「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(166ページ目) - Weblio英語例文検索

A controller 50 writes a desired sequence pattern in the sequence pattern generator 23 and selects either the data encoded by a 64B/66B encoder 22 or a sequence pattern issued from the sequence pattern generator 23 and imparts the one selected to a test target device by controlling a data selector 24.例文帳に追加

制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 - 特許庁

To provide a device for measuring elongation percentage between bench marks that has a simple constitution, is inexpensive, and easily mount a test strip by constituting it so that an operating force related to a bench mark gauge head section can be adjusted to follow elongation with the minimum operating force without using a servo type following mechanism.例文帳に追加

サーボ式追従機構を用いることなく、標線測定子部に係る操作力が最小の操作力で伸びに対して追従できるように前記操作力を調整可能に構成したことで、簡単な構成で且つ安価で、試験片の装着操作も容易にできる使い易い標線間伸度測定装置を提供する。 - 特許庁

To execute an accurate test by providing a liquid crystal driving device 31 equipped with a discharging resistance 41 for discharging the residual charge of a boosting circuit 40 in a chip, since an after-image is displayed when a power is turned off, wherein the discharging resistance 41 is non-controlled for control or the simplification of the circuit.例文帳に追加

電源オフ時に、チップ内の昇圧回路４０に電荷が残存していると、残像が表示されてしまうので、その残存電荷を放電する放電抵抗４１を設け、かつ制御や回路の簡略化のために前記放電抵抗４１が非制御となっている液晶駆動装置３１において、正確な試験を行う。 - 特許庁

To provide a control system capable of producing its device within a comparatively short period if basic conditions are fixed in a certain degree, further, quickly dealing with a change request at the time of test and easily dealing with the changes of various conditions after the system starts its operate.例文帳に追加

ある程度の基本条件が固まっていれば比較的短い納期での装置製作を可能にし、さらに、試験時の変更要求に対するクイックな対応を可能にすると共に、システム稼働後における各種条件の変更についても、容易に対応が可能となる管制装置の提供を目的としている。 - 特許庁

The data controller (16) receives text and EPG information from one or many permission data sources 20 through a communication connection, processes the received data with the internal database managing device of the controller (16), performs data compression and subsequently transmits the test information to the viewers under the control of a head end controller (34).例文帳に追加

データコントローラー（１６）は、１つまたは多数の許可データソース２０からのテキストおよびＥＰＧ情報を通信連結を通して受け取り、この受け取ったデータをそれの内部データベース管理装置で処理してデータ圧縮などを実施した後、ヘッドエンドコントローラー（３４）のコントロール下で上記テキスト情報をその視聴者に伝える。 - 特許庁

To provide an image processor which can obtain digital image data of good image quality by correcting resolution of image deteriorated by imaging main faces of an imaging object in a state where a perpendicular line of a main face of the imaging object and an optical axis extending to the imaging direction in an un-parallel status, and to provide a test device.例文帳に追加

撮像対象物の主面の垂線と、撮像方向に伸びる光軸とが非平行な状態で撮像対象物の主面を撮像することによって低下した画像の解像度を補正し、画質の良いデジタル画像データを得ることができる画像処理装置及び検査装置を提供する。 - 特許庁

The internal signal observation device has a data capture part, a signal selecting means, a preset counter, a counter overflow terminal and an output terminal, and outputs a number of pieces of internal information from a limited number of test terminals by capturing data with a sampling clock and outputting internal signals on a time-division basis.例文帳に追加

データキャプチャ部と信号選択手段とプリセットカウンタとカウンタオーバフロー端子と出力端子を有し、複数の内部信号をサンプリングクロックでデータキャプチャ後、時分割出力することにより限られた本数のテスト端子から多数の内部情報を出力することを特徴とした内部信号観測装置。 - 特許庁

In a test control unit 3, a communication route information updating means 21 continuously applies information for updating a route control table 11 of the device to be tested 1 via a port 5A and a communication stop means 25 inputs a command for shield instructions of the port 5A before update processing of the route control table 11 is completed.例文帳に追加

試験制御装置３は、通信経路情報更新手段２１が被試験装置１の経路制御表１１を更新させるための情報をポート５Ａを経由して連続的に印加し，通信停止手段２５が，経路制御表１１の更新処理の完了前にポート５Ａの遮断指示のコマンドを入力する。 - 特許庁

In this semiconductor storage device, only the sense amplifiers SA1-SAn are activated in the process 2 for the disturbance cell without activating a column system (the switch part YSW4 and input/output control circuit IOC), so that a test time can be shortened as much as no read of the data from the disturbance cell.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置によれば、処理２において、ディスターブセルに対して、カラム系（スイッチ部ＹＳＷ４、入出力制御回路ＩＯＣ）を活性化させないで、センスアンプＳＡ１〜ＳＡｎのみ活性化させることにより、ディスターブセルからデータを読み出さない分だけ、テスト時間を短縮できる。 - 特許庁

Rows or columns are divided into regions, error caused in each region are counted for each row or column, the number of errors in each region are compared with a threshold value for each row or column, and the comparison result is transmitted to a test device with an error address as additional information for each row or column.例文帳に追加

発明によると、行もしくは列を、領域に分割し、各領域に生じるエラーを、行もしくは列ごとで数え、各領域のエラー数を、行もしくは列ごとで閾値と比較して比較結果を付加情報として行もしくは列ごとでエラーアドレスと共に試験装置に向けて伝送することが考慮される。 - 特許庁

The display device has, on a substrate, a pixel circuit driven through a gate line and a source line, first wiring formed simultaneously to the gate line, second wiring formed simultaneously with the source line, and the test circuit which detects the defect of the pixel circuit, by using potentials of the first wiring and second wiring.例文帳に追加

基板上に、ゲートライン及びソースラインにより駆動する画素回路と、前記ゲートラインと同時に形成された第１の配線、及び前記ソースラインと同時に形成された第２の配線と、前記第１の配線及び前記第２の配線の電位により、前記画素回路の不良を検知する検査回路と、を有する構成とした。 - 特許庁

In inspecting the control rod drive mechanism, first, water pressurized in the control rod friction measurement test device 28 is sent through a hydropressure control unit 19 and guided to the control rod drive mechanism, and a latch 11 of a hollow piston 7 is geared with latch holes 13 in a guide tube 12 to hold the control rods 9 at total insertion position.例文帳に追加

制御棒駆動機構の点検においては、初めに、制御棒摩擦測定試験装置２８から昇圧された水を水圧制御ユニット１９を通して制御棒駆動機構に導き、中空ピストン７のラッチ１１をガイドチューブ１２のラッチ孔１３とかみ合わせて制御棒９を全挿入位置に保持する。 - 特許庁

Then, by comparing signals detected by a signal detection section 540 with the test signals at the connection end at the side of a charging device 160 of the power lines PWR-H, PWR-C by means of the abnormality detection section 530, the disconnection and short-circuit of the power lines PWR-H, PWR-C are detected.例文帳に追加

そして、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの充電装置１６０側の接続端において、信号検出部５４０により検出された信号と、上記試験信号とを、異常検出部５３０で比較することにより、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの断線，短絡を検出する。 - 特許庁

The electronic learning device is provided with an information receiving section for receiving several types of information for generating a test, a received information storing section for storing the received information, a question generating section for generating a question corresponding to the received type of information, and a display section for displaying display contents including the generated question on a screen.例文帳に追加

複数種類のテスト作成用情報を受け入れる情報受信部と、受け入れた情報を格納する受信情報格納部と、受け入れた情報の種類に応じたテスト問題を作成する問題作成部と、作成された問題を含む表示内容を画面に表示する表示部とを備える。 - 特許庁

The X-ray apparatus starts outputting a pulsed tube voltage V_T by a pulse-voltage controller when a command is input to start fluoroscopy at the time t_1, and at the same time a filament current I_F is increased in a filament heater to heat a filament 12 for the purpose of seeing through a device under test by means of a generated X ray.例文帳に追加

本発明に係るＸ線装置は、時間ｔ_１において透視開始の指令が入力されると、管電圧制御部がパルス状管電圧Ｖ_Ｔを出力し始めるとともに、フィラメント加熱部がフィラメント電流Ｉ_Ｆを増大させてフィラメント１２を加熱し、発生させたＸ線によって被検体の透視を行う。 - 特許庁

When the nonvolatile semiconductor storage device 6s is irradiated with UV-rays, the wafer 5 is subjected to positional control such that only such nonvolatile semiconductor storage devices 6s as not determined to be acceptable by electric characteristics test are irradiated with UV-rays and the UV lamp 1 is subjected to on/off control.例文帳に追加

そして、不揮発性半導体記憶装置６ｓに対して紫外線を照射する場合には、電気的特性試験の合否判定に従って良品と判定されていない不揮発性半導体記憶装置６ｓのみに紫外線が照射されるようにウェハ５を位置制御すると共に、紫外線ランプ１をオン／オフ制御する。 - 特許庁

The serial communication card is configured so that respective circuits composing the serial communication card included in the serial communication apparatus individually store data just before and just after performing processing in respective circuits in a memory and individually read out the stored data by a read command from the serial communication apparatus test device.例文帳に追加

シリアル通信装置において、その有するシリアル通信カードを構成する各回路が、その回路において処理を行なう直前のデータと直後のデータをメモリに個別に格納し、シリアル通信装置試験装置による読出し指令により格納されたデータを個別に読み出すように、シリアル通信カードが構成される。 - 特許庁

To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.例文帳に追加

必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁

When reading out data, the test device 600 outputs the chip enable-signal/CE to the semiconductor memories 1-8, and switches selectively the logic level of the selecting signal/GE0 outputted to the semiconductor memories 1-4 and the logic level of the selecting signal/GE0 outputted to the semiconductor memories 5-8 to a L level.例文帳に追加

データの読出時、テスト装置６００は、Ｌレベルのチップイネーブル信号／ＣＥを半導体記憶装置１〜８へ出力し、半導体記憶装置１〜４へ出力する選択信号／ＧＥ０の論理レベルと、半導体記憶装置５〜８へ出力する選択信号／ＧＥ０の論理レベルとを選択的にＬレベルに切換える。 - 特許庁

The logic simulation device uses an instruction level simulator 2 for pre- and post-processing instruction groups of a test program 26 wherein machine language instructions are combined and a logic simulator 5 for an instruction group to be tested, and carries out logic simulation while transferring exchange data between the instruction level simulator 2 and logic simulator 5.例文帳に追加

論理シミュレーション装置は、機械語命令を組み合わせた試験プログラム２６の前後処理命令群には命令レベルシミュレータ２を用い、試験対象命令群には論理シミュレータ５を用いて、命令レベルシミュレータ２と論理シミュレータ５の間で交換データを転送しながら論理シミュレーションを実行している。 - 特許庁

A bump 53 is formed on the electrode pad 52 of a semiconductor device 50 and brought into contact with a measuring land 56 at the forward end part of the wiring pattern 55 of a flexible sheet 54 placed on the lower surface of a probe card 53 fixed to the lower surface of a test board 53 on the measuring equipment side thus measuring the characteristics.例文帳に追加

半導体装置５０の電極パッド５２上に突起５３を形成し、測定装置側のテストボード５３の下面に取付けられているプローブカード５３の下面のフレキシブルシート５４の配線パターン５５の先端部の測定用ランド５６に上記突起５３を接触させて特性の測定を行なう。 - 特許庁

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁

The device 40 has switches 41-44 for setting conditions of a test and measurement, an A/D converter for converting a detection signal provided from the detector 20 into a digital signal, LEDs 45-48 for indicating the presence or absence of the optical signal or its propagation direction, and a indicator 49 for displaying a signal level in digital form.例文帳に追加

光信号表示器４０は、試験や測定条件を設定するスイッチ４１〜４４、光信号検出器２０から与えられる検出信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器、光信号の有無や伝搬方向を表示するＬＥＤ４５〜４８、及び信号レベルを数値表示する表示部４９等を有している。 - 特許庁

The semiconductor memory device is equipped with: a memory block including a plurality of word lines, a plurality of bit lines and a plurality of memory cells; an oscillation circuit with a delay speed adjustment circuit to be controlled based on a test signal added thereto; and an access control circuit for sequentially accessing the plurality of memory cells based on an output of the oscillation circuit in refresh mode.例文帳に追加

半導体記憶装置は、複数のワード線と、複数のビット線と、複数のメモリセルとを含むメモリブロックと、テスト信号に基づいて制御される遅延速度調整回路が付加された発振回路と、リフレッシュモード時、発振回路の出力に基づいて複数のメモリセルを順次アクセスするアクセス制御回路と、を備える。 - 特許庁

To provide a low-cost and a down-sized switching device for a power circuit surge test wherein to work connecting/disconnecting intermittently with an earth terminal and an absorber is easy, and wherein to connect safely between terminals with connecting parts which are easy to substitute without using a special tool.例文帳に追加

サージテストの準備として、接地端子とアブソーバとを断続する作業が容易であり、特殊な工具を用いることなく代用容易な接続部品で端子間を接続し、安全に端子間を接続し、しかも安価で小型である電源回路のサージテスト用切り換え装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁

The automatic operation unit (2) is capable of moving a container (5) by previously defined operation sequence and extracting a liquid medium from the container (5) during a test process in accordance with a request, and extraction following the request is embodied by an adjustment device (6) for conveying the liquid medium in accordance with previously defined condition.例文帳に追加

本発明によれば、自動動作ユニットは、容器を事前定義された動作シーケンスで動かし、試験プロセス中に要求に従って容器（５）から液体媒体が抽出されることが可能であり、要求に従う抽出は、事前定義された条件に従って液体媒体を搬送する調整装置（６）によって具現化される。 - 特許庁

In the torsion testing device 1, since both ends of the circuit board 9 are sandwiched, even a flexible printed board can be held properly, and even if the circuit board 9 is shrunk by torsion, the second gripping part 21b is slid and moved, to thereby enable the torsion fatigue test to be performed without being influenced by shrinkage.例文帳に追加

ねじり試験装置１では、回路基板９の両端部が挟持されるため、フレキシブルプリント基板であっても適切に保持することができ、ねじりにより回路基板９が縮んでも第２把持部２１ｂがスライド移動して縮みの影響を受けることなくねじり疲労試験を行うことができる。 - 特許庁

The image display device 1 displays a test chart at a prescribed position and measures the brightness based on the layout information specifying the display position where a medical image is displayed, and prepares a gradation correcting table (LUT) for correcting the gradation by layout based on the measured brightness in adjusting the brightness of a display part 12.例文帳に追加

画像表示装置１は、表示部１２の輝度調整を行う場合、医用画像が表示される表示位置を定めたレイアウト情報に基づいて、所定の位置にテストチャートを表示させて輝度測定を行い、測定された輝度値に基づいてレイアウト毎に階調を補正するためのＬＵＴを作成する。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

A communication device 10 constituting a ring network transmits a test frame, which is excluded from disposal targets at a block point 106 where a user frame is discarded, and which has a data length that is set at random from data lengths that can be assumed by the user frame, via a first communication port connected to a transmission path in a first direction of the ring network.例文帳に追加

リング網を構成する通信装置１０は、ユーザフレームを廃棄するブロックポイント１０６において廃棄対象から除外されるフレームであって、そのデータ長としてユーザフレームがとりうるデータ長をランダムに設定した試験フレームを、リング網の第１方向の伝送路と接続された第１の通信ポートから送出する。 - 特許庁

This color image forming device of a tandem type, is characterized in that when the turbidity of toner being applied to each developing means of the image forming means is 1.1 to 50, the layer thickness wearing quantity ΔHd (μm) for one rotation of the electrophotographic photoreceptor in wearing test is expressed by the formula, 0≤ΔHd<1×10-5.例文帳に追加

タンデム型のカラー画像形成装置において、各画像形成ユニットの現像手段に用いられるトナーの濁度が０．１〜５０であり、且つ摩耗試験における前記電子写真感光体の１回転当たりの膜厚減耗量ΔＨｄ（μｍ）が０≦ΔＨｄ＜１×１０^-5であることを特徴とするカラー画像形成装置。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a plurality of pads 21, for bump connection, which are formed mainly of aluminum on a semiconductor chip with a formed semiconductor element and to which bumps 7 connected to a package substrate are connected and pads 22, for test, which are connected to them so as to correspond to them and which are installed to perform an electric measurement and evaluation in a wafer states.例文帳に追加

半導体素子が形成された半導体チップ上に主としてアルミニウムにより形成され、パッケージ基板に接続するためのバンプ7 が接続された複数のバンプ接続用パッド21、および、これらに各対応して連なり、ウエハ状態で電気的測定評価を行うために設けられたテスト用パッド22とを具備する。 - 特許庁

To provide an insulating failure spot locating device and an insulating failure spot locating method of a stator locating an insulating failure spot without being influenced by a reflected wave or various electromagnetic waves or the like entering from the outside or by an electromagnetic wave radiated in the whole circumferential direction from a status core, in a partial discharge test.例文帳に追加

部分放電試験において、反射波や外部から入射される各種電磁波等の影響や、ステータコアから全周方向へ放射される電磁波の影響を受けずに、絶縁不良箇所を特定することが可能なステータの絶縁不良箇所特定装置および絶縁不良箇所特定方法を提供する。 - 特許庁

Concretely, reflow or aging process X is added between a BT(bias test) process 2 and a lead molding process 3 or between the lead molding process 3 and a shipment process 4, in a semiconductor device manufacturing process including each of processes for package(PKG) cutting separation 1, selection/BT 2, lead molding 3, shipment 4 and mounting reflow 5.例文帳に追加

具体的には、パッケージ（ＰＫＧ）を切断分離１，選別／ＢＴ２，リード成形３，出荷４，実装リフロー５する各工程を含む半導体装置製造プロセスにおいて、ＢＴ工程２とリード成形工程３との間、または、リード成形工程３と出荷工程４との間に、リフローまたはエージング工程Ｘを追加する。 - 特許庁

The network quality evaluation device that extracts packer data from a plurality of positions of a communication network and evaluates the communication quality of the network on the basis of the extracted data, transmits the communication network test packet data for measuring the communication quality to the communication network by using detection of deteriorated communication quality as a trigger.例文帳に追加

通信ネットワークの複数個所からパケットデータを抽出し、これら抽出データに基づいてネットワークの通信品質を評価するネットワーク品質評価装置において、通信品質の悪化検出をトリガとして、通信ネットワークに通信品質測定用のテストパケットデータを送信することを特徴とする。 - 特許庁

In the medical image observing device 50, an image area display part 55 displays a main test area for thumbnailing the medical image as a reading subject and an observation image preparing area for thumbnailing the medical image selected as the medical image for comparative reading on a display part 52.例文帳に追加

医用画像観察装置５０において、画像表示領域表示部５５が、読影対象となる医用画像をサムネイル表示するための主検査領域と、比較読影に用いる医用画像として選択された医用画像をサムネイル表示するための観察画像準備領域とを表示部５２に表示する。 - 特許庁

The simulator 100 for a test receives site equipment condition data, interlocking logic part condition data, and abnormal information data from a logic interlocking part 12 via the transmission path of transmission standard; holds the received respective data; and performs transmission processing for transmitting the held respective data to a course control device 13.例文帳に追加

試験用シミュレータ１００として、論理連動部１２から、現場機器状態データと連動論理部状態データと異常情報データを伝送規格の伝送路を介して受信し、その受信した各データを保持して、保持された各データを進路制御装置１３に送信する送信処理を行う構成とする。 - 特許庁

In the semiconductor device, by setting of an inverting means implementing logical inverting of the standby level of a logical circuit according to input signal, using test mode signal the signal level supplied to a peripheral circuit can be altered between "L" and "H" without change of logic level output from a producing section of the standby signal.例文帳に追加

半導体装置では、論理回路のスタンバイレベルを入力信号に応じて論理反転させる反転手段を設る事により、スタンバイ信号の生成部が出力する論理レベルを変化させることなく、テストモード信号を用いて周辺回路に供給される信号レベルを“Ｌ”と“Ｈ”との間で変更することができる。 - 特許庁

To provide a device and method for reproducing a mechanism based on which coming-flying sea salt particles of several μm to tens of μm in diameter are deposited and condensed by dew formation to accelerate corrosion in actual environments, and simulating an atmospheric corrosion test close to an actual environment by arbitrarily adjusting humidity.例文帳に追加

実環境で、直径数μｍから数十μｍの飛来海塩粒子が付着し、結露により凝縮して腐食が加速する機構を再現可能にするとともに湿度を任意に調整可能とすることにより実環境に近い大気腐食試験をシミュレートできる装置と方法を提供する。 - 特許庁

A potential applied to a plate line side electrode of a ferroelectric capacitor of the memory cell and a potential applied to a bit line are made the same by providing a plate line signal control circuit 28, thereby inputting the same signal to bit lines and plate lines of each memory cell when a semiconductor memory device is set to a stress test mode.例文帳に追加

半導体記憶装置がストレス試験モードに設定されるとき、各メモリセルのビット線とプレート線とに同じ信号を入力するプレート線信号制御回路２８を設けることにより、当該メモリセルの強誘電体キャパシタのプレート線側電極にかかる電位とビット線にかかる電位を同一にする。 - 特許庁

An immunochemical analyzing device 10 for one time use contains at least one of housings 24, 26 for accepting one well of a micro-titer plate; a first recess 14 for accepting a sample; and further recesses 16, 18 and 20 for placing each reagent required for executing a test.例文帳に追加

本発明の単回使用のための免疫化学的分析装置１０は、マイクロタイタープレートの１つのウエルを受け入れるための少なくとも１つのハウジング２４、２６、サンプルを受け入れるための第１の窪み１４、及び試験を実施するために必要な各試薬を受け入れるためのさらなる窪み１６、１８、２０を含む。 - 特許庁

Since second or third criterion is set as well as the first criterion corresponding to complete dielectric breakdown (hard breakdown) of a gate insulation film, TDDB test of an extremely thin gate oxide film can be performed even for a semiconductor device (chip) having a total gate area as large as 10000 μm^2.例文帳に追加

ゲート絶縁膜の完全な絶縁破壊（ハードブレイクダウン）に相当する第１のクライテリアだけでなく、第２又は第３のクライテリアを設定することにより、極薄のゲート酸化膜のＴＤＤＢ試験を全ゲート面積が１００００μｍ^2 に達する半導体デバイス（チップ）に対しても、行なうことができる。 - 特許庁

Besides, the 1394 test substrate 100 is provided with a TS in monitor connector 131 and a TS out monitor connector 132 that fetch a stream signal flowing through between a connector 110 for debugging to be connected to the control part of the 1394 functional module and the 1394 functional module, and the host substrate, and connect the signal to a device for monitoring.例文帳に追加

また、１３９４試験基板１００には、１３９４機能モジュールの制御部と接続するデバッグ用コネクタ１１０と、１３９４機能モジュールとホスト基板間を流れるストリーム信号を取り出し、モニタ用の装置に接続するＴＳｉｎモニタ用コネクタ１３１とＴＳｏｕｔモニタ用コネクタ１３２とが設けられている。 - 特許庁

A simulator has a globe box 3 where an atmosphere is blocked both inside and outside the box 1, a gas circulation refiner 2 which supplies a circulation gas of prescribed ingredients to the globe box 3 and recovers it and a high-pressure device 4 which is placed in the globe box 3 and forms a high-pressure test chamber 26 that can be pressurized to an arbitrary pressure.例文帳に追加

内外に雰囲気が遮断されたグローブボックス３と、グローブボックス３に所定成分の循環ガスを供給して回収するガス循環精製装置２と、グローブボックス３内 に設けられ、任意の圧力に加圧可能な高圧試験室２６を形成する高圧装置４とを有している。 - 特許庁