「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

CREEP TESTING DEVICE AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験装置およびクリープ試験方法 - 特許庁

TEST UNIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト装置 - 特許庁

MECHANICAL LOAD TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用機械荷重試験方法 - 特許庁

PREPARATION DEVICE OF TEST TUBE TO TRAY OR RACK例文帳に追加

トレイ又はラックへの試験管準備装置 - 特許庁

LED DISPLAY DEVICE HAVING SCREEN TEST FUNCTION例文帳に追加

スクリーンテスト機能付きＬＥＤ表示装置 - 特許庁

TEST METHOD AND ITS DEVICE OF FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池の試験方法とその装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST METHOD AND GAS SUPPLY DEVICE例文帳に追加

気密試験方法及びガス供給装置 - 特許庁

MIXING TEST EVALUATION SYSTEM DEVICE AND METHOD例文帳に追加

混合試験評価システム装置及び方法 - 特許庁

TRACE MECHANISM, AND RECORDING REPRODUCING TEST DEVICE例文帳に追加

トレース機構、および記録再生試験装置 - 特許庁

TRACTION DEVICE FOR VEHICLE CRASH TEST APPARATUS例文帳に追加

車両衝突試験装置の牽引装置 - 特許庁

ELONGATION MEASURING METHOD AND DEVICE FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の伸び測定方法及び装置 - 特許庁

DATA TRANSMITTER AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

データ送信装置及び半導体試験装置 - 特許庁

BRAKING TEST DEVICE FOR CABLE TRACTION VEHICLE例文帳に追加

索条牽引車両の制動試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置およびメモリテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER FOR HIGH FREQUENCY例文帳に追加

高周波用半導体ウェハのテスト装置 - 特許庁

TEST MODE CHANGEOVER METHOD AND TEST MODE CHANGEOVER DEVICE FOR IC FOR FDD, FDD DEVICE例文帳に追加

ＦＤＤ装置用ＩＣのテストモード切換方法およびテストモード切換装置、ＦＤＤ装置 - 特許庁

HOLE HORIZONTALLY LOADING TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

孔内水平載荷試験方法及び装置 - 特許庁

MODULE TEST METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

モジュール試験方法およびモジュール試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FUNCTIONAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの機能検査用テスト装置 - 特許庁

COLOR TEST CHART AND IMAGE RECORDING CONTROL DEVICE例文帳に追加

カラーテストチャート及び画像記録制御装置 - 特許庁

METHODS OF PROCESSING AND DISPLAYING DATA OF SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND THE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体検査装置のデータ処理方法とデータ表示方法と半導体検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とテスト方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, TEST DEVICE, AND RECYCLE METHOD例文帳に追加

撮像装置、試験装置、及びリサイクル方法 - 特許庁

CHUCK DEVICE FOR TWISTING TEST FOR WIRE SAMPLE例文帳に追加

線材サンプルの捻回試験用チャック装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁

BYPASS DEVICE FOR OPERATION TEST FOR EARTH LEAKAGE BREAKER例文帳に追加

漏電遮断器動作テスト用バイパス装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験装置及び振動試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験装置および振動試験方法 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD例文帳に追加

電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁

ABRASION TEST METHOD AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

BEARING DEVICE, FATIGUE TEST MACHINE, AND ELECTRIC MOTOR例文帳に追加

ベアリング装置、疲労試験機および電動機 - 特許庁

BASE STATION TEST DEVICE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

基地局試験装置とその運用方法 - 特許庁

MOVABLE ARM TYPE CENTRIFUGAL FORCE LOADING TEST DEVICE例文帳に追加

アーム可動型遠心力載荷試験装置 - 特許庁

TEST WRITING METHOD AND INFORMATION-RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法及び情報記録装置 - 特許庁

SOCKET MOUNTING DEVICE FOR TEST PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

試験用プリント基板のソケット取付装置 - 特許庁

GROUND/GROUND WATER MODEL TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

地盤・地下水モデル試験方法及び装置 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of improving the throughput of DUT (device under test) inspection.例文帳に追加

ＤＵＴ検査のスループットを改善できる半導体検査装置を提供すること。 - 特許庁

COMMUNICATION TERMINAL TEST METHOD, DEVICE AND SYSTEM例文帳に追加

通信端末試験方法、装置、及びシステム - 特許庁

IMPACT TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

衝撃試験装置及び衝撃試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR UPDATING TEST DEVICE例文帳に追加

テストデバイスを更新するシステムおよび方法 - 特許庁

BEARING TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

軸受試験装置、及び、軸受試験方法 - 特許庁

DISTRIBUTED CONTROL SYSTEM TEST EXECUTION MANAGEMENT DEVICE例文帳に追加

分散制御システム試験実行管理装置 - 特許庁

DIFFERENTIAL SIGNAL TRANSMITTER AND TEST DEVICE例文帳に追加

差動信号伝送装置および試験装置 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE AND LOAD TEST METHOD例文帳に追加

荷重試験装置および荷重試験方法 - 特許庁

GAS INJECTION DEVICE FOR AIR BAG EXPANSION TEST例文帳に追加

エアバッグ膨張試験用ガス噴出装置 - 特許庁