「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

ELEVATED BLACK PANEL FOR ACCELERATED WEATHERING TEST DEVICE例文帳に追加

促進耐候性試験装置用高設ブラックパネル - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST DEVICE AND MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST METHOD例文帳に追加

移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 - 特許庁

OPERATION CONFIRMATION DEVICE, SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TEST RULE FOR BLACK BOX TEST例文帳に追加

ブラックボックステスト用テストルールの動作確認装置、システム、方法およびプログラム - 特許庁

TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION DEVICE, TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テスト仕様情報作成装置、テスト仕様情報作成方法、およびプログラム - 特許庁

PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM TEST SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト支援装置及びプログラムテスト支援プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD OF BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR, AND TESTER例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置、双方向フォトサイリスタのテスト方法、および、テスター - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置用テストプログラム生成システム及びテストプログラム生成方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM例文帳に追加

半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法 - 特許庁

TEST METHOD AND SYSTEM, PROGRAM FOR IT, AND TEST SYSTEM SERVER DEVICE例文帳に追加

検査方法、検査システム、検査システム用プログラム及び検査システムサーバー装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び試験装置と半導体記憶装置 - 特許庁

DYNAMIC HORIZONTAL LOADING TEST METHOD, AND DYNAMIC HORIZONTAL LOADING TEST DEVICE FOR PILE例文帳に追加

杭の動的水平載荷試験方法及び動的水平載荷試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR PRINTER INPUT/OUTPUT CHARACTERISTICS例文帳に追加

プリンタ入出力特性試験具及びプリンタ入出力特性試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR AND TEST DEVICE FOR ACCELERATION例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

WAFER BURN-IN TEST METHOD, WAFER BURN-IN TEST APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テスト方法、ウェハ・バーンイン・テスト装置及び半導体記憶装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD AND WITHSTAND VOLTAGE TEST DEVICE FOR HIGH AND LOW VOLTAGE DETECTOR例文帳に追加

高低圧用検電器の耐電圧試験方法および耐電圧試験装置 - 特許庁

TEST INFORMATION MANAGEMENT METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム - 特許庁

CARRIER FOR TEST AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE TO CARRIER FOR TEST例文帳に追加

試験用キャリア、及び試験用キャリアへの半導体装置の取付方法 - 特許庁

CIRCUIT DEVICE WITH SERIAL TEST INTERFACE AND SERIAL TEST MODE PROCEDURE例文帳に追加

シリアルテストインターフェースを有する回路構成、およびシリアルテスト作動モード手順 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH JITTER TEST CIRCUIT, AND THE JITTER TEST METHOD例文帳に追加

ジッタ検査回路を搭載した半導体装置およびそのジッタ検査方法 - 特許庁

The temperature test device 1 has the test bath 3 with the opening 10.例文帳に追加

温度試験装置１は、開口１０を有する試験槽３を備えている。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁

TEST RESULT ADJUSTING SYSTEM FOR ADJUSTING TEST RESULT OF DEVICE IN GROUP AND TEST RESULT ADJUSTING METHOD例文帳に追加

グループ内のデバイスのテスト結果を調整するためのテスト結果調整システムおよびテスト結果調整方法 - 特許庁

To prevent generation of DUT (Device Under Test)destruction by output abnormality of a test signal generation part during a test.例文帳に追加

テスト中に、テスト信号発生部の出力異常によってＤＵＴ破壊を起こさないようにする。 - 特許庁

To provide a test method that reduces a test pattern length, and to provide a test control program and a semiconductor device.例文帳に追加

テストパタン長を短縮できるテスト方法、テスト制御プログラム及び半導体装置を提供すること - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of shortening test time and reducing test cost, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

テスト時間およびテストコストを低減できる半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD, RAM/ROM TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびそのテスト方法、ＲＡＭ／ＲＯＭテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST PROCEDURE GENERATING DEVICE, TEST PROCEDURE GENERATING METHOD, TEST PROCEDURE GENERATOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験手順生成装置及び試験手順生成方法及び試験手順生成プログラム及び記録媒体 - 特許庁

MIGRATION TEST PROGRAM CREATION DEVICE, MIGRATION TEST PROGRAM CREATION METHOD, AND MIGRATION TEST PROGRAM CREATION PROGRAM例文帳に追加

移行検査プログラム作成装置、移行検査プログラム作成方法および移行検査プログラム作成プログラム - 特許庁

NETWORK TEST PLANNING DEVICE, NETWORK TEST PLANNING METHOD, NETWORK TEST PLANNING PROGRAM AND NETWORK MONITORING SYSTEM例文帳に追加

ネットワーク試験計画装置、ネットワーク試験計画方法、ネットワーク試験計画プログラム及びネットワーク監視システム - 特許庁

TEST SPECIFICATION PREPARATION SUPPORT DEVICE, TEST SPECIFICATION PREPARATION METHOD, CONSTRUCTION METHOD FOR DATABASE, AND TEST SPECIFICATION PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

テスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、データベースの構築方法、テスト仕様作成プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF REDUNDANCY ARITHMETIC OPERATION, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

TEST PATTERN EVALUATING DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR INSPECTING DEVICE例文帳に追加

テストパターン評価装置及びその方法、半導体検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR EXECUTING TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト実行方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置、半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

DYNAMIC PRESSURE BEARING, OPTICAL SCANNING DEVICE AND TEST EVALUATING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

動圧軸受、光走査装置およびその試験評価装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR OPTICAL PICKUP DEVICE, AND OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ装置の検査方法および光ピックアップ装置 - 特許庁

NANO-WIRE TENSION TEST DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

ナノワイヤ引張試験デバイス及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, IC CARD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、ＩＣカードおよび検査装置 - 特許庁

BURN-IN TEST DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE DEVICE例文帳に追加

バーンイン試験装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

ISOLATION WORK METHOD FOR STOP VALVE, ISOLATION DEVICE AND TEST DEVICE OF THE ISOLATION DEVICE例文帳に追加

止め弁の隔離工法と隔離装置及び隔離装置の試験装置 - 特許庁

WORKPIECE FIXING DEVICE, AND PERFORMANCE TEST DEVICE HAVING WORKPIECE FIXING DEVICE例文帳に追加

ワーク固定装置、および同ワーク固定装置を備えた性能試験装置 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁