「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

PATTERN GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン発生回路及び半導体装置並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法及び半導体集積回路装置 - 特許庁

The semiconductor device 400 includes a film type semiconductor package test device 420.例文帳に追加

半導体装置４００は、フィルム型半導体パッケージテスト装置４２０を備える。 - 特許庁

SIGNAL INTERRUPTION DEVICE AND TEST METHOD OF RADIO BASE STATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

信号遮断装置及びこれを用いた無線基地局装置の試験方法 - 特許庁

DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, TEST METHOD OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, AND TESTER例文帳に追加

差動信号出力装置、差動信号出力装置のテスト方法、および、テスタ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND TEST DEVICE OF THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3.例文帳に追加

本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。 - 特許庁

Also in one embodiment, the device comprises the conductor which conveys the test pattern which has the embedded test characteristics, and a receiver test circuit which judges whether the test pattern signal is received, and test characteristics are extracted, and extracted test characteristics adapt a predetermined test characteristics.例文帳に追加

一部の実施形態では、装置は、埋め込み試験特性を有する試験パターン信号を搬送する導体と、試験パターン信号を受信して試験特性を抽出しかつ抽出試験特性が予想試験特性に適合するか否かを判断する受信機試験回路と、を含む。 - 特許庁

To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items.例文帳に追加

デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE TEST FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置 - 特許庁

DEVICE STATE INFORMATION EXTRACTION METHOD, DEVICE STATE TEST UNIT, NETWORK DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM例文帳に追加

機器状態情報抽出方法、機器状態試験装置、ネットワーク機器及びサービス診断システム - 特許庁

The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device allowing the high density mounting of a driver circuit for switching test voltage to one or two times to apply the voltage to a device under test.例文帳に追加

本発明は、試験電圧を１倍と２倍とに切り換えて被試験デバイスに電圧印加するドライバ回路を高密度実装できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce cost required for a test by enabling a high-speed LSI test by an inexpensive testing device, and to test also a semiconductor device on a mounting substrate.例文帳に追加

安価な試験装置により高速なＬＳＩの試験を可能として試験に要するコストを削減し、また、実装基板上の半導体装置の試験も可能とする。 - 特許庁

To provide a testing device for changing a hardware logic of a gate array held by a test module corresponding to the properties of a device under test (DUT), and performing a proper test to the DUT.例文帳に追加

テストモジュールが有するゲートアレイのハードウェア論理をＤＵＴの性質に応じて変更し、当該ＤＵＴに適切な試験を実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide test circuit constitution technology for a semiconductor device which conducts a test of the semiconductor without using a tester (test device) on the market and reduces the necessary cost.例文帳に追加

市販のテスタ（テスト装置）を用いることなく半導体装置のテストを行なえ、所要コストが少なくて済む半導体装置のテスト回路構成技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

Test is carried out while keeping some distance between each terminal of the electronic device waiting test and a corresponding test terminal (pogo pin) by means of a resilient device, and bringing each terminal into contact with the corresponding test terminal through compression of the resilient device.例文帳に追加

更に弾性装置で試験待機電子装置の各端子と対応する試験端子（ｐｏｇｏ ｐｉｎ）にある距離を保持させ、弾性装置の圧縮により各端子と対応する試験端子が接触させられ、試験が行なわれる。 - 特許庁

To provide a function capable of performing communication test of the transfer performance of a switch device in the communication test of a standby system.例文帳に追加

待機系の疎通テストでスイッチデバイスの転送性能の疎通テストを実施できる機能を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device and its self-test method, in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT METHOD, PROGRAM AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM例文帳に追加

試験管理装置、試験管理方法、プログラム、および、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

DEVICE AND PROGRAM FOR SUPPORTING SELECTION OF TRAVELING ROUTE FOR TEST RIDE OF TEST VEHICLE例文帳に追加

試乗車の試乗用走行路選定支援装置、及び試乗車の試乗用走行路選定支援プログラム - 特許庁

SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

動物検査情報提供システム、中央装置、動物検査情報提供方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

To reduce the effect of a jitter in a test signal on the test results of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験におけるテスト信号が有するジッタが、試験結果に与える影響を低減する。 - 特許庁

START FILE CREATING DEVICE, CONTROLLER, CONNECTION TEST SYSTEM FOR MONITORING SYSTEM, AND CONNECTION TEST METHOD OF MONITORING SYSTEM例文帳に追加

起動ファイル作成装置、コントローラ、監視システムの接続試験システム及び監視システムの接続試験方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, PROGRAM FOR PRODUCING TEST PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テストパターン作成方法、テストパターン作成プログラム、マスク作製方法、及び半導体装置製造方法 - 特許庁

To provide a communication operation test equipment that can efficiently test a communication operation with respect to the front end of an electronic device.例文帳に追加

電子機器のフロントエンドに対する通信動作の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a device of housing a plurality of test strips and endowing one test strip each time.例文帳に追加

複数の試験ストリップを格納し、かつ一度に１つの試験ストリップを分与する装置を提供する。 - 特許庁

The test module has a register for holding a register value supplied from the control device by performing the test program by the control device, and the gate array for changing the hardware logic by the register value held by the register, and supplying the test data corresponding to the test sequence realized by the test program to the device under test.例文帳に追加

テストモジュールは、制御装置が試験プログラムを実行することによって制御装置から供給されたレジスタ値を保持するレジスタと、レジスタが保持するレジスタ値によりハードウェア論理を変更し、試験プログラムにより実現される試験シーケンスに応じた試験データを被試験デバイスに供給するゲートアレイとを有する。 - 特許庁

To provide a bending test device for a wire harness, capable of executing a bending test of plural samples all at once.例文帳に追加

一度に複数のサンプルの屈曲試験が可能なワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

If a test switch 90 provided on the emergency warning device 25 is operated, a test voice message 110 indicating a fire notification test is output from the emergency warning device 25 and a device event signal 112 indicating the fire notification test is transmitted to an alarm, and a test voice message 114 indicating the fire notification test is output therefrom.例文帳に追加

緊急警報装置に設けた試験スイッチ９０を操作すると、緊急警報装置で火災報知試験を示す試験音声メッセージ１１０が出力されると共に報知試験を示す装置イベント信号１１２が警報器に送られ、火災報知試験を示す試験音声メッセージ１１４が出力される。 - 特許庁

The test execution device 500 generates the test program according to the function recorded in the operation content file.例文帳に追加

試験実行装置５００は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE USING HIERARCHICAL TEST DEVELOPMENT TREE TO SPECIFY DEVICES AND THEIR TEST SETUP例文帳に追加

階層的な試験開発ツリーを使用して装置及びそれらの試験セットアップを規定する方法及び装置 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of surely erasing test write data recorded in a test area.例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST AND RECORDING MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST例文帳に追加

試験用電文作成方法およびその装置、試験用電文作成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

TEST DEVICE FOR DYNAMIC TEST FOR COMBUSTION ENGINE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加

燃焼式動力機関の動力学的試験課題用試験装置とそのような試験装置の動作方法 - 特許庁

To provide a test facilitating circuit capable of reducing required cost for test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのテストに要するコストを削減することが可能なテスト容易化回路を提供すること。 - 特許庁

This image processing device is provided with a JTAG test means executing a JTAG test on an integrated circuit.例文帳に追加

画像処理装置は、ＪＴＡＧテストを集積回路に実行するＪＴＡＧテスト手段を備えている。 - 特許庁

To provide a technique capable of enhancing the comprehensiveness of a test such as a competition test of a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置の競合試験等の試験の網羅性を高めることができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device 1 capable of making a test with compact simple arrangement.例文帳に追加

コンパクト化された簡易な構成で検査を行うことができる半導体検査装置１を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for test disk formation, which can easily form an adequate test disk.例文帳に追加

適切なテストディスクを容易に作成することができるテストディスク作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In the test chart management system 1, a test chart management program 20 operates on the image-forming device 10.例文帳に追加

テストチャート管理システム１において、テストチャート管理プログラム２０は、画像形成装置１０上で動作する。 - 特許庁

Thus, in the test device 3, the test results of all the microcomputers 2 are simultaneously monitored.例文帳に追加

従って、テスタ装置３において、すべてのマイクロコンピュータ２のテスト結果を同時にモニタすることが可能となる。 - 特許庁

To provide a test execution managing device for a distributed control system for efficiently performing a test.例文帳に追加

試験の効率化を図ることができる分散制御システムの試験実行管理装置を提供する。 - 特許庁