「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

CALIBRATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のキャリブレーション装置 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE AND TEST DEVICE例文帳に追加

電力供給装置および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE LOADING DEVICE FOR TEST HANDLER例文帳に追加

テストハンドラの半導体デバイスローディング装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC CONTROLLER UNIT例文帳に追加

電子制御部品の検査方法および検査装置 - 特許庁

TEST PAPER MAGAZINE, MAGAZINE HOLDER AND TEST PAPER MOUNTING DEVICE例文帳に追加

試験紙マガジン、マガジンホルダ及び試験紙装着装置 - 特許庁

COMPUTER PROGRAM, TEST SUPPORT METHOD AND TEST SUPPORT DEVICE例文帳に追加

コンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置 - 特許庁

TEMPERATURE CYCLE TEST DEVICE AND TEMPERATURE CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

温度サイクル試験装置及び温度サイクル試験方法 - 特許庁

ELECTROLYTE LEAKAGE TEST METHOD, TEST DEVICE, AND BATTERY例文帳に追加

電解液漏洩検査方法、検査装置、および電池 - 特許庁

TEST SECTION UNIT, TEST HEAD, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 - 特許庁

TERMINATING CIRCUIT, TEST INSTRUMENT, TEST HEAD AND COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

終端回路、試験装置、テストヘッド、及び通信デバイス - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加

監視制御システムの試験装置および試験方法 - 特許庁

TEST CODE OUTPUT METHOD AND TEST CODE OUTPUT DEVICE例文帳に追加

テストコード出力方法及びテストコード出力装置 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATING DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATING SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム生成装置及びテストプログラム生成システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST BOARD, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置と検査ボード及び検査方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATION METHOD例文帳に追加

テストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法 - 特許庁

TEST SHEET, PRINTING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SHEET例文帳に追加

テストシート、印刷装置、及びテストシートの製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TEST APPARATUS AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST AUXILIARY CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト補助回路およびテスト方法 - 特許庁

TEST TUBE BARCODE READING DEVICE例文帳に追加

試験管のバーコード読取り装置 - 特許庁

HANDLER, TEST TRAY, AND MEMORY DEVICE例文帳に追加

ハンドラ、テストトレイおよびメモリ装置 - 特許庁

TEST INFORMATION DATABASE COMPARING DEVICE例文帳に追加

テスト情報データベース比較装置 - 特許庁

FLAT BELT TYPE RUNNING TEST DEVICE例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR FRICTION TEST例文帳に追加

摩擦試験方法とその装置 - 特許庁

LEAK TEST DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

リークテスト装置及びその方法 - 特許庁

POWER SUPPLY APPARATUS AND TEST DEVICE例文帳に追加

電源装置および試験装置 - 特許庁

PERMEABILITY TEST METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

透水試験方法及び装置 - 特許庁

DATA WAREHOUSE TEST DATA PREPARING DEVICE例文帳に追加

データウェアハウステストデータ作成装置 - 特許庁

SECONDARY BATTERY OVER DISCHARGE TEST DEVICE例文帳に追加

二次電池過放電試験装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST DEVICE FOR POLYMER PORCELAIN TUBE例文帳に追加

ポリマー碍管の気密試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT BOARD例文帳に追加

電子部品基板の試験装置 - 特許庁

WATER CIRCUIT FOR ENVIRONMENTAL TEST DEVICE例文帳に追加

環境試験装置の水回路 - 特許庁

TEST DEVICE FOR PLANT CONTROLLER例文帳に追加

プラント制御装置の試験装置 - 特許庁

TEST PIECE CUTOFF DEVICE FOR POUCH例文帳に追加

パウチの検査片切り取り装置 - 特許庁

TENSILE TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

引張り試験方法及び装置 - 特許庁

VOLTAGE DETECTION CIRCUIT TEST DEVICE例文帳に追加

電圧検出回路試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AIR LEAK TEST例文帳に追加

エアリークテスト方法および装置 - 特許庁

PLATE STATE BODY STRENGTH TEST DEVICE例文帳に追加

板状体強度検査装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路及び半導体装置 - 特許庁

SURFACE DYNAMICS CHARACTERISTIC TEST DEVICE例文帳に追加

界面力学特性試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF ELECTRONIC DEVICE, TESTER OF ELECTRONIC DEVICE, AND TEST SYSTEM OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのテスト方法、電子デバイスのテスタおよび電子デバイスのテストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH TEST CIRCUIT AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路を備える半導体装置および半導体装置の試験装置 - 特許庁

A test unit inputs a test signal group to the device to be tested and the test device.例文帳に追加

テスト装置は、被テストデバイス及びテストデバイスに対して、テスト信号群を入力する。 - 特許庁

TEST METHOD, TEST DEVICE AND TEST PROGRAM, FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置試験方法、半導体装置試験装置および半導体装置試験プログラム - 特許庁

TURNING TEST DEVICE, TURNING TEST METHOD, TURNING TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

旋回試験装置、旋回試験方法、旋回試験プログラム及び記録媒体 - 特許庁

PROBE CARD, CHARACTERISTIC TEST DEVICE, CHARACTERISTIC TEST TECHNIQUE AND CHARACTERISTIC TEST PROGRAM例文帳に追加

プローブカード、特性検査装置、特性検査方法および特性検査プログラム - 特許庁