「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加

ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置、その製造方法、及びその試験装置。 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁

MEASUREMENT APPARATUS, TEST RETICLE, ALIGNER, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

測定装置、テストレチクル、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

FRETTING FATIGUE TEST DEVICE AND FRETTING FATIGUE ESTIMATION METHOD例文帳に追加

フレッティング疲労試験装置およびフレッティング疲労推定方法 - 特許庁

NONSUCTION HEAD PICKUP FOR ELECTRONIC DEVICE WAITING TEST例文帳に追加

試験待機電子装置用無吸着ヘッド式ピックアップ装置 - 特許庁

COMPONENT TRANSFER APPARATUS, COMPONENT MOUNTING DEVICE AND COMPONENT TEST INSTRUMENT例文帳に追加

部品移載装置、部品実装装置及び部品試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DYNAMIC PRESSURE TEST ON ARTICLE例文帳に追加

物品を動的に圧力試験するための装置及び方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

半導体装置およびその検査方法ならびに電子機器 - 特許庁

JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF-TEST FAILURE DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己試験故障検出方法 - 特許庁

TESTING DEVICE WITH TEST SIGNAL MONITORING FUNCTION, AND REMOTE TESTING SYSTEM例文帳に追加

検査信号モニタ機能付き検査装置とリモート検査システム。 - 特許庁

SCAN CHAIN CIRCUIT, SCAN CHAIN CONSTRUCTION METHOD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法及び試験装置 - 特許庁

CHUCK MECHANISM OF THIN SECONDARY BATTERY CHARGE AND DISCHARGE TEST DEVICE例文帳に追加

薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR QUANTIFYING TEST PIECE AND ORGANISM-DERIVED SUBSTANCE例文帳に追加

試験片と生体由来物質の定量方法及び装置 - 特許庁

DISTORTION IDENTIFICATION DEVICE, TEST SYSTEM, PROGRAM, AND DISTORTION IDENTIFICATION METHOD例文帳に追加

歪同定装置、試験システム、プログラム、および、歪同定方法 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

FUNCTION VERIFICATION DEVICE, TEST BENCH, SIMULATOR PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

TEST PIECE SUPPLY ARRANGEMENT AND URINE EXAMINATION DEVICE USING IT例文帳に追加

試験片供給装置とこれを用いた尿の検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限をした回路テストのための方法及び装置 - 特許庁

BASE ROCK SHEAR TEST METHOD AND BASE ROCK SHEAR TESTING DEVICE例文帳に追加

岩盤せん断試験法および岩盤せん断試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREVENTING COLLISION IN WIND TUNNEL MODEL TEST DEVICE例文帳に追加

風洞模型試験装置の衝突防止方法及び装置 - 特許庁

LIGHT SENSOR TEST UNIT, METHOD OF TESTING LIGHT SENSOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

光センサ検査ユニット、これの検査方法及び表示装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT ABERRATION OF TEST LENS例文帳に追加

被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器 - 特許庁

REPRODUCTION POWER TEST METHOD AND OPTICAL INFORMATION REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 - 特許庁

METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加

通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁

OPTICAL MEDIA CONVERTER DEVICE AND FAULT ISOLATION TEST METHOD例文帳に追加

光メディアコンバータ装置および障害切り分け試験方法。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN, AND TEST PATTERN例文帳に追加

回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン - 特許庁

TEST METHOD AND SYSTEM USING VIRTUAL DEVICE AND STRUCTURE例文帳に追加

仮想装置・仮想構成を用いた試験方法及びシステム - 特許庁

CONTROL METHOD AND DEVICE FOR FLOW OF LIQUID TEST PACKAGE AND例文帳に追加

液体試験パッケ—ジの流れの制御法及び制御装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LEAKAGE TEST OF SPOUT AND SPOUT SETTING MACHINE例文帳に追加

注出口のリークテスト方法、装置及び注出口セット機 - 特許庁

POLYMERIC MATERIAL EVALUATION METHOD, AND ACCELERATED DETERIORATION TEST DEVICE例文帳に追加

高分子材料評価方法及び劣化加速試験装置 - 特許庁

ROUGHNESS JUDGMENT METHOD OF TEST PIECE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料の凹凸判定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of easily uniforming and controlling the temperature of each device under test in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験における各被試験デバイスの温度を容易に均一化して制御可能なバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR RUNNING TEST OF VEHICLE例文帳に追加

車両走行試験装置及び車両走行試験方法 - 特許庁

MULTI-LAYER TEST DEVICE AND METHOD FOR FRUCTOSAMINE ASSAY例文帳に追加

フラクトサミンをアッセイするための多層試験デバイスおよび方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及び記録媒体 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR INPUT DATA GENERATION FOR TEST例文帳に追加

テスト用入力データ生成装置及び方法及びプログラム - 特許庁

IN-SITU PERMEABILITY TEST METHOD AND PERMEABILITY COEFFICIENT MEASURING DEVICE例文帳に追加

原位置透水試験法及び透水係数の測定装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING DISPLAY DEVICE例文帳に追加

テスト信号発生装置及び表示装置の評価方法 - 特許庁

GAS LEAKAGE TEST DEVICE FOR CASK FOR STORING RADIOACTIVE WASTE例文帳に追加

放射性廃棄物貯蔵用キャスクのガス漏洩試験装置 - 特許庁

COMPENSATING DEVICE FOR OFFSET OF TWO ORTHOGONAL TEST SIGNALS例文帳に追加

２つの直交する試験信号のオフセットを補償する装置 - 特許庁