「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device in which yield is high and a test time is short.例文帳に追加

歩留りが高く、テスト時間が短くて済む半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for shortening the test time and guaranteeing reliability with simple device constitution, without having to add a device especially for a test in a time divisional switch.例文帳に追加

時分割スイッチにおいて、試験専用の装置の追加を行わずに単純な装置構成で試験時間短縮と信頼性の保証を行う装置及び方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

When test voting is started, ground stations AP1, AP2,..., transmit a test voting start signal to many terminal devices M11, M12,..., and each terminal device measures a time when the user of the self-device takes time in performing test voting operation and transmits the test voting operation time to its ground station.例文帳に追加

テスト投票を開始すると、地上局AP1,AP2,…から多数の端末装置M11,M12,…にテスト投票開始信号を送信し、各端末装置が自装置の使用者がテスト投票動作に要した時間を計測し、このテスト投票動作時間を地上局に送信する。 - 特許庁

To develop an environmental test device capable of reducing the time required for environmental test and obtaining similar effect as in the past, in a short time, by improving an environmental test device wherein a test object, such as electronic equipment, is put in such an environment that humidity changes periodically.例文帳に追加

湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。 - 特許庁

A program 80 for being tested is automatically tested by a test device 10 based on a test case correct solution 4 created by a high-order design tool 1, an operation procedure 5 for the test case correct solution, and a basic test operation procedure stored in a storage device 100.例文帳に追加

上位設計ツール１で作成されたテストケース正解例４及びテストケース正解例準拠操作手順５と、記憶装置１００に記憶された基本テスト操作手順とに基づいて、テスト装置１０で被テストプログラム８０のテストを自動実行する。 - 特許庁

To provide a test reagent spraying device provided with an agitating device usable even under fire-prohibited circumstances.例文帳に追加

火気厳禁の環境下においても使用できる攪拌装置を備えた試験試薬噴霧装置を提供する。 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, CONTACT STRUCTURE, ELECTRONIC DEVICE AND INSPECTION DEVICE FOR PERFORMANCE TEST例文帳に追加

異方導電性シート、その製造方法、接点構造体、電子装置及び動作試験用検査装置 - 特許庁

The image display device 10 displays a test pattern 11a on the display device when the inspection mode is selected.例文帳に追加

画像表示装置１０は、検査モードが選択されると、表示器１１にテストパターン１１ａを表示する。 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

EXPOSURE DEVICE, TILT EQUIPMENT, METHOD FOR CONDUCTING TILT CONVERGENCE TEST, AND DEVICE MANUFACTURED THEREBY例文帳に追加

露光装置、傾斜機器、傾斜集束試験を実行するための方法及びそれによって製造されたデバイス - 特許庁

DETERMINISTIC COMPONENT IDENTIFICATION DEVICE, DETERMINISTIC COMPONENT IDENTIFYING METHOD, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, TEST SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

確定成分識別装置、確定成分識別方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

ARTIFICIAL JOINT OPERATING DEVICE, ARTIFICIAL JOINT SIMULATOR USING THE SAME, AND FRICTION TEST DEVICE FOR ARTIFICIAL JOINT例文帳に追加

人工関節動作装置と、それを用いた人工関節シミュレータ及び人工関節の摩耗試験装置 - 特許庁

To provide a device allowing individual test of each layer of thin membrane of an integral multi-layered device.例文帳に追加

一体式の多層装置の薄膜の各層を個々に試験することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

To provide a double data rate synchronous DRAM integrated circuit device which can be tested by a low speed test device.例文帳に追加

低速テスト装置でテストできるダブルデータレート同期式ＤＲＡＭ集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

A rotation driving device 40 for driving rotatively the test material 24 is disposed on the upper side of the support device 32.例文帳に追加

支持装置３２の上方に、被検査材２４を回転駆動する回転駆動装置４０が配設される。 - 特許庁

A driver means outputs a test signal or an output signal of a good product device to the device to be measured.例文帳に追加

ドライバ手段は、試験信号又は良品デバイスの出力信号を被測定デバイスへ出力する。 - 特許庁

TRANSMISSION LINE TESTING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL, AND TRANSMISSION LINE TEST SIGNAL GENERATING DEVICE FOR BS ADDED CHANNEL例文帳に追加

ＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置 - 特許庁

To provide a washing device of a water-cooled cooling mechanism, used for a test head of an IC testing device.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに使用される水冷式冷却機構の洗浄装置を提供する。 - 特許庁

To enable a monitoring device to unilaterally change a mode SW position in accordance with a test process of this device for control rods.例文帳に追加

本装置の試験工程に合わせて一方的にモードＳＷ位置を変更できるようにする。 - 特許庁

TEST PATTERN PRINTING METHOD AND MAINTENANCE METHOD IN DROPLET DISCHARGE DEVICE, AND DROPLET DISCHARGE DEVICE例文帳に追加

液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法及びメンテナンス方法並びに液滴吐出装置 - 特許庁

This testing device is provided with two or more of a surface shape testing device (3), a hardness testing device (5), and tensile testing device (6); a test piece transporting device (7) which transports the test piece in the order of testing steps; and a controller which automatically controls the transportation of the test piece and the testing work of each testing device.例文帳に追加

この試験装置は、表面性状試験装置（３），硬さ試験装置（５），引張試験装置（６）のうち２以上の装置、およびこの試験工程順に試験片を搬送する試験片搬送装置（７）、試験片の搬送及び各試験装置における試験作業を自動操作する制御装置を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor device testing method, which can reduce test costs.例文帳に追加

試験コストの低減を実現できる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL TEST OF POSITION MEASURING DEVICE, AND POSITION MEASURING DEVICE FOR PERFORMING THIS METHOD例文帳に追加

位置測定装置の機能テストを実施する方法およびこの方法を実施するための位置測定装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test mode for efficiently performing calibration of a measuring device.例文帳に追加

測定装置のキャリブレーションを効率よく実施するためのテストモードを備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

The control parameter adjustment system includes a control parameter adjustment device 10 and a test monitoring device 20.例文帳に追加

制御パラメータ調整システムは、制御パラメータ調整装置１０とテスト監視装置２０とを備える。 - 特許庁

As for a Charpy impact test, a CPU 24 determines omissible test conditions based on test conditions regulated by the standard, test conditions required by a customer and contents of an agreement on test conditions concluded between delivery parties, determines test conditions when performing the Charpy impact test based on the determination result and controls an output device 4 to output the determined test conditions.例文帳に追加

シャルピー衝撃試験について、ＣＰＵ２４が、規格で規定されている試験条件、顧客が要求する試験条件、及び受渡当事者間で結ばれている試験条件に関する協定の内容に基づいて省略可能な試験条件を判別し、判別結果に基づいてシャルピー衝撃試験を行う際の試験条件を決定し、出力装置４を制御することによって決定した試験条件を出力する。 - 特許庁

The coating nozzle 144 is set opposite to a desired position on a test coating tape 39 of the test coating device, and the center of imaging by the camera 190 in this state is obtained as a reference position of the test coating device.例文帳に追加

塗布ノズル１４４を試し塗布装置の試し塗布テープ３９０上の所望の位置に対向させ、その状態におけるカメラ１９０の撮像中心を試し塗布装置の基準位置として取得する。 - 特許庁

To perform a monitor burn-in test method with a simple device requiring no external refresh circuit without reducing memory access speed of an element, in the monitor burn-in test method, and a monitor burn-in test device.例文帳に追加

モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置に関し、素子のメモリアクセス速度を低下させることなく、かつ外部リフレッシュ回路を不要とした簡単な装置でモニターバーンイン試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a test device for terminal crimp allowing automatic test for quality of crimped condition by using a pickup image of a camera and improvement of test efficiency and a terminal crimping device having it.例文帳に追加

撮像カメラの撮像画像に基づいて圧着状態の良否の検査を自動的に行うことができ、検査効率の向上が図れる端子圧着検査装置およびそれを備えた端子圧着装置を提供する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To provide a test device for a fuel injection pump saving the labor for connecting the fuel injection pump provided in an engine to a fuel injection nozzle of the test device and suppressing the fuel leakage in the test.例文帳に追加

エンジンに設けた燃料噴射ポンプとテスト装置の燃料噴射ノズルを連結する作業の省力化と、テスト時の燃料漏れを抑制する燃料噴射ポンプのテスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an outside diameter-measuring device capable of measuring the outside diameter, inside diameter, and thickness of a steel pipe test piece while especially being rotated with the center of the test piece as an axis regarding a device for inspecting the dimensions of the steel pipe test piece.例文帳に追加

鋼管テストピースの寸法検査をする為の装置に関し、特にテストピースの中心を軸に回転させながら、鋼管テストピースの外径、内径、肉厚を測定することができる外径測定装置を提供する。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

This system comprises an evaluation device 2 equipped with a test element 3 in contact with an analysis sample 8 and a test element support part 5 for fixing the test element 3 on a measuring position for executing analysis and a measuring/evaluating electronic device 15.例文帳に追加

分析を行なうために、被分析サンプル８に接触するテストエレメント３、テストエレメント３を測定位置に固定するテストエレメント支持部５を備えた評価装置２および測定・評価電子装置１５からなる。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a program for supporting to rapidly and easily prepare the test case group of a test specification providing a low working load to a test case preparing person and capable of increasing a coverage.例文帳に追加

テストケース作成者に与える作業負荷が低く、網羅性の高い試験仕様書のテストケース群を迅速かつ容易に作成できるよう支援を行う装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

During a test, at least one test program is executed which allows a flash controller on each flash controller die to test one or more flash memory dies of each flash device.例文帳に追加

テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of desired actual operation test of a semiconductor device by means of an existing LSI tester even if both a low-speed test signal and a high-speed test signal are necessary.例文帳に追加

低速テスト信号と高速テスト信号の双方が必要な場合であっても、既存のＬＳＩテスタを使用して、半導体装置の所望の実動作試験を行えるプローブカードの提供。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for generating masking data for test which eliminates information leakage of production data in creating test data, and high consistency and validity with original data as a test data.例文帳に追加

テストデータを作成することにおいて、本番データの情報漏洩を無くし、なおかつテストデータとして元のデータとの整合性・有効性が高いテスト用マスキングデータ生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁