shmooとは 意味・読み方・使い方

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

To provide an IC testing device and an IC testing method capable of acquiring data in a short time, judging a necessary portion, and displaying the result of an accurate SHMOO plot.例文帳に追加

データ取得時間を短時間に行い、必要な部分の判定が行われ正確なSHMOOプロットの結果を表示することが可能なIC試験装置及びIC試験方法の提供。 - 特許庁

The terminal device 20 has a display controller 22a which displays a shmoo plot about at least two of shmoo data sets obtained by the test apparatus main unit 10, on the display section 26 in their superimposed state.例文帳に追加

端末装置２０は、試験装置本体１０で得られたシュムデータのうちの少なくとも２つのシュムデータについてのシュムプロットを、重ね合わせた状態で表示部２６に表示する表示制御部２２ａを備える。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus capable of efficiently carrying out an analysis, by reducing user's operations needed when analyzing a plurality of shmoo plots.例文帳に追加

複数のシュムプロットを解析する場合に必要なユーザの操作を低減し、効率的な解析を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test apparatus main unit 10 makes a pass-fail determination while gradually changing a timing and a voltage of a test signal to be applied to the DUT 30, and can acquire its determination result (shmoo data).例文帳に追加

試験装置本体１０は、ＤＵＴ３０に印加する試験信号の電圧とタイミングとを段階的に変化させつつパス・フェイルを判定し、その判定結果（シュムデータ）を取得可能である。 - 特許庁

To provide a digital LSI test equipment and a method for evaluating shmoo in which test can be executed for all SKEW data files prepared previously and evaluation can be made while assuming equipments of different SKEW adjustment.例文帳に追加

本発明は、あらかじめ準備されたＳＫＥＷデータファイルのすべてについて試験を実行でき、ＳＫＥＷ調整具合の異なる装置を想定した評価が可能となるデジタルＬＳＩ試験装置およびシュム評価方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

When an item name character string 24 is dropped to a shmoo parameter setting area 21, a designation receiving means 12 receives designation of an item corresponding to the drag item name character string 24, a parameter extraction means 13 determines auxiliary information of the item (pin number, channel number/timing set number/edge) determined from a drag position of a debugger based on the description content of a test program.例文帳に追加

アイテム名文字列２４がシュムーパラメータ設定エリア２１にドロップされると、指定受付手段１２は、ドラッグしてきたアイテム名文字列２４に対応するアイテムの指定を受け付け、パラメータ抽出手段１３は、デバッガのドラッグ位置から判別する当該アイテムの補助情報（ピン番号・チャネル番号/タイミングセット番号/エッジ）を、テストプログラムの記述内容に基づいて判別する。 - 特許庁