「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハのテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

VEHICLE TEST METHOD AND VEHICLE TEST DEVICE例文帳に追加

車両試験方法および車両試験装置 - 特許庁

IMPACT TEST DEVICE AND IMPACT TEST METHOD例文帳に追加

衝撃試験装置および衝撃試験方法 - 特許庁

PILE LOADING TEST METHOD AND ITS LOADING TEST DEVICE例文帳に追加

杭の載荷試験方法及び載荷試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE OF DATA STORAGE DEVICE AND TEST METHOD OF DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト装置及びデータ記憶装置のテスト方法 - 特許庁

DETERMINATION MODEL PRODUCING SUPPORT DEVICE FOR TEST DEVICE AND TEST DEVICE, AND ENDURANCE TEST DEVICE AND ENDURANCE TEST METHOD例文帳に追加

検査装置用の判定モデル作成支援装置および検査装置ならびに耐久試験装置および耐久試験方法 - 特許庁

BALL TEST DEVICE FOR METAL PIPE例文帳に追加

金属管用ボールテスト装置 - 特許庁

TEST SOCKET FOR IC DEVICE例文帳に追加

ＩＣデバイスの試験用ソケット - 特許庁

OBJECT RECONFIGURATION TEST DEVICE例文帳に追加

オブジェクト再構成試験装置 - 特許庁

TEST STAGE AND PROBING DEVICE例文帳に追加

検査ステージ及びプローブ装置 - 特許庁

ATOMIZATION TEST DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加

車両用噴霧試験装置 - 特許庁

DELAY CIRCUIT AND TEST DEVICE例文帳に追加

遅延回路、及び試験装置 - 特許庁

SAMPLE COOLING DEVICE, HARDNESS TEST DEVICE, AND HARDNESS TEST METHOD例文帳に追加

試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法 - 特許庁

MOTOR DRIVE, LOAD TEST SUPPORTING DEVICE AND LOAD TEST DEVICE例文帳に追加

モータ駆動装置、負荷試験支援装置および負荷試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子のテスト方法 - 特許庁

SOCKET BOARD FOR IC DEVICE TEST例文帳に追加

ＩＣデバイステスト用ソケットボード - 特許庁

EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

外部試験補助装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリの検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR AUTOMOBILE COMPONENT例文帳に追加

自動車部品の試験装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

試験器具及び測定装置 - 特許庁

DEVICE FOR SAFETY EVALUATION TEST例文帳に追加

安全性評価試験装置 - 特許庁

TEST TUBE TYPE DISCRIMINATING DEVICE例文帳に追加

試験管種類判別装置 - 特許庁

LEAKAGE TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

漏れ検査方法及び装置 - 特許庁

INTERNAL COMBUSTION ENGINE TEST CHAMBER DEVICE例文帳に追加

内燃機関試験室装置 - 特許庁

HYDRAULIC TEST DEVICE FOR STEEL PIPE例文帳に追加

鋼管の水圧試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試験装置及び試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

メモリ試験装置及び方法 - 特許庁

LOADING TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

載荷試験方法及び装置 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

メモリテスト装置および方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF A/D CONVERTER例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータのテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁

COMPLETELY AUTOMATIC PENETRATION TEST DEVICE例文帳に追加

全自動貫入試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

自動変速機の試験装置 - 特許庁

DATA TRANSMISSION SYSTEM TEST DEVICE例文帳に追加

データ伝送システム試験装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法およびその検査装置 - 特許庁

REMOVING DEVICE FOR TEST TUBE STOPPER例文帳に追加

試験管栓取外し装置 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR STEERING DEVICE例文帳に追加

ステアリング装置用試験システム - 特許庁

MAINTENANCE TEST PROGRAM, MAINTENANCE TEST DEVICE AND MAINTENANCE TEST METHOD OF VIRTUAL TAPE DEVICE例文帳に追加

仮想テープ装置の保守試験プログラム、保守試験装置及び保守試験方法 - 特許庁

TEST CARRIER, TEST DEVICE HAVING THE SAME, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テストキャリア及びこれを有するテスト装置ならびに半導体装置のテスト方法 - 特許庁

VIBRATION TEST METHOD, VIBRATION TEST AUXILIARY DEVICE, AND VIBRATION TEST SYSTEM例文帳に追加

振動試験方法、振動試験補助装置、及び振動試験システム - 特許庁

AUTOMATIC TEST SYSTEM, AUTOMATIC TEST DEVICE, AUTOMATIC TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

自動試験システム、自動試験装置、自動試験方法及びプログラム - 特許庁

PSEUDO TEST METHOD FOR SWITCH, PSEUDO TEST PROGRAM, AND PSEUDO TEST DEVICE例文帳に追加

スイッチの疑似試験方法、疑似試験プログラム、および疑似試験装置 - 特許庁

Code Listing3.1: Listing device nodes available at boot # mkdir test# mount --bind / test# cd test/dev# ls 例文帳に追加

コード表示3.1:ブート時に利用可能なデバイスノードのリスト表示 - Gentoo Linux