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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加
ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁
PUMP TEST DEVICE, PUMP OPERATION ASSIST DEVICE, AND PUMP BEARING TEMPERATURE CALCULATION DEVICE例文帳に追加
ポンプ試験装置、ポンプ運転支援装置、およびポンプ軸受温度演算装置 - 特許庁
TELEVISION DEVICE WITH VISUAL ACUITY TEST FUNCTION, AND VIDEO DISPLAY DEVICE例文帳に追加
視力検査機能付きテレビジョン装置および映像表示装置 - 特許庁
TESTING DEVICE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の検査方法および半導体記憶装置 - 特許庁
COOLING DEVICE, AND COOLING METHOD OF CHAMBER SPACE FOR DEVICE TEST例文帳に追加
冷却装置及びデバイステスト用チャンバ空間の冷却方法 - 特許庁
DEVICE TEST SYSTEM, SERVER, DEVICE TESTER, AND PATTERN DATA SETTING METHOD例文帳に追加
デバイス試験システム、サーバ、デバイステスタ、およびパターンデータ設定方法 - 特許庁
WIND TUNNEL MODEL SUPPORT DEVICE AND WIND TUNNEL TEST DEVICE USING IT例文帳に追加
風洞模型支持装置およびそれを用いた風洞試験装置 - 特許庁
ELECTROOPTIC DEVICE, ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器 - 特許庁
STRAIN MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND LOADING TEST DEVICE例文帳に追加
ひずみ測定装置とその製造方法及び載荷試験装置 - 特許庁
DATA ACQUISITION CONTROL DEVICE, CONTROL METHOD AND TEST DEVICE例文帳に追加
データ取込制御装置、データ取込制御方法、及び試験装置 - 特許庁
SAFETY VALVE POPPING PRESSURE TEST DEVICE AND SAFETY VALVE POPPING PRESSURE MEASURING DEVICE例文帳に追加
安全弁吹出圧テスト装置および安全弁吹出圧測定装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TEST MECHANISM, PROBING DEVICE AND PROBE SUBSTRATE例文帳に追加
半導体記憶装置テスト機構、プロービング装置及びプローブ基板 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, IC TAG, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置、ＩＣタグ及び半導体装置のテスト方法。 - 特許庁
To provide a program test device for raising readability in a test scenario which is used in the test of a program to be tested.例文帳に追加
被テストプログラムのテストに使用されるテストシナリオの可読性を向上したプログラムテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test weight conveying device capable of collectively conveying a plurality of test weights while reducing labor for conveying the test weights.例文帳に追加
テストウェイトを運搬する労力を軽減しながら複数のテストウェイトをまとめて運搬することである。 - 特許庁
A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加
テストパターン発生装置２４がテストパターン記憶装置２５からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁
TEST MATERIAL DETECTION METHOD, TEST MATERIAL DETECTION CHIP USED FOR THE SAME AND TEST MATERIAL DETECTION DEVICE例文帳に追加
被検物質検出方法並びにそれに用いられる被検物質検出チップおよび被検物質検出装置 - 特許庁
A test specification generation supporting device comprises a test factor classification table generating part 12 and a test specification generating part 28.例文帳に追加
テスト仕様生成支援装置は、テスト因子分類表生成部１２とテスト仕様生成部２８で構成される。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁
To improve test workability, and to improve test accuracy, concerning a thermal test device for a heater element.例文帳に追加
発熱素子の熱試験装置に関し、試験作業性を良好にし、かつ、試験精度を高めることを目的とする。 - 特許庁
TEST PIECE SUPPLY DEVICE OF IMPACT RESILIENCE TESTING MACHINE例文帳に追加
反発弾性試験機の試験片供給装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-REFRESH TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びセルフリフレッシュテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加
プリント配線板の試験方法及び試験装置 - 特許庁
TEST PATTERN MEASURING METHOD, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
テストパターン測定方法および画像形成装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RUBBING STRENGTH, AND TEST PIECE THEREFOR例文帳に追加
摺り強度試験方法及び装置、試験片 - 特許庁
LINE TEST SYSTEM AND ITS INTERMEDIATE TESTING DEVICE例文帳に追加
回線試験システム及びその中間試験装置 - 特許庁
LAMINATED SEMICONDUCTOR DEVICE, AND CONTINUITY TEST例文帳に追加
積層型半導体装置および導通テスト方法 - 特許庁
FOAMING DEGREE INSPECTION DEVICE FOR TEST LIQUID FOR MEDICAL USE例文帳に追加
医療用被検液体の起泡度検査装置 - 特許庁
PROCESSING METHOD AND PROCESSING DEVICE FOR WAFER TEST例文帳に追加
ウエハテストのための処理方法および処理装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法および試験装置 - 特許庁
ENGINE ASSEMBLY STATUS TEST METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
エンジン組立状態検査方法及びその装置 - 特許庁
LOADING TEST DEVICE AND ITS FORCE CONTROL METHOD例文帳に追加
加力試験装置及びその加力制御方法 - 特許庁
MEASURING APPARATUS, TEST APPARATUS, PROGRAM AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
測定装置、試験装置、プログラム、及び電子デバイス - 特許庁
TEST CIRCUIT AND METHOD OF EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
テスト回路および半導体装置の評価方法 - 特許庁
TEST SOCKET AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
検査ソケット及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
FERROELECTRIC STORAGE DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
強誘電体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
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