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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test deviceに関連した英語例文

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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8462



例文

CONNECTOR DEVICE AND CABLE TEST EQUIPMENT, CABLE ASSEMBLING METHOD AND CABLE TEST METHOD USING CONNECTOR DEVICE例文帳に追加

コネクタ装置とこのコネクタ装置を用いたケーブル試験装置とこのコネクタ装置を用いたケーブル組立方法とこのコネクタ装置を用いたケーブル試験方法 - 特許庁

FLUIDITY TESTING DEVICE FOR SEDIMENT, AND FLUIDITY TEST METHOD FOR SEDIMENT例文帳に追加

土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法 - 特許庁

VERNIER DELAY CIRCUIT, TIME DIGITAL CONVERTER USING THE SAME, AND TEST DEVICE例文帳に追加

バーニア遅延回路、それを用いた時間デジタル変換器および試験装置 - 特許庁

BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁

例文

DETERMINATION METHOD AND DETERMINING DEVICE FOR STRAIN AND TENSILE FORCE OF TEST PIECE例文帳に追加

テストピ—スのひずみおよび引張力決定方法ならびに決定装置 - 特許庁


例文

To prevent a device for games from being left alone in a test mode.例文帳に追加

遊技用装置がテストモードのまま放置されることを防止すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EXECUTING UNIT TEST IN APPLICATION HOST ENVIRONMENT例文帳に追加

アプリケーションホスト環境においてユニットテストを実行する方法および装置 - 特許庁

To provide a portable train monitor test apparatus capable of carrying out a transmission function test of a monitoring device necessitating no train radio command station without dismounting the monitoring device from a train.例文帳に追加

モニタリング装置を列車から降ろさず、列車無線指令局を必要としないモニタリング装置の伝送機能試験を実施可能とする。 - 特許庁

TEST CHART, AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING STEREOSCOPIC CAMERA FOR POSITIONAL DEVIATION例文帳に追加

テストチャート、ステレオカメラの位置ずれ検査装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁

例文

A test automation is executed to activate the user interface of a target device.例文帳に追加

テストオートメーションを実行してターゲットデバイスのユーザインタフェースを作動させる。 - 特許庁

例文

METHOD FOR ADDING AMPLITUDE NOISE TO TEST SIGNAL AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号に振幅ノイズを加える方法及び信号生成装置 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS STATIC ELECTRICITY BREAKDOWN VOLTAGE TEST METHOD, AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その静電気耐圧試験方法及び装置 - 特許庁

TEST STRUCTURE FOR EVALUATING INSULATION FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

絶縁膜評価用テスト構造及び、半導体装置の製造方法 - 特許庁

PRIORITY ENCODER AND TIME DIGITAL CONVERTER USING IT, AND TEST DEVICE例文帳に追加

プライオリティエンコーダならびにそれを利用した時間デジタル変換器、試験装置 - 特許庁

SIGNAL GENERATION TIMING CONTROL PROGRAM AND INTEGRATED CIRCUIT PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

信号発生タイミング制御プログラム及び集積回路動作試験装置 - 特許庁

To provide a test mode semiconductor memory device in which individual reset can be performed.例文帳に追加

個別リセットが可能なテストモード半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

SOLDER CREEP STRENGTH TESTING DEVICE AND SOLDER CREEP STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

はんだクリープ強度試験装置、およびはんだクリープ強度試験方法 - 特許庁

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING PACKET SWITCHING NETWORK QUALITY BY TEST PACKET例文帳に追加

試験パケットによるパケット交換網品質判定方法及びその装置 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTION OF ROTOR ANGLE POSITION AND SPEED, AND POWER TEST SYSTEM OF ROTOR例文帳に追加

回転体の角度位置/速度検出装置および動力試験システム - 特許庁

HEARING TEST DEVICE AND METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND HEARING AID ADJUSTMENT SYSTEM例文帳に追加

聴覚検査装置、方法およびコンピュータプログラム、補聴器調整システム - 特許庁

EDDY CURRENT TEST SIGNAL DISCRIMINATING METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

渦電流検査信号識別方法及びこの方法を用いる装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of contributing to reduction in test cost.例文帳に追加

テストコストの低減に資することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a load test system for a node device which lightens a processing load.例文帳に追加

処理負担を軽減したノード装置の負荷試験システムを提供する。 - 特許庁

IP NETWORK END-TO-END CONTINUITY TEST METHOD, ROUTER, AND HOME GATEWAY DEVICE例文帳に追加

IP網エンド・ツー・エンド導通試験方法、ルータおよびホームゲートウェイ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DESIGN SUPPORTING DEVICE AS WELL AS TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路とその設計支援装置およびテスト方法 - 特許庁

The device uses a laser light source 10 in order to irradiate the test piece.例文帳に追加

該装置は試験物を照射するため、レーザ光源10を使用する。 - 特許庁

MEDICAL NETWORK SYSTEM, TEST REQUEST MANAGEMENT DEVICE, AND MANAGEMENT METHOD THEREOF例文帳に追加

医用ネットワークシステム並びに検査依頼管理装置及びその管理方法 - 特許庁

TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁

SUPPORT MECHANISM, AIRCRAFT ELECTRIC WAVE REFLECTION CROSS SECTIONAL AREA MEASURING SYSTEM, AND TEST DEVICE例文帳に追加

支持機構、航空機電波反射断面積測定システム、試験装置 - 特許庁

TEST IMAGE DISPLAY DEVICE AND VENDING MACHINE INSPECTION SYSTEM EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

テスト画像表示装置及びそれを備える自動販売機検査システム - 特許庁

THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST DEVICE AND METHOD, PROGRAM STORAGE MEDIUM, AND PROGRAM例文帳に追加

メモリの検査装置および方法およびプログラム記憶媒体およびプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor storage device achieving leak test in a shorter time.例文帳に追加

より短時間にリークテストが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

GROUND EXPLORATION METHOD BY CONE PENETRATION TEST WITH WATER SAMPLING FUNCTION AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

採水機能付きコーン貫入試験による地盤調査法とその装置 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING MEMBER AND EXCESS SAMPLE LIQUID REMOVING DEVICE BY USING IT例文帳に追加

試験片保持部材およびこれを用いた余剰試料液除去装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, AND TEST CONTROLLER例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の制御方法およびテスト制御装置 - 特許庁

To provide a nonsuction head pickup for electronic device waiting test.例文帳に追加

試験待機電子装置用無吸着ヘッド式ピックアップ装置の提供。 - 特許庁

To provide a test program emulator for a semiconductor device capable of proofreading an error due to a failure of a programmer caused in a test program of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子のテストプログラムにて発生するプログラマの失敗によるエラーを校正できる半導体素子のテストプログラムエミュレータを提供する。 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LOW TORQUE LOW SPEED TEST IN TURBOMACHINERY例文帳に追加

ターボ機械における低トルク低速度試験のための方法及び装置 - 特許庁

ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁

PLL CIRCUIT AND ITS LOCK DECISION CIRCUIT, AND TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

PLL回路及びそのロック判定回路並びにテスト方法と装置 - 特許庁

BEHAVIORAL SYNTHESIS DEVICE AND METHOD HAVING TEST BENCH GENERATION FUNCTION, AND PROGRAM例文帳に追加

テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING DEW CONDENSATION CONTROL MECHANISM FOR TEST OBJECT SURFACE例文帳に追加

被試験物表面の結露制御機構を備えた環境試験装置 - 特許庁

The memory device includes a memory cell array, a test data storage section and a decision section.例文帳に追加

メモリ装置はメモリセルアレイ、テストデータ貯蔵部、及び判断部を含む。 - 特許庁

ION SOURCE, ION BEAM PROCESSING-OBSERVING DEVICE, AND TEST PIECE CROSS-SECTION OBSERVATION METHOD例文帳に追加

イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法 - 特許庁

例文

TEST PROGRAM EMULATOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, EMULATION METHOD AND OPERATION METHOD例文帳に追加

半導体素子のテストプログラムエミュレータ及びエミュレーション法並びに運用法 - 特許庁




  
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