「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST SERVER FOR TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE, SOFTWARE RADIO DEVICE, AND TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE TEST METHOD OF THE SOFTWARE RADIO DEVICE例文帳に追加

技術基準適合試験サーバ、ソフトウェア無線機、およびソフトウェア無線機の技術基準適合試験の方法 - 特許庁

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND POWER SUPPLY DEVICE例文帳に追加

テスト回路，半導体集積回路および電源装置 - 特許庁

WEIBULL SLOPE ESTIMATION METHOD AND DEVICE OF LIFETIME TEST例文帳に追加

寿命試験のワイブルスロープ見積もり方法および装置 - 特許庁

SYNCHRONOUS TYPE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

同期型半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

ELEMENT HEATING AND COOLING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER例文帳に追加

半導体素子テストハンドラの素子加熱及び冷却装置 - 特許庁

TEST TRAVELING METHOD AND DEVICE FOR INSPECTION PIG例文帳に追加

検査ピグのテスト走行方法、検査ピグのテスト走行装置 - 特許庁

TEST SUPPORT PROGRAM, DEVICE, AND METHOD例文帳に追加

テスト支援プログラム、テスト支援装置、およびテスト支援方法 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR REACTOR MONITORING TEST PIECE AND ITS FIXING METHOD例文帳に追加

原子炉監視試験片保持装置とその固定方法 - 特許庁

DELAY FAULT TEST QUALITY CALCULATING DEVICE AND METHOD, AND DELAY FAULT TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加

遅延故障テスト品質算出装置、遅延故障テスト品質算出方法、及び遅延故障テストパターン発生装置 - 特許庁

SUPERVISION CONTROL SYSTEM TOTAL TEST METHOD, AND SIMULATION DEVICE例文帳に追加

監視制御システム総合試験方法及び模擬装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING EDDY CURRENT TEST SIGNAL例文帳に追加

渦電流検査信号分析装置及びその方法 - 特許庁

FORMING METHOD AND DEVICE OF DEVELOPABLE TEST PROGRAM TOOL例文帳に追加

展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置 - 特許庁

ACCEPTANCE-TESTING TERMINAL DEVICE, ACCEPTANCE TEST SUPPORT SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

検収用端末装置、検収支援システム及びプログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FABRICATION OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST MAP CHART例文帳に追加

半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法 - 特許庁

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置およびその検査方法 - 特許庁

TEST FACILITATION DESIGN METHOD AND DEVICE OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト容易化設計方法および装置 - 特許庁

To use test results obtained by the execution of device test programs for controlling each of test heads and the changed contents of the programs for these device test programs in common.例文帳に追加

それぞれのテストヘッドを制御するデバイステストプログラムの実行によって得られた試験結果やプログラムの変更内容をデバイステストプログラム間で共通に利用することができるようにする。 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE, CONTROLLING METHOD THEREOF, AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電源装置、その制御方法ならびにそれらを用いた試験装置 - 特許庁

TEST PIECE COOLING DEVICE, AND ELECTRON BEAM ANALYSIS OBSERVATION DEVICE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

試料冷却装置およびそれを備えた電子線分析観察装置 - 特許庁

To provide a test structure of a semiconductor device, and a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテスト構造物及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR DATA STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法 - 特許庁

SOFTWARE FAULT MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD FOR STROBE TIMING, AND FUNCTION TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ストローブタイミングの調整方法及び半導体装置のファンクションテスト装置 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD例文帳に追加

網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加

電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁

PHASE SHIFT MEASUREMENT DEVICE FOR SPREAD CODE IN MOBILE TERMINAL TEST DEVICE例文帳に追加

移動端末試験装置における拡散コードの位相ずれ測定装置 - 特許庁

VOLTAGE DRIVING CIRCUIT, VOLTAGE DRIVER AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE例文帳に追加

電圧駆動回路、電圧駆動装置および半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

半導体装置のテスト回路、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

When a management side device 11 requests a test from a test execution side device 10 via a network 12 by means of a request means 111, the test execution side device 10 receives the request by a request receiving means 101 and creates a test plan based on the test request by a test plan creation means 102.例文帳に追加

管理側装置１１は依頼手段１１１により、ネットワーク１２を介して試験実施側装置１０に試験依頼すると、試験実施側装置１０は、依頼受付手段１０１にて依頼を受け付け、試験計画作成手段１０２にて試験依頼に基づいた試験計画を作成する。 - 特許庁

To provide a program and device for generating test data that generates a variety of test cases from the minimum test cases.例文帳に追加

最小限のテストケースから様々なバリエーションのテストケースを生成するテストデータ生成用プログラム、および装置を提供する。 - 特許庁

A test result display means 103 displays the test result data, which the test result verification part 106 generates, on a display device.例文帳に追加

テスト結果表示手段１０３は、テスト結果検証部１０６の生成したテスト結果データを表示装置に表示する。 - 特許庁

To provide a load test device of a passenger conveyor usable simply for a load test in a service life test of the passenger conveyor.例文帳に追加

マンコンベアの寿命試験等における負荷試験用として簡単に用いることができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of automatically changing test mode when it executes a protocol test for a server or a client.例文帳に追加

サーバおよびクライアントを試験対象とする場合に、試験モードを自動的に変更可能なプロトコル試験装置を提供する。 - 特許庁

BUILT-IN TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF INITIALIZATION TEST OF SYNCHRONOUS CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN DATA例文帳に追加

ビルトインテスト回路、集積回路装置、スキャン機能付き同期回路の初期化テスト方法、およびテストパターンデータの生成方法 - 特許庁

A test signal generation unit 41A is provided in a first device 2A and transmits a test signal A to a test signal inspection unit 42B.例文帳に追加

テスト信号生成部４１Ａは、第１のデバイス２Ａに設けられ、テスト信号検査部４２Ｂへテスト信号Ａを送信する。 - 特許庁

TEST PROCESS MANAGEMENT DEVICE, ITS METHOD, TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストプロセス管理装置、テストプロセス管理方法、及びテストプロセス管理プログラム、並びにテストプロセス管理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The storage device controls the reception of the transmitted test data according to the protocol set for the test mode upon receiving the test instruction.例文帳に追加

また、試験指示を受け付けると、試験モード用に設定されたプロトコルに従って、送信された試験データの受信を制御する。 - 特許庁

To provide a display drive circuit which requires neither another test device nor test environment to test a bit error rate (BER).例文帳に追加

ビットエラー率（ＢＥＲ）をテストするための別のテスト装置及びテスト環境が必要としないディスプレイ駆動回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device capable of easily inputting and changing a test pattern, and reusing the test pattern.例文帳に追加

容易にテストパターン入力と変更ができると共に、テストパターンの再利用ができるようにしたテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

The device 3 stores the execution result and repeats the execution of the test program 5 on all instructions to test the test program.例文帳に追加

自動テスト装置３は実行結果を保存し、全ての命令について繰り返し行うことでテストプログラムのテストを行う。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁

To provide a physical layer device with a test circuit constituted, so as to be capable of performing tests by the physical layer device alone and capable of realizing shortening of the test time and the reduction of test cost.例文帳に追加

物理層デバイス単体でテストできるようにし、テスト時間の短縮化、テスト費用の低減化が実現できるテスト回路付き物理層デバイスの提供。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁