「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

INFORMATION COMMUNICATION DEVICE, AND TEST MODE CHANGEOVER SYSTEM例文帳に追加

情報通信機器、および試験モード切替え方式 - 特許庁

The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test.例文帳に追加

本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

This semiconductor test system is provided with a simulator 1, a semiconductor test device 2, a data converting device 3, and a waveform displaying device 4.例文帳に追加

半導体試験システムは、シミュレータ１、半導体試験装置２、データ変換装置３、波形表示装置４を備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS DESIGNING DEVICE, DESIGNING METHOD, DESIGNING PROGRAM, TEST VECTOR VERIFICATION DEVICE, AND TEST VECTOR GENERATION DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その設計装置、設計方法、設計プログラム、テストベクタ検証装置、およびテストベクタ作成装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置及び半導体装置 - 特許庁

The system is provided with a clock generating unit which has a test circuit corresponding to a device to be tested having a test circuit responding to a test signal and which supplies first clocks corresponding to operational frequencies of a test device being normal and the device to be tested to the test device and the device to be tested.例文帳に追加

テスト信号に応答するテスト回路を有する被テストデバイスに対応したテスト回路を持ち、正常とされたテストデバイス、被テストデバイスの動作周波数に対応した第１クロックをテストデバイス及び被テストデバイスに供給するクロック生成装置を設ける。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT例文帳に追加

物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

METHOD FOR PROBE TEST, PROBE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブ試験方法、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

BELT MEANDERING PREVENTING DEVICE AND MEANDERING PREVENTING METHOD OF RUNNING TEST DEVICE例文帳に追加

走行試験装置のベルト蛇行防止装置及び蛇行防止方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁

TEST METHOD, ITS DEVICE, AND MULTIPOINT MEASURING DEVICE OF MULTIPLEXER SWITCH例文帳に追加

マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストパタン生成方法およびテストパタン生成装置 - 特許庁

PHOTOIRRADIATION APPARATUS, TEST APPARATUS OF SOLID STATE IMAGING DEVICE, AND RELAY DEVICE例文帳に追加

光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 - 特許庁

SOFTWARE TEST/DEVELOPMENT SUPPORT DEVICE, AND PROGRAM FOR DEVICE例文帳に追加

ソフトウェア試験及び開発支援装置並びに当該装置用プログラム - 特許庁

TEST EQUIPMENT OF ELECTROMAGNETIC FORCE SUPPORTING DEVICE EMPLOYING SUPERCONDUCTING MAGNET DEVICE例文帳に追加

超電導磁石装置を用いた電磁力支持装置の試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TRANSFERRING SEMICONDUCTOR DEVICE IN TEST HANDLER例文帳に追加

テストハンドラーにおいて半導体装置を移送する方法及び装置 - 特許庁

DEVICE FOR DETERMINING WHISTLE BLOWING SOUND/INHALING SOUND, AND WHISTLE MUSIC TEST DEVICE例文帳に追加

口笛の吹音・吸音判定装置及び口笛音楽検定装置 - 特許庁

ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD例文帳に追加

着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INJECTOR CHARACTERISTIC MEASURING TEST DEVICE例文帳に追加

インジェクタの特性測定試験装置および特性測定試験方法 - 特許庁

ANALOG-DIGITAL CONVERSION DEVICE AND METHOD AND OPTICAL PULSE TEST DEVICE例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換装置、Ａ／Ｄ変換方法、及び光パルス試験装置 - 特許庁

SIGNAL CONVERSION DEVICE, WAVEFORM MEASUREMENT APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

信号変換装置、波形測定装置および半導体試験装置 - 特許庁

INDEX DEVICE OF HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

半導体素子テスト用ハンドラのインデックス装置及びその動作方法 - 特許庁

LASER PUNCTURE DEVICE AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE LASER PUNCTURE DEVICE例文帳に追加

レーザ穿刺装置とこのレーザ穿刺装置を用いた血液検査装置 - 特許庁

DEVICE MEASURING APPARATUS AND SUPPRESSION METHOD FOR TEMPERATURE CHANGE OF DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test data generation device and a test data generation method, allowing generation of test data of an effective date.例文帳に追加

有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加

テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁

The automatic test device 3 operates with reference to the stored data and displays test results and past test data.例文帳に追加

自動試験装置３はその保存されたデータを参照して動作し、試験結果と過去の試験データとを表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test circuit following a desired phase during a test to test a DDRif inexpensively.例文帳に追加

テスト中に所望の位相に対して追随できるテスト回路を備え、安価にDDRifのテストを行うことを目的としている。 - 特許庁

To provide a plant test managing device which can efficiently advance a plant test and plant test managing operation.例文帳に追加

プラント試験ならびにプラント試験管理業務を効率的に進めることのできるプラント試験管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for determining the performance of a test plug, which can readily and quickly conduct insulation test of the test plug.例文帳に追加

テストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which shows an excellent test result in both a heat cycle test and a moisture absorption resistance reflow test.例文帳に追加

温度サイクル試験においても、また耐吸湿リフロー性試験においても良好な半導体装置を提供する。 - 特許庁

VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁

To improve performance in a signal transmission between a test device and test equipment.例文帳に追加

被検デバイスとテスト機器間との間の信号電送における性能の向上を図る。 - 特許庁

OPTIMUM PARAMETER DECIDING METHOD FOR PSEUDODYNAMIC TEST, AND METHOD AND DEVICE FOR PSEUDODYNAMIC TEST例文帳に追加

スード試験における最適パラメータ決定方法、スード試験方法およびスード試験装置 - 特許庁

To simply generate a variety of test data for inspection and test processes of a broadcast receiver device.例文帳に追加

放送受信機器の検査やテスト工程において、様々なテストデータを簡易に作成する。 - 特許庁

To achieve a memory test device which can test a memory provided with a DBI function.例文帳に追加

ＤＢＩ機能を備えたメモリを試験することが可能なメモリ試験装置を実現する。 - 特許庁

AUTOMATIC GENERATING METHOD FOR LSI TEST PATTERN PROGRAM, ITS DEVICE, AND LSI TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法 - 特許庁

The IC card test device 1 stores a test script 15 described in script language.例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置１はスクリプト言語で記述されたテストスクリプト１５を記憶している。 - 特許庁

REGRESSION TEST SYSTEM FOR LSI CIRCUIT, DEVICE USED FOR THE SAME AND REGRESSION TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ回路のリグレッションテストシステム、及びそれに用いる装置とそのリグレッションテスト方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁