「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR TEST BENCH MARK例文帳に追加

テストベンチ作成方法および作成装置 - 特許庁

TEMPERATURE CONTROL DEVICE FOR LOW-TEMPERATURE TEST OF IC例文帳に追加

ＩＣ低温テストの温度制御装置 - 特許庁

INSIDE FACE CRACK MEASUREMENT DEVICE FOR TEST CONTAINER例文帳に追加

試験容器の内面亀裂計測装置 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT, AND DESIGNING DEVICE例文帳に追加

組込自己テスト回路及び設計装置 - 特許庁

DEVICE FOR PERFORMING TEST IN VESSEL例文帳に追加

脈管内検査を実施するための装置 - 特許庁

TEST DATA REGISTRATION METHOD, PROGRAM AND DEVICE例文帳に追加

テストデータ登録方法、プログラム及び装置 - 特許庁

AUTOMATION TEST OF FREQUENCY CONVERTER DEVICE例文帳に追加

周波数変換器装置の自動化試験 - 特許庁

TEST STATION DEVICE FOR NARROW BAND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

狭域通信システム用試験局装置 - 特許庁

HIGH-SPEED TEST METHOD AND DEVICE OF IC例文帳に追加

ＩＣの高速試験方法及び装置 - 特許庁

A prediction device 103 performs test prediction.例文帳に追加

予測装置１０３がテスト予測を行う。 - 特許庁

METHOD OF AUTOMATIC HAMMERING TEST AND ITS DEVICE例文帳に追加

自動打音検査方法及びその装置 - 特許庁

BENDING TESTING DEVICE AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加

曲げ試験装置および曲げ試験方法 - 特許庁

OFF-LINE TEST DEVICE, AND ITS METHOD例文帳に追加

オフラインテスト装置およびオフラインテスト方法 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

電子回路装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

TEST COST CALCULATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストコスト算出システム - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリテスト回路及び半導体メモリ装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM THEREFOR, AND THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PRE-REPAIR TEST MODE例文帳に追加

プリ・リペアテストモ—ドを有する半導体装置 - 特許庁

DIGITAL CONTROL SOFTWARE FAULT SIMULATION TEST DEVICE例文帳に追加

ディジタル制御ソフト故障模擬テスト装置 - 特許庁

SPEED BINNING TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SPEED BINNING TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

スピードビニングテスト回路、半導体装置、及び半導体装置のスピードビニングテスト方法 - 特許庁

IC HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置のＩＣハンドラ装置 - 特許庁

TEST PIECE SETTING DEVICE FOR VACUUM PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

真空処理装置用の試料載置装置 - 特許庁

TEST COURSE ENTRANCE MANAGEMENT SYSTEM AND DEVICE例文帳に追加

テストコース入場管理システムおよび装置 - 特許庁

DEVICE TEST APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁

MARKING DEVICE AND TEST LINE USING THE SAME例文帳に追加

マーキング装置とそれを用いた試験ライン - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

メモリ回路用の組込み自己試験装置 - 特許庁

BIAXIAL TESTING DEVICE AND BIAXIAL TEST METHOD例文帳に追加

二軸試験装置及び二軸試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF COORDINATE INPUT/OUTPUT DEVICE例文帳に追加

座標入出力装置の試験方法 - 特許庁

SCANNING TEST DEVICE AND ITS DESIGN METHOD例文帳に追加

スキャンテスト装置およびその設計方法 - 特許庁

INPUT DETECTION DEVICE AND TEST CAR例文帳に追加

入力検出装置、及び、試験車両 - 特許庁

MEMORY INTERFACE CIRCUIT, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

メモリインターフェース回路及びメモリ試験装置 - 特許庁

AIR CLEANING DEVICE AND ITS TEST SYSTEM例文帳に追加

空気浄化装置及びその試験システム - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

メモリ検査装置および半導体集積回路装置 - 特許庁

INSPECTION SIGNAL GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

検査信号生成装置及び半導体検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR WRITING DATA AND TEST DEVICE例文帳に追加

データ書込装置、データ書込方法、及び試験装置 - 特許庁

DELAY SIGNAL GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

遅延信号生成装置および半導体試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テスト回路装置および半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加

起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁

First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel.例文帳に追加

まず、自動試験装置（ＡＴＥ：Automated Test Equipment）ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス（ＤＵＴ）クロックのディジタル出力を、キャプチャする。 - 特許庁

The test execution device 500 delivers input data to the test target device 402 to the function of the test program to execute the test program, and notifies the test management device 600 about an execution situation thereof.例文帳に追加

そして、試験対象装置４０２への入力データをテスト・プログラムの関数に渡すことによりテスト・プログラムを実行し、その実行状況を試験管理装置６００へ通知する。 - 特許庁