「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法と半導体装置 - 特許庁

TEST PRINT, AND EXPOSURE DEVICE AND METHOD OF CORRECTING EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

テストプリント、露光装置およびその補正方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置と半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DIGITAL TEST DEVICE FOR TESTING ANALOG SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アナログ半導体装置をテストするデジタルテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置及び半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置試験回路及び半導体装置 - 特許庁

OPTICAL TEST SIGNAL GENERATION DEVICE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

光試験信号発生装置および試験装置 - 特許庁

DIFFERENT TYPE INCLUSION TEST METHOD AND DIFFERENT TYPE INCLUSION TEST DEVICE例文帳に追加

異品種混入検査方法及び異品種混入検査装置 - 特許庁

COAGULATION TEST DEVICE AND COAGULATION TEST METHOD FOR CONTAINER CONTENT例文帳に追加

容器内容物の凝固検査装置および凝固検査方法 - 特許庁

MULT-ITEM TEST TOOL, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND TEST TOOL MEASURING DEVICE例文帳に追加

多項目試験具その製造方法及び試験具測定装置 - 特許庁

COMPRESSOR PERFORMANCE TEST METHOD AND COMPRESSOR PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

圧縮機性能試験方法及び圧縮機性能試験装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR BEARING POWER OF PILE BURIED IN GROUND例文帳に追加

地盤埋設杭の支持力の試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加

試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁

LIGHTING TEST DEVICE AND LIGHTING TEST METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置および点灯検査方法 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND METHOD FOR VERIFYING SURVEILLANCE TEST PROCEDURE例文帳に追加

サーベイランステスト装置およびサーベイランステスト手順の検証方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST COMPONENT TRAY USED FOR THE SAME例文帳に追加

半導体検査装置およびこれに用いる被検査部品トレー - 特許庁

NETWORK SYSTEM TEST METHOD, NETWORK SYSTEM TEST PROGRAM, AND NETWORK DEVICE例文帳に追加

ネットワークシステムテスト方法、ネットワークシステムテストプログラム及びネットワーク装置 - 特許庁

VIBRATION TEST METHOD AND DEVICE, AND PROGRAM FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験方法及び装置、並びに振動試験用プログラム - 特許庁

HEAT RESISTANT MATERIAL TESTING DEVICE, HEAT RESISTANT MATERIAL TEST METHOD, AND TEST PIECE例文帳に追加

耐熱材試験装置、耐熱材試験方法およびテストピース - 特許庁

TEST CREATION DEVICE, TEST CREATION METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト作成装置、テスト作成方法、プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

IC CARD TEST DEVICE, IC CARD TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置、ＩＣカードテスト方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁

ORGANIC EL PANEL TEST METHOD AND ORGANIC EL PANEL TEST DEVICE例文帳に追加

有機ＥＬパネル検査方法及び有機ＥＬパネル検査装置 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SELF-TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置の自己テスト回路及び自己テスト方法 - 特許庁

LOADING TEST METHOD FOR PILE AND LOADING DEVICE USED FOR THIS TEST例文帳に追加

杭の載荷試験方法及びこの試験に用いる載荷装置 - 特許庁

FIELD COMMUNICATION TEST DEVICE AND FIELD COMMUNICATION TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

フィールド通信テストデバイスとこれを用いたフィールド通信テストシステム - 特許庁

SERVO AREA TEST METHOD OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND TEST DEVICE例文帳に追加

磁気記録媒体のサーボ領域検査方法および検査装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE OF PRESS STATE OF CRIMPING TERMINAL例文帳に追加

圧着端子の圧着状態検査方法及び検査装置 - 特許庁

OVERLOAD TEST DEVICE FOR CDMA SYSTEM例文帳に追加

ＣＤＭＡシステムの過負荷試験装置 - 特許庁

HEAT-INSULATING PANEL AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE例文帳に追加

断熱パネル及び環境試験装置 - 特許庁

LARGE INTESTINE ENDOSCOPIC TEST PRACTICING DEVICE例文帳に追加

大腸内視鏡検査練習装置 - 特許庁

CONTACT SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST例文帳に追加

半導体装置試験用コンタクト基板 - 特許庁

SWITCHING DEVICE FOR POWER CIRCUIT SURGE TEST例文帳に追加

電源回路のサージテスト用切換装置 - 特許庁

POSITIONING DEVICE FOR DUMBBELL-LIKE TEST PIECE例文帳に追加

ダンベル状試験片の位置決め装置 - 特許庁

HI-FIX BOARD CLAMPING DEVICE FOR TEST HANDLER例文帳に追加

テストハンドラ用ハイフィックスボードクランプ装置 - 特許庁

TEST ELEMENT GROUP AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テストエレメントグループおよび半導体装置 - 特許庁

TEST CONDUCTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト実行装置、方法およびプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST MODE CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置、テストモード制御回路 - 特許庁

TEST MANHOUR ESTIMATION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

テスト工数見積装置およびプログラム - 特許庁

LEAKAGE DETECTOR EQUIPPED WITH TEST DEVICE例文帳に追加

テスト装置を備えた漏電検出器 - 特許庁

METHOD FOR TEST ROUTE SELECTION AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

試験ルート選定方法及び装置 - 特許庁

DEVICE TEST HANDLER AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

デバイステストハンドラ及びその作動方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テスト支援装置及びテスト支援方法 - 特許庁