「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device which can test a programmable impedance control function simultaneously with a function test of a device.例文帳に追加

デバイスのファンクションテストと同時にプログラマブル・インピーダンス制御機能の試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

VARIABLE DELAY CIRCUIT, ITS SETTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路、その設定方法及び半導体試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, CONVEYER, AND TEST BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、搬送装置、及びテストボード - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, MEMORY MODULE AND TEST METHOD OF MEMORY MODULE例文帳に追加

半導体記憶装置、メモリモジュール及びメモリモジュールの検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE EQUIPPED WITH RADIO CONTROL TEST FUNCTION例文帳に追加

無線制御テスト機能を備えた半導体集積回路装置 - 特許庁

To detect contamination in a tank for putting a sample therein, of an environmental test device performing an accelerated test of a sample of a semiconductor device and the like.例文帳に追加

半導体装置等の試料の加速試験を行う環境試験装置の、試料を入れる槽内の汚染を検知する。 - 特許庁

To shorten test time on a driving circuit for a display device.例文帳に追加

表示装置用駆動回路に対するテスト時間を短くする。 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR SUPPORTING TEST SPECIFICATION GENERATION AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト仕様生成支援装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

To execute side erase test for a magnetic storage device in a short time.例文帳に追加

磁気記憶装置のサイドイレーズ試験を短時間で実行する。 - 特許庁

TEST CHART, IMAGE DATA, AND IMAGE FORMING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストチャート、画像データ、画像形成装置、及び画像形成方法 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

サーベイランス試験装置および計算機が読取り可能な記憶媒体 - 特許庁

A non-ejecting nozzle is detected by reading out the test pattern by a read out device.例文帳に追加

テストパターンを読取器で読み取って不吐ノズルを検出する。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE PROVIDED WITH REDUNDANCY SELECTION CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

リダンダンシ選択回路を備えたフラッシュメモリ装置及びテスト方法 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE FUNCTIONAL TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE COMPRISING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置機能検査方法並びに半導体記憶装置を有する電子機器 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test item preparation aiding device capable of preparing test items necessary for a test of an object directional program with less manhour.例文帳に追加

オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.例文帳に追加

半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sorting device suitable for a test data distribution in consideration of the test data distribution as well as a training data distribution and improve sorting accuracy of the test data.例文帳に追加

訓練データのみならずテストデータの分布を考慮してテストデータの分布にあった分類装置を構成し、テストデータの分類精度を上げる。 - 特許庁

To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment.例文帳に追加

本発明は、電子機器の試験対象のモジュール近傍の雰囲気のみを昇温して試験を行う温度試験装置を提供する。 - 特許庁

The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different.例文帳に追加

ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generating device that easily and automatically generates a test pattern without the preparation of complicated test pattern in verification for wiring connection of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの配線接続検証において、複雑なテストパターンの作成を必要とせず、テストパターンを容易に自動発生すること。 - 特許庁

To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.例文帳に追加

テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.例文帳に追加

安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.例文帳に追加

プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hearing test device not always requiring restraint on a subject during a test, and capable of improving test accuracy.例文帳に追加

検査中検者を常に拘束させておく必要がないとともに、検査精度を向上させることができる聴力検査装置を提供する。 - 特許庁

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁

To provide a computer system test device facilitating later cause analysis, in a test wherein a plurality of test programs are sequentially executed on a test target program.例文帳に追加

試験対象プログラムに対して複数の試験プログラムを順次実行するような試験において、後の原因解析を容易とする計算機システム試験装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

In one embodiment, a device comprises a conductor, and a transmitter including a transmitter test circuit which embeds test characteristics in a test pattern signal and transmits the test pattern signal to the conductor.例文帳に追加

一部の実施形態では、装置は、導体と、試験特性を試験パターン信号に埋め込みかつ導体に試験パターン信号を送信する送信機試験回路を含む送信機と、を含む。 - 特許庁

To provide a pumping test method and a pumping test device capable of performing a pumping test at relatively inexpensive test cost, and highly accurately determining a hydraulic constant.例文帳に追加

高い精度で水理定数を求めることができると共に、比較的安価な試験コストで揚水試験を行なうことができる揚水試験方法と揚水試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of reducing the number of pallets in a test tank without reducing treating ability of the test tank, and capable of extensively reducing a temperature control load of the test tank.例文帳に追加

試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内のパレット数を少なくでき、試験槽の温調負荷を大幅に低減可能な環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device 80 includes: a synchronous circuitry 1; a signal processing unit 2; a test circuitry 3; a test terminal Padt1; a test terminal Padt2; and a test terminal Padt3.例文帳に追加

半導体集積回路装置８０には、同期回路部１、信号処理部２、テスト回路部３、テスト端子Ｐａｄｔ１、テスト端子Ｐａｄｔ２、及びテスト端子Ｐａｄｔ３が設けられる。 - 特許庁

To provide a test manhour estimation device and program capable of easily estimating test manhour even when an evaluator repeatingly performs the same type of a test to a test target.例文帳に追加

テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a device for extracting test sample, having a simple extraction work of the test sample, a high extraction rate of the test sample, and a small dispersion of measured values of the test sample.例文帳に追加

被検試料の抽出作業が簡単で、被検試料の抽出率が高く、しかも被検試料の測定値のバラツキが少ない被検試料抽出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a portable universal type line test device that can easily test lines even when many numbers of the lines of test objects exist, and can conduct the test in a short time.例文帳に追加

試験対象となる回線数が多い場合でも、回線試験が容易で、試験に要する時間が短い携帯可能なユニバーサル型回線試験器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.例文帳に追加

試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test case relation extracting method, a test case relation extracting device and a test case relation extracting program which can easily extract relation between test cases.例文帳に追加

テストケース間の関係を容易に抽出できるテストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test device for a storage device for suppressing area increase of the test device, by reducing flip-flop, even when the number of the storage device is large.例文帳に追加

記憶装置の個数が多い場合でも、フリップフロップを削減することができ、テスト装置の面積増加を抑制することができる記憶装置用テスト装置を提供する。 - 特許庁

TERMINAL BOARD FOR CONTROL PANEL TEST, CONTROL PANEL AUTOMATIC TESTING DEVICE, AND TEMPORARY CONTROL DEVICE例文帳に追加

制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HOLDING SOCKET USED FOR HIGH- TEMPERATURE OPERATION TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の高温動作試験に使用するための半導体装置保持ソケット - 特許庁

TESTER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

半導体装置の試験装置およびそれを用いた半導体装置の試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC PART TESTING TRAY CONVEYANCE DEVICE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品試験用トレイ搬送装置、電子部品の試験装置および試験方法 - 特許庁

SIMULATOR FOR TEST FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND SIMULATION METHOD FOR ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE例文帳に追加

電子連動装置の試験用シミュレータ及び電子連動装置のシミュレーション方法 - 特許庁