「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE WITH TEST FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を有する半導体集積回路装置 - 特許庁

TEST METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの試験方法および試験装置 - 特許庁

LAMINATED TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

積層型半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

VOLTAGE MARGIN TEST CIRCUIT AND DETERIORATION DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

電圧マージン試験回路及び劣化診断装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING PROGRAM TEST AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プログラムテスト支援方法、装置及び記録媒体 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING DEVICE AND HEAT CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CREATING TEST PATTERN FOR LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテストパタン生成方法及び装置 - 特許庁

DEVICE FOR BOTH HOT ROLL ABRASION AND THERMAL IMPACT TEST例文帳に追加

熱間ロール摩耗・熱衝撃兼用試験装置 - 特許庁

TESTER AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

WAFER HANDLING DEVICE FOR WAFER TEST AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ウェーハ試験用ウェーハハンドリング装置および方法 - 特許庁

CLEARANCE SETTING METHOD IN DRAG TEST DEVICE例文帳に追加

引摺り試験装置におけるクリアランス設定方法 - 特許庁

NONLOAD TEST DEVICE AND METHOD FOR COMPRESSOR例文帳に追加

圧縮機の無負荷試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEMPERATURE AND HUMIDITY CONTROLLER AND ENVIRONMENT TEST DEVICE例文帳に追加

調温調湿装置および環境試験装置 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料観察方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

To test a performance of data transfer of a mobile device.例文帳に追加

モバイル装置のデータ転送の性能をテストする。 - 特許庁

DISPLACEMENT CALIBRATION JIG FOR INSTRUMENTATED IMPACT TEST DEVICE例文帳に追加

計装化衝撃試験装置用変位較正治具 - 特許庁

VIBRATION MODE EXCITATION DEVICE DURING ROTATIONAL VIBRATION TEST例文帳に追加

回転振動試験時の振動モード励振装置 - 特許庁

TIRE WEAR TEST METHOD AND TIRE WEAR TESTING DEVICE例文帳に追加

タイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機 - 特許庁

COHESIVE GROUND FOUNDATION PENETRATION TEST METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

粘性土地盤貫入試験法及びその装置 - 特許庁

PROBE CARD, ELEMENT TESTING DEVICE, AND ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM APPLICATION DEVICE AND TEST PIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子線応用装置および試料検査方法 - 特許庁

TEST DEVICE, SYSTEM, AND METHOD例文帳に追加

試験装置および試験システムならびに試験方法 - 特許庁

CARRYING DIRECTION CHANGING DEVICE FOR TEST TUBE CARRYING PASSAGE例文帳に追加

試験管搬送路の搬送方向変換装置 - 特許庁

MODEL GROUND DEGRADATION DEVICE FOR CENTRIFUGAL FORCE LOADING TEST例文帳に追加

遠心力載荷試験用模型地盤劣化装置 - 特許庁

TEST BURN-IN DEVICE FOR MIDDLE POWER AND HIGH POWER IC例文帳に追加

ミドルパワー及びハイパワーＩＣ用テストバーンイン装置 - 特許庁

TEST DEVICE, ADJUSTMENT BOARD, AND ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

試験装置、調整用ボードおよび調整方法 - 特許庁

LANCING DEVICE AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

穿刺装置とこれを用いた血液検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体検査装置及び半導体テスト方法 - 特許庁

COMPONENT HOLDER FOR TEST DEVICE AND COMPONENT HOLDER SYSTEM例文帳に追加

テスト装置用部品ホルダー及び部品ホルダーシステム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TORQUE LOADING TEST例文帳に追加

トルク付加試験方法およびトルク付加試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST METHOD THEREFOR AND IC CARD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法およびＩＣカード - 特許庁

IC SOCKET AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＩＣソケット及び半導体装置の検査方法 - 特許庁

DUPLEX CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

二重化回路、半導体装置およびテスト方法 - 特許庁

LOW TEMPERATURE TEST DEVICE PROVIDED WITH PROBE AND PROBER例文帳に追加

プローバ及び該プローバを備えた低温試験装置 - 特許庁

MCP SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＭＣＰ半導体記憶装置とそのテスト方法 - 特許庁

DC TEST CIRCUIT AND METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のＤＣテスト回路及び方法 - 特許庁

TCP SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＴＣＰ型半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とそのテスト方法 - 特許庁

PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

プログラムテスト支援装置及びプログラムテスト支援方法 - 特許庁

CAPSULE FOR LIGHT-WATER REACTOR FUEL IRRADIATION TEST DEVICE例文帳に追加

軽水炉燃料照射試験装置用キャプセル - 特許庁

INDUCED TEST DEVICE OF TRANSFORMER AND MOVING TRUCK例文帳に追加

変圧器の誘導試験装置および移動台車 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING EXHAUSTIVITY OF A TEST例文帳に追加

テストの網羅性を評価する装置及び方法 - 特許庁

WEATHERING LIGHT TEST APPARATUS WITH EXHAUST TREATMENT DEVICE例文帳に追加

排気処理装置を備えた耐候光試験装置 - 特許庁