「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(129ページ目) - Weblio英語例文検索

To start performance test of an engine to be tested quickly by raising inlet temperature of the engine to be tested to a predetermined temperature in a short period of time and simplify structure of a device.例文帳に追加

供試エンジンの入口温度を短時間に所定温度に昇温させて、その性能試験を速やかに開始させると共に、かつ装置の構成を簡単にする。 - 特許庁

To provide a radio base station apparatus that receives a message in the form of text format an external device, and converts it to data, so as to automatically perform an operation test of the radio base station apparatus.例文帳に追加

外部装置からテキスト形式のメッセージを受けて、これをデータ変換して自動的に無線基地局装置の動作試験を行う無線基地局装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact, easy-to-carry, and simple automatic self- performing device for a liquid turbidity object clarifying test which is suitably used for sales promotion, etc., of a liquefied vegetable processed food.例文帳に追加

液状植物加工品の販売促進等に好適に用いられるコンパクトで持ち運びが容易で簡便な、液状混濁物清澄試験の自動・自演装置の提供。 - 特許庁

A weight body 13 is held by a holding device 4B of the pile driver body 1, a load mounting test is performed to a testing pile 5 by making it fall after it has been moved to a position with a predetermined height.例文帳に追加

前記杭打ち機本体１の把持装置４Ｂに錘体１３を把持させ、所定の高さ位置に移動後落下させて試験用杭５に載荷試験を行う。 - 特許庁

To shorten a period required for test of a device to be tested without significantly increasing the cost and enlarging the mounting scale.例文帳に追加

コストの大幅な上昇及び実装規模の大型化を招かずに被試験デバイスの試験に要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a method and device for measuring positional variation of a center line of rotation which enable high-accuracy measurement of the positional variation of the center line of rotation associated with the rotation of a test object.例文帳に追加

被検体の回転に伴う回転中心線の位置変動を高精度に測定することが可能な回転中心線の位置変動測定方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a device which has the same technical capabilities as the conventional large and bulky test equipment, but is compact in size and have the ability to be operated with a battery for at least 6 to 8 hours.例文帳に追加

従来の大型で嵩張る試験装置と同等の性能を有する、コンパクト且つ少なくとも６−８時間のバッテリ稼動が可能な機械診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is assembled into a package that is so structured as to be tested as well as a wafer is tested even after a product is finished and a test method of the same.例文帳に追加

製品完成後もウェハ試験時と同等の試験が可能な構造を有するパッケージに組み立てられた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic interlocking device facilitating to improve a working efficiency when a maintenance or repairing work such as an interlocking inspection or a checking test after modification of an electronic interlocking system is carried out.例文帳に追加

連動検査や電子連動装置改修後の確認試験等の保守作業を行う際の作業効率を向上させ易い電子連動装置を得ること。 - 特許庁

A driving electronic device is used for positioning a sample, with respect to optical components, in such a way as to test a plurality of regions of the sample set at a fluorometer.例文帳に追加

蛍光計にセットされたサンプルの複数の領域が試験されるようにサンプルを光学成分との関係で位置決めするための駆動用電子装置が使用される。 - 特許庁

To provide an inexpensive induced test device of a transformer capable of reducing an installation space, preventing generation of a noise, reducing power consumption, and shortening a starting time.例文帳に追加

設置スペースが小さくてすみ、安価であり、騒音の発生もなく、消費電力も少なくてすみ、また、起動時間も短くなる変圧器の誘導試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fast speed test pattern verifying apparatus for verifying without using an actual LSI tester or a device to be tested based on logic simulation data formed by a CAD.例文帳に追加

ＣＡＤで作成された論理シミュレーションデータを基にして、実際のＬＳＩテスタや被試験デバイスを用いずに検証する高速テストパターン検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of, a measuring device for, and a wafer for an integrated circuit, capable of carrying out a more accurate probe test while reducing the damage to a bonding pad.例文帳に追加

ボンディングパッドの損傷を低減しながら、より正確にプローブテストを行なうことができる集積回路の製造方法、集積回路の測定装置及びウェハを提供する。 - 特許庁

To provide a method for generating a fixed reference current without requiring an external test device and without being affected by variation of an internal process.例文帳に追加

本発明は、外部テスト装置を必要とせず且つ内部プロセス変化から悪影響を受けない、一定の基準電流を発生する方法を提供すること目的とする。 - 特許庁

To provide a device for automatically measuring valve open and close time capable of accurately measuring open and close operation time accompanying an open and close test of a main steam stop valve or the like in power generating facilities.例文帳に追加

発電設備における主蒸気止弁等の開閉テストに伴う開閉動作時間を正確に測定し得る弁の開閉時間の自動測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a concrete compressive strength testing device having a simple structure capable of performing a highly accurate compressive strength test by applying a required compressive load to a concrete specimen.例文帳に追加

コンクリート供試体に所要の圧縮荷重を加えて高精度の圧縮強度試験を行うことができる簡易型構造のコンクリート圧縮強度試験装置を得る。 - 特許庁

This program test supporting device is provided with a means for selecting a reproduction speed in reproducing an operation history, and a means for reproducing the operation history in accordance with the selected reproduction speed.例文帳に追加

記操作履歴を再生する際の再生速度を選択する手段と、選択された再生速度に応じて、操作履歴を再生する手段を備えることを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor device is provided, between a plurality of chips 2 formed on a wafer 1, with a test circuit including a TAP 3 for accessing an objective circuit 5 in a chip externally and testing the circuit 5.例文帳に追加

ウエハ１上に形成された複数のチップ２間にチップ内のテスト対象回路５に外部からアクセスしてテストを行うＴＡＰ３を含むテスト回路を備える。 - 特許庁

To provide a polishing device capable of polishing a distal end of a connection terminal of a connector when an action test of the circuit board is performed using the connector mounted to the circuit board.例文帳に追加

回路基板に取り付けられたコネクタを用いて回路基板の動作試験をする場合に、コネクタの接続端子の先端を研磨可能な研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing metallic impurities in a level of 107 to 108 atoms/cm2 which is requested for regulating the cleanness of a semiconductor device, in a test of a semiconductor substrate with good accuracy simultaneously with the analysis of multi-elements.例文帳に追加

半導体デバイスの清浄度管理で要求される１０^7〜１０^8atoms/cm^2レベルの金属不純物を、多元素同時に精度良く分析する分析法を提供する。 - 特許庁

This test device 1 includes a hot-side temperature control section 20 for supplying temperature-controlled air to a laboratory 10, and a cold-side temperature control section 21.例文帳に追加

試験装置１は、試験室１０に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部２０と、低温側温調部２１とを備えてている。 - 特許庁

To execute a test by an active unit without deteriorating throughput of the whole system while executing applications by the active unit in a system having a large scale server device.例文帳に追加

大規模のサーバ装置を有するシステムにおいて、本番機で業務をしながら、システム全体の処理能力を低下させることなく、本番機でテストを実施する。 - 特許庁

When a power source is switched on, the luminous device displays a specific test pattern, and detects the luminance by a photoelectric transducing element 106 arranged on each pixel and stores it in a storage circuit 104.例文帳に追加

電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁

On a test mode, the control section of the mammographic instrument 10 neither generates photographing implementation information for every photographing nor transmits the information of the cassette ID to the control device 30.例文帳に追加

検査モード時、乳房画像撮影装置１０の制御部は撮影ごとに撮影実施情報は生成せず、制御装置３０にはカセッテＩＤの情報も送信しない。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To record music on a CD or the like in the server device, the compressed voice data of the compression ratio set by the distribution test is created and recorded in an HDD.例文帳に追加

そして、サーバ装置にＣＤなどの楽曲を録音する際には、配信テストにより設定した圧縮率の圧縮音声データを作成して、ＨＤＤに記録する。 - 特許庁

The recording device corrects the transfer amount at the time when the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller on the basis of the correction amount set in accordance with the result of recording of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの記録結果に応じて設定される補正量に基づいて、シート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる際の搬送量を補正する。 - 特許庁

A test system comprises communication channels 220 and 222 of which terminals are in probes 110d and 110e which have contact with input terminals 208 and 210 of an electronic device 112 to be tested.例文帳に追加

テストシステムは、テストされる電子デバイス１１２の入力端子２０８，２１０と接触するプローブ１１０ｄ,１１０ｅ内を終端とする、通信チャネル２２０，２２２を備える。 - 特許庁

To provide a maintenance information support system, by which a necessary manual and test tool for restoring the failure of an information device can be readily referred to and obtained, without going to trouble.例文帳に追加

情報機器の故障修復に必要なマニュアルおよび、テストツールを容易に、且つ手間をかけずに参照入手可能な保守情報支援システムを提供する。 - 特許庁

To suppress the lowering of the surge withstand voltage of an output circuit due to an increase in the potential of a power supply line occurring at the time of ESD test of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置のＥＳＤ試験において発生する電源ラインの電位上昇に起因する出力回路のサージ耐圧の低下を抑制する。 - 特許庁

The function of the universal joint 6 becomes unavailable by pressing by the load detector 5, and a test piece gripping device 7 suspended from a suspension shaft as shown in Fig.4 is prevented from moving freely.例文帳に追加

荷重検出器５の押圧によって、自在継手６の機能は不能となり、吊軸１６に吊設された図４に示す試験片把持装置７は自由が阻止される。 - 特許庁

A document acquisition part 22 of this device 13 transmits the Web page to be a start point to a restriction test part 23 and allows a portable telephone 16 to determine whether or not it is a page possible to be displayed.例文帳に追加

この装置１３のドキュメント取得部２２は、起点となるウェブページを制約テスト部２３に送って携帯電話機１６で表示可能なページであるか判別させる。 - 特許庁

To provide a remote testing apparatus for a protective device in which an artificial readout error does not occur and by which an operator need not go to a distant place for a test.例文帳に追加

人為的読取り誤差が発生することがなく、また、試験のために作業者が遠隔地まで出向く必要がない保護装置の遠隔試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a test time of a logic circuit part for a control operation in a semiconductor device having a plurality of memory chips of the same configuration disposed in a common package.例文帳に追加

同一構成のメモリチップを共通のパッケージ内に複数個配置した半導体装置において、制御動作を行う論理回路部分のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To eliminate a release defect in a high temperature and high humidity test of an AR (antireflection) coating 30 disposed on an inside surface of a light transmission plate of a liquid crystal display device with a front light attached thereto.例文帳に追加

フロントライト付き液晶表示装置の導光板内側表面に設けられたＡＲ被膜３０の高温高湿試験での剥がれ欠陥を無くす。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which activation control speed of a word line is increased at normal operation, and an operation current at a burn-in test can be controlled.例文帳に追加

通常動作時においてワード線の活性化制御を高速化するとともに、バーンイン試験時における動作電流を抑制可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with a test mode in which an abnormality in input capacity can be detected without directly measuring the input capacity with a measuring device.例文帳に追加

測定器により入力容量を直接測定することなく、入力容量の異常を検出できるテストモードを備える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a gear pair capable of obtaining precise test results by faithfully reproducing the meshing in an actual machine in an actual usage state.例文帳に追加

実機上での使用状態に忠実な歯車対の噛合い状態を再現し、高精度の試験結果を得ることができる歯車対の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device facilitating a direct current test by being suited to miniaturization and realizing high speed operation of a circuit, low power consumption and high reliability.例文帳に追加

素子の微細化に適合し、回路の高速動作化と低消費電力と高信頼性を実現し、直流試験を容易にした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In a step S30, the low-quality product, subjected to the test in the step S20, is visually inspected and whether the air bubbles are produced in the liquid crystal display device 1 is decided.例文帳に追加

ステップＳ３０では、ステップＳ２０で試験を行った低特性品の外観検査を実施して、液晶表示装置１内に気泡の発生があるか否かを判断する。 - 特許庁

An information processing device 100 sequentially inputs same test online telegraphic messages to each of online systems 200 and 300 that have a same function and different processing systems.例文帳に追加

情報処理装置１００が、同機能で処理系が異なるオンラインシステム２００、３００それぞれに対し、テスト用で同一のオンライン電文を順次投入する。 - 特許庁

To provide a system LSI having the function capable of rightly reading data of an external device when performing a high-speed test with a clock signal higher in speed than in general operation.例文帳に追加

通常動作時よりも高速なクロック信号で高速試験を行う時に、外部装置のデータを正しく読み込むことができる機能を備えたシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To surely test memory chips packed in a package in a semiconductor device in which a plurality of chips are packaged in the same package, and system is constituted by one package.例文帳に追加

複数のチップを同一のパッケージ内に実装し、１パッケージでシステムを構成する半導体装置に関し、パッケージに実装されたメモリチップを確実に試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing an operation test of an internal circuit such as a ROM by a simple means by using a pulse having a narrower pulse width than a system clock.例文帳に追加

ＲＯＭなどの内部回路の動作試験を簡便な手段で、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスなどを用いて行える半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an educational material processing device enhancing the effect of education through presenting solution information of test questions which a testee can not answer correctly.例文帳に追加

受験者が正解を導くことができなかった試験問題について、その解法情報を提示することを通じて、教育の実効を向上可能な教材処理装置を得る。 - 特許庁