「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTROMAGNETIC REFRIGERATING CAPACITY CONTROL DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

電磁弁式の冷凍能力制御装置及びこれを備えた環境試験装置 - 特許庁

The test device has a cable 3a for connecting the main body device 3 to the probe unit 2.例文帳に追加

そして、本体装置３とプローブユニット２とを接続するケーブル３ａとを備える。 - 特許庁

When the test piece is removed from the measuring device, the power of the measuring device is turned off.例文帳に追加

測定装置から、試験片を取り除くと測定装置の電源は落とされる。 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND TEST METHOD OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及び不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SELF-TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、及び半導体集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE DEPENDING ON TEMPERATURE AND CIRCUIT DEVICE HAVING REPAIR LOGIC例文帳に追加

温度に依存した半導体素子のテストおよび修復ロジックを有する回路装置 - 特許庁

The unit test device 10 is provided with a storage device 13 for storing information related with a transition picture for a test object screen 100-2 as test data; and a stab execution part 8 for executing a stab in the unit test.例文帳に追加

ユニットテスト装置１０は、テスト対象画面１００−２に対する遷移画面に関連する情報を、テストデータとして格納する記憶装置１３と、ユニットテストの際、スタブを実行するスタブ実行部８とを具備する。 - 特許庁

The image display device is provided with a memory part 19 for holding a test pattern image and superimposes the device setting screen signal on a test pattern image signal and performs video processing of the device setting screen signal.例文帳に追加

テストパターン画像を保持するメモリ部１９を備え、機器設定画面信号をテストパターン画像信号に重畳し映像処理される。 - 特許庁

To test a device at any speed lower than the real time operating speed in the dummy base station device communicable with the device under test in different communication systems.例文帳に追加

異なる通信方式で被測定デバイスと通信可能な擬似基地局装置において、実時間動作速度以下の任意の速度で試験が行えるようにする。 - 特許庁

The test management device 600 records a function corresponding to data input operation to a test target device 402 into an operation content file, and transmits the operation content file to the test execution device 500.例文帳に追加

試験管理装置６００は、試験対象装置４０２に対するデータ入力操作に対応する関数を操作内容ファイルに記録し、その操作内容ファイルを試験実行装置５００へ送信する。 - 特許庁

The data communication device 7 is designed to call to the target phone number set in the parameter by the central management device 6, after receiving a test request from the central management device 6, and to perform a test communication (test call).例文帳に追加

データ通信装置７は、中央管理装置６からのテスト要求により、中央管理装置６により設定したパラメータ中の発呼先電話番号へ発呼し、テスト通信（テストコール）を実施する。 - 特許庁

When the control parameter adjustment device 10 receives the test termination signal from the test monitoring device 20, the control parameter calculated upon receipt of the test termination signal is applied to a control device 6.例文帳に追加

制御パラメータ調整装置１０は、テスト監視装置２０からテスト終了信号を受信した場合、該テスト終了信号受信時に算出された制御パラメータを制御装置６に適用する。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.例文帳に追加

常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The display control device 214 transmits a command exclusive to the test which is ineffective in the control to the sound lamp control device 272, and a test substrate device 280 receives the command exclusive to the test so that shooting of game balls is suspended when the live-shooting test is implemented.例文帳に追加

表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁

FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE PROVIDED WITH TEST PAD HAVING SHARED OUTPUT CHANNEL, TEST METHOD FOR FILM TYPE SEMICONDUCTOR PACKAGE, TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH PATTERN SHARED WITH TEST CHANNEL, AND TESTING METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 - 特許庁

When manufacturing the ASIC, the test routine can execute a wide test of an ASIC block without receiving supply of a complicated test pattern from the testing device.例文帳に追加

ＡＳＩＣ製造中に、テストルーチンは、試験装置から複雑なテストパターンの供給を受ける事なく、ＡＳＩＣブロックの幅広いテストが可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, reducing entire test time and also obtaining the fail count for every test.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、試験の各回数ごとのフェイルカウントを把握することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test device 5 includes a test circuit 51 and a connection FPC 52 connecting the test circuit 51 and an HSA 140.例文帳に追加

本発明の一実施態様において、テスト装置５は、テスト回路５１と、そのテスト回路５１とＨＳＡ１４０とを接続する接続用ＦＰＣ５２とを備えている。 - 特許庁

To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加

回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

When performing a test, the RF test port is connected via the probe to test equipment, and the portable electronic device is tested.例文帳に追加

テストを行う場合には、前記無線周波数テストポートは前記プローブを介してテスト機器に接続されて、前記携帯式電子装置に対してテストを行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test signal generation circuit for resetting a test circuit where a test mode is erroneously set when power is supplied.例文帳に追加

電源投入時において誤ってテストモードが設定されたテスト回路をリセットするテスト信号発生回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test.例文帳に追加

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test device of a solar panel capable of effectively performing an environmental test which is applicable to the real environmental condition such as a storm test.例文帳に追加

実際の環境条件に適合した暴風試験等の環境試験を効率的に行うことができるソーラーパネルの環境試験装置を提供する。 - 特許庁

The test device 1 receives the test frame 24 from the port 22b of the repeater 22 and captures test data 24a as well as the FCS 26, 28, and 30 added to it.例文帳に追加

検査機器１は、中継器２２のポート２２ｂから試験フレーム２４を受信し、試験データ２４ａ及びこれに付加されたＦＣＳ２６，２８，３０をキャプチャする。 - 特許庁

A display control board 30 reads test display data from the storage device and allows the display to display a test picture based on the read test display data.例文帳に追加

表示制御基板３０は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.例文帳に追加

テストケース生成装置１００において、シナリオテストケース抽出部１０４は、シナリオ入力部１０２から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

When starting the test, the file of the test program stored in the product directory 22 is installed in a main storage device 23 and the test is started.例文帳に追加

そして、試験を開始する際に、製品ディレクトリ２２に格納されている試験プログラムのファイルを主記憶装置２３にインストールして試験を開始する。 - 特許庁

An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.例文帳に追加

本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.例文帳に追加

テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁

To provide the novel test piece supply device of an impact resilience testing machine, capable of preliminarily incorporating a large number of test pieces to continuously supply the test pieces.例文帳に追加

予め多数の試験片を組み込み、連続して試験片を供給できる反発弾性試験機の新規な試験片供給装置を提供する。 - 特許庁

After finishing the transmission of the loopback test data, the main apparatus 200 adds test result information to the communication protocol 302 of a loopback test termination request for transmission to the LAN device 100.例文帳に追加

折返しデータの送信完了後、折返し試験終了要求の通信プロトコル３０２に試験結果情報を付加し、LAN装置１００へ送信する。 - 特許庁

A display control substrate 30 reads out the test display data from the memory device, and displays test images on the display unit, based on the read-out test display data.例文帳に追加

表示制御基板３０は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加

追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test paper supplying method which eliminates the need for adjusting the location of the tip part of urine test paper in the case of placing the test paper to a holder of a urine analyzing device.例文帳に追加

尿分析装置のホルダーに試験紙を載置する場合に、尿試験紙先端部の位置調整を不要とする試験紙供給方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation test device capable of carrying out an evaluation test of a fuel battery efficiently and accurately, and to provide an evaluation test cell of the same.例文帳に追加

効率よくしかも正確に燃料電池用セルの評価試験を行うことのできる評価試験装置及びその評価試験セルの提供。 - 特許庁

To improve test accuracy, while executing economically a test equivalent to an actual vehicle test, in a vibration testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両の振動試験装置において、実車両試験と同等な試験を経済的に実施可能としつつ、試験精度の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a display device preventing a mistake in a test, early finding a mistake in description, and improving a test reliability such as debugging and test efficiency.例文帳に追加

テストミスの予防、記述ミス早期発見、デバッグ及びテスト効率アップ等テストの信頼性を向上が可能な表示装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The execution part 44-1 loads a test program from the device 5-n to a memory 42-1 and executes a test based on the test program.例文帳に追加

試験実行部４４−１は試験対象装置であるデバイス５−ｎから試験プログラムをメモリ４２−１へロードし、試験プログラムに基づいて試験を実行する。 - 特許庁

To obtain a load test device for a man conveyor capable of being fixed in an arbitrary position of the man conveyor during a load test of the man conveyor such as a service life test.例文帳に追加

マンコンベアの寿命試験等における負荷試験時に、マンコンベアの任意の位置に固定することができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.例文帳に追加

テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁

To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.例文帳に追加

テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To perform both tests of a BEST test and a scan test without mostly increasing circuit area, in a semiconductor memory device test circuit.例文帳に追加

半導体記憶装置試験回路において、回路面積の増大を殆ど招くことなく、ＢＩＳＴ試験及びスキャンテストの両方の試験を行う。 - 特許庁

SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁