「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

LIGHTING TEST DEVICE AND LIGHTING TEST METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置と点灯検査方法 - 特許庁

DROP IMPACT TEST METHOD AND DROP IMPACT TEST DEVICE例文帳に追加

落下衝撃試験方法および落下衝撃試験装置 - 特許庁

UNIT TEST METHOD, UNIT TEST DEVICE, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

単体テスト方法、単体テスト装置、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁

TEST MATERIAL RECOVERY DEVICE, AND TEST MATERIAL RECOVERY METHOD例文帳に追加

被検物質回収装置及び被検物質回収方法 - 特許庁

TEST SPECIFICATION GENERATION PROGRAM AND TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE例文帳に追加

テスト仕様書生成プログラム、およびテスト仕様書生成装置 - 特許庁

TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

SCAN BASE TEST OF DEVICE PROVIDED WITH TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE例文帳に追加

テストクロック制御構造を実装するデバイスのスキャンベーステスト - 特許庁

To automatically run a boundary-scan test with a test device.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストをテスト装置によって自動的に実行する。 - 特許庁

TEST CONDITION DETERMINATION DEVICE AND TEST CONDITION DETERMINATION PROGRAM例文帳に追加

試験条件決定装置及び試験条件決定プログラム - 特許庁

HEATING TEST DEVICE OF EXHAUST SYSTEM MEMBER AND HEATING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁

BENDING TEST DEVICE AND BENDING TEST METHOD FOR WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネスの屈曲試験装置及び屈曲試験方法 - 特許庁

TEST PIECE AND CRACK DEVELOPMENT BEHAVIOR MONITORING DEVICE FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片および試験片のき裂進展挙動モニタリング装置 - 特許庁

To provide a circuit group, its test method and a test device.例文帳に追加

回路群及びそのテスト方法とテスト装置を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁

MAGNETIC DISK DEFECT TEST METHOD, PROTRUSION TEST DEVICE, AND GLIDE TESTER例文帳に追加

ディスク欠陥検査方法、突起検査装置およびグライドテスタ - 特許庁

TEST APPARATUS FOR ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, AND TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

BURN-IN TEST SYSTEM, BURN-IN TEST DEVICE AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験システム、バーンイン試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST DEVICE例文帳に追加

半導体素子試験方法および半導体素子試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST MODULE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験モジュールおよび半導体装置の試験方法。 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法およびテストボード - 特許庁

TEST METHOD OF LOGICAL CIRCUIT AND TEST DEVICE OF LOGICAL CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテスト方法および論理回路のテスト装置 - 特許庁

TEST PIECE PICKING DEVICE AND PICKING METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片切り出し装置及び試験片の切り出し方法 - 特許庁

To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.例文帳に追加

従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁

TEST ITEM CREATION DEVICE, TEST ITEM CREATION SYSTEM, TEST ITEM CREATION METHOD AND TEST ITEM CREATION PROGRAM例文帳に追加

テスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラム - 特許庁

WATER DISCHARGE TEST DEVICE FOR CLEANING INSULATOR例文帳に追加

碍子洗浄用放水テスト装置 - 特許庁

LIQUID PHASE-TYPE THERMAL SHOCK TEST DEVICE例文帳に追加

液相式熱衝撃試験装置 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR SCANNING TEST例文帳に追加

スキャンテスト方法、装置およびシステム - 特許庁

MICROCOMPUTER AND LSI TEST DEVICE例文帳に追加

マイクロコンピュータ及びＬＳＩテスト装置 - 特許庁

CARD CREATION ISSUE EMBOSSING TEST DEVICE例文帳に追加

カード作成発行エンボス検査装置 - 特許庁

ANTENNA DEVICE USE FOR EMC TEST例文帳に追加

ＥＭＣ試験に用いるアンテナ装置 - 特許庁

BRAKE TEST DEVICE FOR RAILWAY VEHICLE例文帳に追加

鉄道車両用ブレーキ試験装置 - 特許庁

DYNAMO APPARATUS, TEST DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加

ダイナモ装置、自動車用試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH TEST CIRCUITS例文帳に追加

テスト回路を有する半導体装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁

VALVE OPERATION TEST DEVICE FOR INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

内燃機関の動弁試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR BENDING FRACTURE TEST例文帳に追加

曲げ破壊試験方法及び装置 - 特許庁

AUTOMATIC TEST DEVICE FOR RAILWAY ROLLING STOCK例文帳に追加

鉄道車両の自動試験装置 - 特許庁

TRANSMISSION RECEPTION TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

送受信試験方法および装置 - 特許庁

DEVICE FOR HOT ROLL THERMAL IMPACT TEST例文帳に追加

熱間ロール熱衝撃試験装置 - 特許庁

INSULATING WALL AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE例文帳に追加

断熱壁及び環境試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TEST DISK FORMATION例文帳に追加

テストディスク作成装置及び方法 - 特許庁

JITTER REDUCTION DEVICE AND TEST APPARATUS例文帳に追加

ジッタ低減装置および試験装置 - 特許庁