「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM STORING COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM例文帳に追加

コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM WITH COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM STORED THEREIN例文帳に追加

コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

An automatic test device 3 controls an operation of the load test machine 2 and the test machine 5 automatically and performs an automatic test of the node B apparatus 1.例文帳に追加

自動試験装置３は負荷試験機２及び試験機５の動作を自動的にコントロールし、ノードＢ装置１に対する自動試験を実施する。 - 特許庁

METHOD OF RELEASING IN BURN-IN TEST AND ALIGNMENT DEVICE FOR USE IN BURN-IN TEST例文帳に追加

バーンイン検査における引き離し方法及びバーンイン検査に用いるアライメント装置 - 特許庁

To provide a memory card device, capable of performing test without increasing the number of test pads.例文帳に追加

テストパッドを増加することなくテストを可能とするメモリカード装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.例文帳に追加

より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板／プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁

COMMUNICATION NETWORK TEST DATA GENERATION DEVICE AND COMMUNICATION NETWORK TEST DATA GENERATION METHOD例文帳に追加

通信ネットワーク試験データ生成装置及び通信ネットワーク試験データ生成方法 - 特許庁

To provide a test device of an electric component for sending test results improved.例文帳に追加

改善されたテスト結果を送出できる電気部品のテスト装置を提供する。 - 特許庁

The test device includes the microchannel 11 having a reaction section 12, where a reaction substance capable of reacting with a test substance disposed into a test liquid has been immobilized, in one portion of the test device.例文帳に追加

試験液中に分散された試験物質と反応し得る反応物質が固定化された反応部１２をその一部に有する微細流路１１を備えた試験デバイス。 - 特許庁

TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR COMMUNICATION DEVICE IN MOBILE OBJECT COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動体通信システムにおける通信装置の試験システム及びその試験方法 - 特許庁

To provide a test pattern of a semiconductor device, and to provide a test method using the same.例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法が提供される。 - 特許庁

A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁

Inside the testing device part 32, a single/plurality of test piece/test pieces is/are stored.例文帳に追加

試験装置部３２内には、１個または複数個の試験片が収納される。 - 特許庁

TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM, TEST DATA MANAGEMENT METHOD, DATA PROCESSING DEVICE, AND DATA PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

テストデータ管理システム、テストデータ管理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラム - 特許庁

IC TEST DATA OUTPUT DEVICE, IC TEST DATA OUTPUT METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ＩＣ試験データ出力装置、ＩＣ試験データ出力方法および記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体装置、半導体メモリの試験システムおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁

SOFTWARE TEST ITEM EDITING SUPPORT DEVICE AND SOFTWARE TEST ITEM EDITING SUPPORT METHOD例文帳に追加

ソフトウェアテスト項目編集支援装置およびソフトウェアテスト項目編集支援方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONSTRUCTING TEST ENVIRONMENT OF WEB SERVICE REQUESTER AND METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING TEST例文帳に追加

Ｗｅｂサービスリクエスタのテスト環境構築装置，方法及びテスト支援システム，方法 - 特許庁

TEST BENCH GENERATING DEVICE, AUTOMATIC TEST BENCH GENERATING METHOD, VERIFYING METHOD, AND EVALUATING METHOD例文帳に追加

テストベンチ生成装置とその自動テストベンチ生成方法、検証方法、評価方法 - 特許庁

Next, a signal generator 2 outputs a test signal to the test device DUT.例文帳に追加

続いて、信号発生部２がテスト用信号をテストデバイスＤＵＴに出力する。 - 特許庁

To propose a test method that can test a correlated double sampler for which a high-speed operation is required, by using an inexpensive device, and to propose a test device employing this test method.例文帳に追加

高速動作が要求される相関二重サンプラを安価な装置で試験することができる試験方法と、この試験方法を用いた試験装置を提案する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING MEASLES VIRUS, MEMBRANE ASSAY TEST DEVICE, AND MEMBRANE ASSAY TEST KIT例文帳に追加

麻疹ウイルス検出方法、メンブレンアッセイ用試験具およびメンブレンアッセイ用試験キット - 特許庁

A test device 50 tests the inspection product 20 by using the test pattern and expectation value pattern.例文帳に追加

テスト装置５０は、テストパタン及び期待値パタンを用いて試験品２０をテストする。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。 - 特許庁

To prevent data processing from performing overhead operation in a test of a semiconductor device without providing a test result memory in a semiconductor test device.例文帳に追加

半導体試験装置に試験結果メモリを設けることなく、半導体装置の試験にデータ処理がオーバーヘッドしないようにする。 - 特許庁

In the event of the mode of the handheld device 102 being changed from the test mode to the non-test mode, the handheld device 102 generates a non-test mode signal.例文帳に追加

携帯装置１０２のモードがテストモードから非テストモードへ変更される場合、携帯装置１０２は非テストモード信号を生成する。 - 特許庁

The processing device conducts a test of the programmable device, and the processing device conducts a test of the memory device using a built-in self-test circuit (BIST) that the programmable device actualizes.例文帳に追加

前記プログラマブルデバイスのテストは前記プロセッシングデバイスが行い、前記メモリデバイスのテストは前記プログラマブルデバイスに実現したビルトインセルフテスト回路（ＢＩＳＴ）を用いて前記プロセッシングデバイスが行う。 - 特許庁

In the above case, the memory test is carried out through a sheetfed processing sequence, in which the test is started from a test board which finishes mounting a semiconductor device, and a semiconductor device is removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

In this case, the memory test is executed, in a sequence of paper sheet processing where the test is started beginning in the test board having packed the semiconductor device, and the semiconductor device is paid out beginning in the test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

To provide a test support device, a test device, a test support method and a computer program which can appropriately select a test node for obtaining a snapshot so that a test can be completed in the minimum time along all of test scenarios.例文帳に追加

全てのテストシナリオに沿ってテストを最小時間で完了させることができるよう、スナップショットを取得するテストノードを適切に選択することができるテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.例文帳に追加

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND BURN-IN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのバーンインテスト方法 - 特許庁

PROGRAM TEST DEVICE, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プログラム試験装置、試験用プログラム作成装置、試験用プログラム作成方法及び情報記録媒体 - 特許庁

CRITICAL PATH TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CRITICAL PATH TEST SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

クリティカルパステスト方法、集積回路装置、クリティカルパステスト方式及び集積回路装置の製造方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATIC CONTROL FUNCTION例文帳に追加

自動制御機能の試験装置および試験方法 - 特許庁

IMAGE FORMATION DEVICE AND TEST PATTERN OUTPUT METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびテストパターン出力方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRESSURE-PROOF TEST OF PIPE例文帳に追加

管の耐圧試験方法及び耐圧試験装置 - 特許庁

To provide a test board locking device including a stiffener.例文帳に追加

スチフナを含むテストボードロッキング装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRODE AND DEVICE FOR ELECTROCHEMICAL TEST/ANALYSIS例文帳に追加

電気化学的試験・分析用電極および装置 - 特許庁

ROLLER DEVICE FOR VEHICLE SIDE FACE POLE COLLISION TEST例文帳に追加

車両の側面ポール衝突試験用ローラー装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

RADIATION ANTENNA SYSTEM, AND RADIATION IMMUNITY TEST DEVICE例文帳に追加

放射アンテナ装置および放射イミュニティ試験装置 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE FOR RELAY例文帳に追加

継電器の検査方法及び継電器の検査装置 - 特許庁