「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

TIME MEASURING DEVICE, TEST DEVICE, SHIFT REGISTER例文帳に追加

時間測定装置、試験装置、シフトレジスタ - 特許庁

TEST INTERFACE DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND POSITIONING DEVICE FOR TEST INTERFACE DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストインタフェイス装置およびテストインタフェイス装置の位置決め装置 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の試験方法及び装置 - 特許庁

RELIABILITY TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の信頼性試験装置 - 特許庁

OPTICAL TRANSMISSION DEVICE, AND OPTICAL TEST DEVICE例文帳に追加

光送信装置及び光試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR RELAYING DEVICE FOR NETWORK例文帳に追加

ネットワーク用中継装置の試験装置 - 特許庁

STORAGE DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

記憶装置及び半導体試験装置 - 特許庁

TEST PIECE INSPECTION METHOD, TEST PIECE SUPPORT BODY, AND TEST PIECE INSPECTION DEVICE AS WELL AS TEST PIECE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

試料検査方法、試料保持体、及び試料検査装置並びに試料検査システム - 特許庁

Each test module performs a test on a corresponding test object device on a test site.例文帳に追加

各テストモジュールは、テストサイトにおいて対応するテスト対象装置上でテストを行う。 - 特許庁

STORAGE DEVICE, STORAGE DEVICE TEST PROGRAM AND STORAGE DEVICE TEST METHOD例文帳に追加

記憶装置、記憶装置の試験プログラム、及び記憶装置の試験方法 - 特許庁

WIRELESS BASE STATION TEST DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

無線基地局試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、情報処理システムおよび試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD例文帳に追加

テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC TEST DEVICE AND METHOD FOR DISPLAYING TEST RESULT例文帳に追加

電子試験装置及びテスト結果の表示方法 - 特許庁

SUPERCOOLING TEST DEVICE AND METHOD OF SUPERCOOLING TEST例文帳に追加

過冷却試験装置及び過冷却試験方法 - 特許庁

WEB SERVICE TEST DEVICE, WEB SERVICE TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

Ｗｅｂサービステスト装置、Ｗｅｂサービステスト方法、及びプログラム - 特許庁

TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR WAFER DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験回路、半導体ウエハ装置、及び試験方法 - 特許庁

SELF TEST CIRCUIT DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

自己試験回路装置およびその自己試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FLOOR HEATING SYSTEM例文帳に追加

床暖房システムの試験装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE FOR TEMPERATURE TEST例文帳に追加

温度試験用半導体装置 - 特許庁

ATS TEST COIL MOVING DEVICE例文帳に追加

ＡＴＳ試験コイル移動装置 - 特許庁

ENDURANCE TEST DEVICE FOR SEAT BACK例文帳に追加

シートバックの耐久試験装置 - 特許庁

MEMORY BOARD TEST DEVICE AND SOCKET BOARD例文帳に追加

メモリボード試験装置・ソケットボード - 特許庁

LOOPBACK TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ループバックテスト方法および装置 - 特許庁

TEST BURN-IN DEVICE AND METHOD OF CONTROL IN TEST BURN-IN DEVICE例文帳に追加

テストバーンイン装置、及びテストバーンイン装置における制御方法 - 特許庁

TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用試験装置 - 特許庁

AIR LEAK TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

エアリークテスト方法および装置 - 特許庁

PLANT TEST ADJUSTMENT SUPPORT DEVICE例文帳に追加

プラント試験調整支援装置 - 特許庁

TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACK TEST DEVICE例文帳に追加

応力腐食割れ試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、方法及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置とテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法 - 特許庁

QUICK LOADING TEST DEVICE FOR PILE例文帳に追加

杭の急速載荷試験装置 - 特許庁

LOAD TEST DEVICE OF DISCHARGE TUBE例文帳に追加

放電管の荷重検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER TEST METHOD例文帳に追加

半導体ウェハ、プローブ装置、ウェハテスト装置及びウェハテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体装置のテスト回路、及び試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR TURBINE CONTROLLER例文帳に追加

タービン制御装置のテスト装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF OPERATION TIMING OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの動作タイミングのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

RAPID LOADING TEST DEVICE OF PILE例文帳に追加

杭の急速載荷試験装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATING PROGRAM, TEST DATA GENERATING DEVICE, AND TEST DATA GENERATING METHOD例文帳に追加

テストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BENDING TEST TOOL, BENDING TEST TOOL AND BENDING TEST DEVICE例文帳に追加

曲げ試験治具の製造方法、曲げ試験治具および曲げ試験装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD, TEST DATA GENERATION DEVICE, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成方法、テストデータ生成装置及びテストデータ生成プログラム - 特許庁