回路を備えた半導体装置である。 - 特許庁

The focused ion beam device is provided with a plasma type gas ion source to generate ion beams and an ion optical system to concentrate ion beams generated from the plasma gas ion source on a test piece.例文帳に追加

イオンビームを発生させるプラズマ型ガスイオン源と、プラズマ型ガスイオン源から発生したイオンビームを試料上に集結させるイオン光学系を備えた集束イオンビーム装置である。 - 特許庁

To provide an interference device and a measuring technique of planar shapes so as to resolve narrow-spacing of interference band occurred at the time of measurement of a test planar plane (a sample) with steep slope.例文帳に追加

急峻な傾斜を持つ被検体平面〔サンプル〕の計測時に生ずる干渉縞の狭間隔化を解消するようにした干渉装置及び平面形状の測定方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can detect a structure defect, such as damage which is difficult to detect by a conventional characteristic check such as a performance test, and has an IC chip of improved reliability.例文帳に追加

機能試験など従来の特性チェックでは検出が困難なキズなどの構造不良も検出可能にし、信頼性を向上したＩＣチップを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To easily conduct a test of operation in case of trouble by causing dummy trouble without any anxiety about device breakage as to a computer system to which peripheral equipment is connected by an input/output interface.例文帳に追加

入出力インタフェースで周辺機器を接続するコンピュータシステムにおいて、装置破壊の懸念なく、簡便に疑似障害の発生による障害発生時運用試験等を行う。 - 特許庁

The LCD unit 14 then compares the transmitted test data with a predetermined specified pattern and verifies transmission quality in the display device based on a result of the comparison.例文帳に追加

そして、ＬＣＤ部１４が、伝送されたテストデータと予め決められた規定パターンとを比較し、該比較結果に基づいて、上記表示装置における伝送品質を検証する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus wherein an interconnection terminal or a test socket is not damaged and a signal distortion is not introduced in the method and the apparatus wherein an electronic device is mounted and held.例文帳に追加

電子デバイスの取り付け及び保持方法並びに装置において、相互接続ターミナルまたはテストソケットを損傷せず、信号ひずみを導入しない方法及び装置に関する。 - 特許庁

To provide a game capable of accurately executing a test based on a shift of a control state by accurately acquiring the shift of the control state of the game machine in a testing device side.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁

To provide an improved method and device for collecting blood and other biological samples for protecting a transfer profile in a living body for a test of nucleic acid base.例文帳に追加

核酸ベースの試験のために生体内の転写プロフィールを保護する、血液および他の生物学的試料のための改良された方法および収集装置を提供すること。 - 特許庁

The image formation condition setting device 117 determines the ink concentration and the discharge amount to be installed in the recording head 111 on the basis of measured data of a test image formed by the printer 110.例文帳に追加

画像形成条件設定装置１１７は、プリンタ１１０により形成されたテスト画像の測定データをもとに、記録ヘッド１１１に搭載されるインク濃度と吐出量を決定する。 - 特許庁

The control device 100 performs displacement fixing control by using, as a control displacement, a displacement determined by subtracting a mean value of each displacement on two support points from a displacement on the center of a test body 1.例文帳に追加

また、制御装置１００は、試験体１の中央の変位から二つの支持点における変位の平均値を引いた変位を制御変位として変位一定制御を行う。 - 特許庁

To provide an image heating device determining which rotary member has a scratch occurring on its heating face, easily without fail by performing heating face scratch determining mode for outputting a test image.例文帳に追加

試験画像を出力させる加熱面キズ判別モードを実行して、どの回転部材の加熱面にキズが発生したかを容易に間違い無く判断できる画像加熱装置を提供する。 - 特許庁