「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(134ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vibration control device capable of anticipating remaining days of a damping device with high degree of accuracy after the sufferings without executing any destruction test of the damping device in a state to make the interior finishing remain undetached even if big earthquake occurs by always monitoring a state of the damping device in the case of big earthquake.例文帳に追加

本発明は、常時、大地震時、制震デバイスの状態をモニタリングし、大地震時にあっても、内装を取り外さず、制震デバイスの破壊試験を行なわず、被災後の制震デバイスの余寿命を精度良く予測することが出来る制震装置及び劣化診断装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

To reflect a result of inspection of damage due to cleaning treatment on manufacture of a semiconductor device by providing a TEG (Test Element Group) having an easy-to-collapse pattern for a semiconductor device having a TEG for inspecting damage due to a cleaning treatment.例文帳に追加

洗浄処理によるダメージを検査するためのＴＥＧを有する半導体装置において、倒壊しやすいパターンを有するＴＥＧを提供し、洗浄処理によるダメージ検査の結果を半導体装置の製造に反映する。 - 特許庁

To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.例文帳に追加

ＥＴＣ車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ＥＴＣ車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁

To provide a support device and method for outputting test data covering a branch and a computer program for making a computer function as the support device even when a program code using the arithmetic result of a mathematical equation as branch conditions is included in a program.例文帳に追加

プログラムに数式の演算結果を分岐条件が含まれている場合も分岐を網羅する試験データを出力できる支援装置、支援方法及びコンピュータを前記支援装置として機能させるコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a capillary immunoassay device capable of detecting target material highly sensitively on a test body by using a specific bonding reaction between the target material and functional material, and an immunoassay method using the device.例文帳に追加

標的物質と機能性物質との特異的な結合反応を利用して、検体について、標的物質の検出を高い感度で行うことのできるキャピラリイムノアッセイデバイスの提供、並びにこれを用いるイムノアッセイ法を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid volume measuring device for simultaneously satisfying miniaturization of the device, a low cost and high precision by having a resistor hardly directly receiving influence of polarization effect due to a liquid, and to provide an urine test instrument using it.例文帳に追加

液体による分極効果の影響を直接受けにくい抵抗体を有し、装置の小型化、低コスト化、高精度化を同時に満たすことができる液量測定装置及びこれを用いた尿検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a vibration testing device, capable of applying vibration in three orthogonal axial directions to an object to be tested, further, allowing vibration test of the object during use and reducing the size of the device.例文帳に追加

直交する三軸方向への振動を被試験体に加えることができ、さらに、被試験体の使用状態での振動試験を可能とするとともに、装置の小型化を図ることを可能とする振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can reduce the size of a package, and at the same time can improve reliability in a test, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device that can be tested without requiring any pins for external output.例文帳に追加

パッケージサイズを縮小化出来、または同時にテストの信頼性を向上できる半導体装置を提供すること、及び外部出力用のピンを必要とせずにテストできる半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an evaluating method for characteristics of a semiconductor laser device, a test method for characteristics of a semiconductor laser device which can accurately evaluate magnitude of return optical noise.例文帳に追加

戻り光雑音の大きさを正確に評価でき、かつ、戻り光雑音の大きさを評価する検査ステップを軽減できる半導体レーザ装置の特性評価方法および半導体レーザ装置の特性検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for an electrically-driven actuator for a valve opening/closing and a test method for the electrically-driven actuator for the valve opening/closing capable of performing various tests for maintenance inspection of the electrically-driven actuator by one testing device.例文帳に追加

弁開閉用電動アクチュエータの保守点検のための種々の試験を一台の試験装置で行うことができる弁開閉用電動アクチュエータの試験装置及び弁開閉用電動アクチュエータの試験方法を提供する。 - 特許庁

To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device.例文帳に追加

ＩＣデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ＩＣデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ＩＣソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁

In a certifying test device, separately from magnetic head 4, a certifying zone batch magnetic field application means 10-1 and a uniaxial stage 41 for moving this means 10-1 in an up-and-down Z direction to serve as an AC demagnetization device 01.例文帳に追加

サーティファイ試験装置に磁気ヘッド４とは別に、サーティファイ帯一括磁界印加手段１０−１と、この手段１０−１を上下のＺ方向に移動させる一軸ステージ４１とを設けて交流消磁装置０１を兼ねさせる。 - 特許庁

To provide a performance test device having a workpiece fixing device that presses and fixes a fixing object such as a valve body and can easily supply hydraulic fluid into an oil chamber in a short time.例文帳に追加

バルブボデーなどの被固定物を押圧して固定するワーク固定装置を備えた性能試験装置において、油室内に簡単かつ短時間に作動油を供給することができるワーク固定装置を備えた性能試験装置を提供する。 - 特許庁

The tool for adjustment is moved to a position where the test pattern is correctly read by the image reading device in this condition, and the positioning member is fixed to an image reading device main body after adjusting a mounting position of the positioning member.例文帳に追加

その状態においてテストパターンが画像読取装置により正しく読みとられる位置に調整用治具を移動させ、位置決め部材の装着位置を調整した後、位置決め部材を画像読取装置本体に固定する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a semiconductor device, which can prevent the reduction in yield due to increase of contact resistance of electrodes of an inspection socket generated during a test for one lot in the inspection of packaged semiconductor device.例文帳に追加

パッケージされた半導体装置の検査において、１ロット分のテスト中に生じた検査用ソケットの電極の接触抵抗の増加による歩留まりの低下を防ぐことができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To automatize filter exchange in a filter device executing filtration of test liquid of a water quality detecting device, in order to execute, continuously and automatically, detection of phenol-based material after purification treatment of miscellaneous water.例文帳に追加

雑水を浄化処理した後のフェノール系物質の検出を連続的かつ自動的に行うため、水質検出装置の被検査液のろ過を行うフィルタ装置において、フィルタ交換を自動的に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a highly reliable plant failure diagnostic device for achieving the failure diagnosis of a plant in a short period of time and a plant test device for accurately testing a plant in a short period of time without increasing the scale of this system.例文帳に追加

システムを肥大化させること無く、プラントの故障診断を短時間に正確に行える信頼性の高いプラント故障診断装置、およびプラントの試験を短時間に正確に行えるプラント試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a projection type video display device with which the respective characteristic points can be easily detected even in the case in which the number of characteristic points is large and the whole test pattern image cannot be taken by an image taking device.例文帳に追加

テストパターン画像の全体を撮像装置によって撮像することができず、特徴点の数が多いようなケースであっても、各特徴点を簡易に検出することを可能とする投写型映像表示装置を提供する。 - 特許庁

The cleaning device includes the front end which can contact the electrode by relative movement in the vertical direction where the probe device body and the test object approach each other and separate from each other at a lower part and a front part from the needle tip.例文帳に追加

前記清掃装置は、前記プローブ装置本体と前記被検査体とが相寄り相離れる上下方向への相対移動により前記電極に接触可能の前端部を前記針先より下方及び前方に備える。 - 特許庁

To provide a failure analysis system independent of a format of test data processable by a failure analysis device, capable of suppressing the number of information files used for failure analysis; and also to provide a failure analysis information processing device and a failure analysis method.例文帳に追加

故障解析装置が処理可能なテストデータのフォーマットに依存しない、且つ故障解析に使用する情報ファイル数を抑制可能な故障解析システム、故障解析情報処理装置及び故障解析方法を提供する。 - 特許庁

To improve an impact resistance in a vertical drop impact test intended to represent an instance of vertical dropping of a liquid crystal display in a longitudinal direction, in a liquid crystal display device constructed by filling the space between a liquid crystal device and a front panel with a resin.例文帳に追加

液晶デバイスと前面パネルとの間に樹脂を充填した構成の液晶表示装置において、液晶ディスプレイが縦に垂直落下した場面を想定した垂直落下衝撃試験における耐衝撃性を高める。 - 特許庁

A camera 110 and a coordinate measurement device 111 measure an inner pincushion distortion by using a test pattern displayed on a cathode ray tube 109 and a data approximate device 112 uses an approximate curve to generate the inner pincushion distortion at a pixel level.例文帳に追加

ＣＲＴ１０９に表示したテストパターンを用い、カメラ１１０と座標測定装置１１１からインナーピン歪量を測定し、データ近似装置１１２が近似曲線を用いて画素レベルでのインナーピン歪量を作成する。 - 特許庁

A device to which network equipment to be tested is connected determines a state of the network equipment from a value of its address and reports a server device for controlling test of the network equipment of connection information indicating the determined state of the network equipment.例文帳に追加

試験対象のネットワーク機器が接続される装置は、該ネットワーク機器の状態を、そのアドレスの値から判別し、判別したネットワーク機器の状態を示す接続情報をネットワーク機器の試験を制御するサーバ装置へ通知する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which stable operation is secured while reducing power consumption and a test of current consumption of a logic circuit can be performed, in a semiconductor device in which a logic circuit and the other macro are mix-loaded.例文帳に追加

ロジック回路とその他のマクロが混載された半導体装置において、消費電力の低減を図りながら、安定した動作を確保し、かつロジック回路の消費電流の試験を可能とする半導体装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of redundant transaction for giving test data from a WUSB host to a WUSB device in advance when communication quality investigation in the direction from the WUSB device toward the WUSB host.例文帳に追加

ＷＵＳＢデバイスからＷＵＳＢホストに向かう方向の通信品質調査を行う場合に、ＷＵＳＢホストからＷＵＳＢデバイスに対して事前に試験データを与えるための冗長なトランザクションの発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of measuring electrical characteristics of TEG (Test Element Group) provided to a semiconductor substrate even when the surface of a measuring pad is damaged by etching a UBM (Under Bumping Metal) layer, and also a method of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

測定用パッドの表面がＵＢＭ層エッチングによって損傷を受けても、半導体基板に設けられたＴＥＧの電気的特性の測定が可能な半導体装置及びその半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize a stage transfer control method in an electrically-charged beam device in which an arbitrary part of a test piece can be arranged on an optical axis even when an image is rotated as well as a method and a device for electrically charged particle beam observation.例文帳に追加

像の回転を行った状態でも試料の任意の箇所を光軸上に配置することができる荷電粒子ビーム装置におけるステージ移動制御方法並びに荷電粒子ビーム観察方法および装置を実現する。 - 特許庁

In the device pick/place apparatus, a pick/place operation is performed to a device as a test object, a pressure supply path between a position-fixed pressure supply means and a turned and moved suction pad is connected by the rotary joint.例文帳に追加

検査対象のデバイスに対してピック・アンド・プレイス動作を行うデバイスのピック・プレイス装置において、位置固定された圧力供給手段と回転移動する吸着パッドとの間の圧力供給経路をロータリージョイントで連結する。 - 特許庁

To provide a test tray capable of forming contact between a device and a socket without a mechanical positioning mechanism, reducing the incidence rate of a device conveyance error, reducing the cost of a change kit, and shortening the time required for arrangement of type exchange.例文帳に追加

デバイスとソケットの間に機械的な位置決め機構なしにコンタクトを成立させ、デバイス搬送エラーの発生率を低下させ、チェンジキットを安価にするとともに、品種交換の段取りにかかる時間を短縮したテストトレイを実現する。 - 特許庁

A flare calculation device 13 outputs a predetermined test color image data to a projector 1 and projects an image on a screen and the image which is projected is image taken by a test image taking camera 4 and the image data taken are acquired and display characteristics data representing the influence of the optical flare are calculated based on the acquired image data taken and an original test image data.例文帳に追加

フレア算出装置１３は、所定のテストカラー画像データをプロジェクタ１へ出力してスクリーン上に画像を投影し、投影された画像をテスト画像撮影カメラ４により撮像させてその撮影画像データを取得し、取得した撮影画像データと元のテストカラー画像データとに基づいて、この表示システムにおける光学的フレアの影響を表現する表示特性データを算出する。 - 特許庁

The diversity evaluation signal generating device comprises a test signal generating section for creating and outputting the test signals for diversity evaluation, a signal distributing section for distributing output signals of this test signal generating section to a plurality of antenna input systems of a tested apparatus at an equal power level, and a plurality of adjustable attenuators for individually setting the signal levels of the plurality of systems distributed by the signal distributing section at different values.例文帳に追加

ダイバーシティ評価用試験信号を生成出力する試験信号発生部と、この試験信号発生部の出力信号を被試験機器の複数のアンテナ入力系統に等しいパワーレベルで分配する信号分配部と、この信号分配部で分配された複数系統の信号レベルを個別に異なった値に設定する複数の可変アッテネータ、とを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

While forming a vacuum in a test space 20, the in-circuit test fixture performs a circuit test by bringing probes 13 and 14 into contact with a circuit board S placed between probe plates 11 and 12, wherein it is characterized in that a cover 15 incorporating the heat sink 18 for cooling a device D is mounted on the probe plate 11 and an inlet 19 for taking in air is arranged in the cover 15.例文帳に追加

検査空間２０内をバキューム吸引しながら、プローブプレート１１・１２の間に位置させた回路基板Ｓに対してプローブ１３・１４を接触させて、回路試験を行うインサーキットテストフィクスチャであって、プローブプレート１１に、デバイスＤを冷却するヒートシンク１８が内蔵されたカバー１５を設けるとともに、該カバー１５に、外気を取り込むための吸気孔１９を設けることを特徴とする。 - 特許庁

To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.例文帳に追加

試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact and low-cost characteristic test device and a characteristic test method allowing a test in a short time while being able to increase the number of optical modules to be tested, and performing temperature control only to the optical module to be tested and needing to move a measuring means only in a single direction.例文帳に追加

検査対象の光モジュールの数を増やすことが可能なうえ、短時間に検査することができる小型で安価な特性検査装置と特性検査方法を提供することを第１の目的とし、第１の目的に加え、検査対象の光モジュールのみに温度制御を施すことができ、測定手段を単一の方向のみに移動させるだけでよい特性検査装置と特性検査方法を提供することを第２の目的とする。 - 特許庁

The function extraction part may comprise: a program control part for making execute the test program previously stored in the test device; a state detection part for detecting each state of constitutional components; and an extraction part for extracting the constitutional element operated according to the test program and on the basis of the state of the constitutional element detected by the state detection part.例文帳に追加

機能抽出部は、試験装置に予め格納されている前記試験プログラムを実行させるプログラム制御部と、試験プログラムを実行させた後に、試験装置のそれぞれの構成要素の状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出したそれぞれの構成要素の状態に基づいて、試験プログラムに応じて動作した構成要素を抽出する抽出部とを有してよい。 - 特許庁

An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11 or regulating the height of alternatively the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁

The method and device for improving angiography images are used with a radiation imaging device (100) which is provided with an X-ray source (103), a device (102) for recording images and a test object (200) positioned in such a way that an interested area (104) of an object of imaging is presented.例文帳に追加

Ｘ線源（１０３）と、画像を記録するためのデバイス（１０２）と、撮像対象の関心領域（１０４）を提示するように位置決めした被検体（２００）とを備える放射線撮像デバイス（１００）と共に使用される、アンギオグラフィ画像を改善させるための方法及び装置である。 - 特許庁

To provide an environmental test apparatus that is capable of easily and additionally placing a device for radiating heat to a road surface when necessary and that is capable of easily moving the device for radiating heat to the road surface to another location to house the device when unnecessary, without significantly modifying an existing facility.例文帳に追加

既設設備を大きく変更することなく、路面輻射装置を必要に応じて簡単に追加設置することができるとともに、必要としないときには路面輻射装置を別の場所へ簡単に移動させて収納しておくことができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.例文帳に追加

本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which the stress mutually applied to material members and package wirings which constitute the semiconductor device are reduced, when the temperature of the semiconductor device varies, immediately after the contact formation of the package wiring or at thermal shock test.例文帳に追加

パッケージ配線の接続直後や熱衝撃試験時などで半導体装置の温度が変化する際において半導体装置を構成する各部材やパッケージ配線に互いにかかる応力を低減することが可能な半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an LED light source which is suitable as a replacement or substitution light source such as an incandescent lamp, a halogen lamp, and an HID lamp which are used as the light source of a vehicular lighting fixture, an optical device such as a projector, an industrial apparatus such as a test device, and a semiconductor manufacturing device or the like.例文帳に追加

車両用灯具や、プロジェクター等の光学装置、検査装置・半導体製造装置等の産業用機器等の光源として使用される、白熱電球、ハロゲン電球及びＨＩＤランプ等の交換用又は代替用光源として好適なＬＥＤ光源を提供する。 - 特許庁

The test device 1 includes: a device main body 2 having an attachment part 22 to which the breaker 100 can be removably attached; different types of pairs of adapters 3 for various types of breakers 100, which are removably mounted on the device main body 2; and an actuator 4.例文帳に追加

試験装置１は、ブレーカ１００を着脱自在に装着する装着部２２を有する装置本体２と、装置本体２に対して着脱自在に設置され、異なる複数種のブレーカ１００に対応する異なる複数種の１対のアダプタ３と、アクチュエータ４とを備えている。 - 特許庁

To provide a device mounted wafer for which an energization test of each device formed thereon can be reliably performed in an on-wafer state even if the wafer is a bonded wafer, to provide a device chip that can be reliably tested for energization in an on-wafer state, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

張り合わせウェーハであっても、その上に形成された各デバイスをオンウェーハ状態で確実に通電検査を行うことができるデバイス搭載ウェーハの提供、オンウェーハ状態での通電検査を確実に行うことができるデバイスチップ及びデバイスチップの製造方法の提供を課題とする。 - 特許庁