「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND PROGRAM FOR SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION例文帳に追加

試験仕様の作成支援装置及びプログラム - 特許庁

TEST PLAN TABLE CREATION DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

テスト計画表作成装置及びそのプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING DELAY TEST PATTERN例文帳に追加

ディレイテスト用パタン生成方法及びその装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND ITS INSPECTION METHOD OF TEST SUBJECT例文帳に追加

被検体の検査装置及びその検査方法 - 特許庁

IMAGE FORMATION DEVICE AND GRADATION CORRECTION TEST CHART例文帳に追加

画像形成装置、及び階調補正テストチャート - 特許庁

CONTACT TESTING DEVICE AND CONTACT TEST METHOD例文帳に追加

接触試験装置および接触試験方法 - 特許庁

LOAD TEST METHOD OF SERIAL MULTIPLE INVERTER DEVICE例文帳に追加

直列多重インバータ装置の負荷試験方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR ELECTRIC TEST FOR INSPECTION ARTICLE例文帳に追加

検査品の電気的検査のための検査装置 - 特許庁

DIGITAL VIDEO DATA TEST SYSTEM AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

デジタルビデオデータ検査システム及び半導体装置 - 特許庁

VIRTUAL ALPG TRANSMISSION TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ透過型の半導体テスト装置 - 特許庁

TEST WAVEFORM GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のテスト波形生成装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びテスト方法 - 特許庁

TEST MODE CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストモード回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

テスト制御回路を有する半導体メモリ装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

試験回路および半導体集積回路装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING IC CHIP AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＩＣチップのテスト方法及びそのテスト装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR COMPOUNDING MEMORY TEST PATTERN例文帳に追加

メモリテストパターン合成方法，装置及びプログラム - 特許庁

DISPLAY DEVICE FOR OBJECT IN RECOGNITION TEST例文帳に追加

認識テストにおける対象物の表示装置 - 特許庁

TEST DEVICE OF TERMINAL FOR FIRE ALARM EQUIPMENT例文帳に追加

火災報知設備用端末機器の試験装置 - 特許庁

TEST GROUP FORMING DEVICE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

テストグループ作成装置及びその作成方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE, AND TEST METHOD IN THE TESTING DEVICE FOR FILE DEVICE例文帳に追加

ファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法 - 特許庁

SAMPLE TABLET COLLAPSING DEVICE, COLLAPSE TEST DEVICE AND COLLAPSE/ELUTION TEST SYSTEM USING THE SAME, AND SAMPLE TABLET COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

試料錠崩壊装置、それを用いた崩壊試験装置及び崩壊・溶出試験システム、ならびに試料錠崩壊試験方法 - 特許庁

To provide an integrated circuit device test system and an integrated circuit device test method for efficiently performing a burn-in test.例文帳に追加

効率よくバーンインテストを行うことができる、集積回路装置のテストシステム、及び集積回路装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.例文帳に追加

テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁

The same identifier is assigned for the test result of first test execution and the test result of second test execution to each device.例文帳に追加

デバイス各々は、第１のテスト実行のテスト結果および第２のテスト実行のテスト結果に対して同一の識別子を割り当てられる。 - 特許庁

The same identifier is assigned for the test result of first test execution and the test result of second test execution to each device.例文帳に追加

各デバイスには、第１のテスト実行のテスト結果および第２のテスト実行のテスト結果に対して同一の識別子が割り当てられる。 - 特許庁

To obtain an optimum rate in a test rate for shortening a test time independently of a test environment in a test method for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト方法において、テストレートをテスト環境に拘わらずテスト時間を短縮化するための最適なテストレートを得る。 - 特許庁

Create, test and debug applications for the Mobile Information Device Profile (MIDP) 1.0, 2.0, 2.1 (MSA),the Connected Limited Device Configuration (CLDC) 1.0 and 1.1,and the Connected Device Configuration (CDC).例文帳に追加

Mobile Information Device Profile (MIDP) 1.0、2.0、2.1 (MSA)、Connected Limited Device Configuration (CLDC) 1.0 と 1.1、および Connected Device Configuration (CDC) に準拠するアプリケーションを作成、テスト、デバッグできます。 - NetBeans

EVALUATION TEST DEVICE FOR CELL FOR FUEL BATTERY, AND EVALUATION TEST CELL USED IN SAME例文帳に追加

燃料電池用セルの評価試験装置及びこれに用いる評価試験セル - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE AND TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストモードを備えた集積回路および集積回路のテストのためのテスト装置 - 特許庁

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト（ＤＵＴ）の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

TEST PROGRAM AUTOMATIC CREATION DEVICE AND METHOD, AND TEST PROGRAM AUTOMATIC CREATION PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム自動作成装置及び方法、並びにテストプログラム自動作成プログラム - 特許庁

SPEECH SOUND QUALITY EVALUATION SYSTEM, COMMUNICATION SYSTEM, TEST MANAGEMENT APPARATUS AND TEST COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

通話音質評価システム、通信システム、試験管理装置及び試験通信装置 - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR GENERATING APPLICATION TEST, AND APPLICATION TEST DEVICE例文帳に追加

アプリケーションテスト生成プログラム、アプリケーションテスト生成方法及びアプリケーションテスト装置 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁

To perform a remote sensor test without arranging test personnel for a control device and a computer.例文帳に追加

制御装置，計算機に試験員を配置せずにリモートセンサー試験をしたい。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FERROELECTRIC MEMORY, TEST METHOD, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

強誘電体メモリの検査装置、検査方法、制御プログラム及び記録媒体 - 特許庁

TEST OPERATION PROCEDURE CREATING DEVICE, PROGRAM, AND TEST OPERATION PROCEDURE CREATING METHOD例文帳に追加

テスト操作手順作成装置、そのプログラムおよびテスト操作手順作成方法 - 特許庁

To provide a test system for an electronic device test having a selectable specification.例文帳に追加

選択可能な仕様を有する、電子デバイス試験用テストシステムを提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INTERFACE TEST CONTROL CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、インターフェース試験制御回路および試験方法 - 特許庁

COMPARATOR, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

コンパレータ、半導体試験装置、半導体試験方法、及び半導体製造方法 - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁

TEST VECTOR GENERATING DEVICE FOR POWER CONSUMPTION CALCULATION AND TEST VECTOR GENERATING METHOD例文帳に追加

消費電力算出用のテストベクタ生成装置およびテストベクタ生成方法 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁