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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加
高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁
The signal processing block duplicates a test signal applied from the outside, applies each of a plurality of duplicated test signals to a test object device respectively, and provides a plurality of determination signals based on test result signals received from the test object device respectively.例文帳に追加
信号処理ブロックは外部から印加されるテスト信号を複製して複製された複数のテスト信号それぞれをテスト対象デバイスにそれぞれ印加し、テスト対象デバイスからそれぞれ受信されたテスト結果信号に基づいた複数の判定信号を提供する。 - 特許庁
A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加
試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁
The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.例文帳に追加
複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁
This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加
本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁
PROGRAM ANALYSIS SYSTEM, TEST EXECUTION DEVICE, AND ANALYSIS METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加
プログラム解析装置、テスト実行装置、その解析方法及びプログラム - 特許庁
To provide a test pattern generation device and the like for generating a test pattern for detecting efficiently trouble in a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。 - 特許庁
To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.例文帳に追加
マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁
PRECISION NOTCHING DEVICE AND METHOD FOR CUTTING TEST PIECE USING IT例文帳に追加
精密切欠き装置及びそれを用いた試験片の割断方法 - 特許庁
PERFORMANCE TEST METHOD FOR PRESSURE REGULATING VALVE IN GAS SUPPLY DEVICE例文帳に追加
ガス供給装置における圧力調整弁の性能試験方法 - 特許庁
At least one test magnetic memory cell (530) is also included in this device.例文帳に追加
この装置は、さらに、少なくとも１つのテスト磁気メモリセル(530)を含む。 - 特許庁
TEST PIECE FOR ANALYZING HUMOR SAMPLE AND READING BY DETECTING DEVICE例文帳に追加
体液サンプルを分析し検出装置で読み取るための試験片 - 特許庁
TEST DEVICE WITH MEANS FOR STORING AND DISPENSING DIAGNOSTIC STRIP例文帳に追加
診断用ストリップの貯蔵及び小出し手段を備えた検査器具 - 特許庁
DEVICE AND METHOD OF EXCHANGE TEST, AND RECORDING MEDIUM THEREOF例文帳に追加
交換機試験装置及び交換機試験方法、並びに記録媒体 - 特許庁
TEST METHOD AND DEVICE OF IGNITION RELATED APPARATUS IN MULTIPLE CYLINDER ENGINE例文帳に追加
多気筒エンジンにおける着火関連機器の試験方法及び装置 - 特許庁
PRINTER, PRINTING METHOD OF TEST PRINTING, AND POS TERMINAL DEVICE例文帳に追加
印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置 - 特許庁
TEST METHOD AND CIRCUIT FOR POWER SUPPLY CONTROL INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
電源制御集積回路装置の試験方法および試験回路 - 特許庁
METHOD OF CONDUCTING CRASH TEST USING CARRIAGE AND CORRESPONDING DEVICE例文帳に追加
キャリッジを用いてクラッシュテストを行う方法および対応する機器 - 特許庁
PROGRAM, DEVICE, AND METHOD FOR SOFTWARE TEST MANAGEMENT例文帳に追加
ソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法 - 特許庁
To provide a water sampling device capable of performing a water permeable test and water sampling.例文帳に追加
透水試験及び採水が可能な採水装置を提供する。 - 特許庁
CHARACTERISTIC TEST METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INSULATING FILM例文帳に追加
半導体絶縁膜の特性試験方法及びその特性試験装置 - 特許庁
To extract and test a semiconductor device put on a carrier again.例文帳に追加
キャリアに置かれた半導体デバイスを再び取り出してテストを行う。 - 特許庁
CHARACTERISTIC MEASURING TEST DEVICE AND METHOD FOR GAS INJECTOR例文帳に追加
ガスインジェクタの特性測定試験装置および特性測定試験方法 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE COMPRESSION TEST METHOD AND DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加
コンクリートの非破壊圧縮試験方法及び非破壊圧縮試験装置 - 特許庁
To provide a semiconductor device for largely shortening a test time.例文帳に追加
テスト時間を大幅に短縮できる半導体装置を提供する。 - 特許庁
GAS JET MECHANISM FOR TEST PROBE BUILT IN SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
基板検査装置が備える検査プローブのための気体噴射機構 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, ITS RELIEVING METHOD , AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびその救済方法並びにテスト方法 - 特許庁
UNIFORMITY OF WHEELED TYRE AND/OR DYNAMIC BALANCING TEST DEVICE例文帳に追加
ホイール付きタイヤのユニフォーミティおよび／または動釣合釣合試験装置 - 特許庁
SUBSTRATE FOR ELECTROPHORESIS, AND BIOLOGICAL TEST SAMPLE ANALYZING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
電気泳動用基板、生体検査試料分析装置及びその方法 - 特許庁
A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself.例文帳に追加
車両試験装置上に積載された試験車両Ｖとの間に張架したベルト１１を介して、試験車両Ｖを固定する。 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE, LOAD VARIATION COMPENSATION CIRCUIT, POWER SUPPLY APPARATUS, AND TEST APPARATUS例文帳に追加
電子デバイス、負荷変動補償回路、電源装置、及び試験装置 - 特許庁
TEST METHOD FOR ELECTRONIC EXCHANGE, SPEECH PATH SYSTEM SIMULATION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加
電子交換機の試験方法、通話路系シミュレート装置及びプログラム - 特許庁
APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁
TEST FORCE MEASURING METHOD AND DEVICE IN INDENTATION HARDNESS TESTER例文帳に追加
押込み式硬さ試験機における試験力測定方法と装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING TEST PATTERN FOR VERIFICATION例文帳に追加
検証用テストパタン設計装置及び検証用テストパタン設計方法 - 特許庁
To reduce the test cost of an electronic device for outputting analog signals.例文帳に追加
アナログ信号を出力する電子デバイスのテストコストを低減する。 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁
To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加
半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁
SUPPORT DEVICE FOR CREATING VISUALIZED TEST SPECIFICATION AND MANUAL例文帳に追加
試験仕様書およびマニュアルをビジュアル化して作成する支援装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TEST METHOD USING IT例文帳に追加
パワー半導体素子の試験装置およびこれを用いた試験方法 - 特許庁
SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CREATING TEST DATA例文帳に追加
テストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラム - 特許庁
STEERING COLUMN EVALUATION TESTING DEVICE AND STEERING COLUMN EVALUATION TEST METHOD例文帳に追加
ステアリングコラム評価試験装置、およびステアリングコラム評価試験方法 - 特許庁
To quickly perform a test for determining an auto-pickup control device.例文帳に追加
オートピックアップ制御装置を判定する試験を速く実施すること。 - 特許庁
LOW TEMPERATURE TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING ELECTRONIC COOLING ELEMENT例文帳に追加
電子冷却素子を利用した半導体装置の低温試験装置 - 特許庁
TESTING FIXTURE SUBSTRATE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF SENSOR例文帳に追加
センサの試験用治具基板及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT DEVICE AND SCAN TEST METHOD CONCERNING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路装置及び半導体回路に関するスキャンテスト方法 - 特許庁
(3) The film frame is put on a test device, and the test device re-tests the plurality of semiconductor devices based on the information of the first map.例文帳に追加
(３) フィルムフレームをテスト装置に置き、テスト装置が、第１マップの情報に基づき、複数の半導体デバイスに再テストを行う。 - 特許庁
THROTTLE CONTROL DEVICE FOR TEST BENCH OF AIRCRAFT TURBINE ENGINE IN PARTICULAR例文帳に追加
特に航空機タービンエンジンのテストベンチのためのスロットル制御装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER, SEMICONDUCTOR CHIP, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND WAFER TEST METHOD例文帳に追加
半導体ウェハ、半導体チップ、半導体装置、ならびにウェハテスト方法 - 特許庁
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