「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT例文帳に追加

電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING SIMULATION TEST BENCH AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

シミュレーションテストベンチ生成方法およびその生成装置 - 特許庁

CORROSION THINNING TESTING DEVICE AND CORROSION THINNING TEST METHOD例文帳に追加

腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PACKET TRANSFER TEST例文帳に追加

パケット転送試験装置およびパケット転送試験方法 - 特許庁

DATA DRIVER OF DISPLAY DEVICE, TEST METHOD THEREOF AND PROBE CARD例文帳に追加

表示装置のデータドライバ、そのテスト方法及びプローブカード - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING TEST FOR OBJECT ORIENTED DEVELOPMENT例文帳に追加

オブジェクト指向開発用テスト支援方法および装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR TELECOMMUNICATION EQUIPMENT AND OPERATING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電気通信装置用テスト装置およびその操作方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR WATER PRESSURE TEST OF TIRE例文帳に追加

タイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法 - 特許庁

DEVICE TEST ESTIMATING SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイス試験評価システムおよびデバイス試験評価方法 - 特許庁

To accurately measure current consumption of a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの消費電流を精度良く測定する。 - 特許庁

To accurately predict the test result of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテスト結果をより精度良く予測する。 - 特許庁

To provide a disk test device highly accurately positioning a disk.例文帳に追加

ディスクを高精度に位置だし出来るディスク試験装置。 - 特許庁

JUDGMENT AND TEST METHOD FOR REPLACEMENT PROCESSING TIME OF STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の交代処理時間判定試験方法 - 特許庁

PROPERTY CLARIFICATION OF BALANCING DEVICE INCLUDING TEST SYSTEM CALIBRATION例文帳に追加

テスト・システム校正を含む平衡デバイスの特性解明 - 特許庁

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加

電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁

The probe card is arranged between the test device and the body.例文帳に追加

プローブカードがテスト装置およびボディ間に配置される。 - 特許庁

DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

表示装置の駆動回路及びそのテスト制御方法 - 特許庁

PERFORMANCE TEST METHOD FOR PLASTIC GEAR AND DEVICE FOR THE METHOD例文帳に追加

プラスチック歯車の性能試験方法及びその装置 - 特許庁

PROGRAM, STORAGE MEDIUM, AND METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN例文帳に追加

プログラム、記憶媒体、テストパターン作成方法及び装置 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE AND SUPPORTING METHOD OF GUI SYSTEM PROGRAM例文帳に追加

ＧＵＩ系プログラムのテスト支援装置および支援方法 - 特許庁

CONNECTION WORK AUXILIARY DEVICE FOR COMPRESSED-GAS CYLINDER PRESSURE TEST例文帳に追加

高圧ガス容器耐圧試験の接続作業補助装置 - 特許庁

PRESSURE TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF COMPRESSED-GAS CYLINDER例文帳に追加

高圧ガス容器の耐圧試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR PARTS AND OPENING/CLOSING METHOD OF CHAMBER INLET例文帳に追加

部品試験装置およびチャンバ入り口の開閉方法 - 特許庁

CHANGE-OVER CLUTCH OF COMBINED TEST DEVICE FOR BRAKE AND SPEED例文帳に追加

ブレーキとスピードの複合試験装置の切り替えクラッチ - 特許庁

PINHOLE TEST METHOD AND PINHOLE INSPECTION DEVICE OF PACK CONTAINER例文帳に追加

パック容器のピンホール検査方法及びピンホール検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR HEATING AND COOLING TEST例文帳に追加

加熱冷却試験方法および加熱冷却試験装置 - 特許庁

This device is provided by improving a test board device to be electrically connected to a test head of an IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタのテストヘッドに電気的に接続するテストボード装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

ENVIRONMENT TEST DEVICE EQUIPPED WITH DOWN-FLOW TYPE COOLER例文帳に追加

下降流式冷却器を備えた環境試験装置 - 特許庁

LOAD TEST DEVICE OF SIDE DOOR CLOSING MACHINE FOR ROLLING STOCK例文帳に追加

鉄道車両用側扉戸閉機の荷重試験装置 - 特許庁

To measure highly accurately a switching time of an output signal from a test device in the insulated state from the test device.例文帳に追加

被試験デバイスと絶縁して、当該被試験デバイスの出力信号のスイッチング時間を高精度に測定する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND READING METHOD AT ITS TEST MODE例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテストモード時の読出方法 - 特許庁

The tape library test device subsequently generates test data for the tape library device for transferring the extracted singular point.例文帳に追加

その後、テープライブラリ試験装置は、抽出した特異点を移動させる、テープライブラリ装置の試験データを生成する。 - 特許庁

CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

回路劣化試験装置および回路劣化試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法 - 特許庁

WIRELESS DEVICE EMULATOR AND WIRELESS TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

無線機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システム - 特許庁

MULTIPROCESSOR SYSTEM AND ITS SYNCHRONIZING METHOD, AND VIBRATION TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプロセッサシステムとその同期方法、振動試験装置 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING OF STROBE SIGNAL例文帳に追加

試験装置およびストローブ信号のタイミング調整方法 - 特許庁

OSCILLATION CIRCUIT, TEST DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR OSCILLATION CIRCUIT例文帳に追加

発振回路、試験装置、及び発振回路生産方法 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

WAFER TEST DEVICE AND METHOD THEREFOR, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

ウェハ検査装置、ウェハ検査方法および半導体ウェハ - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, CONTINUITY TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

半導体装置，導通試験方法，およびコンピュータプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTER, AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体装置、半導体テスタおよび半導体テストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT AC TIMING TEST DEVICE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路ＡＣタイミングテスト装置及びその方法 - 特許庁