「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING BALANCE DEVICE FOR ELEVATOR AND JIG FOR TEST例文帳に追加

エレベータの秤装置の試験方法および試験用治具 - 特許庁

TEST PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTROOPTIC DEVICE例文帳に追加

検査用プローブおよび電気光学装置の製造方法 - 特許庁

LEAK TEST METHOD OF HOLLOW RUBBER SEAL MEMBER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

中空ゴムシール部材の漏れ試験方法とその装置 - 特許庁

PERMEABILITY TEST DEVICE BY FILLING AND SUCKING BOREHOLE WATER BY PISTON例文帳に追加

孔内水ピストン注入・吸引式透水試験装置 - 特許庁

FLOW VELOCITY DISTRIBUTION CONTROL DEVICE IN WIND TUNNEL TEST FACILITY例文帳に追加

風洞実験施設における流速分布制御装置 - 特許庁

DISTRIBUTING METHOD AND DEVICE OF DIAGNOSTIC TEST STRIP例文帳に追加

診断試験ストリップを分与するための方法および装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING TEST OBJECT例文帳に追加

被検査物の検査装置及び被検査物の検査方法 - 特許庁

AND FAIL DETECTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

アンドフェイル検出回路及び半導体メモリ試験装置 - 特許庁

OPTICAL DISK RECORDING/REPRODUCING DEVICE AND ITS TEST WRITING METHOD例文帳に追加

光ディスク記録／再生装置及びその試し書き方法 - 特許庁

TRANSMISSION OIL BEHAVIOR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

トランスミッションオイル挙動試験方法およびその試験装置 - 特許庁

ELECTRIC CONSTANT MEASURING DEVICE, CIRCUIT BOARD TEST DEVICE, ELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD AND CIRCUIT BOARD TEST METHOD例文帳に追加

電気的定数測定装置、回路基板検査装置、電気的定数測定方法および回路基板検査方法 - 特許庁

GAS ANALYSIS TEST APPARATUS, AND REACTION DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

ガス分析試験装置およびこれに用いる反応装置 - 特許庁

SIMULATION SYSTEM AND METHOD FOR TEST DEVICE, AND PROGRAM PRODUCT例文帳に追加

試験装置のシミュレーションシステム、方法、及びプログラム製品 - 特許庁

TEST METHOD, ORGANIC GAS SUPPLY DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

試験方法、有機ガス供給装置及び試験装置 - 特許庁

BUS LOADING TEST DEVICE AND PROCESSING SYSTEM WITH THE SAME例文帳に追加

バス負荷試験装置およびそれを備えた処理システム - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加

強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

TEMPERATURE TEST DEVICE AND TEMPERATURE SETTING METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器の温度試験装置および温度設定方法 - 特許庁

To perform a simple evaluation test of a semiconductor device.例文帳に追加

簡便な半導体装置の評価試験を実現する。 - 特許庁

LIGHT SOURCE EQUIPMENT AND IMAGING DEVICE TEST EQUIPMENT HAVING THE SAME例文帳に追加

光源装置とこれを有する撮像素子検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SETTING TEST ENVIRONMENT例文帳に追加

試験環境設定装置及び試験環境設定方法 - 特許庁

To speed up multi-bit test of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置のマルチビットテストを高速化する。 - 特許庁

AIRTIGHT STRUCTURE OF DOOR OF SPACE ENVIRONMENT TEST DEVICE例文帳に追加

宇宙環境試験装置における扉の気密構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH BUILT-IN PARALLEL TEST CIRCUIT例文帳に追加

ビルト—インパラレルテスト回路を備えた半導体メモリ装置 - 特許庁

DISK DRIVE DEVICE AND TEST METHOD IN ITS DESIGN例文帳に追加

ディスク・ドライブ装置及びその設計におけるテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN OF LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテストパターン作成方法および作成装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁

The functional test pattern is inputted to a reference device 2 and a device under test 4, and both devices 2 and 4 are operated likewise.例文帳に追加

機能テストパターンは基準デバイス２と被検査デバイス４に入力し、各デバイス２，４は同じように動作する。 - 特許庁

FERRO-DIELECTRIC MEMORY DEVICE INCLUDING ON-CHIP TEST CIRCUIT例文帳に追加

オン—チップテスト回路を備えた強誘電体メモリ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TEST POINT INSERTED THERETO例文帳に追加

テストポイントを挿入した半導体集積回路装置 - 特許庁

To provide a tire noise testing device acquiring higher-accuracy tire noise test results.例文帳に追加

より精度の高いタイヤ騒音試験結果を得る。 - 特許庁

IDENTIFYING TEST USED TOGETHER WITH MUTUALLY CONNECTED DEVICE例文帳に追加

相互接続された装置と共に使用する識別検査 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

TEST FACILITATING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING SAME例文帳に追加

テスト容易化回路およびそれを用いた半導体装置 - 特許庁

STORAGE STRUCTURE OF TEST PROGRAM FILE OF AUTOMATIC INSPECTION DEVICE例文帳に追加

自動検査装置の検査プログラムファイルの格納構造 - 特許庁

ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST DEVICE AND ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST METHOD USING THE SAME DEVICE例文帳に追加

実環境シミュレート大気腐食試験装置とその装置を用いる実環境シミュレート大気腐食試験法 - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST DEVICE AND MESSAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

移動通信端末試験装置及びメッセージ表示方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPRESSING HOWL OF ENGINE TEST CELL例文帳に追加

エンジン試験セルのハウルを抑制する方法および装置 - 特許庁

DEVICE FOR RESTRICTING SPINDLE FOR FATIGUE TEST FOR MEMBER WITH SPINDLE例文帳に追加

スピンドル付部材の疲労試験用スピンドル拘束装置 - 特許庁

RELAXATION TEST METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING TOOL例文帳に追加

リラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, ITS TEST METHOD, AND REDUNDANCY SYSTEM例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法、リダンダンシシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST TERMINAL ARRANGEMENT METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とテスト端子配置方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF PERFORMING DATA REDUCTION TEST例文帳に追加

半導体記憶装置、およびデータ縮約テスト方法 - 特許庁