「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

OPTICAL PULSE TEST METHOD AND OPTICAL PULSE TEST DEVICE例文帳に追加

光パルス試験方法及び光パルス試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD AND TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND SURVEILLANCE TEST METHOD例文帳に追加

サーベイランス試験装置およびサーベイランス試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験回路および試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの試験装置および試験方法 - 特許庁

SLIPPERINESS TEST DEVICE, AND SLIPPERINESS TEST METHOD例文帳に追加

滑り性試験装置および滑り性試験方法 - 特許庁

SPEECH LINE TEST DEVICE AND SPEECH LINE TEST METHOD例文帳に追加

通話路試験装置および通話路試験方法 - 特許庁

PAINT FILM SCRATCHING TEST METHOD AND TEST DEVICE例文帳に追加

塗膜擦傷性試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR LASER例文帳に追加

半導体レーザの試験方法および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置、テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

TRIAXIAL CONSOLIDATION PERMEABILITY TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

三軸圧密透水試験装置及び試験方法 - 特許庁

To speedily test a semiconductor device to shorten the test time.例文帳に追加

半導体デバイスの試験時間を高速化する。 - 特許庁

EXPIRATION TEST REAGENT, EXPIRATION TEST REAGENT KIT, EXPIRATION TEST BAG, EXPIRATION TEST DEVICE, AND EXPIRATION TEST METHOD例文帳に追加

呼気検査用試薬、呼気検査用試薬キット、呼気検査用バッグ、呼気検査装置、及び呼気検査方法 - 特許庁

COLLISION TEST DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加

車両の衝突試験装置 - 特許庁

TIRE TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

タイヤ試験装置及び方法 - 特許庁

LOADING TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

載荷試験装置及び方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR DISPLAY BOARD例文帳に追加

表示用基板の検査装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR PARTS例文帳に追加

半導体部品の試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置とテスト方法 - 特許庁

TEST PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TEST DEVICE OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊検査装置 - 特許庁

TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方式 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験システム - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF MAGNET FOR MOTOR例文帳に追加

モータ用磁石の試験装置 - 特許庁

IC CONTACTOR FOR DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

被試験デバイスのＩＣコンタクタ - 特許庁

SMOKE DETECTOR SENSITIVITY TEST DEVICE例文帳に追加

煙感知器感度試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR HOT ROLL ABRASION TEST例文帳に追加

熱間ロール摩耗試験装置 - 特許庁

TEST FOR TRANSIENT VOLTAGE PROTECTIVE DEVICE例文帳に追加

過渡電圧保護デバイスのテスト - 特許庁

AUTOMATIC TEST ITEM GENERATING DEVICE例文帳に追加

テスト項目自動生成装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

検査装置および検査方法 - 特許庁

PROGRAM TEST DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト装置、およびプログラム - 特許庁

TEST SUPPORT METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

テスト支援方法及び装置 - 特許庁

RUNNING TEST DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加

車両用走行試験装置 - 特許庁

TEST PLAN CREATION SUPPORT DEVICE例文帳に追加

テスト計画作成支援装置 - 特許庁

PROGRAM TEST ITEM GENERATION DEVICE例文帳に追加

プログラムテスト項目作成装置 - 特許庁

SWITCH DEVICE AND TEST APPARATUS例文帳に追加

スイッチ装置および試験装置 - 特許庁

SCANNING TEST DEVICE FOR CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板のスキャンテスト装置 - 特許庁

MOUNTED CHIP TEST/SELECTION DEVICE例文帳に追加

実装チップ検査・選別装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR D/A CONVERTER例文帳に追加

ＤＡ変換器のテスト装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用テスト回路 - 特許庁