「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

AUTOMATIC UNPLUGGING DEVICE FOR TEST TUBE例文帳に追加

試験管用自動開栓装置 - 特許庁

TEST EVALUATION DEVICE FOR MONITORING SYSTEM例文帳に追加

監視システムの試験評価装置 - 特許庁

PROBE ASSEMBLY AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブ組立体及び検査装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置テスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びテスト方法 - 特許庁

TEST HEAD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のテストヘッド - 特許庁

TEST DEVICE OF SIGNAL SECURITY SYSTEM例文帳に追加

信号保安システムの試験装置 - 特許庁

EXPOSURE TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

耐候光試験装置及び方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR TEST, TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FUEL INJECTION PUMP例文帳に追加

燃料噴射ポンプのテスト装置 - 特許庁

DECODER TEST CIRCUIT DEVICE OF ROM例文帳に追加

ＲＯＭのデコーダテスト回路装置 - 特許庁

LOGIC CIRCUIT TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加

論理回路テストパタン生成装置 - 特許庁

UNIT FIXING DEVICE FOR SUBMERGENCE TEST例文帳に追加

水没試験のユニット固定装置 - 特許庁

PRINTING DEVICE AND TEST PATTERN THEREOF例文帳に追加

印刷装置、及びそのテストパターン - 特許庁

ACTIVATED SLUDGE TREATMENT TEST DEVICE UNIT AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

活性汚泥処理テスト装置ユニット及びこれを用いたテスト装置 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TEST DEVICE AND CONTAMINATION DETECTING METHOD OF ENVIRONMENTAL TEST DEVICE例文帳に追加

環境試験装置および環境試験装置の汚染検知方法 - 特許庁

FLAW INSPECTING DEVICE FOR TEST OBJECT例文帳に追加

被検査物の欠陥検査装置 - 特許庁

DATA WRITE-IN DEVICE, DATA WRITE-IN METHOD, TEST DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

データ書込装置、データ書込方法、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR PROTECTION RELAY DEVICE例文帳に追加

保護継電装置用試験システム - 特許庁

TEST DEVICE FOR FIRE ALARM EQUIPMENT例文帳に追加

火災報知設備用試験装置 - 特許庁

INDEPENDENCE TEST DEVICE, DATA ANALYSIS DEVICE, AND INDEPENDENCE TEST PROGRAM例文帳に追加

独立性検定装置、データ解析装置、及び独立性検定プログラム - 特許庁

TEST SYSTEM FOR NETWORK SWITCHING DEVICE例文帳に追加

ネットワークスイッチ装置の試験システム - 特許庁

ACOUSTIC TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

音響検査方法および装置 - 特許庁

TEST WAVE GENERATING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND CONTROL INSTRUCTING DEVICE例文帳に追加

試験波発生方法、試験制御装置および制御指示装置 - 特許庁

TENSILE TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

引張り試験方法および装置 - 特許庁

TEST MONITORING SYSTEM AND HOST DEVICE AND REMOTE DEVICE AND TEST MONITORING METHOD例文帳に追加

試験監視システム，ホスト装置，リモート装置及び試験監視方法 - 特許庁

TEST CONTROL SYSTEM OF NETWORK DEVICE例文帳に追加

ネットワーク機器のテスト制御システム - 特許庁

CHAMBER FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスのテスト用チャンバ - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および半導体装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路および半導体装置 - 特許庁

CARRIER BOARD FOR TEST OF IC-DEVICE例文帳に追加

ＩＣデバイスのテスト用キャリアボ—ド - 特許庁

PREPARATION DEVICE OF TEST TUBE TO RACK例文帳に追加

ラックへの試験管準備装置 - 特許庁

SOUND ABSORBING/SOUND INSULATING PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

吸音／遮音の性能テスト装置 - 特許庁

COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム - 特許庁

BIOMOLECULE TEST DEVICE, BIOMOLECULE TEST CHIP, BIOMOLECULE TEST METHOD, AND BIOMOLECULE TEST PROGRAM例文帳に追加

生体分子検査装置、生体分子検査チップ、生体分子検査方法、及び生体分子検査プログラム - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の検査方法および検査装置 - 特許庁

NOTCHING BLADE FOR TEAR TEST AND TEAR TEST DEVICE例文帳に追加

引裂き試験用の切り込み刃及び引裂き試験装置 - 特許庁

BENDING TEST CONTROL DEVICE AND BENDING TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

曲げ試験制御装置および曲げ試験制御方法 - 特許庁

SYSTEM-IN-PACKAGE TEST INSPECTION DEVICE AND TEST INSPECTION METHOD例文帳に追加

システムインパッケージ試験検査装置および試験検査方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリ試験方法・半導体メモリ試験装置 - 特許庁

TEST EXECUTION DEVICE AND TEST EXECUTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験実施装置及び試験実施方法及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD USING IT例文帳に追加

半導体試験装置及びこれを用いる試験方法 - 特許庁

OPTICAL PICKUP TEST METHOD AND OPTICAL PICKUP TEST DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ検査方法および光ピックアップ検査装置 - 特許庁

DRIVING CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE, AND TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

表示装置用駆動回路、テスト回路、及びテスト方法 - 特許庁

TENSION BENDING TEST METHOD OF TUBULAR TEST SPECIMEN AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

管状試験体の引張曲げ試験方法及び装置 - 特許庁