「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR WAFER EQUIPPED WITH MULTI-TEST CIRCUIT AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING MULTI-TEST PROCESS例文帳に追加

マルチテスト回路を備える半導体ウェハおよびマルチテスト工程を含む半導体装置の製造方法 - 特許庁

A semiconductor device (1) includes a stress test circuit (11) and a stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ストレス試験回路（１１）と、ストレス試験判定回路（１２）とを具備する半導体装置（１）を構成する。 - 特許庁

To shorten the test time of a plurality of samples in a triaxial consolidation permeability test device.例文帳に追加

三軸圧密透水試験装置において、複数の供試体について試験時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide a test information database comparing device extracting easily differences between test programs.例文帳に追加

テストプログラム間の差分を容易に抽出することのできるテスト情報データベース比較装置を提供する。 - 特許庁

The test device tests the die, reads out and sends a plurality of test results with the codes so obtained.例文帳に追加

テスト装置はダイをテストして、得られた複数のテスト結果をコードといっしょに読み取って伝送する。 - 特許庁

To provide a data driver of display device capable of performing a test equal to the test of output delay of an amplifier by means of output of a repair amplifier too.例文帳に追加

アンプの出力遅延のテストと同等のテストをリペアアンプの出力でも行うこと。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself.例文帳に追加

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。 - 特許庁

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR UNIFORMIZING LUMINOUS INTENSITY OF LIGHT SOURCE OF DIGITAL IMAGE TEST MEMBER, AND DEVICE AND METHOD FOR DIGITAL IMAGE HUE TEST USING IT例文帳に追加

デジタルイメージテスト部材の光源光度均一化装置及び方法と、これを用いたデジタルイメージ色相テスト装置及び方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER STRAIN SENSOR CALIBRATION DEVICE WITH OPTICAL FIBER TENSILE TEST例文帳に追加

光ファイバ引張試験による光ファイバひずみセンサ較正装置 - 特許庁

METHOD FOR SUPPLYING SEMICONDUCTOR DEVICE TO SUBSTRATE FOR BURN-IN TEST例文帳に追加

バーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法 - 特許庁

To provide a device for generating data including many test patterns.例文帳に追加

多くのテストパターンを含むデータを生成する装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR INTAKE TEST WITH HOMOGENIZATION PROCESSING MECHANISM OF FINE PARTICLE例文帳に追加

微粒子の均一化処理機構を有する吸入試験装置 - 特許庁

DEVICE, METHOD, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM FOR FORMING TEST DATA FILE例文帳に追加

テスト用データファイル作成装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

VIBRATION OR VISCOSITY MEASURING SENSOR AND TEST DEVICE USING IT例文帳に追加

振動又は粘性測定センサー及びそれを用いた検査装置 - 特許庁

LINK EFFECTIVENESS TEST DEVICE AND METHOD ON A COMPUTER NETWORK例文帳に追加

コンピュータネットワーク上でのリンク有効性検査装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING ANALYTICAL DEVICE WITH LANCET AND TEST ELEMENT例文帳に追加

ランセットと試験要素を有する分析装置を製造する方法 - 特許庁

TRANSMISSION CHARACTERISTIC TEST DEVICE AND METHOD FOR ANALOG SUBSCRIBER CIRCUIT例文帳に追加

アナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法 - 特許庁

EVALUATING METHOD OF OPTICAL PICKUP DEVICE, TEST DISK, AND OPTICAL DISK例文帳に追加

光ピックアップ装置の評価方法、テストディスクおよび光ディスク - 特許庁

ENCRYPTION PROCESSING DEVICE WITH TEST METHOD NOT CAUSING SECURITY HOLE例文帳に追加

セキュリティホールとならないテスト方法を有する暗号処理装置 - 特許庁

To efficiently test the reliability of a semiconductor device.例文帳に追加

、半導体装置の信頼性を効率良く試験できるようにする。 - 特許庁

TEST WRITING METHOD, INFORMATION RECORDING METHOD, AND INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

試し書き方法、情報記録方法及び情報記録装置 - 特許庁

RADIO COMMUNICATION DEVICE AND RETURN TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

無線通信装置およびこれを用いた折り返し試験方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND TEST PIECE FOR TESTING THERMAL FATIGUE例文帳に追加

熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 - 特許庁

MEDICAL DEVICE CONFIGURED TO TEST FOR USER RESPONSIVENESS例文帳に追加

ユーザの応答性を検証するように構成された医療器具 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置 - 特許庁

PROBE MANUFACTURING METHOD, PROBE STRUCTURE, PROBE DEVICE AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブ製造方法、プローブ構造体、プローブ装置、および試験装置 - 特許庁

WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加

防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST DEVICE AND METHOD OF TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加

無線基地局試験装置及び無線基地局の試験方法 - 特許庁

MICROREACTOR FOR TESTING BIOLOGICAL SUBSTANCE AND BIOLOGICAL SUBSTANCE TEST DEVICE例文帳に追加

生体物質検査用マイクロリアクタおよび生体物質検査デバイス - 特許庁

TANK PIPE PRESSURE TEST METHOD AND TANK PIPE PRESSURE TESTING DEVICE例文帳に追加

タンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT, INSPECTION DEVICE, AND TEST METHOD FOR ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路および検査装置および電子回路の検査方法 - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

An operation verification system 1000 that is one embodiment includes a test execution device 500 and a test management device 600.例文帳に追加

実施の一形態である動作検証システム１０００は、試験実行装置５００と試験管理装置６００とを備える。 - 特許庁

MANAGEMENT METHOD AND MANAGEMENT DEVICE OF LOAD TEST FOR WEB SYSTEM例文帳に追加

ウェブシステムに対する負荷テストの管理方法及び管理装置 - 特許庁

To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加

高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁

CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加

自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND TEST PIECE FOR INSPECTION例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法、及び検査対象試料 - 特許庁

This device is a self-test circuit BIST incorporated in a memory device, responding to an external test activating signal, and activated.例文帳に追加

本発明は、メモリデバイス内に内蔵され、外部から試験活性化信号に応答して活性化する自己試験回路BISTである。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置用検査装置 - 特許庁

ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加

電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法 - 特許庁