「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(133ページ目) - Weblio英語例文検索

By solving a circuit equation represented by a fourth order differential equation according to an equivalent circuit representing a high voltage impulse test device including the residual inductance of an impulse voltage generator and representing a test specimen including inductance and resistors in addition to capacitors, the impulse high voltage waveform is analyzed.例文帳に追加

インパルス電圧発生器の残留インダクタンスを含めて高電圧インパルス試験装置を表すとともに、コンデンサの他にインダクタンスおよび抵抗を含めて供試物を表した等価回路に従って、４階微分方程式で表される回路方程式を解くことでインパルス高電圧波形を解析する。 - 特許庁

Test operation of a semiconductor memory is performed based on an internal clock signal of a high frequency other than an external clock signal, one part of data of a test result obtained synchronizing with the internal clock signal is selected, and the selected data is given to a tester device synchronizing with the external clock signal.例文帳に追加

この発明は、外部クロック信号よりも高周波の内部クロック信号に基づいて半導体記憶装置のテスト動作を実施し、内部クロック信号に同期して得られたテスト結果のデータの一部を選択し、選択したデータを外部クロック信号に同期してテスタ装置に与えて構成される。 - 特許庁

In the hardening device 1, a quartz tube 2 to store a test specimen S, a heating furnace 3 to heat the quartz tube 2 and a vacuum box 7 having a driving mechanism 8 to vertically move the test specimen S are mounted on a flange 4 for unitization, and a vacuum vessel 5 is separably disposed below the flange 4.例文帳に追加

焼入れ装置１では、フランジ４の上に、試験片Ｓを収容する石英管２、この石英管２を加熱する加熱炉３、試験片Ｓを上下移動させる駆動機構８を有する真空ボックス７を搭載してユニット化し、フランジ４の下に分離可能に真空容器５を配設している。 - 特許庁

To provide a logic simulator capable of highly accurately measuring the AC characteristics of external input pin of an LSI on an LSI tester with a test pattern for easily verifying the AC characteristics by preparing this test pattern without increasing the number of input terminals of a real device.例文帳に追加

実デバイスの入力端子数を増加することなく容易にＡＣ特性を検証するテストパターンを作成し、この作成したテストパターンでＬＳＩの外部入力ピンのＡＣ特性をＬＳＩテスタ上で高精度に測定可能な論理シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

In the sample producing method, a groove section 12 is formed by etching / removing the periphery of a region, including a prescribed test point 7 disposed on the surface of the semiconductor wafer 14 treated in prescribed processes in a semiconductor device production line, and the region including the prescribed test point 7 is made thin.例文帳に追加

半導体デバイス製造ラインで所定の処理を施した半導体ウエハ１４に対し、ウエハ表面に形成された所定の検査箇所７を含む領域の周辺部をエッチング除去して溝部１２を形成するとともに所定の検査箇所７を含む領域を薄片化する。 - 特許庁

An attaching/removing device for attaching/removing a substrate 3 to/from a test head 11 comprises a fitting mechanism including a recess 33 provided on the substrate 3 and a projection member 23 provided on the test head; and a driving mechanism 24 for moving the projection member 23 in a direction vertical to the substrate 3.例文帳に追加

基板３をテストヘッド１１に対して着脱するための着脱装置は、基板３に設けられた凹部３３と、テストヘッドに設けられた凸型部材２３とを備えた嵌合機構を備え、また、凸型部材２３を基板３に対して垂直方向に移動させる駆動機構２４を備える。 - 特許庁

The treatment device 10 of a test piece is equipped with a standby tank 12 ready for storing a treatment liquid, the treatment tank 16 connected to the lower part of the standby tank 12 to house the test piece and the drain tank 18 connected to the lower part of the treatment tank 16 to discharge the used treatment liquid.例文帳に追加

処理装置１０は、処理液が貯留可能な待機タンク１２と、待機タンク１２の下部に連結されて試験片が収容される処理槽１６と、処理槽１６の下部に連結されて使用済みの処理液が排出される排液槽１８とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

The cleaning member 50 used in the semiconductor manufacturing apparatus transfers the semiconductor device 30 to the test device (or test process) 20 by vacuum chucking is composed of a cleaning part 52 for cleaning the contact part, and a vacuum chucking part 51 for being chucked by the semiconductor manufacturing apparatus.例文帳に追加

半導体装置３０を吸着して該半導体装置の検査を行うテスト装置（又はテスト工程）２０に搬送し、該テスト装置のコンタクト部２３に接触させる半導体製造装置において用いられるクリーニング部材５０は、コンタクト部をクリーニングするクリーニング部５２と、半導体製造装置により吸着される被吸着部５１とを有する。 - 特許庁

The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加

画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁

This medium is arranged with a plurality of test areas (TEST1- TESTn) to which trial write operation is performed by a light beam, and a plurality of power setting information recording areas (PREC1-PRECn), positioned between each of a plurality of these test areas to record an optimal power setting parameter and device identification information for a recording device, to which the trial write operation is performed.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

The contact input/output control device 1 includes a digital output test switch 15 and is configured so that a digital output is kept on for a predetermined period of time when the test switch 15 is operated, so that it is possible to check the connected state and the operation of devices 6, 7, 8 to be controlled that are connected to the contact input/output control device 1.例文帳に追加

接点入出力制御装置１にデジタル出力テストスイッチ１５が備えられ、該テストスイッチ１５を操作することにより、デジタル出力が所定の時間オンとなるように構成されて、接点入出力制御装置１に接続された制御対象機器６，７，８の接続状態や動作の確認を行うことができるようになされている。 - 特許庁

To provide a method, device and program for generating a test pattern, capable of generating the test pattern efficiently, even when a number of pads are connected with other semiconductor chips in more internal parts than pads connected to external terminals and are not connected to the external terminals, concerning a multichip semiconductor device having a plurality of semiconductor chips built in.例文帳に追加

複数の半導体チップを内蔵するマルチチップ半導体装置において、外部端子に接続されるパッドより内部で他の半導体チッブに接続され外部端子には接続されないパッドが多い場合にも効率的にテストパターン作成を行うことができるテストパターン作成方法、作成装置、及び、作成プログラムを提供する。 - 特許庁

In this flaw inspecting illumination device used for an optical surface flaw inspection device for detecting a flaw part by illuminating the test object and processing an electric signal obtained by imaging the object by an electronic camera, a light scattering degree control board 13 capable of controlling a haze rate electrically is arranged between an illumination and the test object to control the haze rate.例文帳に追加

検査対象を照明し、電子カメラにて撮像して得られる電気信号を処理して、疵部分を検出する光学的表面疵検査装置に用いる疵検査用照明装置において、照明と検査対象の間に、電気的にヘイズ率を制御できる光散乱度制御板１３を配置し、ヘイズ率を制御できるようにした。 - 特許庁

To inexpensively provide a semiconductor device of a BGA structure, a semiconductor device of an LGA structure capable of preventing a crack at a solder ball due to a impact to be propagated from a printed circuit board, when a dropping impact test and a temperature cycle test to be conducted in a state of mounting on the board and a method for manufacturing it.例文帳に追加

プリント配線基板に搭載した状態で行う落下衝撃試験時及び温度サイクル試験時において、プリント配線基板から伝搬する衝撃により半田ボールにクラックが発生することを防止することができ、コストが低いＢＧＡ構造の半導体装置及びＬＧＡ構造の半導体装置並びにその製造方法を提供する。 - 特許庁

The contents supply center 1901 sends reproduction control information controlling the reproduction of the data for test viewing to the reproducing and receiving device 1902, the device 1902 controls the reproduction of the pieces of data for test viewing stored in the storage means according to the reproduction control information from the contents supply center 1901.例文帳に追加

コンテンツ供給センタ１９０１は、再生・受信装置１９０２に対して、試し視聴用のデータの再生を制御する再生制御情報を送り、再生・受信装置１９０２は、コンテンツ供給センタ１９０１からの再生制御情報に応じて上記蓄積手段に蓄積された複数の上記試し視聴用のデータの再生が制御される。 - 特許庁

When receiving the command from an operation device O3 that is a test object, the simulator decides whether simulation data corresponding to the command are stored in the nonvolatile memory 13 or not, and sends the reply being made to correspond to the command and written in the nonvolatile memory 13 to the operation device O1 that is the test object when the simulation data are stored.例文帳に追加

また、試験対象のオペレーション装置Ｏ３からコマンドを受信すると、このコマンドに対応したシミュレーションデータが不揮発性メモリ１３に記憶されているか否かを判定し、記憶されている場合には、当該コマンドに対応付けて不揮発性メモリ１３に書き込まれた応答を試験対象のオペレーション装置Ｏ１へ返信する。 - 特許庁

COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, MEASURING METHOD FOR LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION, ELECTROOPTIC DEVICE, ELECTRONIC EQUIPMENT, AND METHOD AND DEVICE FOR FILMING例文帳に追加

カラーフィルタおよびその製造方法、カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置、電子機器、成膜方法並びに成膜装置 - 特許庁

The control, monitoring, evaluation, determination and a grasp of going can be performed on a real time basis from the terminals 27a to 27c through the monitor/control terminal 25, the Internet network 15 and the ground test device server 24 without requiring many operators, system engineers and special engineers to go to the ground test device 21 of the artificial satellite 20.例文帳に追加

人工衛星２０の地上試験装置２１にオペレータやシステム技術担当者、及び各専門技術担当者の多人数が赴かなくても、地上試験の制御、監視、評価、判定及び進捗状況の把握は端末２７ａ〜２７ｃから監視制御端末２５とインタネット網１５と地上試験装置サーバ２４とを通してリアルタイムで実施される。 - 特許庁

In this interferometer device, a wave plate driving device 22 and a stage driving device 23 constitutes a relative azimuth adjusting means for rotating a test lens ML or the polarization direction of linearly polarized light entering the lens, together with a partial function of a computer 27.例文帳に追加

この干渉計装置のうち、波長板駆動装置２２及びステージ駆動装置２３は、コンピュータ２７の一部機能とともに、被検レンズＭＬやこれに入射する直線偏光光の偏光方向を回転させる相対方位調節手段を構成する。 - 特許庁

To provide a failure diagnosing circuit of a storage device for discovering the failure of the storage device early by executing failure diagnostic test for a storage device mounted on a system even when this system is in an operating state.例文帳に追加

システムが運用状態にある場合であっても、このシステム上に実装された記憶装置に対する故障診断テストを実施することができ、この記憶装置の故障を早期に発見することのできる記憶装置の故障診断回路を提供すること。 - 特許庁

The loss per unit length is acquired at the time point when the electronic test device is calibrated, the loss per unit length is acquired again at fixed time interval during an operation of the device, so as to determine the change by an environmental condition in the calibration of the device.例文帳に追加

電子テスト装置が校正される時点で単位長さあたりの損失を取得し、そしてこの装置の動作中に一定時間間隔でそれを再度取得することにより、その装置の校正の環境条件による変化を決定することが出来る。 - 特許庁

To provide a coupling circuit which is capable of preventing quality degradation, i.e. throughput reduction, of a power-line carrier communication signal transmitted between a device to be tested and an opposite device at a lighting surge breakdown test of an information and communication technology (ICT) device for power-line carrier communication.例文帳に追加

電力線搬送通信用ＩＣＴ機器の雷サージ耐力試験において、被試験装置と対向装置間を伝送される電力線搬送通信信号の品質劣化を生じさせない、すなわちスループットの劣化防止が可能な結合回路を提供する。 - 特許庁

The quality of the engine starting device is tested by a trial starting of the engine starting device 2 during the engine 1 running, and the starting of the engine 1 with the engine starting device 2, whose test is judged as rejectable, is prohibited or the automatic stop of the engine 1 is prohibited.例文帳に追加

エンジン１の運転中にエンジン始動装置２を試動させることによりエンジン始動装置２の良否をテストし、テストにより不良と判定されたエンジン始動装置２によるエンジン１の始動を禁止するか、又は、エンジン１の自動停止を禁止する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置１において、試験装置３にデバイス２を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路６及び補正データ作成・保存回路７がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁

To provide a sampling cell capable of sampling a sample liquid easily with good quantitatively even when a gas is sampled together with the sample liquid, a sampling device therefor, and a measurement device for measuring a test substance included in a sample liquid which is sampled in the sampling device and a sampling cell.例文帳に追加

試料液とともに気体が採取された場合であっても、定量性良く試料液を簡易に採取することができる採取セル、採取装置及び採取セルに採取された試料液中に含まれる被検物質を測定する測定装置を提供する。 - 特許庁

To inspect an LVDS with high accuracy and easily even by using a low-speed tester and to reduce the costs of a semiconductor device by generating a high-speed test pattern at the inside of the semiconductor device when the semiconductor device with the built-in LVDS is inspected.例文帳に追加

ＬＶＤＳ内蔵の半導体装置を検査する際に、高速テストパターンを半導体装置内部で生成することにより、低速テスタを用いても、高精度、かつ、容易にＬＶＤＳの検査を行うと共に、半導体装置のコストを削減することを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor device probing apparatus comprises: a housing configured to define a test chamber; a device holder 70 arranged in the housing and on which at least of one device 62 to be tested is to be loaded; and at least one probe stage 50 arranged in the housing.例文帳に追加

半導体デバイスプロービング装置は、試験チャンバを定めるように構成されたハウジング、ハウジング内に配置され、少なくとも１つの被試験デバイス６２を載せるように構成されたデバイスホルダ７０及びハウジング内に配置された少なくとも１つのプローブステージ５０を備える。 - 特許庁

To provide a duplex communication system capable of surely performing switching from an active system host device to a standby system host device even when no return results of a test I/O performed to a storage means that stores processing data of the active system host device can be obtained.例文帳に追加

運用系ホスト装置の処理データが格納された記憶手段に対して行ったテストＩ／Ｏに対する返信結果が得られない場合でも、運用系ホスト装置から待機系ホスト装置に確実に切り替えることを可能とする二重化通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a mounting method of a package board and a flip chip device, which can eliminate high frequency operation failures of a MCM by taking a simple means and facilitate a test of a flip chip device as well as an exchange of a failure device easily.例文帳に追加

パッケージ基板及びフリップ・チップ型素子に関し、簡単な手段を採ることで、ＭＣＭに於ける高周波動作の不良が発生しないフリップ・チップ実装を可能とし、フリップ・チップ型素子の製品検査、及び、不良品の交換を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

Toner is supplied to the device 4 by a toner supply device 49 until the concentration of the developer in the device 4 detected by the sensor 42 attains the temporary target value, and a test patch is formed with the developer after the toner is supplied.例文帳に追加

現像剤濃度検知センサ４２によって検知される現像装置４内の現像剤濃度が仮の目標値に達するまでトナー補給装置４９により現像装置４に対してトナーの補給を行い、トナー補給後の現像剤によってテストパッチを形成する。 - 特許庁

A packet generation unit is provided in the repeating device, a packet becoming the limit band of transfer performance of a switch device in the repeating device is generated in the packet generation unit for the standby system periodically or at the time of switching, and then communication test is performed and the matching is checked.例文帳に追加

中継装置内にパケット生成部を持ち、待機系に定期的に、もしくは切替時にパケット生成部で中継装置内のスイッチデバイスの転送性能の限界帯域となるパケットを生成し、疎通テストを実施し、整合性の確認を行なう。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

The colorimetric device 80 is provided with a step 84a between a conveyance surface of the colorimetric device 80 and a discharge surface 84 as a discharging mechanism for putting the test print TP for setup after color measurement off a conveyance path of the colorimetric device 80.例文帳に追加

測色装置８０には、測色を終えたセットアップ用テストプリントＴＰを、測色装置８０における搬送経路から退避するための排出機構として、測色装置８０における搬送面と排出面８４との間に段差８４ａを設けている。 - 特許庁

Since the luminescent device 24 is directly driven by use of the outer power source without using a drive IC22 in this manner, current, ranging from minute one to large one, can be stably supplied to the luminescent device 24, thus making it possible to perform the acceleration test of the luminescent device 24 in a stable manner.例文帳に追加

このように、駆動ＩＣ２２を用いずに、外部電源を用いて発光素子２４を直接駆動するので、発光素子２４に微小電流から大電流までを安定して供給でき、発光素子２４の加速試験を安定して行える。 - 特許庁

The programmable device 11 is loaded on the board 10, transmits test signals to the programmable device 21 through respective signal lines connecting both boards, also receives the inspected results of the connection conditions of the respective signal lines from the programmable device 21 and outputs them.例文帳に追加

プログラマブルデバイス１１は、ボード１０に搭載され、両ボード間を接続する信号線のそれぞれを介してプログラマブルデバイス２１へテスト信号を送信するとともに、信号線それぞれの接続状況の検査結果をプログラマブルデバイス２１から受信して出力する。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

This device comprises a CPU 10 for controlling the whole operation, a main storage device 11 connected to the CPU 10, a display 12 connected to the CPU 10 and displaying a menu image screen, a menu file 21 and a storage device 20 including a joining tool 25 for joining data inputted or selected from at least one test pattern program and the menu image screen to one of the respective test pattern programs.例文帳に追加

全体の動作を制御するＣＰＵ１０と、該ＣＰＵ１０と接続される主記憶装置１１と、前記ＣＰＵ１０と接続され、メニュー画面を表示するディスプレイ１２と、メニューファイル２１、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記各テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツール２５を含む記憶装置２０と、を含んで構成される。 - 特許庁

When an image forming device 107 prints out a test pattern instructed by a pattern instruction 13 on output paper used for a printout in calibration relating to the printout characteristics of an image forming device 107 and an image reader 126 reads the pattern, a read changeover device 11 is used to select an image reading function in response to the type of output paper on which the test pattern is printed out.例文帳に追加

画像形成装置１０７のプリント出力特性に関するキャリブレーションにおいて、プリント出力に用いる出力用紙に対しパターン指示１３によって指示されたテストパターンを画像形成装置１０７によってプリントし、そのパターンを画像読取り装置１２６で読取る際、読み取り切り替え１１によって、テストパターンをプリント出力した出力用紙の種類に応じた画像読取りの機能に切り替える。 - 特許庁

When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加

液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁

The fire receiver comprises a progress detection means for detecting the progress of the predetermined test; a bar graph display device for displaying a bar graph in a predetermined percentage base, and a display device control means for making the bar graph display device display the bar graph in the predetermined percentage base to the total time necessary for the predetermined test according to the progress detected by the progress detection means.例文帳に追加

所定の試験の進行度合いを検出する進行度合い検出手段と、所定パーセント刻みで、バーグラフを表示するバーグラフ表示装置と、上記進行度合い検出手段が検出した進行度合いに応じて、所定の試験に必要な総時間の所定パーセント刻みで、上記バーグラフ表示装置にバーグラフを表示させる表示装置制御手段とを有する火災受信機である。 - 特許庁

A mobile terminal device 100 is disclosed which includes: a communication unit 101 for exchanging voice data over a network; an external communication unit 107 connected to an external control device 400; and a test voice control unit 106 for determining whether or not voice data received from the network via the communication unit 101 are specific test voice data and notifying the external control device 400 of a result of the determination via the external communication unit 107.例文帳に追加

ネットワークを介して音声データを送受信する通信部１０１と、外部制御装置４００に接続された外部通信部１０７と、通信部１０１を介してネットワークから受信した音声データが特定のテスト音声データであるかどうかを判断し、その判断結果を外部通信部１０７を介して外部制御装置４００へ通知するテスト音声制御部１０６とを有する携帯端末装置１００。 - 特許庁

The system comprises a tester 14 for supplying a test pattern signal for analysis to the semiconductor integrated circuit device and at the same time holding the supply test pattern at given timing, an electron gun 15 for applying electron beams to the semiconductor integrated circuit device which being related to the hold, and a detector for taking in the potential contrast of the semiconductor integrated circuit device that is illuminated with the electron beams.例文帳に追加

このシステムは、前記半導体集積回路装置へ、解析のためのテストパターン信号を供給するとともに、前記供給テストパターン信号を所与のタイミングでホールドするテスタ１４と、前記ホールドに関連付けて、前記半導体集積回路装置に電子ビームを照射する電子銃１５と、前記電子ビームの照射された前記半導体集積回路装置の電位コントラストを取り込む検出器２３と、を具備する。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁