「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a communication test device, a facility remote monitor test device and a warning issuing test device, which have means to monitor a communicating stage and an operating state with a warning issuing device at a remote place and to enable a field test and maintenance of a facility to be monitored at the remote place even one person.例文帳に追加

遠隔地にある警報通信装置との通信状態や運転状態をモニタする手段を提供し、遠隔地の監視対象設備の試運転やメンテナンスを１人作業でも可能とする通信試験装置及び設備遠隔監視試験装置と警報通報試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.例文帳に追加

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which goes into a test mode according to an implementation test signal applied from outside, by changing an environment (test property) of the semiconductor device in the implementation state, capable of entering the test mode at the implementation state.例文帳に追加

実装状態でもテストモードに入ることができ、実装状態で半導体装置の環境（内部特性）を変化させ、外部から印加される実装テスト信号に応じてテストモードに入る半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a server computer network performance test system allowing a test with a small number of resources as compared to before by centralizing a load generated from a test target device in a specific test target device by a required amount.例文帳に追加

テスト対象装置から発生する負荷を必要なだけ特定のテスト対象装置に集中させることで、従来に比べて少ない資源でテストを行うことができるサーバコンピュータネットワーク性能テストシステムを提供する。 - 特許庁

The apparatus may include a multimedia test engine operable to exercise and test multimedia application programming interfaces (APIs) of a wireless device on the basis of the execution of test setting comprising a test script downloaded to the wireless device.例文帳に追加

無線デバイスにダウンロードされたテスト・スクリプトを備えるテスト設定の実行に基づいて無線デバイスのマルチメディア・アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を使用しそしてテストするために動作するマルチメディア・テスト・エンジンを含むことができる。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

To calibrate the output timing of test signal in a semiconductor test device, having a socket which has a first terminal capable of giving test signals to a semiconductor device and a driver outputting the test signal to the first terminal.例文帳に追加

半導体デバイスへ試験信号を与えることのできる第１端子を有するソケットと、試験信号を第１端子へ出力するドライバとを有する半導体試験装置における試験信号の出力タイミングをキャリブレーションすること。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

A test instruction device 10 obtains operation information input from a user to test target software, prepares operation instruction information based on the operation information and distributes the test target software to a test execution device 20.例文帳に追加

試験指示装置１０が、試験対象ソフトウェアに対してユーザから入力された操作情報を取得し、この操作情報に基づいて操作指示情報を作成し、試験対象ソフトウェアを試験実行装置２０へ配布する。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

A device and method for efficiently administering the test material to the test unit by atomizing a solution or suspension of the test material and drawing the atomized droplets to the test unit are described.例文帳に追加

試験物質の溶液または懸濁液を霧状化し、霧状化した液滴を試験ユニットに引き付けることにより試験物質を試験ユニットに効率的に投与する装置および方法が記載されている。 - 特許庁

To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.例文帳に追加

半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁

To provide a thunder stroke test device, a thunder stroke test system, and a thunder stroke test method capable of eliminating trouble in imaging or electricity leakage caused by dew condensation, etc., enhancing efficiency in cooling a test piece, and reducing a cost.例文帳に追加

結露等による撮影への支障や、漏電がない上、供試体の冷却効率が高く、かつコストダウンが可能な雷撃試験装置、雷撃試験システム、および雷撃試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a small test piece supplying device with a novel and simple turning mechanism of a test piece, which can supply the test piece such that the test piece is aligned either face up or down.例文帳に追加

試験片の反転機構として斬新かつシンプルなものを採用し、装置全体の小型化を図るとともに、試験片を表向きまたは裏向きのいずれか一方向にそろえて供給できるようにする。 - 特許庁

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized.例文帳に追加

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit has a plurality of first pads for which an internal test circuit conducts an electric test and a plurality of second pads for which an external test device conducts an electric test.例文帳に追加

半導体集積回路は、内部試験回路により電気的試験が行われる複数の第１パッドと、外部の試験装置により電気的試験が行われる複数の第２パッドとを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.例文帳に追加

本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁

This test control device sets a debug count including a flow count for expressing a redoing frequency of the test flow and a process count for expressing a redoing frequency of the test processes, and executes the respective test processes of the test flow including redoing while selecting the test condition in response to this debug count.例文帳に追加

テスト管理装置において、テストフローのやり直し回数を表すフローカウントと各テスト工程のやり直し回数を表す工程カウントとを含むデバッグカウントを設定し、このデバッグカウントに対応してテスト条件を選択しながら、やり直しを含むテストフローの各テスト工程を実行させる。 - 特許庁

To provide a unit test support device which achieves reducing the operation frequency of test stab creation, decreasing a workload required for a unit test using the test stab and shortening an execution time when performing the unit test of a test object module described based on a state transition chart or a state transition table.例文帳に追加

状態遷移図や状態遷移表に基づいて記述された試験対象モジュールの単体試験にあたり、テストスタブ作成の作業頻度の低減や、テストスタブを用いた単体試験に要する作業量の削減や実施時間の短縮化を実現できる単体試験支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for a test item extraction system, a test item extraction method, a recording medium in which a test item extraction program is recorded and the test item extraction program to enable uniform extraction of a test item even when the extraction is performed by anyone without being influenced by knowledge and experience of a test operator.例文帳に追加

試験作業者の知識及び経験に左右されずに、誰が行なっても均一な試験項目の抽出を可能とする試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラムの提供。 - 特許庁

The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.例文帳に追加

そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

A cable 162 is provided with a test device-side RFID tag 164 at an end on the side of the test device and with a tested device-side RFID tag 166 at an end on the side of the tested device.例文帳に追加

ケーブル１６２は、試験装置側の端部に試験装置側ＲＦＩＤタグ１６４が設けられ、被試験器側の端部に被試験器側ＲＦＩＤタグ１６６が設けられている。 - 特許庁

To achieve a tester for a wireless device and a test system for the wireless device, wherein external control PCs or cables are unwanted, and a degree of freedom in an installation area of the tester for the wireless device or the test system for the wireless device.例文帳に追加

外部制御ＰＣやケーブルを不要とし、無線機用テスタや無線機用テストシステムの設置領域の自由度を広げた無線機用テスタおよび無線機用テストシステムを実現する。 - 特許庁

Based on given output instruction data, a test information generating unit 11 generates first test information and second test information in the case of carrying out drawing expansion of the first test information in an actual-image output device 3, and a target image output device 2 outputs the first and second test information.例文帳に追加

与えられた出力指示データに基づいて、第１の試験情報と、第１の試験情報を実画像出力装置３で描画展開した場合の第２の試験情報を試験情報生成部１１で生成して目標画像出力装置２に出力させる。 - 特許庁

To provide a test circuit and system that test one or more electric characteristics of a device to be tested by monitoring the device to be tested by applying a test signal to the device to be tested of an electric circuit, or the like.例文帳に追加

電子回路等の被試験装置に試験信号を印加して被試験装置を監視することにより、被試験装置の１つ又は複数の電気特性を試験する試験回路及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a system for automatically performing a function test in the production or maintenance of a ultrasonic diagnosing device with high reliability and at high speed and to provide a test method, a test device and the device.例文帳に追加

超音波診断装置の製造上やメンテナンスにおける機能テストを、高速・高信頼性にて自動的に行なうことができるシステム、テスト方法、テスト装置および超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.例文帳に追加

マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ATMOSPHERIC CORROSION TEST OF METAL MATERIAL FOR HOME ELECTRICAL APPLIANCE例文帳に追加

家電用金属材料の大気腐食試験方法およびその装置 - 特許庁

To determine a contact state between a pusher of a test handler and a testing device.例文帳に追加

テストハンドラのプッシャとテストデバイスの間の接触状態を判定する。 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TEST METHOD AND EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TESTING DEVICE例文帳に追加

外壁汚れ促進試験方法及び外壁汚れ促進試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DIELECTRIC BREAKDOWN TEST OF COATED WIRE例文帳に追加

被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法 - 特許庁

A test device 1 includes an application layer 2 and a driver layer 3.例文帳に追加

試験装置１は、アプリケーション層２およびドライバ層３を備えている。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

BEHAVIOR SIMULATION DEVICE FOR TIRE TREAD RUBBER AND TEST METHOD FOR TIRE TREAD RUBBER例文帳に追加

タイヤトレッドゴムの挙動シミュレーション装置及びタイヤトレッドゴムの試験方法 - 特許庁

WHEEL OF TEST VEHICLE, EXPERIMENTAL DEVICE AND AERODYNAMIC CHARACTERISTIC DETECTION METHOD例文帳に追加

テスト車両の車輪、実験装置及び空力特性検出方法 - 特許庁

CDM TEST DEVICE FOR INDIVIDUAL INTEGRATED CIRCUIT IN WAFER STAGE例文帳に追加

ウエハ段階にある個別の集積回路に対するＣＤＭ試験装置 - 特許庁

MICROCHEMICAL ANALYZER, ITS MEASURING METHOD, AND TEST SAMPLE PICKING DEVICE例文帳に追加

マイクロ化学分析装置、その測定方法、及び被検試料採取器具 - 特許庁

PROGRAM, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE例文帳に追加

テストケース生成プログラムとテストケース生成装置およびテストケース生成方法 - 特許庁

To provide a reconstructed method for inputs to an device under test.例文帳に追加

被検査デバイスに対する入力の再構成方法を提供すること。 - 特許庁

DYEING DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING TEST IN LABORATORY例文帳に追加

実験室での試験を実施するための染色装置及び染色方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE, TEST DEVICE FOR PICTURE ELEMENT OF COLOR FILTER SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER SUBSTRATE AND DISPLAY DEVICE WITH COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ基板の検査方法、カラーフィルタ基板の絵素の検査装置、カラーフィルタ基板の製造方法及びカラーフィルタ基板を備えた表示装置 - 特許庁