「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST MODE ENTRY METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体記憶装置及びテストモードエントリー方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSERTING TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路挿入方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE FOR MONITORING LITHIUM-ION SECONDARY BATTERY, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

リチウムイオン二次電池監視半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY TESTING PLURAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS例文帳に追加

複数の半導体素子を同時にテストする半導体テスト装置 - 特許庁

The test body 6 is set on a stage of an X-ray inspection device.例文帳に追加

その被検体６をＸ線検査装置のステージにセットする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CONDUCTING TEST ON SUBSCRIBER LOOP INTERFACE例文帳に追加

加入者ル—プインタ—フェ—スを試験するための装置及び、方法 - 特許庁

TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE例文帳に追加

テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法 - 特許庁

To perform a high-speed collision test by a small-sized device.例文帳に追加

小型の装置で高速衝突試験を行なえるようにする。 - 特許庁

The device is equipped with a storage part, and a holder for the test strip.例文帳に追加

装置は、収容部と、試験ストリップ用のホルダとを備える。 - 特許庁

DIGITAL EXCHANGE DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING TEST LINE CONNECTION THEREOF例文帳に追加

ディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST BENCH, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

テストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラム - 特許庁

The wafer test host 101 is provided with a repair device 103 for determing the treatment of the memory device based on the synthetic test result.例文帳に追加

ウェハテストホスト１０１は、合成試験結果に基づいて、前記メモリデバイスの処理の判断を行うリペア装置１０３を備える。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

MATCHING CIRCUIT DEVICE WITH CELL TEST FUNCTION FOR PREVENTING STATIC DISCHARGE例文帳に追加

セルテスト機能を具えた静電放電防護整合回路装置 - 特許庁

To delay a test signal according to the latency of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスのレイテンシに応じて、試験信号を遅延させる。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR PRESCRIBED TEST ITEM WITH REFERENCE TO APPARATUS TO BE MEASURED例文帳に追加

被測定装置に対する所定試験項目の試験装置 - 特許庁

To enable a test of an IC device by sharing a socket board.例文帳に追加

ソケットボードを共用してＩＣデバイスの検査を可能にする。 - 特許庁

TEST METHOD AND DEVICE FOR SUBSCRIBER CIRCUIT例文帳に追加

加入者回線試験方法、並びに加入者回線試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

VOLTAGE-APPLIED CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND TEST EQUIPMENT USING IT例文帳に追加

電圧印加電流測定装置とそれを用いた試験装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING OUTPUT OF MULTI-JUNCTION PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE TEST CELL例文帳に追加

多接合光電変換素子試験セルの出力測定方法 - 特許庁

DEVICE OF VARYING CRASH ANGLE IN TEST APPARATUS FOR VEHICLE CRASH例文帳に追加

車両衝突試験装置における衝突角度可変装置 - 特許庁

ABNORMAL SYSTEM TEST SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

異常系テスト支援装置、異常系テスト支援方法、及びプログラム - 特許庁

SPEED MONITORING DEVICE, PATTERN GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS例文帳に追加

速度監視装置、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁

Thereby, a test result of a virtual device can be easily created in the offline simulation environment of the test device 100.例文帳に追加

かかる発明によれば、試験装置１００のオフライン・シュミレーション環境において、仮想デバイスの試験結果を容易に作成できる。 - 特許庁

ICE TEST DEVICE FOR TIRE, AND METHOD OF EVALUATING ON-ICE PERFORMANCE OF TIRE例文帳に追加

タイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法 - 特許庁

TEST AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR ELECTROOPTIC DEVICE例文帳に追加

電気光学装置の検査装置、検査方法及び製造方法 - 特許庁

INTERACTIVE STUB DEVICE FOR PROGRAM TEST AND STUB PROGRAM STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プログラムテスト用会話型スタブ装置およびスタブプログラム記憶媒体 - 特許庁

When the test image is displayed at the display device in such a manner, the test relating to the display operation of the display device can be executed.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

FRETTING FATIGUE TEST METHOD FOR WHEEL OF AUTOMOBILE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

自動車用ホイールのフレッティング疲労試験方法とその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF FAILURE DIAGNOSIS, TEST SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

故障診断方法、故障診断装置、テストシステム及びプログラム - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

To provide a digital test device which tests analog semiconductor devices.例文帳に追加

アナログ半導体装置をテストするデジタルテスト装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST CIRCUIT AND EVALUATION METHOD USING SAME例文帳に追加

半導体装置、テスト回路およびそれを用いた評価方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR DIGITAL/ANALOG CONVERTER INSIDE LCD-DRIVING IC例文帳に追加

ＬＣＤ駆動用ＩＣ内のデジタル／アナログ変換器のテスト装置 - 特許庁

TEST CASE SELECTION DEVICE AND PROGRAM OF SOFTWARE SYSTEM例文帳に追加

ソフトウェアシステムのテストケース選択装置およびテストケース選択プログラム - 特許庁

SOFTWARE TEST PROGRAM, METHOD AND DEVICE USING PICTURE TRANSITION DIAGRAM MODEL例文帳に追加

画面遷移図モデルを用いたソフトウエアテストプログラム、方法及び装置 - 特許庁

MOTOR CONTROL CIRCUIT AND DURABILITY TEST DEVICE FOR ENDOSCOPE OPERATION PART例文帳に追加

モータ制御回路および内視鏡操作部耐久試験装置 - 特許庁

CLEANING SHEET, CLEANING MEMBER, CLEANING METHOD, AND CONDUCTION TEST DEVICE例文帳に追加

クリーニングシート、クリーニング部材、クリーニング方法、および、導通検査装置 - 特許庁

TEST SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

テストシステムおよび半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁

SOFTWARE DEVELOPMENT DEVICE, VEHICLE TEST METHOD, AND EMULATION METHOD例文帳に追加

ソフトウェア開発装置、実車試験方法、及びエミュレーション方法 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST DATA IN TELEGRAM PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

電文処理システムのテストデータの生成装置、方法、及びプログラム - 特許庁

A test device 2a simultaneously tests a plurality of DUT 1.例文帳に追加

試験装置２ａは、複数のＤＵＴ１を同時に試験する。 - 特許庁