「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR ASSIGNING TEST NUMBER例文帳に追加

テスト番号を割り当てるための方法および装置 - 特許庁

VEHICLE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE AND METHOD THEREOF, AND VEHICLE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE CONTROLLER例文帳に追加

自動車衝突模擬試験装置及びその方法と自動車衝突模擬試験装置用制御装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加

自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁

TEST DEVICE, VERIFICATION MODEL DEVELOPMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、検証モデル開発方法及びプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE, REACTION APPARATUS, AND METHOD OF TESTING REACTION例文帳に追加

試験デバイス、反応装置及び反応試験方法 - 特許庁

A test device-side reader 180 reads cable information out of the test device-side RFID tag 164.例文帳に追加

試験装置側リーダ１８０は、試験装置側ＲＦＩＤタグ１６４からケーブル情報を読み取る。 - 特許庁

CURRENT MEASURING APPARATUS, TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

電流測定装置、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

FREQUENCY ANALYSIS DEVICE, FREQUENCY ANALYSIS METHOD, FREQUENCY ANALYSIS PROGRAM, TAPPING TEST DEVICE AND TAPPING TEST METHOD例文帳に追加

周波数解析装置、周波数解析方法、周波数解析プログラム、打検装置及び打検方法 - 特許庁

DRIVER CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

表示装置の駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁

CT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD AND PT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD例文帳に追加

保護継電器盤用ＣＴテストプラグ試験装置及び保護継電器盤用ＰＴテストプラグ試験装置 - 特許庁

MARKING METHOD, MARKING APPARATUS AND TEST DEVICE例文帳に追加

マーキング方法及びマーキング装置並びに検査装置 - 特許庁

USER INFORMATION REGISTRATION METHOD AND ONLINE TEST DEVICE例文帳に追加

ユーザ情報登録方法及びオンライン試験装置 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及び装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, SERIAL I/F CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路、及び、シリアルＩ／Ｆ回路、半導体装置 - 特許庁

PHASING SIMULATOR AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE TEST SYSTEM例文帳に追加

フェージングシミュレータおよび無線通信機器試験システム - 特許庁

METHOD FOR PERFORMING FOCUS TEST, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

フォーカステスト実施方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SHAKING TEST OF STRUCTURE例文帳に追加

構造物の加振試験装置及び加振試験方法 - 特許庁

DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

表示装置の駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁

CURRENT-CARRYING TEST DEVICE FOR ARRAY TYPE SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT例文帳に追加

アレイ型半導体レーザ素子の通電試験装置 - 特許庁

EXCEPTION TEST SUPPORT PROGRAM AND DEVICE例文帳に追加

例外テスト支援プログラム及び例外テスト支援装置 - 特許庁

COMMUNICATION EQUIPMENT TEST CONTROL METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

通信装置試験制御方法、装置及びプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SAMPLING BLOOD FOR DIAGNOSTIC TEST例文帳に追加

診断テスト用血液の採取方法及び装置 - 特許庁

CAN SEAM GAP GENERATION TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

缶のシームギャップ発生試験方法およびその装置 - 特許庁

DRIVE UNIT FOR TEST DEVICE CRASHING VEHICLES AT DIFFERENT SPEEDS例文帳に追加

異速度車両衝突試験装置の駆動装置 - 特許庁

TEST ENVIRONMENT ADJUSTING DEVICE OF CENTRAL AIR CONDITIONER例文帳に追加

セントラル空調装置の試験環境調整装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING DEVICE AND RELIABILITY TEST METHOD例文帳に追加

信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE TEST AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

サンプルテスト方法、サンプルテスト装置及び記憶媒体 - 特許庁

ROPE RETURN DEVICE IN VEHICLE CRASH TEST APPARATUS例文帳に追加

車両衝突試験装置におけるロープリターン装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN DENSITY DETECTING DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

テストパターン濃度検知装置及び画像形成装置 - 特許庁

WORKPIECE POSITIONING METHOD OF WORKPIECE INSPECTION DEVICE, WORKPIECE CONVEYING PALLET, ENVIRONMENTAL TEST DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加

ワーク検査装置のワーク位置決め方法、ワーク搬送パレット、環境試験装置および環境試験システム - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, DATA COMMUNICATION METHOD, TEST SPECIMEN CLASSIFICATION DEVICE AND TEST SPECIMEN CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加

データ通信装置及びデータ通信方法、並びに試験体分類装置及び試験体分類方法 - 特許庁

INDIVIDUAL ENVIRONMENT-CONTROLLED BREEDING DEVICE FOR TEST ANIMAL例文帳に追加

実験動物用の個別環境制御飼育装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING MODEL FOR WIND TUNNEL TEST例文帳に追加

風洞試験の模型支持方法及びその装置 - 特許庁

ENDURANCE TEST METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL PRODUCT例文帳に追加

光学製品の耐久性試験方法及び装置 - 特許庁

SCC IMPARTING DEVICE TO SMALL DIAMETER NOZZLE OF TEST OBJECT例文帳に追加

小口径ノズル試験体へのＳＣＣ付与装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST EQUIPMENT AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置とその試験装置及び試験方法 - 特許庁

COUNTER TEST CIRCUIT AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

カウンタテスト回路及び方法並びに半導体デバイス - 特許庁

TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE例文帳に追加

テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験方法および半導体試験装置 - 特許庁

SCANNING TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路および半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びそのテスト方法 - 特許庁