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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
To provide a test emulator which emulates the test device equipped with a plurality of the test modules supplying a test signal to the test device to be tested.例文帳に追加
試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートする試験エミュレート装置を提供する。 - 特許庁
GENERATION METHOD FOR TEST IMAGE, IMAGE TEST METHOD USING THE SAME, AND APPEARANCE TEST DEVICE例文帳に追加
検査画像の生成方法、それを用いた画像検査方法、並びに外観検査装置 - 特許庁
TEST SPECIFICATION GENERATING DEVICE, TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST SPECIFICATION例文帳に追加
試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム - 特許庁
TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, TEST CIRCUIT GENERATING METHOD, AND ITS RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テスト回路およびテスト回路生成装置、テスト回路生成方法およびその記録媒体 - 特許庁
TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD, AND TEST ITEM GENERATION PROGRAM例文帳に追加
試験項目生成装置及び試験項目生成方法及び試験項目生成プログラム - 特許庁
COMPONENT RECOGNIZING DEVICE, COMPONENT MOUNTING DEVICE AND COMPONENT TEST DEVICE例文帳に追加
部品認識装置、部品実装装置及び部品試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TEST METHOD, ELECTRONIC DEVICE AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加
試験装置、試験方法、電子デバイス、及びデバイス生産方法 - 特許庁
AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT SYSTEM, MOBILE DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST, COMPUTER FOR AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT, AND AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT METHOD例文帳に追加
気密検査管理システム、気密検査用モバイル装置、気密検査管理用コンピュータ及び気密検査管理方法 - 特許庁
TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加
試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁
SHIELD BOX FOR PERFORMANCE TEST OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子機器性能試験用シールドボックス - 特許庁
PULSE ABNORMAL VOLTAGE APPLYING TEST DEVICE例文帳に追加
パルス性異常電圧印加試験装置 - 特許庁
TEST METHOD AND INSPECTION DEVICE OF SUBSTRATE例文帳に追加
基板の検査方法及び検査装置 - 特許庁
TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁
TEST METHOD, TEST DEVICE, DEVICE TO BE TESTED, AND SUPERVISORY CONTROLLER FOR MAINTENANCE AND OPERATION例文帳に追加
試験方法、試験装置、被試験装置および保守運用監視制御装置 - 特許庁
HEAT TRANSFER BODY, TEST BOARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
伝熱体、テストボード、及び試験装置 - 特許庁
TEST STIMULUS COMPACTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
テスト刺激コンパクション装置および方法 - 特許庁
SOCKET FOR ELECTRIC TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の電気テスト用ソケット - 特許庁
CONNECTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
コネクタ装置および半導体試験システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびテスト方法 - 特許庁
DISK STORAGE DEVICE AND SERVO TEST METHOD例文帳に追加
ディスク記憶装置及びサーボテスト方法 - 特許庁
COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁
DEVICE AND COLUMN FOR TEST PIECE INSPECTION例文帳に追加
試料検査のための装置及びコラム - 特許庁
OPERATION VERIFYING METHOD FOR MEMORY TEST PATTERN, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
メモリテストパターンの動作検証方法、半導体試験装置、及び半導体装置 - 特許庁
CALIBRATION DATA INPUT SYSTEM FOR TEST DEVICE例文帳に追加
試験機器の較正データ入力システム - 特許庁
SOCKET SUBSTRATE FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験用ソケット基板 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
半導体装置及びその検査方法 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR ELECTRIC POWER STEERING DEVICE例文帳に追加
電動パワーステアリング装置用試験システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR EXTRACTING TEST SAMPLE例文帳に追加
試験サンプルの取出装置及び方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR AC WITHSTAND VOLTAGE TEST例文帳に追加
交流耐電圧試験方法と装置 - 特許庁
ENVIRONMENT TEST DEVICE AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加
環境試験装置および解析方法 - 特許庁
DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TEST OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験用プログラムデバッグ装置 - 特許庁
BURN-IN BOARD, TEST BURN-IN DEVICE, AND SKEW CORRECTION METHOD IN TEST BURN-IN DEVICE例文帳に追加
バーンインボード、テストバーンイン装置およびテストバーンイン装置におけるスキュー補正方法 - 特許庁
The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device.例文帳に追加
電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR COMMUNICATION TROUBLE TEST例文帳に追加
通信障害試験装置及び方法 - 特許庁
MOBILE VEHICLE LOADED WITH HIGH VOLTAGE TEST DEVICE例文帳に追加
高電圧試験装置搭載移動車 - 特許庁
TEST PATTERN AND COLOR IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
テストパターン及びカラー画像形成装置 - 特許庁
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