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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加
被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD例文帳に追加
試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁
OPEN TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH OPEN TEST CIRCUIT例文帳に追加
半導体装置のオープンテスト回路、オープンテスト回路を備えた半導体チップ及び半導体装置 - 特許庁
TIMING GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
タイミング発生回路、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体デバイス - 特許庁
To provide a test method for a semiconductor device which effectively performs a memory test of the semiconductor device including a semiconductor memory at a low cost.例文帳に追加
半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁
VARIABLE TEST DEVICE FOR UNDERGROUND BURYING PIPE-LINE CONTINUITY INSPECTION AND COMPOSITE CABLE FOR TEST DEVICE例文帳に追加
地中埋設管路導通点検用可変型試験装置および試験装 置用複合型ケーブル - 特許庁
To provide a semiconductor memory device in which a test is performed using a low speed test device.例文帳に追加
低速なテスト装置を用いてテストをすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TEST DEVICE AND IC TEST DEVICE USING THIS TIMING CALIBRATION METHOD例文帳に追加
ＩＣ試験装置のタイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いたＩＣ試験装置 - 特許庁
POWER SYSTEM PROTECTION CONTROL SYSTEM, TEST METHOD, PROTECTION CONTROL DEVICE, MERGING UNIT, AND TEST DEVICE例文帳に追加
電力系統保護制御システム、試験方法、保護制御装置、マージングユニット、および試験用装置 - 特許庁
SLIP EVALUATION METHOD FOR HANDRAIL MATERIAL AND TEST DEVICE例文帳に追加
手摺材の滑り評価方法と試験装置 - 特許庁
WIRELESS DEVICE, TEST METHOD THEREFOR, AND WIRELESS SYSTEM例文帳に追加
無線装置およびその試験方法、無線システム - 特許庁
TEST METHOD FOR RESTRICTION SATISFACTION AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
制約充足の試験方法及びその装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE IMPROVED IN TEST PERFORMANCE例文帳に追加
テスト性能が改善された半導体メモリ装置 - 特許庁
ELECTRIC TEST METHOD, ELECTRIC CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE FOR USE IN ELECTRIC TEST, AND MEASURING TOOL FOR USE IN ELECTRIC CONNECTION DEVICE例文帳に追加
電気的試験方法、その電気的試験に用いる電気的接続装置及び試験装置並びにその電気的接続装置に用いる測定治具 - 特許庁
IRRADIATION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の放射線照射試験方法 - 特許庁
WIND TUNNEL TEST METHOD AND WIND TUNNEL TESTING DEVICE例文帳に追加
風洞試験方法および風洞試験装置 - 特許庁
TEST PATTERN DETECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
テストパターン検知装置および画像形成装置 - 特許庁
TEST ADJUSTMENT SUPPORTING DEVICE FOR MONITOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加
監視制御システムの試験調整支援装置 - 特許庁
BRAKE LOCK DEVICE FOR WHEEL ALIGNMENT TEST FOR VEHICLE例文帳に追加
車両のホイールアライメントテスト用ブレーキロック装置 - 特許庁
OPERATION CONFIRMING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE FOR TEST例文帳に追加
テスト用半導体装置の動作確認方法 - 特許庁
SUPPLY CIRCUIT FOR TEST POWER SUPPLY OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト電源供給回路 - 特許庁
TEST DISK EVALUATION DEVICE AND EVALUATION METHOD THEREOF例文帳に追加
テストディスク評価装置及びその評価方法 - 特許庁
FIXING DEVICE FOR PRESSURE TEST FOR CYLINDRICAL COMPONENT例文帳に追加
円筒状部品の耐圧試験用固定装置 - 特許庁
GEAR DEVICE FOR TRANSMISSION TEST AND TRANSMISSION TESTING APPARATUS例文帳に追加
ミッションテスト用ギャ装置及びミッションテスト装置 - 特許庁
ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS PERFORMANCE TEST METHOD例文帳に追加
電子回路装置およびその動作試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TEST DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加
液晶パネルの試験方法及び試験装置 - 特許庁
SCRATCHING TESTING DEVICE AND SCRATCHING TEST METHOD例文帳に追加
引っ掻き試験装置及び引っ掻き試験方法 - 特許庁
ELEVATOR DEVICE, AND EMERGENCY STOP TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
エレベータ装置及びその非常止め試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST CIRCUIT, AND METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置とテスト回路及び方法 - 特許庁
PROGRAMMABLE LOGIC DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
プログラム可能論理デバイス及びその試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE AND METHOD FOR MOBILE PHONE TERMINAL例文帳に追加
携帯電話端末用試験装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR BOUNDARY SCAN TEST例文帳に追加
バウンダリスキャンテスト方法及びバウンダリスキャンテスト装置 - 特許庁
ACCELERATION TEST METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加
強誘電体メモリ装置の加速試験方法 - 特許庁
ENCODER TESTING METHOD AND MAGNETIZING DEVICE FOR TEST例文帳に追加
エンコーダの検査方法及び検査用着磁装置 - 特許庁
TEST CARRIER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験用キャリア - 特許庁
DEVICE METHOD FOR EVALUATING LSI TEST DATA例文帳に追加
ＬＳＩテストデータ評価装置及び評価方法 - 特許庁
TEST DEVICE AND METHOD FOR TELECOMMUNICATIONS NETWORK例文帳に追加
テレコミュニケーション・ネットワークの試験装置及び方法 - 特許庁
DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CONCRETE STRENGTH TEST例文帳に追加
コンクリート強度試験用供試体製造装置 - 特許庁
TRANSFER SYSTEM AND ARRAY TEST DEVICE INCLUDING TEH SAME例文帳に追加
移送システム及びそれを備えたアレイテスト装置 - 特許庁
To provide a test method and a device for efficiently performing a test using a pseudo call device and a test using a speech path system device simulator.例文帳に追加
疑似呼装置を用いた試験と、通話路系装置シミュレータを用いた試験を効率的に行うための試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND TEST FORCE DISPLAYING DEVICE例文帳に追加
材料試験機および試験力表示装置 - 特許庁
INSPECTION TEST DEVICE OF DIGITAL FORM PROTECTION RELAY SYSTEM例文帳に追加
ディジタル形保護継電装置の点検試験器 - 特許庁
DIGITAL PROTECTIVE RELAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
デジタル保護継電装置およびその試験方法 - 特許庁
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