「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

Accordingly, the confirmation work can be easily performed only by outputting a corresponding test command from the test command output device without replacing a circuit board with the one for the test.例文帳に追加

よって、テスト用の基板に差し替えることなく、テストコマンド出力装置から対応するテストコマンドを送出させるだけで、容易に確認作業を行うことができる。 - 特許庁

A management side device 11 occasionally obtains a progress condition of a test by browsing the test plan and the test result via a Web browser by means of a browsing means 112.例文帳に追加

管理側装置１１は閲覧手段１１２により、その試験計画や試験結果をＷｅｂブラウザで閲覧することで、試験の進捗状況を随時把握する。 - 特許庁

To enter efficiently super VIH(SVIH) conditions to a test mode by suppressing restriction of a test device and possibility of erroneous entry of a user side at the time of entry of serial test.例文帳に追加

シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパＶＩＨ（ＳＶＩＨ）条件のテストモードにエントリする。 - 特許庁

To provide an IC test device for suppressing IC to be tested from deteriorating due to discharge current of a capacitor in an IC test, and to provide an IC test method.例文帳に追加

ＩＣの試験において、コンデンサの放電電流によって被試験ＩＣが劣化するのを抑止することができるＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

Provided are the means and device which automatically conduct the unit test of the software through a computer network and automatically generate the unit test written standards and unit test written results.例文帳に追加

コンピュータネットワークを介してソフトウェア単体試験を自動実行し、かつ単体試験規格書、及び単体試験成績書を自動生成する手段と装置を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING METHOD, DATA STRUCTURE OF TEST PATTERN, TEST PATTERN GENERATING DEVICE, DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターンのデータ構造、テストパターン発生装置、表示パネル検査システム、制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a heating test device and a heating test method of an exhaust system member where the atmosphere of the test could be made more similar to the atmosphere under the condition that the exhaust member is mounted on an engine.例文帳に追加

試験雰囲気をより機関搭載状態に近づけることのできる排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法を提供することにある。 - 特許庁

The cold impact test device 1 has a high-temperature test tub 2 and low-temperature test tub 3, and a rack 4 carrying a sample W can move between the both.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動可能な構成とされている。 - 特許庁

This unit test device 10 executes a unit test by defining at least one screen among a series of screen group having screen transition as a test object picture.例文帳に追加

本発明によるユニットテスト装置１０は、画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう（ステップＳＰ４）。 - 特許庁

The test rate is corrected and shortened corresponding to this calculated degree of the allowance, and thereafter the function test for the semiconductor device is done using the test rate normally corrected.例文帳に追加

この算出された余裕度に応じてテストレートを修正、短縮化し、その後、通常通り前記修正されたテストレートを用いて半導体デバイスのファンクションテストを行なう。 - 特許庁

To provide a software test item selecting device which efficiently selects test items to be retested from already performed test items in consideration of an uncorrected fault module.例文帳に追加

未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by performing a test continuously by using a high speed clock signal in an expected value determination test and defective cycle detection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の期待値判定テストおよび不良サイクル検出に関し、高速のクロック信号を用いて連続してテストを行うことでテストに係る費用を削減する。 - 特許庁

The other device such as a test terminal is not required with such constitution and the consecutive change work of the test terminal is not always required whenever a test on one interface is conducted.例文帳に追加

本構成によれば、試験端末など他の装置が不要であり、１つのインタフェースについての試験を実施する毎に試験端末のつなぎかえ作業が不要である。 - 特許庁

After a different load is applied to each test piece by a durometer, the magnetic field distribution of each test piece is measured by scanning the surface of each test piece with a Hall-effect device.例文帳に追加

硬度計によって各試験片に異なる荷重を加えた後に、各試験片の表面にホール効果素子を走査させて各試験片の磁場分布を測定した。 - 特許庁

To provide a test data generating program, a test data generating device, and a test data generating method, capable of improving exhaustiveness in validation for logic verification.例文帳に追加

論理検証における検証網羅性を向上させることが可能なテストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wire connection device with work efficiency or reliability improved at the time of carrying out of a withstand voltage test and an electric circuit verification test (sequence test) of a distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時の作業の効率や信頼性が向上する結線装置を提供する。 - 特許庁

The vehicle traction device is constituted such that a dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the test vehicle 14, and that an arm 15 is provided to the dolly 13 to push the test vehicle 14.例文帳に追加

ドーリー13を試験用車両14の試験時の、移動方向の後方にのみ配置して、このドーリー13に試験用車両14を押すためのアーム15を取付ける。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁

In a target device 30a and a handling device 30b, image forming parts 50 output test patterns and image reading parts 60 read the outputted test patterns and previously prepared test patterns.例文帳に追加

ターゲット装置３０ａ及びハンドリング装置３０ｂでは、画像形成部５０がテストパターンを出力し、画像読取部６０が出力されたテストパターン及び予め用意されたテストパターンを読み取る。 - 特許庁

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively.例文帳に追加

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。 - 特許庁

Subsequently, a test mode starting means 27 reads the test mode corresponding to the determined depressed switch to set it in the optical disk device, and starts the optical disk device in the test mode.例文帳に追加

この後、試験モード起動手段２７は、前記判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。 - 特許庁

The derivative structured document is applied to a test performing device 51 to test the structured document processor 55, and acceptable derivation patterns and non-acceptable derivation patterns are arranged by a test analysis device 52.例文帳に追加

その派生形の構造化文書をテスト実施装置５１にかけて、構造化文書処理装置５５をテストし、テスト解析装置５２で、受理できる派生パターンと受理できない派生パターンを整理する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit which can supply another fed voltage in test mode at low cost and a test device provided with an automatic test device which tests an integrated circuit like this.例文帳に追加

テストモードにおける別の給電電圧を低いコストで供給することのできる集積回路、およびこのような集積回路をテストするための自動テスト装置を備えたテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device, a test pattern preparation method, a failure detection rate calculation device, and a failure detection rate calculation method for preparing a test pattern for highly precisely detecting the bridge failure of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成できるテストパターン作成装置、テストパターン作成方法、故障検出率算出装置故障検出率算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

To provide a test code generation program for making a test code automatic generation device and a computer for sharply reducing a manual labor operate as its test code generation device even concerning functions for referring to hardware when generating a test code.例文帳に追加

テストコード生成にあたり、ハードウエアを参照する関数についても人手による負担を大幅に軽減させることができるテストコード自動生成装置およびコンピュータをそのテストコード生成装置として動作させるテストコード生成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加

耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験（シーケンス試験）時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁

A test signal is transmitted from the AV amplifier to the display device, the test signal is reproduced from the speaker of the display device, and the test signal is received by a microphone arranged at the position of a listener, and thereby, a test signal arrival time is measured.例文帳に追加

ＡＶアンプからディスプレイ装置にテスト信号を送信し、ディスプレイ装置のスピーカーからテスト信号を再生させ、聴取者の位置に配置されるマイクによってテスト信号を受信することにより、テスト信号到達時間を測定する。 - 特許庁

The array testing device includes a test part supporting a substrate to be tested.例文帳に追加

本発明のアレイテスト装置は、テストされる基板を支持するテスト部を備える。 - 特許庁

SIMPLIFIED TEST METHOD AND DEVICE OF INSULATION TEMPERATURE RISE CHARACTERISTIC OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの断熱温度上昇特性の簡易測定方法および装置 - 特許庁

To perform biaxial driving of a test body in a fretting wear evaluation device.例文帳に追加

フレッチング摩耗評価装置において、試験体の２軸駆動を可能とする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR REDUCING OR REMOVING STRAY LIGHT OF OPTICAL TEST HEAD例文帳に追加

光学的テストヘッドの漂遊光を減少又は排除する方法及び装置 - 特許庁

The oil mist is flowing into the test vessel 2 from the oil mist generation device 1.例文帳に追加

テスト容器２には、オイルミスト発生装置１からオイルミストが流入する。 - 特許庁

For a short inspection device 1, two or more test patterns are prepared beforehand.例文帳に追加

ショート検査装置１には，あらかじめ複数のテストパターンが用意されている。 - 特許庁

NETWORK SUPERVISION DEVICE, NETWORK TEST METHOD, PATH INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ネットワーク監視装置、ネットワーク試験方法、パス情報管理方法、及びプログラム - 特許庁

To provide a test device measurement system that suitably controls the processing amount of data transmitted from a test device according to the data processing capacity of an information processor.例文帳に追加

情報処理装置のデータ処理能力に応じて、試験装置から送信されるデータの処理量を最適制御する試験装置測定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a pattern having a shared test channel.例文帳に追加

テストチャンネルが共有されるパターンを備える半導体装置を提供する。 - 特許庁

PROPERTY EVALUATION METHOD FOR FLEXIBLE WIRING BOARD, AND REPEATED BENDING TEST DEVICE例文帳に追加

フレキシブル配線板の曲げ性評価方法及び繰返し曲げ試験装置 - 特許庁

A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.例文帳に追加

テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can reset only the one test mode.例文帳に追加

１つのテストモードのみをリセットできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁