「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

INTERFACE DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT TEST EQUIPMENT例文帳に追加

電子部品試験装置用のインタフェース装置 - 特許庁

PROGRAM, INFORMATION STORAGE MEDIUM, AND TEST DEVICE例文帳に追加

プログラム、情報記憶媒体及びテスト装置 - 特許庁

DOOR DEW DRIP RECEPTACLE STRUCTURE FOR ENVIRONMENT TEST DEVICE例文帳に追加

環境試験装置の扉露受け構造 - 特許庁

SYNCHRONOUS TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

同期型半導体装置、及び試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

自己テスト回路及び半導体記憶装置 - 特許庁

MICROCONTROLLER, MULTI-CHIP PACKAGE TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

マイクロコントローラ、マルチチップパッケージ型半導体装置およびそのテスト装置ならびにテスト方法 - 特許庁

SERIAL BUS TEST DEVICE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

シリアルバス検査装置及びその動作方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体記憶装置、およびメモリテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、及び半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST, ITS MANUFACTURE AND CARRIER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST例文帳に追加

半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法及び半導体装置試験用キャリア - 特許庁

CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

TEST PIECE SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料のサンプリング装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及び半導体テスト方法 - 特許庁

TEST WRITING METHOD AND INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法及び情報記録装置 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, CONTROL METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト支援装置、制御方法、及びプログラム - 特許庁

DEVICE FOR SETTING MEASUREMENT INFORMATION OF TEST SYSTEM例文帳に追加

試験システムの測定情報設定装置 - 特許庁

PRESSURE TEST DEVICE FOR CYLINDRICAL STRUCTURE例文帳に追加

円筒状構造物耐圧試験用装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND TEST METHOD FOR CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査装置及び検査方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR TEST例文帳に追加

試験方法及び装置、並びに試験システム - 特許庁

COLLAPSE TESTING DEVICE AND COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁

The test environment device performs a test of a radio communication device at a fixed place.例文帳に追加

試験環境装置は、固定された位置において無線通信機器における試験を行う。 - 特許庁

EDITING METHOD FOR TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストパターン編集方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD OF TEST FOR THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置とそのテスト方法 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device and a test board for the semiconductor device, capable of performing a normal mode operation test (16-bit operation test) and a test mode operation test (4-bit parallel test) by using the same test board.例文帳に追加

通常モード動作試験（１６ビットでの動作試験）と、テストモード動作試験（４ビットのパラレル試験）とを、同一の試験用ボードを用いて行うことができる半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁

SWITCHING DEVICE, TRANSMISSION LINE CHANGE-OVER DEVICE, MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

スイッチ装置、伝送路切り替え装置、製造方法、および試験装置 - 特許庁

POSITIONING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND CARRYING DEVICE FOR TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の位置決め装置及び試験装置用搬送装置 - 特許庁

A test condition producing device 19 outputs test condition information S19 which indicates test conditions such as test start and test release, to the mobile station 12.例文帳に追加

試験条件発生装置１９は、試験開始、試験解除等の試験条件を指示する試験条件情報Ｓ１９を移動局１２に出力する。 - 特許庁

To perform a JTAG test without requiring a test device of another configuration and without including a test-only device in an information processor.例文帳に追加

ＪＴＡＧテストを別構成のテスト装置を必要とせず、またテスト専用の装置を内蔵せずに実行する。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

This multi-channel semiconductor test system has a handler, a code generating device, a test device and a distinguishing device.例文帳に追加

マルチチャネル半導体テストシステムはハンドラと、コード発生装置と、テスト装置と、識別装置とを有する。 - 特許庁

To provide a test support device, capable of easily forming a test item list 5 composed of test items in software test.例文帳に追加

ソフトウェアのテストにおけるテスト項目からなるテスト項目リスト５を容易に作成することができるテスト支援装置を提供する。 - 特許庁

TEST CASE EXTRACTION DEVICE, TEST CASE EXTRACTION PROGRAM, STORAGE MEDIUM STORING TEST CASE EXTRACTION PROGRAM, AND TEST CASE EXTRACTION METHOD例文帳に追加

テストケース抽出装置、テストケース抽出プログラム、テストケース抽出プログラムが格納された記憶媒体およびテストケース抽出方法 - 特許庁

INTERNATIONALIZATION SOFTWARE TEST METHOD USING RESOURCE FILE FOR TEST AND FONT FOR TEST, DEVICE, PROGRAM AND DATA STRUCTURE FOR FONT FOR TEST例文帳に追加

テスト用リソース・ファイル及びテスト用フォントを用いた国際化ソフトウェアのテスト方法、装置、プログラム及びテスト用フォントのデータ構造 - 特許庁

To provide a test device and the like enabled to guarantee test-pattern safety in generation of a test power-considered test.例文帳に追加

テストパワー考慮型のテスト生成において、テストパターン安全性を保証することを達成するテスト装置等を提供する。 - 特許庁

PROBE DEVICE AND METHOD FOR CLEANING TEST OBJECT例文帳に追加

プローブ装置及び被検査体の清掃方法 - 特許庁