「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

SECURITY MEDIUM TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

セキュリティ媒体検査方法及び装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

耐電圧試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST PIECE GRASPING DEVICE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機用試験片つかみ具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

DEVICE FOR CONDUCTIVITY SIMULATION TEST OF TRUCK例文帳に追加

トラックの導電性模擬試験用装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

試験回路および、半導体記憶装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE FOR ELECTROMIGRATION TEST例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験用半導体素子 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TEST CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を含む半導体メモリ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加

セルフテスト機能を有する半導体装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR PERFORMING TEST FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の試験を行うための回路及び半導体装置の試験装置 - 特許庁

HELIUM LEAK TEST METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ヘリウムリーク試験方法及びその装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR TURBINE HOUSING FOR CAR例文帳に追加

自動車用タービンハウジングの試験装置 - 特許庁

SOCKET DEVICE FOR TEST OF SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加

半導体パッケージのテスト用ソケット装置 - 特許庁

VACUUM GRIPPING DEVICE AND IC TEST HANDLER例文帳に追加

真空把持装置及びＩＣテストハンドラ - 特許庁

TEST DEVICE FOR TRAIN OPERATION MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

列車運行管理システムの試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING DEVICE AND MATERIAL TEST PIECE例文帳に追加

材料試験装置と材料試験片 - 特許庁

DEVICE FOR EVALUATION/TEST OF LENS ABRASION RESISTANCE例文帳に追加

レンズの耐擦傷性評価試験装置 - 特許庁

DRAIN PIPE BLOCKING DEVICE FOR LEAKAGE TEST例文帳に追加

排水管の漏洩試験用閉塞具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AUXILIARY DEVICE, AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置、補助装置および試験装置 - 特許庁

DEVICE POWER-SUPPLY APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のデバイス電源供給装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PICKING UP TEST-STANDBY ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

試験待機電子装置のピックアップ方法と装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FRONT END OF ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

超音波診断装置のフロントエンド部の試験装置 - 特許庁

CALM PROCESSING TYPE ENVIRONMENTAL TEST DEVICE, AND SUPPORTING DEVICE例文帳に追加

無風処理式環境試験装置及び支持装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR MANUAL CONTROL DEVICE OF AIRPLANE例文帳に追加

飛行機の人力操縦装置における試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及び半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

WEB APPLICATION INSPECTION PROGRAM, TEST EXECUTION DEVICE, AND TEST EXECUTION METHOD例文帳に追加

Ｗｅｂアプリケーション検査プログラム、テスト実行装置、およびテスト実行方法 - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST DEVICE AND MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST METHOD例文帳に追加

移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法 - 特許庁

LEAKAGE TEST METHOD AND LEAKAGE TEST DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

ガス配管の漏洩検査方法及びそれに用いる漏洩検査装置 - 特許庁

MONITORED BURN-IN TEST DEVICE AND MONITORED BURN-IN TEST METHOD FOR MICROCOMPUTER例文帳に追加

モニタードバーンインテスト装置及びマイクロコンピュータのモニタードバーンインテスト方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, TEST SUPPORTING METHOD, COMPUTER PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト支援装置、テスト支援方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

TEST METHOD FOR PROGRAM, PROGRAM, TEST DEVICE AND APPLICATION DEVELOPMENT SYSTEM例文帳に追加

プログラムのテスト方法、プログラム、テスト装置、及びアプリケーション開発システム - 特許庁

ABRASION TEST METHOD FOR COVERED WIRE MATERIAL AND ABRASION TEST DEVICE例文帳に追加

被覆線状体の摩耗試験方法およびその摩耗試験装置 - 特許庁

HAMMERING TEST METHOD USING LINER PREDICTION COEFFICIENT METHOD AND HAMMERING TEST DEVICE例文帳に追加

線形予測係数法を用いた打検方法および打検装置 - 特許庁

TIRE BENCH TEST DEVICE AND BENCH TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

タイヤの台上試験装置及びこれを用いた台上試験方法 - 特許庁

WIND TUNNEL TEST MODEL DAMPING ADAPTER AND WIND TUNNEL TEST MODEL DAMPING DEVICE例文帳に追加

風洞試験模型制振アダプタ及び風洞試験模型制振装置 - 特許庁

To achieve a test for peripheral boards without using a dedicated test device.例文帳に追加

専用テスト装置を用いずに周辺基板のテストを実現する。 - 特許庁

HEATING TEST DEVICE OF THIN FILM MAGNETIC HEAD AND HEATING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドの加熱試験装置及びその加熱試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor test device being compact and having high test efficiency.例文帳に追加

半導体試験装置を小型かつ試験効率のよいものとする。 - 特許庁

TEST JIG AND PROBE FOR TEST APPARATUS OF DEVICE FOR HIGH FREQUENCY AND HIGH SPEED例文帳に追加

高周波・高速用デバイスの検査治具および検査用プローブ - 特許庁

TEST CHAMBER, AND SOCKET BOARD CIRCULATION STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SYSTEM例文帳に追加

テストチャンバおよび半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造 - 特許庁

FULL-POINT TEST METHOD OF DISPLAY DEVICE SCREEN AND FULL-POINT TEST APPARATUS例文帳に追加

表示装置画面の全点試験方法及び全点試験装置 - 特許庁

FRICTION TEST DEVICE IN ULTRAHIGH VACUUM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

超高真空中における摩擦試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SOFTWARE TEST VERSION GENERATING METHOD AND SOFTWARE TEST VERSION GENERATING DEVICE例文帳に追加

ソフトウェア試用版生成方法及びソフトウェア試用版生成装置 - 特許庁

PARALLEL BIT TEST METHOD AND ITS TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及びそのテスト回路 - 特許庁