「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

SERVICE DETERMINATION DEVICE, VULNERABILITY TEST DEVICE, ATTACK DETECTION DEVICE, SERVICE DETERMINATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

サービス判定装置、脆弱性検査装置、攻撃検知装置、サービス判定方法、及びプログラム - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF QUADRATURE MODULATION DEVICE, QUADRATURE MODULATION DEVICE, AND RADIO TERMINAL TEST DEVICE例文帳に追加

直交変調装置の校正方法、直交変調装置および無線端末試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE SIMULATING DEVICE AND PROGRAM DEBUGGING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TEST USING THE SAME例文帳に追加

半導体デバイスシミュレート装置及びそれを用いた半導体試験用プログラムデバッグ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SUBSTRATE, TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

This testing system includes a pressure rise supply device 2 and a testing device 82 to test this device 2.例文帳に追加

昇圧供給装置２とこの装置を試験する試験装置８２を含む試験システム。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a protocol test device that can efficiently perform the dynamic test of a communication protocol used for a communication device using a simple preparation and a method, without the need for using an independent opposed test device within a single test device.例文帳に追加

単独の試験装置内で通信機器に用いる通信プロトコルの動的な試験を、独立の対向試験装置を用いずに、簡単な準備および方法で行うことで作業を効率化するプロトコル試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information processing device for generating test data taking account of a boundary value test.例文帳に追加

情報処理装置で、境界値テストを考慮したテストデータを生成することを目的とする。 - 特許庁

To facilitate the register test of a PHY layer device 1 and also to shorten the test time.例文帳に追加

ＰＨＹレイヤ・デバイス１のレジスタ試験を容易にし且つ試験時間を短縮することにある。 - 特許庁

To provide a washing test apparatus dispensing with a finish coating device having a test soil substance.例文帳に追加

検査汚れ物質付きの上塗り器具の必要性を取り除く洗浄検査装置を提供する。 - 特許庁

DRAWING METHOD FOR TEST PATTERN, IMAGING DEVICE, AND RECORDING MEDIUM ON WHICH TEST PATTERN IS FORMED例文帳に追加

テストパターンの描画方法、および画像形成装置、並びにテストパターンが形成された記録媒体。 - 特許庁

DETECTION RATE CALCULATION METHOD OF TEST PATTERN, COMPUTER PROGRAM, AND DETECTION RATE CALCULATION DEVICE OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの検出率算出方法、コンピュータプログラム及びテストパターンの検出率算出装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TEST ANALYSIS, AND RECORDING MEDIUM STORING TEST ANALYSIS EXECUTION PROCEDURE PROGRAM例文帳に追加

検査解析装置及び方法並びに検査解析実行手順プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

This inspection device comprises a plug 3, a test bench 4, and a piston 5 and a stand 6 mounted to the test bench 4.例文帳に追加

プラグ３と、試験台４と、試験台４に取り付けたピストン５とスタンド６とからなる。 - 特許庁

As the inspection method of the semiconductor device, a test program is transmitted as a communication signal for every test.例文帳に追加

半導体装置の検査方法として、テストプログラムを通信信号として、テスト毎に送信する。 - 特許庁

To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device including a test circuit for reducing test time.例文帳に追加

本発明は、テスト時間を減少させるテスト回路を含む半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

The test pattern formed at the test pattern formation part 25 is detected by a pattern detecting device 30.例文帳に追加

テストパターン形成部２５に形成されたテストパターンは、パターン検出装置３０にて検出される。 - 特許庁

To provide a flash memory device wherein time required for a stress test can be reduced and to provide a stress test method.例文帳に追加

ストレステスト時間を減らすことができるフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法を提供する。 - 特許庁

SAFETY EVALUATION TEST METHOD, SAFETY EVALUATION TEST DEVICE, AND DESTRUCTIVE MEASURING INSTRUMENT WITH THERMOCOUPLE例文帳に追加

安全性評価試験方法、安全性評価試験装置、および熱電対付破壊測定器具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST DEVICE THEREFOR AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の試験装置、及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD例文帳に追加

メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁

SUBSTRATE FIXING DEVICE, MANUFACTURING APPARATUS OF TEST PIECE EQUIPPED THEREWITH AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE例文帳に追加

基板固定装置及びこれを備えた試験片の製造装置並びに試験片の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.例文帳に追加

ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

EYE MOVEMENT TEST CHART DISPLAY DEVICE, EYE MOVEMENT TEST EQUIPMENT, AND EYE MOVEMENT INSPECTION MEASURE例文帳に追加

眼球運動検査視票表示装置、眼球運動検査装置及び眼球運動検査方法 - 特許庁

The memory cell test system 30 performs memory cell test for a semiconductor device in which a memory cell is formed.例文帳に追加

メモリセルテストシステム３０は、メモリセル部が形成された半導体装置に対し、メモリセルテストを行う。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing easily a circuit test corresponding to a contact resistance.例文帳に追加

接触抵抗に応じた回路テストを容易に行うことができるテスト装置を提供すること。 - 特許庁

INTAKE MANIFOLD FOR PERFORMANCE TEST, AND ENGINE PERFORMANCE TEST DEVICE AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

性能試験用インテークマニホールド、それを用いたエンジン性能試験装置及びその性能試験方法 - 特許庁

That is, design for the semiconductor device is simplified, a test time is shortened, and the test is simplified.例文帳に追加

つまり、半導体装置の設計の簡素化とテスト時間の短縮及び簡素化が可能である。 - 特許庁

The test soil device is in the form of sheet material with a test soil substance 34 provided thereon.例文帳に追加

汚れ検査装置はその上にある検査汚れ物質３４付きのシート材料の形状である。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing a highly accurate automatic test in high speed by improving linearity.例文帳に追加

高精度及びリニアリティを改善し、高速の自動テストを行える試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, an idle time or a dead time of a test device is shortened and test efficiency is improved.例文帳に追加

それゆえに、テスト装置のアイドル時間または無駄時間が短縮され、テスト効率が高められる。 - 特許庁

To provide a status transition test support device for supporting the efficient execution of a state transition test.例文帳に追加

状態遷移テストの効率的な実行を支援する状態遷移テスト支援装置を提供する。 - 特許庁

TEST BENCH CONDITIONING SYSTEM FOR WORKING FLUID, AND DEVICE FOR OPERATING TEST BENCH CONDITION SYSTEM OF THIS TYPE例文帳に追加

作動流体用試験台調整システム及びこの種の試験台調整システムを駆動する装置 - 特許庁

PARTIAL DISCHARGE TEST DEVICE FOR PREMOLDED INSULATOR AND PARTIAL DISCHARGE TEST METHOD FOR PREMOLDED INSULATOR例文帳に追加

プレモールド絶縁体の部分放電試験装置及びプレモールド絶縁体の部分放電試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time of a refresh test of redundancy area is shortened.例文帳に追加

リダンダンシーエリアのリフレッシュテストのテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

An optical pulse test apparatus 1 displays a measured waveform of the test result to a display device 24a.例文帳に追加

光パルス試験装置１は、試験結果の測定波形を表示装置２４ａに表示する。 - 特許庁

In the test environment, the handheld device 102 should be set to perform functions in the test mode.例文帳に追加

試験中に、携帯装置１０２はテストモードで作動するように設定されなければならない。 - 特許庁

Washing efficacy test apparatus includes a holder and a test soil device 6 for location with the holder.例文帳に追加

洗浄効率検査装置はホルダーとホルダーと同じ場所に取り付く汚れ検査装置６を含む。 - 特許庁

To reduce energy consumption of a device while maintaining a test environment for a test object.例文帳に追加

試験対象物に対する試験環境を維持しつつ装置の消費エネルギーを低減させる。 - 特許庁

The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.例文帳に追加

電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁

To provide a software test device capable of promoting efficiency of the whole test work by totalizing test results every time the test is finished for one test item without requiring totalization work after finishing the test.例文帳に追加

１つのテスト項目に対するテストが終了する毎にテスト結果を集計することによって、テスト終了後に集計作業を行う必要がなく、テスト作業全体を効率化することのできるソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

Terminal of the electronic device waiting test is separated from the test terminal by releasing compression of the resilient device after completing the test, and the electronic device waiting test is moved to a tray area where vacuum is broken and released.例文帳に追加

試験完了後に弾性装置の圧縮が解除されることで、試験待機電子装置の端子と試験端子が分離し、更に試験待機電子装置がトレイエリアに移動され、真空が破壊されて釈放される。 - 特許庁

In this case, a memory test is performed through a single board processing sequence, in which the test starts from a test board which is finished mounting semiconductor devices, and a semiconductor device is outputted from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁