「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

DYNAMIC LOADING DEVICE FOR PILE, DYNAMIC LOADING METHOD FOR PILE AND DYNAMIC LOADING TEST METHOD例文帳に追加

杭の動的載荷装置、杭の動的載荷法および動的載荷試験法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, AS WELL AS SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査回路、並びに半導体集積回路装置及びその検査方法 - 特許庁

To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁

To conduct a test by use of the internal clocks of a semiconductor integrated device (LSI).例文帳に追加

半導体集積装置（ＬＳＩ）の内部クロックを利用してテストを行う。 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

PURIFICATION TEST METHOD OF CONTAMINATED SOIL, AND PURIFICATION TESTING DEVICE OF CONTAMINATED SOIL例文帳に追加

汚染土壌の浄化試験方法および汚染土壌の浄化試験装置 - 特許庁

To provide a signal interruption device which can easily perform an originating and terminating call test, a radio characteristics test, etc. in a radio base station device even after installation work.例文帳に追加

無線基地局装置において、設置工事後でも容易に発着呼試験や無線特性試験などを実施できる、信号遮断装置等を提供する。 - 特許庁

HIGH-SPEED SERIAL DATA RECEIVING DEVICE, TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

高速シリアルデータ受信装置とテスト方法並びに半導体集積回路 - 特許庁

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION AND TEST METHOD OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION例文帳に追加

ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 - 特許庁

To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加

ＢＯＳＴ及びＢＩＳＴを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

SIMULATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND RECORDING MEDIUM STORING SIMULATION PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置用シミュレータ及びシミュレートプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To make it possible to perform a functional test and a performance test reflecting a user's data and a setup of the user's device before a firmware of an image formation device is distributed.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェア配信前に、ユーザーのデータや機器の設定を反映した形で機能テスト及びパフォーマンステストをできるようにする。 - 特許庁

The electronic component testing device includes a workstation, a tester body, and a test head.例文帳に追加

電子部品試験装置は、ワークステーション、テスタ本体、及びテストヘッドを備える。 - 特許庁

A user controls a test executing device 1-2 and displays a parameter passed from the test executing device 1-2 via a user interface 1-1.例文帳に追加

ユーザが、ユーザインターフェース１−１を介して、テスト実行装置１−２に対して制御を行い、かつ、テスト実行装置１−２から渡されたパラメータを表示する。 - 特許庁

To provide a test device capable of shortening a processing time of a whole system.例文帳に追加

システム全体の処理時間を短縮できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system for facilitating the communication test of an information communications device.例文帳に追加

情報通信装置の通信テストを容易にするテストシステムを提供する。 - 特許庁

To surely perform a memory test of a serial memory device with simple constitution, in a memory test apparatus testing a semiconductor memory device.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリデバイスを試験するメモリ試験装置に関し、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようにする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CARRYING A PLURALITY OF TEST TUBES IN MEASURING SYSTEM例文帳に追加

測定システム内で複数の試験管を輸送するための方法および装置 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

PIN ELECTRONICS USED WITHIN AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路をテストするための自動テスト装置内で使用するピンエレクトロニクス - 特許庁

BEAR CHIP MOUNTING CIRCUIT DEVICE AND ITS HIGH POWER SUPPLY VOLTAGE IMPRESSION TEST METHOD例文帳に追加

ベアチップ実装回路装置及びその高電源電圧印加試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTIVELY SUPPLYING DATA FROM TEST HEAD TO PROCESSOR例文帳に追加

テストヘッドからプロセッサへデータを選択的に供給する方法及び装置 - 特許庁

MECHANISM FOR SEPARATING/STACKING STACKING TRAY, TRAY ACCOMMODATION DEVICE AND IC TEST HANDLER例文帳に追加

段積みトレイの分離・積上げ機構、トレイ収納装置およびＩＣテストハンドラ - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND DEVICE FOR COMPOSITING STATE EVENT WITH RESPECT TEST DATA STREAM例文帳に追加

テストデータストリームに対して状態イベントを合成するシステム、方法、及び装置 - 特許庁

To simply attain an abnormality test of a communication protocol of a network correspondence device.例文帳に追加

ネットワーク対応機器の通信プロトコルの異常試験を簡単に実現する。 - 特許庁

(b) Methods of handling, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

ロ　無線通信機器の取扱い、整備方法、改造方法及び試験方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

METHOD AND DEVICE FOR EXECUTING TEST PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験プログラム実行装置および試験プログラム実行方法、並びに記録媒体 - 特許庁

The test monitoring device 20 sends out a test termination signal to the control parameter adjustment device 10 when a predetermined termination condition is met.例文帳に追加

テスト監視装置２０は、予め定められた終了条件を満たす場合、制御パラメータ調整装置１０にテスト終了信号を送出する。 - 特許庁

POSITIONING SYSTEM FOR TEST HEAD, AND NON-CONTACT TYPE RESISTIVITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

検査ヘッド用位置調整装置及び非接触型抵抗率測定装置 - 特許庁

To easily inspect a connection part of a semiconductor device in an environment test.例文帳に追加

環境試験における半導体デバイスの接続部を簡易に検査する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PIECE FOR STRENGTH CONTROL OF DEWATERED CONCRETE例文帳に追加

脱水コンクリート強度管理用テストピースの作成方法及び作成装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR MATERIAL EVALUATION OF COMPONENT OF INJECTION MOLDING APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加

射出成形機部品用材料評価試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN, METHOD FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE AND DEVICE FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE例文帳に追加

テストパターンの印刷方法、補正値の取得方法、補正値の取得装置 - 特許庁

MICROTEST CHIP, LIQUID QUANTITATION METHOD OF MICROTEST CHIP AND TEST DEVICE例文帳に追加

マイクロ検査チップ、マイクロ検査チップの液体定量方法および検査装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test by a frequency being higher than the maximum clock frequency which can be supplied by a test device can be performed.例文帳に追加

試験装置が供給できる最大クロック周波数より高い周波数での動作試験が行える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TESTING DEVICE AND HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

高圧材料強度試験装置および高圧材料強度試験方法 - 特許庁

To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other.例文帳に追加

試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。 - 特許庁

SOCKET FOR ELECTRIC TEST AND SCREW FOR CONTACT PITCH CORRECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの電気テスト用ソケットおよび接触子ピッチ矯正用ネジ - 特許庁

LASER PUNCTURE DEVICE, PUNCTURE METHOD THEREFOR, AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

レーザ穿刺装置とその穿刺方法及びこれを用いた血液検査装置 - 特許庁

To appropriately perform a reliability test when manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を製造する際の信頼性試験を適切に行うこと。 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT FOR LOGIC CIRCUIT TEST AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

論理回路テスト用スキャンパス回路及びこれを備えた集積回路装置 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE APPARATUS, PROBE TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide the pitch adjusting method of a buffer tray for increasing the conveyance speed of a semiconductor device by a test handler for the test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストハンドターで半導体装置の移送速度を増加させることができるバッファトレイのピッチ調節方法を提供する。 - 特許庁

SERIAL COMMUNICATION APPARATUS, TEST DEVICE THEREOF AND METHOD FOR TESTING SERIAL COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

シリアル通信装置、その試験装置及びシリアル通信装置の試験方法 - 特許庁