「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING WIRING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

検査装置、および、配線回路基板の製造方法 - 特許庁

LOOPBACK TEST METHOD FOR REPEATER, AND CHANGEOVER DEVICE例文帳に追加

中継器用ループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁

ANALYSIS DEVICE WITH EXCHANGEABLE TEST ELEMENT MAGAZINE例文帳に追加

テストエレメント用の交換式マガジンを備えた分析装置 - 特許庁

LINE TEST SYSTEM USING PACKET, AND SWITCHING DEVICE例文帳に追加

パケットを用いた回線試験システム及びスイッチング装置 - 特許庁

SYNCHRONOUS SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

同期型半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

BUS PROTOCOL COMPLIANCE TEST METHOD FOR DEVICE, AND SYSTEM例文帳に追加

デバイスのバス・プロトコル準拠試験方法およびシステム - 特許庁

DRIVE UNIT FOR STRENGTH TEST, AND STRENGTH TESTING DEVICE例文帳に追加

強度試験用駆動装置および強度試験装置 - 特許庁

EVALUATION TEST METHOD OF DETERIORATED STORAGE BATTERY AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

劣化蓄電池の評価試験方法と、その装置 - 特許庁

METHOD FOR STARTING TEST MODE PROVIDED TO OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加

光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法 - 特許庁

TEST METHOD OF DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

デバイスのテスト方法およびそれを用いた電子機器 - 特許庁

METHOD FOR SETTING FREQUENCY SPAN, AND TEST MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

周波数スパン設定方法及び試験測定装置 - 特許庁

SEALING TEST METHOD AND ITS DEVICE FOR HERMETICALLY SEALED CONTAINER例文帳に追加

密封容器の密封検査方法及びその装置 - 特許庁

TEST PIECE IMAGE FORMING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SHEARING TEST OF HARD MATERIAL例文帳に追加

硬質材料の剪断試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE TEST FOR X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡性能試験方法および装置 - 特許庁

PERFORMANCE TEST METHOD FOR PLASTIC GEAR, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プラスチック歯車の性能試験方法及びその装置 - 特許庁

WAFER PROBING DEVICE AND TEST HEAD DOCKING CONTROL METHOD例文帳に追加

ウェーハプロビング装置およびテストヘッドドッキング制御方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LEAKAGE TEST OF PACKAGE SEALING PART例文帳に追加

包装体シール部の漏洩検査方法及び装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TEST DATA GENERATION例文帳に追加

試験データ作成装置および試験データ作成方法 - 特許庁

COMPRESSION DEVICE FOR TEST PATTERN SET, ITS METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパタンセット圧縮装置、方法及び記録媒体 - 特許庁

LASER PUNCTURE DEVICE AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

レーザ穿刺装置とこれを用いた血液検査装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST EQUIPMENT例文帳に追加

半導体装置の製造方法及びそのテスト装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体素子の試験方法及びその試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその試験方法 - 特許庁

INPUT-VOLTAGE TEST CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

入力電圧テスト回路および集積回路装置 - 特許庁

ELECTRODE SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

表示装置用電極基板及びそのテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT DEVICE FOR BURN-IN TEST OF SEMICONDUCTOR MODULE例文帳に追加

半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置 - 特許庁

TEST SELECTION CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

テストセレクト回路およびそれを備える半導体装置 - 特許庁

EMI RESONANCE LINE TEST DEVICE AND EMI RULER例文帳に追加

ＥＭＩ共振線路試験装置及びＥＭＩ定規 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ELECTROSTATIC BREAKDOWN TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの静電破壊試験方法と装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ADDITIONAL METHOD OF ITS TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのテスト回路の追加方法 - 特許庁

The markov device passed its final beta test this morning.例文帳に追加

マルコフ装置は 今朝 最終的なベータテストにパスした - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

CONSTANT TEMPERATURE APPARATUS FOR TEST OF DEVICE WITH HEAT GENERATING PROPERTY例文帳に追加

発熱性を有する機器の試験用恒温装置 - 特許庁

TEST TONE GENERATOR AND AUDIO SIGNAL REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

テストトーン発生装置および音声信号再生装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子機器用試験装置および電子機器試験方法 - 特許庁

TEST SET FOR ELECTRONIC DEVICE, AND TERMINAL USED THEREFOR例文帳に追加

電子装置のテストセット及びそれに用いられる端子 - 特許庁

DOUBLE TUBE TYPE ON-SITE PERMEABILITY TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

２重管式現場透水試験方法及び装置 - 特許庁

TEMPERATURE/HUMIDITY ADJUSTING DEVICE AND METHOD FOR ENVIRONMENTAL TEST例文帳に追加

温度・湿度調製装置及び環境試験方法 - 特許庁

A plant test adjustment support device consists of a maintenance tool 22 and a measuring instrument test device 31, and they are connected through a test information cable.例文帳に追加

プラント試験調整支援装置を保守ツール２２と計器試験装置３１とにより構成し、これらを試験情報ケーブルを介して接続する。 - 特許庁

To provide a monitored burn-in test device for executing a monitored burn-in test without increasing the load of software or improving the function of the test device.例文帳に追加

ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機能を向上させることなくモニタードバーンインテストが実施できるモニタードバーンインテスト装置を提供する。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

TRANSFER DEVICE FOR MULTICHANNEL TEST DATA AND TESTING DEVICE FOR RELAY DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

多チャネル試験データの転送装置およびそれを用いる継電装置の試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE, AND TEST METHOD OF THE DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

One device prepares patten data for an error test and error test identification information showing that a packet is for an error test, generates a packet for an error test having the pattern data for an error test and the error test identification information and transmits the packet for an error test to other devices.例文帳に追加

一の装置が、エラーテスト用パターンデータと、パケットがエラーテスト用であることを示すエラーテスト識別情報とを作成し、エラーテスト用パターンデータと、エラーテスト識別情報とを有するエラーテスト用パケットを生成し、他の装置に送信する。 - 特許庁