「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST SUBSTRATE AND METHOD FOR CHECKING OPERATION UPON CARRYING IN/OUT SUBSTRATE TO CASSETTE OR PRODUCTION DEVICE BY USING THE TEST SUBSTRATE例文帳に追加

テスト基板および該テスト基板を用いたカセットまたは生産装置への基板搬入・搬出時の動作確認方法 - 特許庁

A design rule extracting part 1 in a test device 10 extracts a certain design rule from a test object rule file RF.例文帳に追加

テスト装置１０におけるデザインルール抽出部１は、テスト対象ルールファイルＲＦからあるデザインルールを抽出する。 - 特許庁

example: test of a conversion device is carried out in a state approved test laboratory of a manufacturer, sealing happens after the installation 例文帳に追加

事例：変換器の試験は製造事業者の州政府承認の試験所で行われ，封印は設置後行われる - 経済産業省

An optimizing device W has a test calculation condition analysis processing means 60 as a means for performing processing, while grasping the change characteristics of a test calculation object to be calculated as a test and a test calculation instruction means 70 for generating an instruction for performing test calculation.例文帳に追加

最適化装置Ｗは、試算を行う試算対象の変化特性を把握し、処理を行う手段である試算条件分析処理手段６０と、試算を行うための命令を発生する試算命令手段７０とを有している。 - 特許庁

The system is constituted so that a control/monitor terminal 25 of a ground test device server 24 and a user office facility 14 of a thermal vacuum test facility 10, a vibration test facility 11, a sound test facility 12, and an impact test facility 13 are mutually connected through an Internet network 15.例文帳に追加

熱真空試験設備１０、振動試験設備１１、音響試験設備１２、衝撃試験設備１３の地上試験装置サーバ２４及びユーザオフィス設備１４の制御監視端末２５はインタネット網１５経由にて相互に接されている。 - 特許庁

The test system 6 includes a monitor run mask processing part for controlling a reception acceptance/rejection of test data when the communication data transferred from the gate way device 5 is input as the test data and a test is executed, to improve a test organization.例文帳に追加

試験系システム６には、ゲートウェイ装置５から転送される通信データを試験データとして入力して試験を実施するときに、試験データの受信可否を制御するモニタランマスク処理部を備えることで、試験の制度を向上させる。 - 特許庁

AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

The relaying device 2 relays the data packets received by the relaying device 2 to inputs of the test device 1.例文帳に追加

中継装置2に入力されたデータパケットは、中継装置2によって試験装置1の入力に中継される。 - 特許庁

AV PERFORMANCE TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR MAGNETIC DISK DEVICE USING THE SAME, AND MAGNETIC DISK DEVICE例文帳に追加

ＡＶ性能検査方法とそれを用いた磁気ディスク装置の製造方法および磁気ディスク装置 - 特許庁

This semiconductor device test device is provided with a tester body 10 and a performance board 20.例文帳に追加

本発明による半導体デバイス試験装置は、テスタ本体１０及びパフォーマンスボード２０を備える。 - 特許庁

WATER BALANCE MEASURING DEVICE FOR FUEL CELL, FUEL CELL EVALUATION TEST DEVICE, AND FUEL CELL SYSTEM例文帳に追加

燃料電池用水収支計測装置、燃料電池評価試験装置、並びに、燃料電池システム - 特許庁

DETERMINISTIC COMPONENT MODEL DETERMINATION DEVICE, DETERMINATION METHOD, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, TEST SYSTEM AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

確定成分モデル判定装置、判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

TEST OF TESTED DEVICE BY SAMPLING CLOCK AND DATA SIGNAL OF TESTED DEVICE例文帳に追加

被試験デバイスを、被試験デバイスのクロック及びデータ信号をサンプリングすることによって試験すること - 特許庁

To provide an interface circuit for a device under test which can suppress increase in size of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の大型化を抑制できる被検査装置用インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

To provide a low-price cleaning device for a probe needle of a test probe device for an integrated circuit.例文帳に追加

低価格の、集積回路用テストプローブ装置のプローブニードルの洗浄装置を提供する。 - 特許庁

To test the electrical characteristics of a semiconductor device with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子に損傷を与えず、且つ半導体素子の電気的特性を高精度に試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of improving precision in controlling temperature in the semiconductor device when conducting a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験の際に半導体装置内の温度制御の精度を向上させること。 - 特許庁

ANALOG BOUNDARY SCANNER, ANALOG BOUNDARY SCANNING CIRCUIT, BOUNDARY TEST DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOCKET, AND CONNECTOR例文帳に追加

アナログバウンダリースキャン装置、アナログバウンダリースキャン回路、バウンダリーテスト装置、集積回路装置、ソケット、コネクタ - 特許庁

To provide an electric source device and which is small in impedance in a signal transmission line; and a test device.例文帳に追加

信号伝送線路におけるインピーダンスの小さい電源装置及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To flexibly allocate a measuring port of VNA (vector network analyzer) to a device port of an adapter and a DUT (device under test).例文帳に追加

アダプタ及びＤＵＴの装置ポートに対するＶＮＡの測定ポートを柔軟に割り当てる。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, SURFACE MOUNT MACHINE USING THE SAME, COMPONENT TEST DEVICE, AND SCREEN PRINTING DEVICE例文帳に追加

撮像装置およびこれを用いた表面実装機、部品試験装置、ならびにスクリーン印刷装置 - 特許庁

This test device 1 of the terminal fittings is provided with a CCD camera 5 and a control device 7 or the like.例文帳に追加

端子金具の検査装置１はＣＣＤカメラ５と制御装置７などを備えている。 - 特許庁

To provide an electronic device and an imaging device capable of performing a water-tightness test with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構造で水密性の検査が可能な電子機器及び撮像装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置とテスト方法及び半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁

ALWAYS ENABLED TEST METHOD FOR MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

モノリシックな集積回路装置の常に可能化されたテストのための方法および集積回路装置 - 特許庁

PATTERN TEST DEVICE USING ELECTRON BEAM, AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND CONTROL METHOD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御方法及び半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspecting apparatus capable of testing a semiconductor device for a short test time.例文帳に追加

短いテストタイムで半導体装置の試験ができる半導体装置試験装置を提供する。 - 特許庁

LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TEST METHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT例文帳に追加

レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

To enable a towing dolly device to tow a high-load test vehicle even when the device is composed of a small-sized skater.例文帳に追加

小型のスケータであっても、高荷重のテスト車両を牽引できるようにすることである。 - 特許庁

A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.例文帳に追加

上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト（ＤＭＡ）を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which total test time can be shortened and processing for redundancy operation for each test can be accelerated.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、毎回の試験ごとのリダンダンシ演算に係る処理を高速化できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A built-in test circuit and a radio communication circuit are mounted into a semiconductor integrated circuit device, and the built-in test circuit is controlled by a radio signal to execute test.例文帳に追加

半導体集積回路装置内に内蔵テスト回路および無線通信回路を搭載し，無線信号により内蔵テスト回路を制御しテストを実施する。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

To provide a simulated transformer and a withstand voltage simulated test device capable of attaining a withstand voltage test in simulation with low voltage and easily changing test conditions.例文帳に追加

低い電圧で耐電圧試験を模擬的に実現することができ、且つ試験条件を容易に変更することができる模擬変圧器及び耐電圧模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

A test information management apparatus 1 performs a test concerning the propriety of software behavior in a device that is installed with the software, and manages the result of the test.例文帳に追加

本発明に係るテスト情報管理装置１は、ソフトウェアを実装した装置においてソフトウェアの挙動の適否に関するテストを行い、そのテスト結果を管理する。 - 特許庁

To provide a mobile terminal device in which a test terminal is disposed at a position where the test terminal is not visible for eyes of a user ordinarily but can be easily connected with a measuring instrument in the test.例文帳に追加

携帯端末装置において、試験用端子を、通常時にはユーザの目に触れることがなく、テスト時には容易に測定装置と接続可能な位置に配置する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a structure for passing supersonic working fluid capable of safely performing a test in a lower temperature area than an actual operating temperature area.例文帳に追加

実際の動作温度域よりも低い温度域で安全に試験できる超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および試験装置を提供すること。 - 特許庁

A test device 100 includes a test tank 1 having an installation space 1a where a solar cell panel 3 is installed, a light source 2 disposed outside the test tank 1, and the like.例文帳に追加

試験装置１００は、太陽電池パネル３が設置される設置空間１ａを有する試験槽１、試験槽１外に配置された光源２等を有する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a packet transfer test device and a packet transfer test method which can surely specify discarded packets in the packet transfer test.例文帳に追加

本発明の目的は、パケット転送試験において廃棄されたパケットを確実に特定できるパケット転送試験装置とパケット転送試験方法を提供することである。 - 特許庁