「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

To provide a parallel bit test method and a parallel bit test circuit of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及び並列ビットテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test circuit capable of generating a test signal without malfunction.例文帳に追加

テスト信号を誤動作なく発生するテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

MEDICAL NETWORK SYSTEM, MEDICAL TEST REQUEST ACCEPTING DEVICE, AND MEDICAL TEST RESERVATION METHOD例文帳に追加

医用ネットワークシステム及び医用検査依頼受付装置並びに医用検査予約方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its self test method in which test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる半導体装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test connection body that enables pads for test to be shared.例文帳に追加

テスト用のパッドを共用可能とする半導体装置テスト接続体を提供する。 - 特許庁

To provide a test tube carrying device capable of stably holding even a tapered test tube.例文帳に追加

テーパ付き試験管でも安定して把持できる試験管搬送装置を提供する。 - 特許庁

The test device 420 tests the film type semiconductor package 440 by the test signal.例文帳に追加

テスト装置４２０は、テスト信号によってフィルム型半導体パッケージ４４０をテストする。 - 特許庁

CLEANING MEMBER FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体テスト装置のクリーニング部材、半導体製造装置および半導体テストシステム - 特許庁

To provide a communication test device capable of easily maintaining and updating the scenarios of communication test.例文帳に追加

通信試験のシナリオの保守および更新が容易な通信試験装置を提供する。 - 特許庁

PSEUDO ROAD SURFACE GENERATION DEVICE FOR VEHICLE TEST, AND RUNNING TEST METHOD OF AUTOMOTIVE VEHICLE例文帳に追加

車両試験用疑似路面発生装置及び自走式車両の走行試験方法 - 特許庁

TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST PICTURE, TEST CIRCUIT AND PARAMETER DECIDING METHOD例文帳に追加

試験画像生成装置、試験画像生成方法、試験画像及びパラメタ決定方法。 - 特許庁

To provide a load test device of a discharge tube stable in workability and test accuracy.例文帳に追加

作業性および検査精度の安定した放電管の荷重検査装置を提供する。 - 特許庁

BALANCING TEST METHOD AND SUPPORTING DEVICE FOR BALANCING TEST FOR ROTOR WITHOUT JOURNAL例文帳に追加

ジャーナルを備えていないロータのための釣合い試験方法および釣合い試験用支持装置 - 特許庁

To provide a film attachment and test device for fully automating the film attachment and test of a touch pad.例文帳に追加

タッチパッドの貼膜及び検査を全自動で行う貼膜及び検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING TEST POINT NODE FOR CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限した回路テストのためのテストポイントのノ—ドを選択する方法及び装置 - 特許庁

A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.例文帳に追加

試験プログラム１１は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁

THERMAL SHOCK TEST DEVICE, THERMAL SHOCK TEST METHOD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT OF LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, TEST METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

受光増幅回路のテスト回路、テスト方法、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁

TEST DESIGN SUPPORT DEVICE AND TEST DESIGN SUPPORT METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路のテスト設計支援装置、テスト設計支援方法及びプログラム - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH SCAN TEST CIRCUIT FOR REDUCING CHIP SIZE, AND ITS TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

チップサイズを縮小させるスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁

REFRIGERANT VISUAL TEST DEVICE AND TRANSPARENT RESIN BODY MANUFACTURING METHOD FOR REFRIGERANT VISUAL TEST例文帳に追加

冷媒視認試験装置及び冷媒視認試験用の透明樹脂製ボディ製造方法 - 特許庁

CIRCUIT FOR OUTPUT VOLTAGE LEVEL TEST OF SEMICONDUCTOR, DEVICE AND TEST METHOD FOR THE OUTPUT VOLTAGE LEVEL例文帳に追加

半導体装置の出力電圧レベルテスト用回路及び出力電圧レベルテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SLIPPERINESS OF CONTAINER PERIPHERAL SURFACE, HOLDING MECHANISM, TEST METHOD, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加

容器周面の滑り性の試験装置、把持用機構、試験方法、及び、評価方法 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor device by which a test time of a redundancy relieving post test can be shortened based on a result of a redundancy relieving previous test.例文帳に追加

冗長救済前試験の結果に基づいて、冗長救済後試験の試験時間の短縮を図り得る半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 10 is provided with a test terminal 16 for outputting a signal (TEST) for prestarting a test of the memory interface 11 differently from the command signal.例文帳に追加

半導体装置１０は、コマンド信号とは別に、予めメモリインターフェイス１１の試験を開始させる信号（TEST）を出力するテスト端子１６を備える。 - 特許庁

DEVICE FOR TEST ITEM EXTRACTION SYSTEM, TEST ITEM EXTRACTION METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM IS RECORDED AND TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM例文帳に追加

試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラム - 特許庁

To make it unnecessary to provide any test pad for inputting an electric signal or test mode control register, and to control plural test modes in an integrated circuit device having plural test modes.例文帳に追加

複数のテストモードを有する集積回路装置に於いて、電気的信号を入力するためのテストパッド、テストモード制御レジスタ等を不要にする。 - 特許庁

MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION例文帳に追加

多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁

To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加

ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.例文帳に追加

折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a device for quick loading test of a pile and a method for quick loading test of a pile capable of conducting a test easily and obtaining a highly accurate test result.例文帳に追加

簡単に実施でき、精度の高い試験結果が得られる杭の急速載荷試験装置及び杭の急速載荷試験の方法を提供すること。 - 特許庁

The test device body 10 includes a test memory 13 stored to correspond to the test results of DUT 30 and the related information related to the test results.例文帳に追加

試験装置本体１０は、ＤＵＴ３０の試験結果と、この試験結果に関連する関連情報とを対応させて記憶する試験メモリ１３を備える。 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

SHEAR TEST METHOD FOR RIBBON-BONDED PART AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

リボンボンディング箇所のシェアテスト方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING UNIT TEST OF SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェア単体試験の支援方法及び支援装置 - 特許庁

INSULATION TEST METHOD FOR BATTERY AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

電池の絶縁検査方法および絶縁検査装置 - 特許庁

METHOD, CODE AND DEVICE FOR STORING TEST RESULT例文帳に追加

テスト結果を記憶するための、方法、コードおよび装置 - 特許庁

METHOD OF TRIGGERING, AND RF TEST AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

トリガをかける方法及びＲＦ試験測定装置 - 特許庁

CREEP TEST DEVICE AND ITS METHOD FOR MINUTE REGION例文帳に追加

微小領域のクリープ試験装置及びその方法 - 特許庁

TWO-PASS MULTIPLE STATE PARALLEL TEST FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子用ツ—パス多重状態並列試験 - 特許庁