「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test picture generating device for generating a test picture capable of visually evaluating the degree of deterioration of a restored picture.例文帳に追加

復元された画像の劣化度を視覚的に評価できる試験画像を生成する試験画像生成装置を提供する。 - 特許庁

By this, the test of the optical disk device 1 can easily carried out without using the test optical disk or a host PC.例文帳に追加

これにより、光ディスク装置１の試験をテスト用のコンパクトディスクやホストＰＣを使用せずに容易に行うことができる。 - 特許庁

A semiconductor device 10 is provided with a self-test connection selecting circuit 16, an error detecting circuit 17, and a test control circuit 18.例文帳に追加

半導体装置１０にセルフテスト用の接続選択回路１６、エラー検出回路１７、テスト制御回路１８を設ける。 - 特許庁

To provide a decoder test circuit device of a ROM which can surely test a decoder of an ROM by simpler constitution.例文帳に追加

ＲＯＭのデコーダをより簡単な構成で確実にテストすることができるＲＯＭのデコーダテスト回路装置を提供する。 - 特許庁

To conduct tests of built-in DA converter and AD converter without using a test device for analog test.例文帳に追加

内蔵されたＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの試験を、アナログ試験用の試験装置を用いることなく行えるようにする。 - 特許庁

To provide an electro-optical device which protects a test circuit for test formed on a substrate from a surrounding environment.例文帳に追加

基板に形成された検査のための検査回路を、周囲の環境から保護することのできる電気光学装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, ANIMAL ANALYZER, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

動物検査情報提供システム、中央装置、動物用分析装置、動物検査情報提供方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

To provide a test device for a D/A converter capable of executing an operation test of the D/A converter built in a circuit more simply.例文帳に追加

回路に内蔵されているＤＡ変換器の動作テストをより簡単に行うＤＡ変換器のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a turning angle test auxiliary tool for efficiently performing a turning angle test of a vehicle having an air suspension device.例文帳に追加

エアサスペンション装置を備えた車両の転角試験を能率良く実施することができる転角試験補助具を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having enhanced ESD resistance and satisfying an ESD test according to an HBM test standard.例文帳に追加

ＨＢＭ試験規格によるＥＳＤ試験を満足し、ＥＳＤ耐圧が向上した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

A 1st test program 1 is installed to the 1st terminal device 10 and the communicating function which is to be the subject of the test is integrated.例文帳に追加

第１の端末装置１０には、第１テストプログラム１がインストールされ、試験対象となる通信機能が組み込まれる。 - 特許庁

To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.例文帳に追加

処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁

To provide a fretting corrosion test device which can accurately measure a frictional force between specimens caused by a microsliding test.例文帳に追加

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

An environmental test device 1 comprises a test tank 2, a work support mechanism 3, a cooling mechanism 4 and a dry gas supply mechanism 6.例文帳に追加

環境試験装置１は、試験槽２、ワーク支持機構３、冷却機構４および乾燥気体供給機構６を有する。 - 特許庁

To provide a device for rocking/rotation testing for carrying out both an endurance test and a performance test on machine parts, etc.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

This leakage test device 10 has structure in which a plurality of chambers 11 circulate required processes for the leakage test.例文帳に追加

本発明の漏れ検査装置１０は、複数のチャンバ１１が漏れ検査の所要の各工程を循環する構造となっている。 - 特許庁

To provide an automatic test item generating device which automatically prepares and extracts a test item from advice etc. of a technical standard and an inputted function standard.例文帳に追加

技術標準の勧告などや入力された機能仕様からテスト項目の作成および抽出を自動的に行う。 - 特許庁

The tester simulation device for performing tests of the test object by the test program by a tester is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method capable of performing a test having high reliability, while keeping performance of a multichip module.例文帳に追加

マルチチップモジュールの性能を維持しつつ、信頼性の高い試験を可能にした半導体装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and semiconductor test a method capable of simultaneously and correctly inspecting a plurality of wafer dies.例文帳に追加

複数のウエハダイを同時に正確に検査することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a relief analysis device for a semiconductor memory for performing a relief analysis after the test of all test items is completed.例文帳に追加

全テスト項目のテスト完了後に救済解析を行なうようにした半導体メモリの救済解析装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加

多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁

This semiconductor device is conveyed through the buffer tray whose pitch has been adjusted between a test tray and a customer tray of a test handler.例文帳に追加

半導体装置は、テストハンドラーのテストトレイとカストマートレイとの間でピッチが調節されたバッファトレイを経由して移送される。 - 特許庁

A network evaluation device 1 makes test object apparatuses 6, 8, 10, 12, 14, and 16 which are test objects configure a network.例文帳に追加

ネットワーク評価装置１は、試験対象となる試験対象機器６，８，１０，１２，１４，１６に対してネットワークを構築させる。 - 特許庁

To provide an irradiation test method capable of more efficiently performing an irradiation test for a semiconductor device.例文帳に追加

より効率的に半導体装置の放射照射試験を実施することができる放射線照射試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of performing a random vibration test setting the kurtosis of a random signal as a parameter.例文帳に追加

ランダム信号の尖度をパラメータとするランダム振動試験を行うことのできる振動試験制御装置を提供するにある。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING TEST DATA OF FORM PROGRAM, FORM PROGRAM PREPARING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TEST DATA例文帳に追加

帳票プログラムのテストデータ作成方法、帳票プログラム作成装置及びテストデータを作成するプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To obtain a software test device capable of constructing an efficient combination test environment even to a software of a sequence diagram.例文帳に追加

シーケンス図のソフトウェアに対しても効率の良い組合せ試験環境を構築することのできるソフトウェア試験装置を得る。 - 特許庁

The advantages of this equilibrium dialytic device are cost saving, efficiency enhancement, test easiness, flexibility of a test method and the like.例文帳に追加

この平衡透析装置の利点は、コストの低減、効率の向上、試験の容易さ、及び試験方法の柔軟性等である。 - 特許庁

The second clocking device 2 receives the test information transferred from the first communication device 3 to the second communication device 4 from the second communication device 4 and specifies the transmission time of the test information by subtracting a value specifying the transmission time included in the test information from a value specifying a receiving time of the test information.例文帳に追加

第２計時装置２は、第１通信装置３から第２通信装置４へ転送された試験情報を第２通信装置４から受信し、試験情報の受信時刻を特定する値から、試験情報に含まれる送信時刻を特定する値を減じて、試験情報の伝達時間を特定する。 - 特許庁

A storage-determining section 7 inputs the surface temperature information on the test device 30; compares a predetermined temperature Ts, stored previously when the test device 30, is properly sucked and fixed to the pressing element 22 with the monitored surface temperature of the test device 30; and determines the quality of the contact state of the sucked and fixed test device 30.例文帳に追加

記憶・判定部７は、テストデバイス３０の表面温度情報が入力され、予め記憶されているテストデバイス３０が押圧子２２に良好に吸引固定されたときの所定温度Ｔｓとモニターされたテストデバイス３０の表面温度を比較し、吸引固定されたテストデバイス３０の接触状態の良否を判定する。 - 特許庁

A base station device replaces terminal information received from a mobile terminal device 2 with a test patter, transmits to the mobile terminal device 2 control information corresponding to the test pattern, with which the terminal information has been replaced, as test control information and receives from the mobile terminal device 2 a response to the transmitted test control information.例文帳に追加

基地局装置１は、移動端末装置２から受信した端末情報をテストパターンに置き換え、置き換えられたテストパターンに応じた制御情報を試験用制御情報として移動端末装置２に送信し、送信された試験用制御情報に対する応答を移動端末装置２から受信する。 - 特許庁

The test device 20 includes the actuator hammer 100 which generates an actual impact power or the like, a connecting cable 101 which connects the hammer with the control device 10, function test software 23 which monitors operation of the test device 20, and a USB cable 21 which connects the function test software 23 and the control device 10.例文帳に追加

試験装置２０は、実際の打撃力等を発生させるアクチュエータハンマー１００、該ハンマーを制御装置１０と接続する接続ケーブル１０１、試験装置２０の動作を監視する機能試験用ソフトウェア２３、及び機能試験用ソフトウェア２３と制御装置１０とを接続するＵＳＢケーブル２１を備える。 - 特許庁

The control board has test operation means A15 and A16 for making the game device perform the test operation in a predetermined state corresponding to each command for test operation transmitted from the test command output means when the game mode is transferred to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CALIBRATING MEASUREMENT DEVICE PATH AND FOR MEASURING TEST DEVICE IN CALIBRATED MEASUREMENT DEVICE PATH例文帳に追加

計測デバイスパスを較正すると共に較正した計測デバイスパスにおいて被検デバイスを計測するための方法及びシステム - 特許庁

ELECTRODE TENSION TEST METHOD, DEVICE THEREFOR, SUBSTRATE /PROBE SUPPORT DEVICE THEREFOR AND ELECTRODE/PROBE BONDING DEVICE例文帳に追加

電極引張試験方法、その装置及び電極引張試験用の基板／プローブ支持装置並びに電極プローブ接合装置 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The universal type line test device 1 is provided with test circuits that conduct an insulation resistance test and a static capacitance test between a couple of core wires and between each core wire and ground, and a cross-contact test between each core wire and other wire without the need for changing the connection between a couple of core wires of a test object line and a ground wire.例文帳に追加

ユニバーサル型回線試験器１は、試験対象回線の一対の心線及び接地線との接続を替えること無しに、一対の心線間や、各心線と対地間の絶縁抵抗試験、静電容量試験、各心線に対する他の回線の混触試験をするための試験回路を備えることである。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

The test data generation device previously stores basic test data wherein information related to a date is configured by a date function, substitutes information showing a test day inputted by an operator for the date function of the stored basic test data to generate the test data, and outputs the generated test data.例文帳に追加

テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁